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1. 发明授权

KR100995813B1 시험 장치 및 핀 일렉트로닉스 카드 失效
标题翻译：测试仪器和引脚电子卡
公开(公告)号：KR100995813B1
公开(公告)日：2010-11-23
申请号：KR1020087017122
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/31924 , G01R31/3191
摘要： 피시험 디바이스에 시험 신호를 출력하는 드라이버, 드라이버와 피시험 디바이스를 접속할 지의 여부를 선택하는 제1 FET 스위치, 제1 FET 스위치를 통해서 피시험 디바이스의 출력 신호를 수취하고 출력 신호의 전압과 미리 정해진 참조 전압을 비교하는 컴퍼레이터, 참조 전압을 컴퍼레이터에 입력하는 참조 전압 입력부, 참조 전압 입력부와 컴퍼레이터 사이에 설치된 제2 FET 스위치, 및 일단이 컴퍼레이터 및 제2 FET 스위치의 접속점에 접속되며 타단이 소정의 전위에 접속되는 더미 저항을 포함하며, 드라이버의 출력 저항 및 제1 FET 스위치의 온 저항의 저항비가 더미 저항 및 제2 FET 스위치의 온 저항의 저항비와 실질적으로 동등한 시험 장치를 제공한다.
시험 장치, 핀 일렉트로닉스 카드, FET 스위치, 컴퍼레이터, 더미 저항, 온 저항

2. 发明授权

KR100983251B1 드라이버 회로, 시험 장치, 및 조정 방법 有权
标题翻译：驱动电路，测试装置和调整方法
公开(公告)号：KR100983251B1
公开(公告)日：2010-09-20
申请号：KR1020087012703
申请日：2006-10-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시 , 아와지토시아키
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31924
摘要： 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 피시험 디바이스에 공급하여야 할 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성부, 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 드라이버 회로, 및 피시험 디바이스가 시험 신호에 따라 출력하는 출력 신호에 기초하여 피시험 디바이스의 양부를 판정하는 판정부를 포함하며, 드라이버 회로는, 시험 신호에 따른 구동 신호를 각각 출력하는 메인 드라이버 및 서브 드라이버, 서브 드라이버가 출력하는 구동 신호를 미분한 미분 신호를 출력하는 미분 회로, 및 메인 드라이버가 출력하는 구동 신호에 미분 신호를 더해서 얻어지며 시험 신호에 따른 파형을 가지는 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 가산부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
드라이버 회로, 시험 장치, 조정 방법, 메인 드라이버, 서브 드라이버, 미분 회로
摘要翻译：一种用于测试被测器件的测试装置，包括：测试信号发生器，用于产生要提供给被测器件的测试信号;驱动器电路，用于向被测器件提供测试信号; 该驱动器电路包括：主驱动器和副驱动器，用于根据测试信号分别输出驱动信号;以及差分电路，用于对从副驱动器输出的驱动信号进行差分，一个用于输出信号的差分电路，以及一个加法器，用于将差分信号加到从主驱动器输出的驱动信号上，并将具有与测试信号相应的波形的信号提供给被测器件。

3. 发明公开

KR1020080075883A 시험 장치 및 핀 일렉트로닉스 카드 有权
标题翻译：测试设备和PIN电子卡
公开(公告)号：KR1020080075883A
公开(公告)日：2008-08-19
申请号：KR1020087014753
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31924 , G01R31/3191
摘要： A testing apparatus is provided with a driver for outputting a test signal to a device to be tested; a first transmission path for electrically connecting the driver with the device to be tested; a first FET switch provided in the first transmission path for switching to connect or not the driver with the device to be tested; a comparator for comparing the voltage of the output signal of the device to be tested with a previously set reference voltage; a second transmission path, which is branched from between the first FET switch and the device to be tested in the first transmission path and connects the first transmission path with the comparator; a second FET switch arranged in the second transmission path for switching to connect or not the comparator with the device to be tested; and a capacitance compensation section for detecting the output signal and charges/discharges the capacitance component of the first FET switch based on the detected output signal.
摘要翻译：测试装置具有用于向测试装置输出测试信号的驱动器; 用于将驱动器与待测试的装置电连接的第一传输路径; 第一FET开关，设置在第一传输路径中，用于切换以将驱动器与待测试的设备连接; 比较器，用于将待测装置的输出信号的电压与预先设定的参考电压进行比较; 第二传输路径，其在第一传输路径中从第一FET开关和待测试器件之间分支，并将第一传输路径与比较器连接; 布置在第二传输路径中的第二FET开关，用于切换以将比较器与待测试的装置连接或不连接; 以及电容补偿部分，用于检测输出信号，并且基于检测到的输出信号对第一FET开关的电容分量进行充电/放电。

