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1. 发明专利

TW201713960A 試驗裝置、試驗訊號供給裝置、試驗方法及電腦可讀取記錄媒體审中-公开
简体标题：试验设备、试验信号供给设备、试验方法及电脑可读取记录媒体
公开(公告)号：TW201713960A
公开(公告)日：2017-04-16
申请号：TW105105149
申请日：2016-02-22
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：高橋公二 , TAKAHASHI, KOJI
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/31707 , G01R31/318371 , G01R31/31908 , G01R31/31917 , G01R31/31919 , G01R31/31921
摘要：本發明的問題在於減少在試驗裝置中設置的圖案產生器的數量，以減少試驗成本。為了解決此問題，本發明提供一種試驗裝置及試驗方法，該試驗裝置，用以試驗被試驗器件，且該試驗裝置具備：封包傳送部，其在被試驗器件的試驗中，將應該供給到被試驗器件中的試驗圖案加以封包化並傳送；封包傳輸部，其傳輸藉由封包傳送部所傳送的封包；封包接收部，其接收經由封包傳輸部所傳輸的試驗圖案；緩衝部，其緩衝藉由封包接收部所接收的試驗圖案；及，試驗訊號供給部，其將對應於自緩衝部取得的試驗圖案之試驗訊號，供給到被試驗器件。
简体摘要：本发明的问题在于减少在试验设备中设置的图案产生器的数量，以减少试验成本。为了解决此问题，本发明提供一种试验设备及试验方法，该试验设备，用以试验被试验器件，且该试验设备具备：封包发送部，其在被试验器件的试验中，将应该供给到被试验器件中的试验图案加以封包化并发送；封包传输部，其传输借由封包发送部所发送的封包；封包接收部，其接收经由封包传输部所传输的试验图案；缓冲部，其缓冲借由封包接收部所接收的试验图案；及，试验信号供给部，其将对应于自缓冲部取得的试验图案之试验信号，供给到被试验器件。

2. 发明专利

TW201530159A 多重故障診斷方法和機器可讀媒體审中-公开
简体标题：多重故障诊断方法和机器可读媒体
公开(公告)号：TW201530159A
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW103102174
申请日：2014-01-21
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：薛培英 , HSUEH, PEI YING , 郭俊儀 , KUO, CHUN YI , 李建模 , LI, CHIEN MO , 車介智 , CHE, CHIEH CHIH
IPC分类号： G01R31/26 , G06F17/18
CPC分类号： G01R31/31835 , G01R31/318357 , G01R31/318371
摘要：一種多重故障診斷方法，包含有：接收一晶片的一閘級網路表、複數個測試型樣以及複數個測試失敗結果；依據該複數個測試失敗結果以及該複數個測試型樣來自該閘級網路表中找出複數個種子網路；使用一處理器來計算該複數個種子網路彼此之間的相似度，並據以對該複數個種子網路進行合併以產生一單一種子網路樹；以及依據該單一種子網路樹來找出至少一可疑種子網路。
简体摘要：一种多重故障诊断方法，包含有：接收一芯片的一闸级网络表、复数个测试型样以及复数个测试失败结果；依据该复数个测试失败结果以及该复数个测试型样来自该闸级网络表中找出复数个种子网络；使用一处理器来计算该复数个种子网络彼此之间的相似度，并据以对该复数个种子网络进行合并以产生一单一种子网络树；以及依据该单一种子网络树来找出至少一可疑种子网络。

