会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 4. 发明专利
    • 光學組件
    • 光学组件
    • TW201516577A
    • 2015-05-01
    • TW103124502
    • 2014-07-17
    • 卡爾蔡司SMT有限公司CARL ZEISS SMT GMBH
    • 包爾斯 華特PAULS, WALTER瓦格納 漢立克WAGNER, HENDRIK艾爾斯 弗洛瑞恩AHLES, FLORIAN沃德 克里斯汀WALD, CHRISTIAN費茲榭 史蒂芬FRITZSCHE, STEFFEN瓦伯拉 諾伯特WABRA, NORBERT畢特納 鮑瑞斯BITTNER, BORIS舒納德 桑賈SCHNEIDER, SONJA舒納德 瑞卡達SCHNEIDER, RICARDA
    • G03F7/20
    • G03F7/70058G03F7/70258G03F7/7085
    • 本發明揭示一種光學組件(100),尤其是用於成像微影微結構或奈米結構之微影系統,其包含:至少兩個光學元件(101、103),其連續配置在該光學組件(100)之一光束路徑中;一獲取裝置(110),其經設計以自至少兩個光學元件(101、103)處之標記元件(414、424、720、721、722、723)獲取輻射信號(131),該等標記元件(414、424)裝配在該至少兩個光學元件(101、103)的光學作用區(102、104)外,其中該獲取裝置(110)配置在該至少兩個光學元件(101、103)的一第一光學元件(101)及一最後光學元件(103)之間的一光束路徑(132)外,其中該等輻射信號(131)含有關於該至少兩個光學元件(101、103)之一光學作用表面(102、104)的一或複數個性質的資訊;及一控制裝置(120),其耦合至該獲取裝置(110),且其經設計以依據源自該等標記元件之該等輻射信號(131)中含有的資訊,決定該至少兩個光學元件(101、103)之該光學作用表面(102、104)的該複數個性質。本發明另外揭示一種用於操作光學組件(100)的方法。
    • 本发明揭示一种光学组件(100),尤其是用于成像微影微结构或奈米结构之微影系统,其包含:至少两个光学组件(101、103),其连续配置在该光学组件(100)之一光束路径中;一获取设备(110),其经设计以自至少两个光学组件(101、103)处之标记组件(414、424、720、721、722、723)获取辐射信号(131),该等标记组件(414、424)装配在该至少两个光学组件(101、103)的光学作用区(102、104)外,其中该获取设备(110)配置在该至少两个光学组件(101、103)的一第一光学组件(101)及一最后光学组件(103)之间的一光束路径(132)外,其中该等辐射信号(131)含有关于该至少两个光学组件(101、103)之一光学作用表面(102、104)的一或复数个性质的信息;及一控制设备(120),其耦合至该获取设备(110),且其经设计以依据源自该等标记组件之该等辐射信号(131)中含有的信息,决定该至少两个光学组件(101、103)之该光学作用表面(102、104)的该复数个性质。本发明另外揭示一种用于操作光学组件(100)的方法。