基本信息:
- 专利标题： 정전 이온 트랩
- 专利标题（英）：Electrostatic ion trap
- 专利标题（中）：静电离子阱
- 申请号：KR1020117028183 申请日：2010-05-05
- 公开(公告)号：KR1020120060941A 公开(公告)日：2012-06-12
- 发明人： 브루커,게라르도,에이. , 반앤트워프,케니스,디. , 래스본,쥐.,제프리 , 헤인부흐,스콧,씨. , 스콧,마이클,앤. , 힌치,바바라제인 , 에르마코브,알렉세이브이.
- 申请人： 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드
- 申请人地址： * Tech Drive, Suite ***, Andover, MA *****, U.S.A.
- 专利权人： 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드
- 当前专利权人： 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드
- 当前专利权人地址： * Tech Drive, Suite ***, Andover, MA *****, U.S.A.
- 代理人： 특허법인 남앤드남
- 优先权： US61/176,390 2009-05-07; US61/215,501 2009-05-06; US61/325,119 2010-04-16; US61/329,163 2010-04-29
- 国际申请： PCT/US2010/033750 2010-05-05
- 国际公布： WO2010129690 2010-11-11
- 主分类号： H01J49/42
- IPC分类号： H01J49/42 ; G01N27/62
摘要：
이온 트랩은 제1 및 제2 마주보는 미러 전극들과 이들 사이의 중앙 렌즈를 포함하며, 고유 진동 주파수들에 있는 이온들이 궤적들에 구속되는 정전 포텐셜을 생성하고 구속하는 포텐셜은 비조화인 전극 구조를 포함한다. 이온 트랩은 또한 구속된 이온들을 이온들의 고유 진동 주파수의 2배의 주파수로 여기시키는 여기 주파수(f)를 가지고 바람직하게는 중앙 렌즈에 연결된 AC 여기 소스를 포함한다. 일 실시예에서, 이온 트랩은 AC 여기 주파수와 이온들의 고유 진동 주파수의 약 2배 사이의 주파수 차이를 질량 선택적으로 감소시키는 스캔 제어부를 포함한다.
摘要（英）：
Ion trap comprises first and second facing and seeing a central lens between the mirror electrode and these, the potential for generating and redeeming an electrostatic potential that ions are constrained to trajectories which the natural frequency is a non-conditioning of the electrode structure It includes. Ion traps are also constrained to the ion preferably has an excitation frequency (f) for exciting a frequency of twice the natural frequency of the ions comprises an AC excitation source connected to the central lens. In one embodiment, the ion trap comprises a scanning control section for the frequency difference between about 2 times the natural frequency of the AC excitation frequency and ion mass selectively reduced.
公开/授权文献:
- KR101570652B1 정전 이온 트랩 公开/授权日：2015-11-23