3. 发明专利

TW200809565A 用以管理對資料儲存器之存取動作的方法與系統 METHOD AND SYSTEM FOR MANAGING ACCESS TO A DATA STORE 审中-公开
简体标题：用以管理对数据存储器之存取动作的方法与系统 METHOD AND SYSTEM FOR MANAGING ACCESS TO A DATA STORE
公开(公告)号：TW200809565A
公开(公告)日：2008-02-16
申请号：TW096103189
申请日：2007-01-29
申请人：惠瑞捷(新加坡)股份有限公司 VERIGY (SINGAPORE) PTE. LTD.
发明人：卡本特布萊恩F. CARPENTER, BRYAN F.
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G01R31/318371 , G01R31/3183
摘要：在一個實施例中,一種管理對資料儲存器之存取動作的方法:1)樣例化一個主執行緖、以及一些副執行緖,來給一個處理系統執行;2)在主執行緖上發動一個資料寫入器;3)在這些副執行緖中的至少一個副執行緖上發動一些資料格式化器;4)使該資料寫入器將資料項寫入一資料儲存器;5)監視一資料獲取系統的一參數;以及6)響應於該被監視的參數,藉由配合主執行緖來控制副執行緖的執行,以管理這些資料格式化器對資料儲存器及其中資料項的存取。還有其他的實施例也一併揭露。
简体摘要：在一个实施例中,一种管理对数据存储器之存取动作的方法:1)样例化一个主运行緖、以及一些副运行緖,来给一个处理系统运行;2)在主运行緖上发动一个数据写入器;3)在这些副运行緖中的至少一个副运行緖上发动一些数据格式化器;4)使该数据写入器将数据项写入一数据存储器;5)监视一数据获取系统的一参数;以及6)响应于该被监视的参数,借由配合主运行緖来控制副运行緖的运行,以管理这些数据格式化器对数据存储器及其中数据项的存取。还有其他的实施例也一并揭露。

4. 发明专利

TW200533100A 測試型樣之產生 TEST PATTERN GENERATION 审中-公开
简体标题：测试型样之产生 TEST PATTERN GENERATION
公开(公告)号：TW200533100A
公开(公告)日：2005-10-01
申请号：TW093141058
申请日：2004-12-29
申请人：高通公司 QUALCOMM INCORPORATED
发明人：李濤 LI, TAO
IPC分类号： H04B
CPC分类号： G01R31/318371 , H04B1/707
摘要：一種用於測試一CDMA積體電路之設備及方法，其中該CDMA積體電路包括一解調器與一測試資料型樣產生器，該解調器用於使輸入資料與一組編碼中之一編碼相關聯，而該測試資料型樣產生器則用於藉由該組編碼中之一編碼來擴展輸入測試資料，以形成一擴展測試資料，並將該擴展測試資料提供至該解調器。該組編碼可結合該輸入測試資料，以產生一組擴展測試資料，隨後並饋送至該CDMA晶片之各種組件，以供測試該等各種組件。在一實施例中，該組編碼之每一編碼皆包括一攪亂碼及一展頻碼。
简体摘要：一种用于测试一CDMA集成电路之设备及方法，其中该CDMA集成电路包括一解调器与一测试数据型样产生器，该解调器用于使输入数据与一组编码中之一编码相关联，而该测试数据型样产生器则用于借由该组编码中之一编码来扩展输入测试数据，以形成一扩展测试数据，并将该扩展测试数据提供至该解调器。该组编码可结合该输入测试数据，以产生一组扩展测试数据，随后并馈送至该CDMA芯片之各种组件，以供测试该等各种组件。在一实施例中，该组编码之每一编码皆包括一搅乱码及一展频码。

5. 发明专利

TW201600868A 單一可現場規劃閘陣列中多排組數位刺激響應之技術审中-公开
简体标题：单一可现场规划闸数组中多排组数码刺激响应之技术
公开(公告)号：TW201600868A
公开(公告)日：2016-01-01
申请号：TW104111788
申请日：2015-04-13
申请人：是德科技股份有限公司 , KEYSIGHT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：吉爾福德約翰H , GUILFORD, JOHN H. , 卡斯卡特吉德蓋特A , CATHCART, GIDGET A. , 慕勒約瑟夫E , MUELLER, JOSEPH E. , 希爾格雷戈里A , HILL, GREGORY A. , 納西索史帝芬J , NARCISO, STEVEN JOSEPH
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31919 , G01R31/3183 , G01R31/318371 , G01R31/31926
摘要：本發明提供一種經由多個資料傳送排組在一記憶體與一受測器件(DUT)之間移動刺激資料及響應資料的裝置。在一第一模式下，該等資料傳送排組將該刺激資料作為串列刺激資料通道之各別獨立排組輸出至該DUT，且響應於作為來自該DUT之串列資料通道之各別獨立排組提供的資料而將該響應資料寫入至該記憶體中。在一第二模式下，該等資料傳送排組將該刺激資料作為經組合串列刺激資料通道之一單一排組輸出至該DUT，且響應於作為來自該DUT之串列資料通道之一單一組合排組提供的該資料而將該響應資料寫入至該記憶體中。
简体摘要：本发明提供一种经由多个数据发送排组在一内存与一受测器件(DUT)之间移动刺激数据及响应数据的设备。在一第一模式下，该等数据发送排组将该刺激数据作为串行刺激数据信道之各别独立排组输出至该DUT，且响应于作为来自该DUT之串行数据信道之各别独立排组提供的数据而将该响应数据写入至该内存中。在一第二模式下，该等数据发送排组将该刺激数据作为经组合串行刺激数据信道之一单一排组输出至该DUT，且响应于作为来自该DUT之串行数据信道之一单一组合排组提供的该数据而将该响应数据写入至该内存中。

