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1. 发明公开

KR1020150045523A 분광 측정 장치 有权
标题翻译：光谱测量装置
公开(公告)号：KR1020150045523A
公开(公告)日：2015-04-28
申请号：KR1020157008521
申请日：2013-10-02
申请人： 고쿠리츠다이가쿠호우징 카가와다이가쿠
发明人： 이시마루이치로
IPC分类号： A61B5/1455 , A61B5/00 , G01J3/06 , G01J3/453 , G01N21/27 , G01N21/35
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595 , A61B5/1455 , A61B5/0075 , G01J3/06 , G01J3/453 , G01N21/27 , G01N21/35
摘要： 본발명의분광측정장치는피측정물의측정영역내에위치하는복수의측정점으로부터각각발사된측정광속을제1 측정광속및 제2 측정광속으로분할하는분할광학계와, 제1 측정광속및 제2 측정광속을간섭시키는결상광학계와, 제1 측정광속및 제2 측정광속의사이에연속적인광로길이차분포를주는광로길이차부여수단과, 광로길이의연속적인분포에상응하는간섭광의강도분포를검출하는복수의픽셀을포함하는검출부와, 검출부에서검출되는간섭광의광강도분포에기초하여, 피측정물의측정점의인터페로그램을구하고, 이인터페로그램을푸리에변환함으로써스펙트럼을취득하는처리부와, 피측정물과분할광학계의사이에배치된, 그분할광학계와공통의공역면을가지는공역면결상광학계와, 공역면에배치되어복수의측정점으로부터발사된측정광속에공간적인주기변조를주는주기성부여수단을구비한다.
摘要翻译：根据本发明的光谱特性测量装置包括：分割光学系统，用于将位于待测物体的测量区域内的多个测量点中的每一个发射的测量光束分成第一测量光束和第二测量光束; 用于使第一测量光束和第二测量光束彼此干涉的成像光学系统; 光路长度差提供装置，用于提供第一测量光束和第二测量光束之间的光程长度差的连续分布; 用于检测干涉光的光强度分布的检测器; 基于由所述检测器检测出的干涉光的光强度分布获取被测量物体的测量点的干涉图并进行傅立叶变换以获得光谱的处理器; 位于被测量物体与分割光学系统之间的共轭平面成像光学系统，共轭平面成像光学系统具有与分割光学系统共享的共轭平面; 以及位于共轭平面上的周期性提供装置，用于在从多个测量点发射的测量光束之间提供周期性。

2. 发明公开

KR1020110036944A 주파수 빗들을 가진 간섭계 및 동기화 설계 无效
标题翻译：具有频率COMBS和同步方案的干扰器
公开(公告)号：KR1020110036944A
公开(公告)日：2011-04-12
申请号：KR1020117004575
申请日：2009-07-20
申请人： 상뜨르 나쇼날 드 라 러쉐르쉬 샹띠피끄 , 막스-플랑크-게젤샤프트 츄어 푀르더룽 데어 비쎈샤프텐 에.파우.
发明人： 게라츠비리,가이 , 한슈,데오도르,더블유. , 픽끄,나탈리
IPC分类号： G01J3/453
CPC分类号： G01J3/453 , G01B9/02
摘要： 본 발명은 1) 제 1 주파수 빗, 2) 간섭을 만들기 위해 제 1 주파수 빗과 상호 작용하기 위해 구성된 제 2 주파수 빗, 3) 2 개의 빗들의 주파수 성분들 중에서 주파수 성분들의 서브셋 사이의 비팅 신호를 분리시키는 수단을 포함한 간섭계에 관한 것이다. 주파수 성분들의 이 서브셋은 제 1 주파수 빗의 신호 라인 및 제 2 주파수 빗의 신호 라인인 것이 바람직하지만, 반드시 그럴 필요는 없다. 본 발명은 4) 이 비팅 신호를 모니터링하고, 제 1 주파수 빗 및 제 2 주파수 빗의 전체 주파수 성분들 사이의 비팅 간섭 신호를 기록하는 획득 유닛 장치에 대한 트리거 또는 클럭으로서 상기 비팅 신호를 사용하는 수단을 포함한다.

