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1. 发明专利

TWI484203B 電腦測試程式產品有权
简体标题：电脑测试进程产品
公开(公告)号：TWI484203B
公开(公告)日：2015-05-11
申请号：TW102113865
申请日：2013-04-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：鈴木武久 , SUZUKI, TAKEHISA , 有澤明宏 , ARISAWA, AKIHIRO , 田原善文 , TAHARA, YOSHIFUMI , 福田浩章 , FUKUDA, HIROAKI
IPC分类号： G01R31/3167
CPC分类号： G06F11/2733 , G01R31/2834 , G01R31/31907 , G01R31/31912 , G06F11/263

2. 发明专利

TWI222529B 具測試結果觀看過濾器之電子測試系統 Electronic Test System with Test Results View Filter 失效
简体标题：具测试结果观看过滤器之电子测试系统 Electronic Test System with Test Results View Filter
公开(公告)号：TWI222529B
公开(公告)日：2004-10-21
申请号：TW091109696
申请日：2002-05-09
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：克里斯多弗K. 蘇頓 CHRISTOPHER K. SUTTON
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/02 , G01R31/31912
摘要：一種具有「測試結果觀察過濾器(330)」(test result view filter)(330)之電子測試系統(100)能讓使用者根據其特定的「數據點數值狀況」(data point value status)(340、342、344)將測試程式的測試結果加以過濾。該測試結果觀察過濾器(330)最好是包含代表組合在其中之複數個「測試結果觀察過濾器選擇按鈕」(332、334、336、338)之圖形元件。每一個測試結果觀察過濾器選擇按鈕能夠就其個別的數據點數值狀況將整個測試程式加以過濾，並顯示該經過過濾後之數據點數值狀況。該測試結果觀察過濾器選擇按鈕係由下列項目所組成之族群中選出：全部的數據點數值狀況、失效的數據點數值狀況、邊際數據點數值狀況、選定的數據點數值狀況。
简体摘要：一种具有“测试结果观察过滤器(330)”(test result view filter)(330)之电子测试系统(100)能让用户根据其特定的“数据点数值状况”(data point value status)(340、342、344)将测试进程的测试结果加以过滤。该测试结果观察过滤器(330)最好是包含代表组合在其中之复数个“测试结果观察过滤器选择按钮”(332、334、336、338)之图形组件。每一个测试结果观察过滤器选择按钮能够就其个别的数据点数值状况将整个测试进程加以过滤，并显示该经过过滤后之数据点数值状况。该测试结果观察过滤器选择按钮系由下列项目所组成之族群中选出：全部的数据点数值状况、失效的数据点数值状况、边际数据点数值状况、选定的数据点数值状况。

3. 发明专利

TW200306496A 用以產生電子測試與資料結構之方法與裝置 Method And Apparatus For Generating Electronic Test And Data Structure 审中-公开
简体标题：用以产生电子测试与数据结构之方法与设备 Method And Apparatus For Generating Electronic Test And Data Structure
公开(公告)号：TW200306496A
公开(公告)日：2003-11-16
申请号：TW091134498
申请日：2002-11-27
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：克里斯多佛K 蘇頓 CHRISTOPHER K. SUTTON
IPC分类号： G06G
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/318307
摘要：一種階層式測試執行系統，其係包括程序、測試、測量、和資料點層次。一程序為一有序之測試列表；一測試為一程序中共用同一測試演算法和因而之同一軟體碼的測量群；一測量為一測試有關之組態或建置，以及可提供一些參數給一測試；以及一資料點為一測量之子集，其係包含一些可於一測量產生多重結果時用以選擇一結果之額外參數。此測試執行系統在被起始時，將會顯示一模型列表，以及其使用者可選出一要被測試之模型。其程式接著將會加載進其對應於此選定模型之測試軟體，以及將會顯示一些程序之列表和說明，給該使用者。該使用者將會選出一程序，以及上述之程式將會由其測試軟體檢索出上述選定之程序，以及會將其展開成上述程序所決定之測試、測量、和資料點。此測試執行系統，接著便會循環經過該等測試、測量、和資料點，而在作業中產生該等結果和一對應之資料結構。
简体摘要：一种阶层式测试运行系统，其系包括进程、测试、测量、和数据点层次。一进程为一有序之测试列表；一测试为一进程中共享同一测试算法和因而之同一软件码的测量群；一测量为一测试有关之组态或建置，以及可提供一些参数给一测试；以及一数据点为一测量之子集，其系包含一些可于一测量产生多重结果时用以选择一结果之额外参数。此测试运行系统在被起始时，将会显示一模型列表，以及其用户可选出一要被测试之模型。其进程接着将会加载进其对应于此选定模型之测试软件，以及将会显示一些进程之列表和说明，给该用户。该用户将会选出一进程，以及上述之进程将会由其测试软件检索出上述选定之进程，以及会将其展开成上述进程所决定之测试、测量、和数据点。此测试运行系统，接着便会循环经过该等测试、测量、和数据点，而在作业中产生该等结果和一对应之数据结构。