6. 发明专利

TWI396075B 半導體測試裝置的測試程式生成方法失效
简体标题：半导体测试设备的测试进程生成方法
公开(公告)号：TWI396075B
公开(公告)日：2013-05-11
申请号：TW096129211
申请日：2007-08-08
申请人：日立高科技工程服務股份有限公司 , HITACHI HIGH-TECH ENGINEERING SERVICE CORPORATION
发明人：菅原洋 , SUGAWARA, YO
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G01R31/318314 , G01R31/318371

7. 发明专利

TW200622591A 利用回授之測試案例產生系統與方法 SYSTEMS AND METHODS OF TEST CASE GENERATION WITH FEEDBACK 审中-公开
简体标题：利用回授之测试案例产生系统与方法 SYSTEMS AND METHODS OF TEST CASE GENERATION WITH FEEDBACK
公开(公告)号：TW200622591A
公开(公告)日：2006-07-01
申请号：TW094135684
申请日：2005-10-13
申请人：惠普研發公司 HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P.
发明人：威勒克里斯多佛T. WELLER, CHRISTOPHER TODD
IPC分类号： G06F
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318307 , G01R31/318371
摘要：一種用於施作利用回授之測試案例產生的系統與方法被揭示。用於利用回授之測試案例產生的一釋例性系統包含多個握柄為受到測試之裝置定出測試值。多個貯體之每一個與至少一測試值有關聯，每一個貯體具有一加權值用於該相關聯之測試值。一失效分析模組在操作上與該受到測試之裝置的測試作業之回授改變至少一些加權值。一測試案例產生器根據用於該相關聯之測試值的加權值為測試作業選用測試值。
简体摘要：一种用于施作利用回授之测试案例产生的系统与方法被揭示。用于利用回授之测试案例产生的一释例性系统包含多个握柄为受到测试之设备定出测试值。多个贮体之每一个与至少一测试值有关联，每一个贮体具有一加权值用于该相关联之测试值。一失效分析模块在操作上与该受到测试之设备的测试作业之回授改变至少一些加权值。一测试案例产生器根据用于该相关联之测试值的加权值为测试作业选用测试值。

8. 发明专利

TW200512471A 判斷裝置測試用記憶體需求之方法與系統 METHODS AND SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING 失效
简体标题：判断设备测试用内存需求之方法与系统 METHODS AND SYSTEMS FOR DETERMINING MEMORY REQUIREMENTS FOR DEVICE TESTING
公开(公告)号：TW200512471A
公开(公告)日：2005-04-01
申请号：TW093108862
申请日：2004-03-31
申请人：安捷倫科技公司 AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：海豪瑞德 HAYHOW, REID
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/318371
摘要：測試裝置測試用記憶體需求之方法與系統被揭示。在一實施例中，該方法包含讀取包括有將被施用至一裝置之數個測試向量的一測試檔與判斷執行該等數個測試向量所需的被要求之一記憶體。
简体摘要：测试设备测试用内存需求之方法与系统被揭示。在一实施例中，该方法包含读取包括有将被施用至一设备之数个测试矢量的一测试档与判断运行该等数个测试矢量所需的被要求之一内存。

