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1. 发明授权

KR102474172B1 살충제 잔류물의 MRFM 전이를 검출하도록 구성된 삼중 사중극자 질량 분석계 有权
公开(公告)号：KR102474172B1
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：KR1020207024181
申请日：2019-01-23
IPC分类号： G01N30/72 , G01N30/88 , G01N33/94 , H01J49/00 , H01J49/10 , H01J49/42 , H01J49/16 , H01J49/14
摘要： 본개시는 GCMS/MS 시스템에서정상적으로분석되는매우소수성이고염소화된화합물을포함하여다양한샘플중의살충제의패널및 미코톡신을분석하기위한정량적이고신속하며신뢰할수 있는 LC-MS/MS 방법을제공한다. 상기방법은단일기기를사용하여수행될수 있고, 대마초제품중 화합물에대해미국의주(예를들어, 캘리포니아) 및다른국가(예를들어, 캐나다)에의해지정된작용한계보다훨씬아래인살충제및 미코톡신의수준을검출및 정량할수 있다.

2. 发明授权

KR101936525B1 이차 이온 질량 분석기 및 그 제어 방법 有权
公开(公告)号：KR101936525B1
公开(公告)日：2019-01-09
申请号：KR1020170142115
申请日：2017-10-30
申请人： 한국기초과학지원연구원
发明人： 최명철 , 이상주 , 최창민 , 박은지 , 백지영 , 김정진 , 어재영
IPC分类号： H01J49/42 , H01J49/04

3. 发明授权

KR101757215B1 2차 전자 제어기를 갖는 입자 빔 질량 분석기 有权
公开(公告)号：KR101757215B1
公开(公告)日：2017-07-13
申请号：KR1020150104409
申请日：2015-07-23
申请人： (주)코셈
发明人： 이준희 , 김용주 , 김득현
IPC分类号： H01J49/26 , H01J49/42 , H01J49/10 , H01J49/00
摘要： 본발명은입자빔 질량분석기의입자하전부에서입자의플러스이온으로하전시에발생하는 2차전자를전기장인가방식으로제거하여플러스이온으로하전된입자빔과함께 2차전자가전류검출부로유입되지않도록하는입자빔 질량분석기를제공함에있다. 이를위한본 발명의입자빔 질량분석기는, 진공챔버와, 미세입자를포함한기체를집속, 가속하여입자빔을형성하는입자집가속부와, 가속된입자빔을플러스이온으로하전시키는입자하전부와, 전기장을형성하여상기하전된입자빔의진행경로를변경시키는입자빔 방향전환부와, 입자하전부와입자빔 방향전환부사이에배치되고상기입자하전부에서입자빔의플러스이온하전시발생되는 2차전자를입자빔 진행방향에서제거하도록전자기력을발생하는 2차전자제어부를포함한다.

4. 发明公开

KR1020130102569A 이온 이동 장치 无效
标题翻译：离子转移装置
公开(公告)号：KR1020130102569A
公开(公告)日：2013-09-17
申请号：KR1020137007935
申请日：2011-08-31
申请人： 아토나프 가부시키가이샤
发明人： 사토,토모요시
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/40 , H01J49/42
CPC分类号： H01J37/08 , G01N1/38 , G01N27/624 , G01N2001/2893 , H01J49/022 , H01J49/04
摘要： 이온화된 물질을 제 1 방향으로 이동시키는 이동 장치(30)를 제공한다. 이동 장치(30)는 드리프트 튜브(50)를 가지며, 드리프트 튜브(50)는, 외곽을 구성하는 전극 플레이트(71 및 72)와, 튜브 내에 배치된 복수의 링 전극(60, 61, 62)을 포함한다. 링 전극(60)은, 이온화된 물질을 축방향인 제 1 방향으로 진행시키는 리니어 구동용 제 1 교류 전계를 형성한다. 전극 플레이트(71 및 72)는, 이온화된 물질의 진행 방향을 편향시키는 비대칭인 제 2 교류 전계를 형성한다.

5. 发明公开

KR20210035102A 높은 스루풋 전하 검출 질량 분광분석법을 위한 이온 트랩 어레이 审中-公开
公开(公告)号：KR20210035102A
公开(公告)日：2021-03-31
申请号：KR20207037876
申请日：2019-01-11
IPC分类号： H01J49/42
摘要： 정전기선형이온트랩(ELIT) 어레이는, 단대단으로배열되며중심을관통하여연장되는축 방향통로를각각정의하는다수의가늘고긴 전하검출실린더, 축방향으로정렬된공동쌍 및중심을관통하여연장되는축 방향통로를각각정의하는복수의이온미러구조체 - 상이한이온미러구조체는각각의실린더의양 단부사이에서배치됨 - , 및적어도하나의공동및 중심을관통하여연장되는축 방향통로를각각정의하는전면및 후면이온미러 - 전면이온미러는전하검출실린더의배열의한쪽단부에서배치되고후면이온미러는전하검출실린더의배열의반대쪽단부에서배치됨 - 를포함하되, 전하검출실린더, 이온미러구조체, 전면이온미러및 후면이온미러의축 방향통로는, ELIT 어레이를통해중심에서통과하는길이방향축을정의하도록동축이다.