4. 发明专利

TW297145B 於一使用單一裝置之封閉環境中用以檢查,測試,燒入,修護及程式化積體電路之方法及裝置失效
简体标题：于一使用单一设备之封闭环境中用以检查,测试,烧入,修护及进程化集成电路之方法及设备
公开(公告)号：TW297145B
公开(公告)日：1997-02-01
申请号：TW085106781
申请日：1996-06-06
申请人：葛林.李迪
发明人：葛林.李迪
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R1/07307 , G01R1/07314 , G01R31/2806 , G01R31/2831 , G01R31/2868 , G01R31/2874 , G01R31/2886 , G01R31/318505 , G01R31/318511 , G01R31/31905 , G01R31/31912 , G02F1/13452 , G03F7/70466 , G03F7/70658 , G11C29/006 , H01L21/67138 , H01L21/67706 , H01L21/67721 , H01L21/762 , H01L21/76264 , H01L21/76289 , H01L21/764 , H01L22/22 , H01L23/498 , H01L23/538 , H01L23/5381 , H01L23/5383 , H01L23/5386 , H01L23/5387 , H01L24/75 , H01L24/81 , H01L25/0652 , H01L25/0655 , H01L25/50 , H01L2224/75 , H01L2224/7565 , H01L2224/81801 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01019 , H01L2924/01023 , H01L2924/01033 , H01L2924/01038 , H01L2924/01074 , H01L2924/01075 , H01L2924/01082 , H01L2924/10329 , H01L2924/12042 , H01L2924/13091 , H01L2924/14 , H01L2924/15192 , H01L2924/19041 , H01L2924/19042 , H01L2924/19043 , H01L2924/3011 , H01L2924/00
摘要：一單一氣密式系統，其執行多項功能，包括減少接觸焊點上氧化物厚度與檢查、測試、燒入、修護、程式化及儲存積體電路。根據本發之一具體實例之系統包括：（a）一氣密室，具有（1）複數個模組，各具有一固定夾具、一晶圓、一檢查裝置、一電子電路板及一溫度控制裝置，（2）一用以供應諸如氮氣及氫氣之非氧化氣體至氣密室的氣體源，（3）一用於移動晶圓及檢查裝置之機械手；及（b）一連結氣密室用於控制且與機械手、溫度控制裝置、固定夾具及檢查裝置通訊之電腦。一固定夾具固定具有體積電路之晶圓且讓晶圓與檢查裝置排成一列。一積體電路具有複數個可接觸檢查裝置檢查點之導體接點部分。一溫度控制裝置用於在氧化物減低處理或晶圓燒入時對晶圓加熱。在氧化物減低處理時，氫氣被導引進入氣密室內且晶圓被加熱，以致於在接點上之氧化物與氫氣結合形成水蒸氣，因而減少氧化物的厚度。該電腦分析著測試及／或燒入資料且提供用於修護或程式化積體電路之控制信號。該電腦系統亦產生一資料庫，此資料庫包含測試晶圓上的所有積體電路之執行效能資料且考慮到複數個積體電路之立即回授。
简体摘要：一单一气密式系统，其运行多项功能，包括减少接触焊点上氧化物厚度与检查、测试、烧入、修护、进程化及存储集成电路。根据本发之一具体实例之系统包括：（a）一气密室，具有（1）复数个模块，各具有一固定夹具、一晶圆、一检查设备、一电子电路板及一温度控制设备，（2）一用以供应诸如氮气及氢气之非氧化气体至气密室的气体源，（3）一用于移动晶圆及检查设备之机械手；及（b）一链接气密室用于控制且与机械手、温度控制设备、固定夹具及检查设备通信之电脑。一固定夹具固定具有体积电路之晶圆且让晶圆与检查设备排成一列。一集成电路具有复数个可接触检查设备检查点之导体接点部分。一温度控制设备用于在氧化物减低处理或晶圆烧入时对晶圆加热。在氧化物减低处理时，氢气被导引进入气密室内且晶圆被加热，以致于在接点上之氧化物与氢气结合形成水蒸气，因而减少氧化物的厚度。该电脑分析着测试及／或烧入数据且提供用于修护或进程化集成电路之控制信号。该电脑系统亦产生一数据库，此数据库包含测试晶圆上的所有集成电路之运行性能数据且考虑到复数个集成电路之立即回授。

