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    • 1. 发明授权
    • 전기부품을 테스트하기 위한 테스트 어셈블리 및 방법
    • KR102228290B1
    • 2021-03-17
    • KR1020197017621
    • 2017-03-09
    • 이스메카 세미컨덕터 홀딩 에스.아.
    • 차바일라즈데이비드코스데미엔오베리마르코라멜가이쉬웬딘해머패트리스비베흐쥬필립
    • G01R1/04G01R31/26
    • 본발명에따르면, (a) 테스트를위해네스트에위치될트랜지스터부품의제 1 이미지를캡쳐하는단계; (b) 상기제 1 이미지로부터상기트랜지스터부품의소스및 게이트의위치를식별하는단계; (c) 회전식터릿상의부품핸들링헤드를사용하여트랜지스터부품을보유하는단계; (d) 상기부품핸들링헤드가상기부품을네스트상의한 위치로전달할수 있도록정렬장치를사용하여상기부품핸들링헤드상의한 위치로상기트랜지스터부품을이동시키는단계; (e) 네스트의베이스플레이트상의상기복수의전기접촉부모두가상기트랜지스터부품의드레인과전기적으로접촉하도록상기트랜지스터부품을상기네스트에전달하는단계; (f) 상기네스트커버플레이트를이동시켜상기네스트를덮도록상기베이스플레이트위에놓는단계; 및 (g) 트랜지스터부품의테스트를수행하는단계를포함하고, 상기커버가상기네스트를닫도록이동될때, 네스트의베이스플레이트상의상기복수의전기접촉부모두가상기트랜지스터부품의드레인과전기적으로접촉할것이고, 네스트의커버플레이트상의상기복수의전기접촉부중 일부는상기트랜지스터부품의게이트와전기적으로접촉할것이며, 네스트의커버플레이트상의나머지전기접촉부들은상기트랜지스터부품의소스와전기적으로접촉할것이고; 네스트의커버플레이트상의상기복수의전기접촉부중 일부는상기트랜지스터부품의게이트와전기적으로접촉할것이며, 네스트의커버플레이트상의나머지전기접촉부는트랜지스터부품의소스와전기접촉할것인트랜지스터부품을테스트하는방법이제공된다. 또한, 대응하는테스트어셈블리가제공된다.
    • 7. 发明授权
    • 전자부품 취급 장치 및 방법
    • 电子设备处理装置和方法
    • KR101516270B1
    • 2015-05-04
    • KR1020107015680
    • 2009-01-14
    • 이스메카 세미컨덕터 홀딩 에스.아.
    • 그라우,제랄드아이젤딩져,라파일
    • G01R31/28H05K13/04
    • - 전자부품들을 처리하기 위한 것으로 적어도 일부는 전기 작동기(8)를 포함하는, 복수의 처리 스테이션들(3); - 하나의 처리 스테이션에서 다음 처리 스테이션으로 전자부품들을 이송하기 위한, 터렛과 같은 컨베이어(2); - 상기 처리 스테이션들에 지령하기 위한 중앙 처리유닛(5)을 포함하는, 전자부품들을 처리하기 위한 장치(1)로서, - 적어도 일부 처리 스테이션들(3)은 상기 전기 작동기들(8)을 위한 지령 신호들(74)을 발생하기 위한 국부적 처리 유닛(7)을 포함하고, - 상기 중앙 처리유닛(5)은 전자 버스(6)를 통해 상기 국부적 처리 유닛들(7)에 접속되고, - 디지털 지령 명령들(75)은 상기 중앙 처리 유닛(5)과 상기 국부적 처리 유닛들(7) 간에 상기 전자 버스(6)를 통해 전송된다.
    • 多个用于处理电子部件的处理站(3),其至少一部分包括电致动器(8); 用于将电子元件从一个加工站运送到下一个加工站的输送机(2),例如转台; - 用于处理电子部件的设备(1),其包括用于引导所述处理站的中央处理单元(5),至少一些处理站(3)被布置用于所述电致动器(8) 和用于产生命令信号(74)的本地处理单元(7),所述中央处理单元(5)经由电子总线(6)连接到所述本地处理单元(7) 指令命令75通过电子总线6在中央处理单元5和本地处理单元7之间传输。