3. 发明授权

KR101828100B1 분광측정장치 有权
标题翻译：光谱仪
公开(公告)号：KR101828100B1
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：KR1020127028765
申请日：2012-04-26
申请人： 포스 애널리터컬 에이/에스
发明人： 폴켄베르크,야콥 , 라르센,한스
IPC分类号： G01B9/02 , G01J3/453
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/4535
摘要： 입사광선을반사빔경로를따르는반사빔및 투과빙경로를따르는투과빔으로분할시키는빔스플리터(40)를구비한주사간섭계(40,42,44); 기준빔을간섭계(40,42,44)에발사시키되, 제1 전파경로(62)를따라빔스플리터(40)의제1면(40′)에초기입사되도록발사시키는단파장광방사원(52); 관측빔(64)을간섭계(4,6,8)에발사시키되, 제2 전파경로(66)을따라빔스플리터(40)의제1면(40′)에초기입사되어제1면(40′)에서기준빔에중첩되도록발사시키는관측광방사원(46)을포함하며, 상기방사원들(52;46)은공조하여, 두빔이제1면(40′)에초기에동시입사할때 각각의제1 전파경로(62)와제2 전파경로(66)와평행한상기두 빔의전파방향사이에관측빔(64)의반(半)-발산각(α)보다큰 제1 각도(θ)를생성하는것을특징으로하는분광측정장치(38).
摘要翻译：与分束器40设置用于根据沿着传输和冰路径反射光束扫描路径干涉仪（40,42,44）的反射光束与入射光束分离成透射束; Sikidoe击发参考光束干涉仪（40,42,44），所述第一传播路径短波长的光辐射源（52），用于烧制使得初始入射沿62分束器40议程第一表面40”上; Sikidoe击发观察光束（64）与干涉仪（4,6,8），沿着第二传播路径66“最初入射到第一表面上（40分束器40，第一议程表面40”）并且辐射源52和46协作以使两个光束中的每一个入射在第一表面40'上，其特征在于，用于产生比每个发散大的第一角度（θ）（α） - 62沃赫第二传播路径66和两个光束的平行hansanggi传播方向之间的路径观测光束（64）uiban（半）光谱仪38。

4. 发明授权

KR101198013B1 음향광변조필터를 이용한 다중파장 헤테로다인 간섭계 有权
标题翻译：多波长外差干涉仪使用AOTF
公开(公告)号：KR101198013B1
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：KR1020110083527
申请日：2011-08-22
申请人： 서강대학교산학협력단
发明人： 조규만 , 박영규
IPC分类号： G01J3/453 , G01B9/02
摘要： PURPOSE: A multi-frequency heterodyne interferometer using an AOTF(Acousto-Optical Tunable Filter) is provided to obtaining a multi-frequency interferometer using an acousto-optical tunable filter, thereby constituting various complex wavelengths by avoiding 2π-ambiguity with an optical system of a simple structure. CONSTITUTION: A multi-frequency heterodyne interferometer using an AOTF comprises a light source(600), a polarization beam splitter(610), an acousto-optical tunable filter(620), an AOTF driving unit(630), a sample stage(640), a second beam route guide unit(650), a quarter wavelength phase-lag plate, a multi-wavelength demodulator(670), and a controlling unit(680). The light source provides multi-wavelength beams. The polarization beam splitter transmits or reflects the beams provided by the light source according to a polarization condition. The acousto-optical tunable filter divides the multi-wavelength beams into first and second beams per wavelengths according to RF frequencies and outputs the second beams by separating the same from the first beams at a different angle according to each frequencies. The AOTF driving unit provides driving RF frequencies to the acousto-optical tunable filter, thereby driving the acousto-optical tunable filter. The sample stage is arranged in a progressive path of the first beams, thereby providing signal beams by reflecting the first beams along an incident route of the first beams. [Reference numerals] (630) AOTF driving unit; (676) Demodulator
摘要翻译：目的：提供使用AOTF（声光调谐滤波器）的多频外差干涉仪，以获得使用声光可调谐滤波器的多频干涉仪，从而通过避免2π模糊度与光学可调谐滤波器的2π模糊度来构成各种复杂波长一个简单的结构。构成：使用AOTF的多频外差干涉仪包括光源（600），偏振分束器（610），声光可调滤波器（620），AOTF驱动单元（630），样本台（640 ），第二光束路径引导单元（650），四分之一波长相位滞后板，多波长解调器（670）和控制单元（680）。光源提供多波长光束。偏振光束分离器根据偏光条件透射或反射由光源提供的光束。声光可调谐滤波器根据RF频率将多波长光束分成每波长的第一和第二波束，并且根据每个频率以不同的角度将第一波束与第一波束分开，并输出第二波束。 AOTF驱动单元向声光可调谐滤波器提供驱动RF频率，从而驱动声光可调谐滤波器。样本台被布置在第一光束的逐行路径中，从而通过沿着第一光束的入射路径反射第一光束来提供信号光束。（附图标记）（630）AOTF驱动单元; （676）解调器