5. 发明专利

TWI481885B 電腦測試程式產品有权
简体标题：电脑测试进程产品
公开(公告)号：TWI481885B
公开(公告)日：2015-04-21
申请号：TW102113866
申请日：2013-04-19
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：田原善文 , TAHARA, YOSHIFUMI , 有澤明宏 , ARISAWA, AKIHIRO , 鈴木武久 , SUZUKI, TAKEHISA
IPC分类号： G01R31/28 , G06F9/44
CPC分类号： G06F11/2733 , G01R31/2834 , G01R31/31907 , G01R31/31912 , G06F11/263

6. 发明专利

TWI315459B 用於建構一個自動測試系統之系統及方法 SYSTEM AND METHODS FOR CONFIGURING AN AUTOMATIC TEST SYSTEM 有权
简体标题：用于建构一个自动测试系统之系统及方法 SYSTEM AND METHODS FOR CONFIGURING AN AUTOMATIC TEST SYSTEM
公开(公告)号：TWI315459B
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW092103865
申请日：2003-02-25
申请人：泰瑞達公司
发明人：吉爾伯特R‧瑞茲
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R1/025 , G01R31/31912 , G01R31/31922
摘要：一種用於建構一個自動測試系統以產生由一個參考時脈而來之複數個時脈之系統及方法係包含一個使用者介面及軟體部分。該使用者介面係接收指明期望之複數個時脈之頻率的複數個輸入。為了回應由該使用者介面而來之一個命令，該軟體部分係計算用於連接至該參考時脈的除法器之值，以由該參考時脈推導出每一個期望之頻率。根據一個實施例，該期望之頻率係形成必須符合相干性之比率。於計算該除法器之值時，該軟體係最小化頻率誤差同時準確地保存該所需之比率。
简体摘要：一种用于建构一个自动测试系统以产生由一个参考时脉而来之复数个时脉之系统及方法系包含一个用户界面及软件部分。该用户界面系接收指明期望之复数个时脉之频率的复数个输入。为了回应由该用户界面而来之一个命令，该软件部分系计算用于连接至该参考时脉的除法器之值，以由该参考时脉推导出每一个期望之频率。根据一个实施例，该期望之频率系形成必须符合相干性之比率。于计算该除法器之值时，该软件系最小化频率误差同时准确地保存该所需之比率。