6. 发明公开

KR1020150133300A 정전 이온 트랩 有权
标题翻译：静电离子阱
公开(公告)号：KR1020150133300A
公开(公告)日：2015-11-27
申请号：KR1020157032631
申请日：2010-05-05
申请人： 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드
发明人： 브루커,게라르도,에이. , 반앤트워프,케니스,디. , 래스본,쥐.,제프리 , 헤인부흐,스콧,씨. , 스콧,마이클,앤.
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62 , H01J49/00
CPC分类号： H01J49/4245 , H01J49/0063 , H01J49/429
摘要： 이온트랩은제1 및제2 마주보는미러전극들과이들사이의중앙렌즈를포함하며, 고유진동주파수들에있는이온들이궤적들에구속되는정전포텐셜을생성하고구속하는포텐셜은비조화인전극구조를포함한다. 이온트랩은또한구속된이온들을이온들의고유진동주파수의 2배의주파수로여기시키는여기주파수(f)를가지고바람직하게는중앙렌즈에연결된 AC 여기소스를포함한다. 일실시예에서, 이온트랩은 AC 여기주파수와이온들의고유진동주파수의약 2배사이의주파수차이를질량선택적으로감소시키는스캔제어부를포함한다.
摘要翻译：该离子阱包括第一和第二相对的镜电极以及其间的中心透镜，并且包括电极结构，其中处于固有振荡频率的离子产生被限制于轨迹并限制电势的电势的。离子阱还包括耦合到中心透镜的AC激励源，优选地具有激励频率f，该激励频率f将受约束的离子激发到两倍于离子的固有振荡频率的频率。在一个实施例中，离子阱包括扫描控制单元，该扫描控制单元质量选择性地降低AC激励频率和大约两倍离子固有频率之间的频率差。

7. 发明授权

KR101482440B1 이온 트랩 장치 및 그 제작 방법 有权
标题翻译：用于捕捉离子的装置及其制造方法
公开(公告)号：KR101482440B1
公开(公告)日：2015-01-15
申请号：KR1020130121955
申请日：2013-10-14
申请人： 에스케이텔레콤 주식회사 , 서울대학교산학협력단
发明人： 조동일 , 김태현 , 윤종건 , 최병두 , 홍석준 , 이민재
IPC分类号： H01J49/42 , H01J49/10
CPC分类号： H01J3/00 , H01J9/14 , H01J49/0013 , H01J49/422
摘要： 본 발명의 실시예는 반도체 기판 상에 DC 연결패드, 및 상기 DC 연결패드에 연결된 DC 레일을 포함하는 하나 이상의 중앙 DC전극; 상기 DC 레일에 인접하여 위치하는 하나 이상의 RF 레일, 및 상기 하나 이상의 RF 레일에 연결된 RF 패드를 포함하는 RF 전극; 및 상기 RF 전극을 기준으로 상기 DC전극 반대측에 위치하는 하나 이상의 측방 전극 패드를 포함하는 하나 이상의 측방 전극을 포함하고, 각 전극은 상호 대면하고 있는 부분의 모서리가 둥근(Round) 형태를 하는 이온 트랩 장치 및 그 제작 방법을 제공한다.
摘要翻译：提供了用于捕获离子以提高稳定性的装置及其制造方法。本发明的实施例包括至少一个中心DC电极，其包括在半导体衬底上的直流连接和连接到DC连接焊盘的DC轨; RF电极，其包括与所述DC轨道相邻的至少一个RF轨道和连接到所述至少一个RF轨道的RF焊盘; 以及至少侧电极，其包括基于RF电极位于DC电极的相对部分的至少一个侧电极焊盘。每个电极具有彼此面对的圆形边缘。