5. 发明公开

KR1019980703176A 광학적 가스 분석기 无效
标题翻译：光学气体分析仪
公开(公告)号：KR1019980703176A
公开(公告)日：1998-10-15
申请号：KR1019970706579
申请日：1996-03-20
申请人： 에스씨아이-테크 인스트루먼츠 인코포레이티드
发明人： 이바노브에브제니블라디미로비키
IPC分类号： G01N21/3518 , G01J3/453
摘要： 광학적 가스 분석기가 광학적, 기계적 및 전자적 시스템을 포함한다. 상기 광학적 시스템은 시준기, 광필터, 변조된 간섭 분극 필터(IPF), 그리고 광 탐지기를 포함한다. 상기 변조된 IPF 는 서로 크로스되거나 평행한 두 개의 분극기를 포함하며, 이들 두 분극기 사이에 광학적 변조기와 복굴절 판이 장착된다. 상기 복굴절 판은 전기-기계 구동기에 의해 전자 시스템에 의해 기계적으로 구동되고 제어되는 가변의 두께를 가진다. 상기 광 탐지기를 그 출력이 전자 시스템에 연결되고 IPF 뒤에 배열된다. 이같은 가스 분석기는 측정된 가스 밀도의 최소 탐지가능 한계가 가생 변조의 영향을 크게 줄이므로써 작아지도록 하는 장점을 갖는다. 상기 기생 변조는 가스 분석기의 광학적 및 전자적 유닛내로 광학적 변조기에 의해 발생된다. 그러나, 변조된 IPF 의 동기식 변조는 이같은 두 측정값의 차이를 바탕으로 최종 출력에서의 기생 영향을 제거시킨다.

6. 发明授权

KR102425545B1 온실가스 전량 농도 생산 운영 시스템 및 방법 有权
公开(公告)号：KR102425545B1
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：KR1020220046119
申请日：2022-04-14
IPC分类号： G06Q50/26 , G01J3/453 , G01N21/25 , G01N33/00

7. 发明授权

KR102312240B1 능동적 재조정 기능을 갖는 역간섭계 有权
公开(公告)号：KR102312240B1
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：KR1020207030460
申请日：2019-04-18
IPC分类号： G01J3/453
摘要： 본발명은간섭계조립체(1)에관한것으로서, 유용한광을위한입력부(3), 빔스플리터(8), 2개의간섭계아암(13, 14)을확립하기위한 2개의역반사기(15, 16), 간섭계아암(13, 14) 사이의광 경로차를변경하기위해역반사기(15, 16) 중적어도하나를이동시키기위한드라이브(24), 간섭성참조광을위한참조광원(5), 유용한광을위한출력부(21), 및참조광 검출기(19)를포함하고, 상기간섭계조립체는참조광 검출기(19)가적어도 3개의검출기면(19a-19d)을포함하고, 제1 쌍의검출기면들(19a, 19b)의검출기면들은제1 방향(ER)으로정렬되고, 제2 쌍의검출기면들(19a, 19c)의검출기면들은제2 방향(ZR)으로정렬되며, 제1 방향(ER), 제2 방향(ZR) 및참조광 검출기(19) 상의참조광(17)의중심전파방향은선형으로독립적이며, 간섭계조립체(1)는또한 - 빔스플리터(8)로부터의참조광(17)을포커싱하기위해, 빔스플리터(8)와참조광 검출기(19) 사이에배치되는참조광(17)을위한수집요소(18), - 간섭계아암(13, 14)으로부터다시반사되고다시빔 스플리터(8)에서중첩되는 2개의참조광 부분빔(11, 12) 사이의측면전단(lateral shearing)을적어도 2개의자유도에서변경하기위한적어도 2개의액추에이터(9, 10), 및 - 참조광 검출기(19)의검출기면(19a-19d)에서의신호(Sa-Sc)에따라액추에이터(9, 10)를제어하기위한조절전자장치(38)를포함하는것을특징으로한다. 본발명은역반사기에기초한간섭계조립체를제공하며, 이러한조립체에의해더 높은정도의평가가능하고더 안정된유용한광 강도가보장될수 있다.