7. 发明专利

TW200723426A 半導體特性曲線的比較方法 METHOD FOR COMPARING SEMICONDUCTOR CHARACTERISTIC CURVES 审中-公开
简体标题：半导体特性曲线的比较方法 METHOD FOR COMPARING SEMICONDUCTOR CHARACTERISTIC CURVES
公开(公告)号：TW200723426A
公开(公告)日：2007-06-16
申请号：TW095109640
申请日：2006-03-21
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：石塚好司 ISHIZUKA, KOJI
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/318314
摘要：一種分析系統,其係包含:一用於儲存多個半導體裝置測量結果與一曲線圖顯示程式的儲存裝置;一用於以曲線圖顯示該等測量結果於數個視窗內的顯示器;用於選定該等視窗中之一些的輸入裝置;以及,一用於重疊及顯示該等曲線圖於該等視窗內的處理器,藉由使用該曲線圖顯示程式,藉此使得:只有在該輸入裝置所選定視窗中之一視窗內的曲線圖之一顯示區變成透明,該一視窗係位於該顯示器所顯示的最上層;除了該曲線圖之該顯示區以外的區域變成不透明;位於顯示於最下層之視窗中之曲線圖的至少一顯示區變成不透明;以及,位於最上層與最下層之間中之一層的視窗中之曲線圖的至少一顯示區變成透明。
简体摘要：一种分析系统,其系包含:一用于存储多个半导体设备测量结果与一曲线图显示进程的存储设备;一用于以曲线图显示该等测量结果于数个窗口内的显示器;用于选定该等窗口中之一些的输入设备;以及,一用于重叠及显示该等曲线图于该等窗口内的处理器,借由使用该曲线图显示进程,借此使得:只有在该输入设备所选定窗口中之一窗口内的曲线图之一显示区变成透明,该一窗口系位于该显示器所显示的最上层;除了该曲线图之该显示区以外的区域变成不透明;位于显示于最下层之窗口中之曲线图的至少一显示区变成不透明;以及,位于最上层与最下层之间中之一层的窗口中之曲线图的至少一显示区变成透明。

8. 发明专利

TW200604901A 用來為自動測試設備提供在測試程式中多項測試間跳躍之工具的方法與裝置 METHODS AND APPARATUS FOR PROVIDING AUTOMATED TEST EQUIPMENT WITH A MEANS TO JUMP BETWEEN TESTS IN A TEST PROGRAM 审中-公开
简体标题：用来为自动测试设备提供在测试进程中多项测试间跳跃之工具的方法与设备 METHODS AND APPARATUS FOR PROVIDING AUTOMATED TEST EQUIPMENT WITH A MEANS TO JUMP BETWEEN TESTS IN A TEST PROGRAM
公开(公告)号：TW200604901A
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：TW094101428
申请日：2005-01-18
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：賽普頓達文W. SEPTON, DAVEN WALT
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R31/31718
摘要：在一實施例中，一種圖形測試程式編輯器提供圖形化顯示一測試程式之一視窗，該測試程式包含一或更多序列測試與控制函數，該序列係由該測試與控制函數之間圖形連接來傳達。該編輯器亦提供使用者可在該測試程式中圖形化地置放與連接之一使用者可選擇的GOTO控制函數。在另一實施例中，一測試程式包括一或更多測試與控制函數序列，每一測試激勵一受測電氣裝置。控制函數包括至少一GOTO，當其執行時，使得該測試程式之執行跳到該GOTO之一目標，該GOTO之該目標在測試程式順序上並不緊接著該GOTO。
简体摘要：在一实施例中，一种图形测试进程编辑器提供图形化显示一测试进程之一窗口，该测试进程包含一或更多串行测试与控制函数，该串行系由该测试与控制函数之间图形连接来传达。该编辑器亦提供用户可在该测试进程中图形化地置放与连接之一用户可选择的GOTO控制函数。在另一实施例中，一测试进程包括一或更多测试与控制函数串行，每一测试激励一受测电气设备。控制函数包括至少一GOTO，当其运行时，使得该测试进程之运行跳到该GOTO之一目标，该GOTO之该目标在测试进程顺序上并不紧接着该GOTO。