9. 发明专利

TW358165B 資料圖案的壓縮及解壓縮方法及其壓縮和解壓縮裝置失效
简体标题：数据图案的压缩及解压缩方法及其压缩和解压缩设备
公开(公告)号：TW358165B
公开(公告)日：1999-05-11
申请号：TW087104407
申请日：1998-03-24
申请人：阿杜凡泰斯特股份有限公司
发明人：馬可.提格納
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318335 , G01R31/318307 , G01R31/318371 , G06T9/005 , H03M7/3084 , H03M7/3088 , H03M7/40 , H03M7/46
摘要：本發明係為提供為了試驗而有效地壓縮加諸在ＩＣ的測試圖案之方法。求取ＩＣ各ｐｉｎ的圖案之資料遷移次數ψ、資料的熵（不能利用的資料）；將測試資料，分配在ψ為臨界值ψM以下（ψ＜ψM）之區塊、及在ψ＞ψM下，且Ｈ為臨界值ＨM以下（Ｈ＜ＨM）之區塊、及Ｈ＞ＨM之區塊的其中１個（４１１）；ψ＜ψM之區塊以運轉長度（run length）壓縮法壓縮；在ψ＞ψM下，且Ｈ＜ＨM之區塊為Burrows Wheeler轉換後，以運行長度壓縮法壓縮；Ｈ＞ＨM之區域以ＬＺ壓縮法壓縮。
简体摘要：本发明系为提供为了试验而有效地压缩加诸在ＩＣ的测试图案之方法。求取ＩＣ各ｐｉｎ的图案之数据迁移次数ψ、数据的熵（不能利用的数据）；将测试数据，分配在ψ为临界值ψM以下（ψ＜ψM）之区块、及在ψ＞ψM下，且Ｈ为临界值ＨM以下（Ｈ＜ＨM）之区块、及Ｈ＞ＨM之区块的其中１个（４１１）；ψ＜ψM之区块以运转长度（run length）压缩法压缩；在ψ＞ψM下，且Ｈ＜ＨM之区块为Burrows Wheeler转换后，以运行长度压缩法压缩；Ｈ＞ＨM之区域以ＬＺ压缩法压缩。

10. 发明专利

TW201708836A 基於協定之自動化測試器刺激產生器审中-公开
简体标题：基于协定之自动化测试器刺激产生器
公开(公告)号：TW201708836A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：TW105117228
申请日：2016-06-01
申请人：英特爾公司 , INTEL CORPORATION
发明人：維夏姆帕楊帕拉格 , VAISHAMPAYAN, PARAAG , 薩加爾梅霍 , SAGAR, MEHUL , 邱宗易 , KHOO, CHONG YIH
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/3183
CPC分类号： G11C29/14 , G01R31/2806 , G01R31/2884 , G01R31/318307 , G01R31/318371 , G01R31/31908 , G01R31/31917 , G01R31/31919 , G11C29/022 , G11C29/18 , G11C29/50012 , G11C29/56 , G11C29/56012 , G11C2029/0401 , G11C2029/3602
摘要：一些形式係關於一SOC測試設備。該實例SOC測試設備包括一輸入介面及經由該輸入介面接收傳輸信號之一協定解碼代理。該協定解碼代理基於該等傳輸信號產生用於一SOC之測試刺激。該SOC測試設備進一步包括一輸出介面及一測試向量產生器，該測試向量產生器自該協定解碼代理接收該等測試刺激且將該等測試刺激作為數位信號供應至該輸出介面。該協定解碼代理對自該輸入介面接收之訊務進行解碼。該協定解碼代理隨後判定待施加至該SOC之該等正確測試刺激。該協定解碼代理可為用於與該DUT互動之IO協定的一軟體模型。該協定解碼代理可判定何種類型之協定包括於自該SOC接收之該等信號中。
简体摘要：一些形式系关于一SOC测试设备。该实例SOC测试设备包括一输入界面及经由该输入界面接收传输信号之一协定译码代理。该协定译码代理基于该等传输信号产生用于一SOC之测试刺激。该SOC测试设备进一步包括一输出界面及一测试矢量产生器，该测试矢量产生器自该协定译码代理接收该等测试刺激且将该等测试刺激作为数码信号供应至该输出界面。该协定译码代理对自该输入界面接收之讯务进行译码。该协定译码代理随后判定待施加至该SOC之该等正确测试刺激。该协定译码代理可为用于与该DUT交互之IO协定的一软件模型。该协定译码代理可判定何种类型之协定包括于自该SOC接收之该等信号中。

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