8. 发明公开

KR1020140056175A FAIMS 셀이 삽입된 이온 이동성 분광 측정기 장치 无效
标题翻译：具有嵌入式FAIMS电池的离子移动光谱仪器件
公开(公告)号：KR1020140056175A
公开(公告)日：2014-05-09
申请号：KR1020137031460
申请日：2012-04-23
申请人： 임플란트 사이언스 코포레이션
发明人： 이바신,드미트리,브이. , 보움셀렉,세이드
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： G01N27/624
摘要： 가변 주파수 펄스 이온화 소스와 두 개의 분리 기술, 로우 (IMS) 그리고 하이 (FAIMS) 필드 이동을 사용하는 텐덤(tandem) 장비가 제공된다. 분석 단계는 IMS 드리프트 튜브(1012) 내 축에 포함 된 필드 구동 FAIMS 셀(1020)을 특징으로 한다. FAIMS 셀은 IMS 링과 거의 같은 직경의 두 개의 병렬 그리드를 포함하고 드리프트 관을 따라 어디든지 위치할 수 있으며, 동일한 IMS 필드를 만들 기 위해 전압 분배기 래더(ladder)내 이들의 위치에 따라 그 방향이 정해 질 수 있다. 격자 사이의 간격은 드리프트 필드에 추가하여 이온이 FAIMS의 비대칭 분산 필드의 영향을 받는 분석 갭(gap)을 구성한다. 비대칭 파형의 높고 낮은 전압 동안 수행된 진동 운동은 이들의 이동성 차이에 따라 이온들을 분리시킨다. 이러한 로우 (IMS) 그리고 하이 (FAIMS) 필드 이동 기술과 같은 결합 직교 기술을 사용하여, 저렴한 비용, 진공이 불필요, 향상된 검출 및 식별을 위한 2-D 스펙트럼의 생성을 포함하는 이온 검출 및 분석 기술에 여러 장점을 제공한다. 두 가지 분석 장치는 각기 다른 모드로 동작할 수 있으며, 이는 결국 하이픈 장비를 응용 프로그램의 요구 사항에 적용시킴에 의해 전체 유연성을 가져온다. IMS-FAIMS 하드웨어 수준의 유연성으로, 장비가 구성되고 최적화되어 다양한 표적 화합물에 대하여 다양한 검출 시나리오에 적합한 여러 다른 절충(trade-off)을 이용하도록 한다.

9. 发明公开

KR1020120123481A 감도 및 질량 분해능이 개선된 사중극자 질량 분석기 无效
标题翻译：具有增强灵敏度和质量分辨力的QUADRUPOLE质谱仪
公开(公告)号：KR1020120123481A
公开(公告)日：2012-11-08
申请号：KR1020127022331
申请日：2011-02-28
申请人： 서모 피니건 엘엘씨
发明人： 쇼언앨런이 , 그로드쥬니어로버트에이
IPC分类号： H01J49/42
CPC分类号： H01J49/4215 , H01J49/0031 , H01J49/0036 , H01J49/025 , H01J49/26 , H01J49/42 , H01J49/421
摘要： 다중극자 기기의 하나 이상의 이온 출구 패턴의 이미지를 공간적 및 시간적으로 분해하는 신규의 방법 및 질량 분석 장치를 소개한다. 특히, 본 발명의 방법 및 구조는 어레이형 검출기를 통해 사중극자 질량 필터의 빔 횡단면에서 시간적 및 공간적 변위의 함수로서 이온 전류를 측정한다. 검출된 사중극자 이온 전류의 선형성은, 재생 가능한 시간적-공간적 구조와 협력하여, 감도 및 질량 분해능이 필수적인 복합 혼합에서 개별 이온종으로부터의 신호들의 기여도의 디컨볼루션을 가능하게 한다.

10. 发明公开

KR1020120060941A 정전 이온 트랩 有权
标题翻译：静电离子阱
公开(公告)号：KR1020120060941A
公开(公告)日：2012-06-12
申请号：KR1020117028183
申请日：2010-05-05
申请人： 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드
发明人： 브루커,게라르도,에이. , 반앤트워프,케니스,디. , 래스본,쥐.,제프리 , 헤인부흐,스콧,씨. , 스콧,마이클,앤. , 힌치,바바라제인 , 에르마코브,알렉세이브이.
IPC分类号： H01J49/42 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/4245 , H01J49/0063 , H01J49/429 , H01J49/42 , G01N27/62 , H01J49/0027
摘要： 이온 트랩은 제1 및 제2 마주보는 미러 전극들과 이들 사이의 중앙 렌즈를 포함하며, 고유 진동 주파수들에 있는 이온들이 궤적들에 구속되는 정전 포텐셜을 생성하고 구속하는 포텐셜은 비조화인 전극 구조를 포함한다. 이온 트랩은 또한 구속된 이온들을 이온들의 고유 진동 주파수의 2배의 주파수로 여기시키는 여기 주파수(f)를 가지고 바람직하게는 중앙 렌즈에 연결된 AC 여기 소스를 포함한다. 일 실시예에서, 이온 트랩은 AC 여기 주파수와 이온들의 고유 진동 주파수의 약 2배 사이의 주파수 차이를 질량 선택적으로 감소시키는 스캔 제어부를 포함한다.

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