9. 发明专利

TW200305824A 具運作選擇之電子測試程式技術 ELECTRONIC TEST PROGRAM WITH RUN SELECTION 审中-公开
简体标题：具运作选择之电子测试进程技术 ELECTRONIC TEST PROGRAM WITH RUN SELECTION
公开(公告)号：TW200305824A
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW091133296
申请日：2002-11-13
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：克里斯多佛K 蘇頓 CHRISTOPHER K. SUTTON
IPC分类号： G06G
CPC分类号： G01R31/3193 , G01R31/31912
摘要：一種測試執行系統將允許執行選定的測試。一圖形使用者介面將允許使用者能執行所有測試、執行邊際與失敗測試、或者僅執行選定測試。當選出“執行選定測試”選項時，複選方塊（checkbox）將出現在一程序樹狀圖中。隨後將藉著點選一方塊來選出選定程序、測試、測量項目以及資料點，並且藉著第二次點選該方塊來解除選擇。一打勾記號將出現在選定方塊中。一被打勾方塊的亮度將表示出有多少較低階層項目已經被選出了。選定的程序、測試、測量項目以及資料點可被儲存且重新召回。
简体摘要：一种测试运行系统将允许运行选定的测试。一图形用户界面将允许用户能运行所有测试、运行边际与失败测试、或者仅运行选定测试。当选出“运行选定测试”选项时，复选方块（checkbox）将出现在一进程树状图中。随后将借着点击一方块来选出选定进程、测试、测量项目以及数据点，并且借着第二次点击该方块来解除选择。一打勾记号将出现在选定方块中。一被打勾方块的亮度将表示出有多少较低级层项目已经被选出了。选定的进程、测试、测量项目以及数据点可被存储且重新召回。

10. 发明专利

TWI347550B 提供與利用保全符記來啟用自動測試設備之技術 PROVISIONING AND USE OF SECURITY TOKENS TO ENABLE AUTOMATED TEST EQUIPMENT 有权
简体标题：提供与利用保全符记来激活自动测试设备之技术 PROVISIONING AND USE OF SECURITY TOKENS TO ENABLE AUTOMATED TEST EQUIPMENT
公开(公告)号：TWI347550B
公开(公告)日：2011-08-21
申请号：TW093135091
申请日：2004-11-16
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司
发明人：安德森羅伊E , 伯納赫斯特 , 弗曼尼克艾瑞克
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G01R31/31903 , G01R31/31719 , G01R31/31912
摘要：一自動測試設備(ATE)，係設有多數之硬體組件，其中至少有兩個，係設有一共用測試特徵。此ATE亦設有一可存取數項保全符記之程式碼，其中之每一符記，係被授權使用一或多之測試特徵，而不須指明該等測試特徵要針對啟用之特定硬體組件。若有若干授權使用該共用測試特徵之保全符記可用，其程式碼便會啟用一些使用者所挑選可提供該共用測試特徵之硬體組件有關而為該等眾多保全符記所容許的共用測試特徵。所揭示亦有一些可提供及使用該等可啟用ATE之保全符記的方法。
简体摘要：一自动测试设备(ATE)，系设有多数之硬件组件，其中至少有两个，系设有一共享测试特征。此ATE亦设有一可存取数项保全符记之代码，其中之每一符记，系被授权使用一或多之测试特征，而不须指明该等测试特征要针对激活之特定硬件组件。若有若干授权使用该共享测试特征之保全符记可用，其代码便会激活一些用户所挑选可提供该共享测试特征之硬件组件有关而为该等众多保全符记所容许的共享测试特征。所揭示亦有一些可提供及使用该等可激活ATE之保全符记的方法。

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