8. 发明公开

KR20210033021A 전자기장의 수색성 간섭 중첩을 이용한 간섭법 审中-公开
公开(公告)号：KR20210033021A
公开(公告)日：2021-03-25
申请号：KR20217004523
申请日：2018-07-16
IPC分类号： G01B9/02 , G01J3/02 , G01J3/453 , G01N21/45
摘要： 이중빔 경로간섭계를가지며, 전자기장의수색성간섭중첩을위한간섭계장치는입력빔을적어도하나의편향거울을포함하는제1 간섭계암(A1)을따라전파하는제1 빔과적어도하나의편향거울을포함하는제2 간섭계암(A2)을따라전파하는제2 빔으로나누기위해배치된빔 분리기와제1 및제2 빔을보강출력과상쇄출력으로재결합하기위한빔 결합기를포함하되, 상기제1 및제2 간섭계암은동일한광학경로길이를가지고, 상기빔 분리기및 빔결합기의반사표면은제2 간섭계암과비교하여제1 간섭계암에서, 하나의추가적인프레넬반사가광학적으로밀한매질에서제공되고, 제1 및제2 빔의전자기장의전파는빔 결합기에의해재결합될때, 상쇄출력에대한두 간섭계암의기여도사이에파장독립적인π의위상차가되도록배치되며, 상기제1 간섭계암은제1 및제2 간섭계암에서색 분산과프레넬손실의균형을맞추기위해배치된균형투과구성을포함한다. 아울러, 간섭측정장치및 간섭측정방법을개시한다.

9. 发明公开

KR1020150047613A 분광 측정 장치 有权
标题翻译：光谱特性测量装置
公开(公告)号：KR1020150047613A
公开(公告)日：2015-05-04
申请号：KR1020157008187
申请日：2013-10-02
申请人： 고쿠리츠다이가쿠호우징 카가와다이가쿠
发明人： 이시마루이치로
IPC分类号： G01J3/453 , G01J3/06 , G01N21/27 , G01N21/35
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
摘要： 본발명의분광특성측정장치는피측정물의측정영역내에위치하는복수의측정점으로부터각각발사된측정광속을제1 측정광속및 제2 측정광속으로분할하는분할광학계와, 제1 측정광속및 제2 측정광속을간섭시키는결상광학계와, 제1 측정광속및 제2 측정광속의사이에연속적인광로길이차분포를주는광로길이차부여수단과, 간섭광의광강도분포를검출하는검출부와, 검출부에서검출되는간섭광의광강도분포에기초하여, 피측정물의측정점의인터페로그램을구하고, 이인터페로그램을푸리에변환함으로써스펙트럼을취득하는처리부와, 피측정물과분할광학계의사이에배치된, 그분할광학계와공통의공역면을가지는공역면결상광학계와, 공역면에배치되어복수의측정점으로부터발사된측정광속의사이에주기성을부여하는주기성부여수단을구비한다.
摘要翻译：根据本发明的光谱特性测量装置包括：分割光学系统，用于将位于待测物体的测量区域内的多个测量点中的每一个发射的测量光束分成第一测量光束和第二测量光束; 用于使第一测量光束和第二测量光束彼此干涉的成像光学系统; 光路长度差提供装置，用于提供第一测量光束和第二测量光束之间的光程长度差的连续分布; 用于检测干涉光的光强度分布的检测器; 基于由所述检测器检测出的干涉光的光强度分布获取被测量物体的测量点的干涉图并进行傅立叶变换以获得光谱的处理器; 位于被测量物体与分割光学系统之间的共轭平面成像光学系统，共轭平面成像光学系统具有与分割光学系统共享的共轭平面; 以及位于共轭平面上的周期性提供装置，用于在从多个测量点发射的测量光束之间提供周期性。

10. 发明公开

KR1020110036945A 주파수 빗 광원을 갖는 푸리에 변환 분광기 无效
标题翻译：具有频率光源的FOURIER变换光谱仪
公开(公告)号：KR1020110036945A
公开(公告)日：2011-04-12
申请号：KR1020117004582
申请日：2009-07-20
申请人： 상뜨르 나쇼날 드 라 러쉐르쉬 샹띠피끄 , 유니베르시떼 파리스 쉬드 (파리스 11)
发明人： 픽끄,나탈리 , 게라츠비리,가이 , 만돈,줄리엔
IPC分类号： G01J3/453
CPC分类号： G01J3/453
摘要： 본 발명은: 간섭 광원(2); 간섭 광원을 둘 또는 그 이상의 부분으로 분리하여 주파수- 또는 위상-유도 효과로 둘 또는 그 이상의 부분 사이에 간섭을 생성하도록 구성되는 간섭계(4); 간섭을 검출하도록 구성되는 검출 수단(5)을 포함하는 푸리에 변환 분광기(1)에 관한 것으로, 상기 간섭 광원은 주파수 반복률을 갖는 주파수 빗 생성기(2)를 포함하고, 상기 검출 수단은 주파수 반복률 또는 주파수 반복률의 배수에 의해 분리되는 주파수 빗의 주파수 쌍들의 비팅을 검출하도록 구성된다.

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