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1. 发明专利

TW202030987A 可避免迴路頻寬取捨之數位鎖相迴路電路、智慧財產區塊、積體電路、取樣率轉換器、以及音訊裝置审中-公开
简体标题：可避免回路带宽取舍之数码锁相回路电路、智能财产区块、集成电路、采样率转换器、以及音频设备
公开(公告)号：TW202030987A
公开(公告)日：2020-08-16
申请号：TW108136789
申请日：2019-10-14
申请人：美商美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：斯皮拉爾亞當 R , SPIRER, ADAM R.
IPC分类号： H03L7/087 , H03L7/091 , H03L7/099
摘要：本發明提供一種可避免迴路頻寬取捨之數位鎖相迴路（DPLL）電路，其係包括：一頻率維度頻率偵測器，其具有一外部頻率輸入及一回授頻率輸入，該頻率維度頻率偵測器係以一電路系統測量外部頻率輸入與回授頻率輸入間之頻率差值並驅動一脈衝訊號，其中，若該頻率差值為正，則該脈衝訊號屬於第一種類，若該頻率差值為負，則屬於第二種類；以及一數控式振盪器（NCO），其係以一電路系統驅動一輸出時脈並響應該脈衝訊號而調整該輸出時脈之頻率，其中該NCO之輸出提供該頻率維度頻率偵測器之回授頻率輸入。
简体摘要：本发明提供一种可避免回路带宽取舍之数码锁相回路（DPLL）电路，其系包括：一频率维度频率侦测器，其具有一外部频率输入及一回授频率输入，该频率维度频率侦测器系以一电路系统测量外部频率输入与回授频率输入间之频率差值并驱动一脉冲信号，其中，若该频率差值为正，则该脉冲信号属于第一种类，若该频率差值为负，则属于第二种类；以及一数控式振荡器（NCO），其系以一电路系统驱动一输出时脉并响应该脉冲信号而调整该输出时脉之频率，其中该NCO之输出提供该频率维度频率侦测器之回授频率输入。

2. 发明专利

TWI674660B 半導體裝置及其製造方法有权
简体标题：半导体设备及其制造方法
公开(公告)号：TWI674660B
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：TW107116285
申请日：2018-05-14
申请人：美商美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：史瑞瓦斯塔瓦邦尼特 , SRIVASTAVA, PUNEET , 費蘭札詹姆斯G , FIORENZA, JAMES G
IPC分类号： H01L27/01 , H01L21/18

3. 发明专利

TWI668441B 自我校正之重金屬檢測器有权
简体标题：自我校正之重金属检测器
公开(公告)号：TWI668441B
公开(公告)日：2019-08-11
申请号：TW106143327
申请日：2017-12-11
申请人：美商美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：劉雨濛 , LIU, YUMENG , 陳立 , CHEN, LI , 楊光隆 , YANG, KUANG L , 楊晨 , YANG, CHEN
IPC分类号： G01N27/447

4. 发明专利

TW201910859A 光束轉折設備與以平面波導轉折光束之方法审中-公开
简体标题：光束转折设备与以平面波导转折光束之方法
公开(公告)号：TW201910859A
公开(公告)日：2019-03-16
申请号：TW107128270
申请日：2018-08-14
申请人：美商美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：寧基維茲麥可 , ZIEMKIEWICZ, MICHAEL , 安德森麥可霍華德 , ANDERSON, MICHAEL HOWARD , 戴維斯史考特羅伯特 , DAVIS, SCOTT ROBERT , 魯伊班傑明 , LUEY, BENJAMIN , 鄧特勒亞當 , DUNN, TYLER ADAM
IPC分类号： G02B26/08 , G02B6/27
摘要：本發明提供一種非機械式光束轉折器，以調整光束之角度，藉此例如於能視域掃描光線。非機械式光束轉折器係可包含第一轉折件集合，上述第一轉折件集合係小於光束之尺寸。第一轉折件集合係可透過繞射光束調整光束之角度。非機械式光束轉折器亦可包含第二轉折件集合，上述第二轉折件集合係大於光束之尺寸。第二轉折件集合係可透過繞射光束調整光束之角度。非機械式光束轉折器係可於不具有補償板之狀況下運作，藉此例如降低光束轉折器之尺寸並提升光束轉折器之接收角度。
简体摘要：本发明提供一种非机械式光束转折器，以调整光束之角度，借此例如于能视域扫描光线。非机械式光束转折器系可包含第一转折件集合，上述第一转折件集合系小于光束之尺寸。第一转折件集合系可透过绕射光束调整光束之角度。非机械式光束转折器亦可包含第二转折件集合，上述第二转折件集合系大于光束之尺寸。第二转折件集合系可透过绕射光束调整光束之角度。非机械式光束转折器系可于不具有补偿板之状况下运作，借此例如降低光束转折器之尺寸并提升光束转折器之接收角度。

