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1. 发明公开

KR1020170068563A 이온 개질을 갖는 이온 이동도 분광 분석기 审中-实审
标题翻译：离子改性离子迁移谱仪
公开(公告)号：KR1020170068563A
公开(公告)日：2017-06-19
申请号：KR1020177012988
申请日：2015-10-14
申请人： 스미스 디텍션-워트포드 리미티드
发明人： 앳킨슨,조나단 , 클락,알라스테어
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： G01N27/622 , H01J49/0422 , H01J49/0495
摘要： 이온이동도분광분석기(100)는가스유체의샘플이주위압력영역으로부터이온화될이온이동도분광분석기의저압영역으로흐르도록허용하기위해배치된개구를포함하는샘플입구(108); 주위압력보다낮도록저압영역에서의가스압력을제어하기위해배치된제어기(200); 및가스의샘플로부터획득되는저압영역에서의이온을개질시키도록구성된이온개질제(126, 127, 202)를포함하며, 이온은가스샘플로부터획득된다.
摘要翻译：离子迁移谱仪100包括样品入口108，样品入口108包括开口，该开口设置成允许气态流体的样品从离子迁移谱仪的环境压力区域流动到离子迁移谱仪的低压区域以被离子化; 控制器（200），其被配置为控制低压区域中的气体压力低于环境压力; 并且配置成修改从气体样本获得的低压区域中的离子的离子改变器（126,127,202），其中从气体样本获得离子。

2. 发明公开

KR1020070011881A 누설 이온 빔 감지용 디텍터를 구비하는 애널라이징 챔버및 이를 구비하는 질량분석기 有权
标题翻译：分析室包括漏水离子束检测器和包括其中的大分析仪
公开(公告)号：KR1020070011881A
公开(公告)日：2007-01-25
申请号：KR1020050066517
申请日：2005-07-22
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 엄현섭 , 이승세 , 김영대 , 강곤수 , 안성열
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/24 , H01J37/05 , H01J37/09 , H01J37/3171 , H01J49/025 , H01J49/0495 , H01J2237/0225 , H01J2237/028 , H01J2237/31705 , G01N27/628
摘要： An analyzing chamber including a leakage ion beam detector is provided to effectively extract ions required for an ion injection process by preventing an inferiority of an analyzing chamber. A chamber for a mass analyzer includes a body(100), a shielding section(200), and a detector(300). The body has an introduction section(110), a discharge section(120), and an interior passage. The shielding section is arranged along the inner side wall defining the interior passage to prevent the inner side wall from being damaged by ion beams passing through the body. The detector is located between the shielding section and the inner side wall of the body to detect the ion beams reaching the inner side wall.
摘要翻译：提供包括泄漏离子束检测器的分析室，以通过防止分析室的劣化来有效地提取离子注入过程所需的离子。用于质量分析器的室包括主体（100），屏蔽部分（200）和检测器（300）。主体具有导入部（110），排出部（120）和内部通路。屏蔽部分沿着限定内部通道的内侧壁布置，以防止内侧壁被穿过本体的离子束损坏。检测器位于屏蔽部分和主体的内侧壁之间，以检测到达内壁的离子束。

3. 发明公开

KR1020160033162A 감소된 평균 유동을 가지는 질량 분석계 입구 审中-实审
标题翻译：大量光谱仪入口具有降低的平均流量
公开(公告)号：KR1020160033162A
公开(公告)日：2016-03-25
申请号：KR1020167003904
申请日：2014-07-07
申请人： 스미스 디텍션 인크.
发明人： 버카웃,배딤
IPC分类号： H01J49/04 , H01J49/26 , H01J37/05 , H01J41/12
CPC分类号： H01J49/0495 , H01J49/0031 , H01J49/0422 , H01J49/0468
摘要： 질량분석을위하여질량분석계내로대기압상태에서또는거의대기압상태에서이온을운반하도록구성된인터페이스가제공된다. 인터페이스는이온을함유하는유체를수용하도록구성된입구및 질량분석계내로이온을함유하는유체를보내도록구성된출구를가지는제1 도관을포함한다. 제1 도관은입구로부터출구까지연장하는제1 유동경로를한정한다. 인터페이스는펌프를포함한다. 인터페이스는제2 도관을포함한다. 제2 도관은입구를포함한다. 제2 도관은제1 도관의입구와출구사이의위치로부터제2 도관의출구로연장하는제2 유동경로를한정한다. 펌프는제1 유동경로에서움직이는이온을함유하는유체의일부분을제2 유동경로로전환하도록구성된다.
摘要翻译：提供了一种被配置为将在大气压条件下或其附近产生的离子转移到用于质量分析的质谱仪中的界面。界面包括第一导管，其包括被配置为接收含有离子的流体的入口和被配置为将含有离子的流体引导到质谱仪中的出口。第一导管限定从入口延伸到出口的第一流路。接口包括一个泵。界面包括第二导管。第二导管包括入口。第二导管限定从第一导管的入口和出口之间的位置延伸到第二导管的出口的第二流动路径。泵构造成将包括在第一流动路径中移动的离子的一部分流体转移到第二流动路径。

4. 发明授权

KR100684105B1 누설 이온 빔 감지용 디텍터를 구비하는 애널라이징 챔버및 이를 구비하는 질량분석기 有权
标题翻译：分析室包括漏水离子束检测器和包括其中的大分析仪
公开(公告)号：KR100684105B1
公开(公告)日：2007-02-16
申请号：KR1020050066517
申请日：2005-07-22
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 엄현섭 , 이승세 , 김영대 , 강곤수 , 안성열
IPC分类号： G01N27/62
CPC分类号： H01J49/24 , H01J37/05 , H01J37/09 , H01J37/3171 , H01J49/025 , H01J49/0495 , H01J2237/0225 , H01J2237/028 , H01J2237/31705
摘要： 누설되는 이온빔을 감지할 수 있는 질량분석기용 챔버가 개시된다. 질량분석기용 챔버는 이온빔이 입사되는 유입부, 상기 이온빔이 방출되는 유출부 및 상기 유입부와 유출부 사이에서 상기 이온빔이 경유하는 내부통로를 갖는 본체를 포함한다. 상기 내부통로를 한정하는 상기 본체의 내측벽을 따라 상기 본체의 내부를 경유하는 이온 빔으로부터 상기 내측벽이 손상되는 것을 방지하기 위한 쉴딩부가 정렬된다. 상기 쉴딩부와 상기 본체의 내측벽 사이에 상기 내측벽에 도달하는 상기 이온빔을 감지할 수 있는 디텍터가 위치하여 상기 쉴딩부로부터 누설되는 이온빔을 감지한다. 이에 따라, 상기 쉴딩부의 마모에 의해 누설되는 이온빔으로부터 상기 본체의 내측벽이 손상되는 것을 방지할 수 있다.

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