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    • 5. 发明专利
    • 具有電漿限制間隙的處理套件
    • 具有等离子限制间隙的处理套件
    • TW201348488A
    • 2013-12-01
    • TW102110921
    • 2013-03-27
    • 應用材料股份有限公司APPLIED MATERIALS, INC.
    • 利奇艾倫RITCHIE, ALAN楊唐尼YOUNG DONNY
    • C23C14/56
    • C23C14/34H01J37/32495H01J37/32642H01J37/32651H01J37/3405
    • 在此提供處理基材的設備。在某些實施例中,一設備包含一處理套件,該處理套件含有一擋板,該擋板擁有經配置以圍繞一第一空間的一或多個側壁,該第一空間係設置在一製程腔室的內部空間內;以及一第一環,該第一環係可移動地介於一第一位置與一第二位置之間,其中在該第一位置時,該第一環係擱置在該擋板上,而在該第二位置時,一間隙係形成在該第一環的外表面與該一或多個側壁的內表面之間,其中該間隙的寬度係低於約兩倍電漿鞘寬度,就在約40MHz或更高的頻率以及約140毫托耳或更低的壓力下形成的電漿而言。
    • 在此提供处理基材的设备。在某些实施例中,一设备包含一处理套件,该处理套件含有一挡板,该挡板拥有经配置以围绕一第一空间的一或多个侧壁,该第一空间系设置在一制程腔室的内部空间内;以及一第一环,该第一环系可移动地介于一第一位置与一第二位置之间,其中在该第一位置时,该第一环系搁置在该挡板上,而在该第二位置时,一间隙系形成在该第一环的外表面与该一或多个侧壁的内表面之间,其中该间隙的宽度系低于约两倍等离子鞘宽度,就在约40MHz或更高的频率以及约140毫托耳或更低的压力下形成的等离子而言。