5. 发明专利

TW201833545A 自我校正之重金屬檢測器审中-公开
简体标题：自我校正之重金属检测器
公开(公告)号：TW201833545A
公开(公告)日：2018-09-16
申请号：TW106143327
申请日：2017-12-11
申请人：美商美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：劉雨濛 , LIU, YUMENG , 陳立 , CHEN, LI , 楊光隆 , YANG, KUANG L , 楊晨 , YANG, CHEN
IPC分类号： G01N27/447
摘要：一種微流體離子檢測器，用以檢測液體中重金屬離子以及來自氣體樣本之懸浮微粒。該微流體離子檢測器包括一樣本萃取結構，用以自一樣本液體萃取樣本離子或自一氣體樣本之懸浮微粒萃取樣本離子；一分離結構，用以分離經萃取之不同類型之樣本離子；以及一檢測結構，用以檢測該等樣本離子。該微流體離子檢測器亦包括提供一參考離子之一參考儲存器，其可根據該分離結構之操作校正該樣本。一可攜式、自我校正離子檢測器係可透過於一單基板上包含上述元件來實現。
简体摘要：一种微流体离子检测器，用以检测液体中重金属离子以及来自气体样本之悬浮微粒。该微流体离子检测器包括一样本萃取结构，用以自一样本液体萃采样本离子或自一气体样本之悬浮微粒萃采样本离子；一分离结构，用以分离经萃取之不同类型之样本离子；以及一检测结构，用以检测该等样本离子。该微流体离子检测器亦包括提供一参考离子之一参考存储器，其可根据该分离结构之操作校正该样本。一可携式、自我校正离子检测器系可透过于一单基板上包含上述组件来实现。

6. 发明专利

TW201812861A 自舉式切換電路审中-公开
简体标题：自举式切换电路
公开(公告)号：TW201812861A
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW106130784
申请日：2017-09-08
申请人：美商美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：德瓦拉傑希達哈斯 , DEVARAJAN, SIDDHARTH , 辛格賴瑞A , SINGER, LARRY A
IPC分类号： H01L21/22 , H01L23/60 , H01L27/04 , H03M1/10
CPC分类号： H03K17/04206 , H03K17/005 , H03K17/04123 , H03K17/063 , H03K19/017 , H03K19/018521 , H03M1/0607 , H03M1/1245 , H03M1/183
摘要：無線通訊接收器的發展傾向於接收更多帶寬，以支持更高的處理能力，並直接取樣射頻(RF)訊號，以提供可重新設定之能力並降低成本。其他如儀器設備等用途亦需要使寬頻射頻訊號數位化之能力。能妥善處理高速、寬頻射頻訊號之輸入電路可有利於該等用途。一輸入緩衝器及自舉式開關係經設計以提供該等用途，並可經實施於28奈米(nm)互補式金氧半導體(CMOS)技術。
简体摘要：无线通信接收器的发展倾向于接收更多带宽，以支持更高的处理能力，并直接采样射频(RF)信号，以提供可重新设置之能力并降低成本。其他如仪器设备等用途亦需要使宽带射频信号数码化之能力。能妥善处理高速、宽带射频信号之输入电路可有利于该等用途。一输入缓冲器及自举式开关系经设计以提供该等用途，并可经实施于28奈米(nm)互补式金属氧化物半导体(CMOS)技术。

7. 发明专利

TWI614816B 用以蝕刻及分割蓋晶圓之方法有权
简体标题：用以蚀刻及分割盖晶圆之方法
公开(公告)号：TWI614816B
公开(公告)日：2018-02-11
申请号：TW100121621
申请日：2011-06-21
申请人：美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：達拉爾米托 , DALAL, MITUL , 陳立 , CHEN, LI
IPC分类号： H01L21/52 , H01L23/02
CPC分类号： B81C1/00269 , B81B7/0058 , B81C1/00333 , B81C1/00523 , B81C2203/0118 , H01L21/4803 , H01L21/50 , H01L23/04 , H01L2924/0002 , H01L2924/00

8. 发明专利

TWI612592B 在經主動電路系統所封裝之微電子機械系統元件中進行屏蔽與偏壓之設備與方法有权
简体标题：在经主动电路系统所封装之微电子机械系统组件中进行屏蔽与偏压之设备与方法
公开(公告)号：TWI612592B
公开(公告)日：2018-01-21
申请号：TW103121735
申请日：2014-06-24
申请人：美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：陳立 , CHEN, LI , 紐南湯瑪斯K , NUNAN, THOMAS KIERAN , 楊光隆 , YANG, KUANG L.
IPC分类号： H01L21/60 , H01L25/04
CPC分类号： B81B3/0051 , B81B3/0005 , B81B3/0059 , B81B2207/012 , B81C1/00976 , B81C2201/112 , B81C2203/0118

9. 发明专利

TWI607451B 與具錯誤校正碼保護之記憶體搭配之記憶體內建式自我測試裝置有权
简体标题：与具错误校正码保护之内存搭配之内存内置式自我测试设备
公开(公告)号：TWI607451B
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：TW105105775
申请日：2016-02-26
申请人：美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：瓊斯艾瑞克C , JONES, ERIC C. , 艾倫安卓J , ALLAN, ANDREW J.
IPC分类号： G11C29/42
CPC分类号： G11C29/42 , G11C29/1201 , G11C29/36 , G11C2029/2602

10. 发明专利

TWI593095B 感測器以及製造感測器的方法有权
简体标题：传感器以及制造传感器的方法
公开(公告)号：TWI593095B
公开(公告)日：2017-07-21
申请号：TW102106809
申请日：2013-02-27
申请人：美國亞德諾半導體公司 , ANALOG DEVICES, INC.
发明人：史丹森伯納 , STENSON, BERNARD , 歐布里恩史蒂芬 , O'BRIEN, STEPHEN , 肯提馬修湯瑪士 , CANTY, MATTHEW THOMAS
IPC分类号： H01L27/22 , G01R33/09
CPC分类号： G01R33/096 , G01R33/0052 , Y10T29/49117

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