4. 发明公开

KR1020080070702A 드라이버 회로, 시험 장치, 및 조정 방법 有权
标题翻译：驱动电路，测试装置和调整方法
公开(公告)号：KR1020080070702A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：KR1020087012703
申请日：2006-10-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시 , 아와지토시아키
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31924
摘要： A test device for testing a device under test includes: a test signal generation unit for generating a test signal to be supplied to the device under test; a driver circuit for supplying the test signal to the device under test; and a judgment unit for judging whether the device under test is good according to an output signal outputted by the device under test in response to the test signal. The driver circuit has: a main driver and a sub driver for outputting drive signals in accordance with the test signal; a differentiation circuit for outputting a differentiated signal obtained by differentiating the drive signal outputted from the sub driver; and an addition unit for supplying a signal of a waveform based on the test signal obtained by adding the differentiated signal to the drive signal outputted from the main driver.
摘要翻译：用于测试被测设备的测试设备包括：测试信号产生单元，用于产生要提供给被测设备的测试信号; 用于将测试信号提供给被测器件的驱动器电路; 以及判断单元，用于根据被测设备输出的响应于测试信号的输出信号来判定被测设备是否良好。驱动电路具有：主驱动器和副驱动器，用于根据测试信号输出驱动信号; 微分电路，用于输出通过对从副驱动器输出的驱动信号进行微分而获得的微分信号; 以及加法单元，用于基于通过将微分信号加到从主驱动器输出的驱动信号而获得的测试信号来提供波形的信号。

5. 发明授权

KR100984664B1 시험 장치 및 핀 일렉트로닉스 카드 有权
标题翻译：测试仪器和引脚电子卡
公开(公告)号：KR100984664B1
公开(公告)日：2010-10-01
申请号：KR1020087014753
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31924 , G01R31/3191
摘要： 본 발명은 시험 장치 및 핀 일렉트로닉스 카드에 관한 것으로,피 시험 디바이스에 시험 신호를 출력하는 드라이버; 드라이버와 피 시험 디바이스를 전기적으로 접속시키는 제 1전송 경로; 제 1전송 경로에서, 드라이버와 피 시험 디바이스간의 접속 여부를 결정하는 제1 FET 스위치; 피 시험 디바이스의 출력 신호의 전압과 기설정된 참조 전압을 비교하는 비교기; 제 1전송 경로에서, 제 1 FET 스위치와 피 시험 디바이스의 사이로부터 분기해서, 제 1전송 경로와 비교기를 접속시키는 제 2전송 경로; 제 2전송 경로에 설치되어 비교기와 피 시험 디바이스간의 접속 여부를 결정하는 제2 FET 스위치; 및 출력 신호를 검출하고, 검출한 출력 신호에 근거하여, 제 1 FET 스위치의 용량 성분을 충방전하는 용량 보상부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.

6. 发明公开

KR1020080083320A 시험 장치 및 핀 일렉트로닉스 카드 失效
标题翻译：测试设备和PIN电子卡
公开(公告)号：KR1020080083320A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：KR1020087017122
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/31924 , G01R31/3191
摘要： A testing apparatus is provided with a driver for outputting a test signal to a device to be tested; a first FET switch for switching to connect or not the driver with the device to be tested; a comparator which receives an output signal of the device to be tested through the first FET switch, and compares the voltage of the output signal with a previously set reference voltage; a reference voltage inputting section for inputting the reference voltage to the comparator; a second FET switch arranged between the reference voltage inputting section and the comparator; and a dummy resistor having one end connected with the comparator and the connecting point of the second FET switch, and the other end with a prescribed potential. The resistance ratio of the output resistance of the driver to the on-resistance of the first FET switch is substantially equivalent to the resistance ratio of the dummy resistor to the on-resistance of the second FET switch.
摘要翻译：测试装置具有用于向测试装置输出测试信号的驱动器; 第一个FET开关用于切换以连接或不连接驱动器与被测器件; 比较器，其通过第一FET开关接收要测试的器件的输出信号，并将输出信号的电压与预先设定的参考电压进行比较; 参考电压输入部分，用于将参考电压输入到比较器; 布置在参考电压输入部分和比较器之间的第二FET开关; 以及一个虚拟电阻，其一端连接比较器和第二FET开关的连接点，另一端具有规定的电位。驱动器的输出电阻与第一FET开关的导通电阻的电阻比基本上等于虚拟电阻与第二FET开关的导通电阻的电阻比。

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