专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR101372068B1 목표 스펙트럼에 대한 발광 다이오드를 이용하는 조명장치의 성능 테스트 방법 有权
标题翻译：使用发光二极管测量目标光谱的照明设备的方法
公开(公告)号：KR101372068B1
公开(公告)日：2014-03-07
申请号：KR1020130019733
申请日：2013-02-25
申请人： 한국광기술원
发明人： 이광철 , 백종협 , 김상묵 , 김덕기 , 강소라
IPC分类号： G01J3/443 , G01J1/08
CPC分类号： G01J1/08 , G01J3/443 , G01J2001/083 , G01J2003/4435 , H01L31/035236
摘要： Disclosed is a method for testing performance of an illumination apparatus using light emitting diodes as a light source. The method comprises the steps of: setting a target spectrum which is close to blackbody radiation light or daylight, or shows the distribution of a specific spectrum identical to the spectrum of a standard light source; drawing a comparison spectrum acquired by measuring manufactured illumination apparatus; commonizing two spectrums into conversion spectrums by using a commonization coefficient so that the units and scales of the two conversion spectrums are synchronized; integrating and comparing the two conversion spectrums with each other through a specific section; and calculating the comparison result to draw a synchronization rate and comparing the drawn result with a reference synchronization rate. [Reference numerals] (AA) Start; (BB) End; (S100) Set a target spectrum; (S110) Set a comparison spectrum; (S120) Perform communization; (S130) Draw a synchronization rate through the calculation of a difference value; (S140) Compare the synchronization rate with a reference synchronization rate
摘要翻译：公开了一种使用发光二极管作为光源的照明装置的性能测试方法。该方法包括以下步骤：设置接近黑体辐射光或日光的目标光谱，或显示与标准光源的光谱相同的特定光谱的分布; 绘制通过测量制造的照明装置获得的比较光谱; 通过使用公共系数将两个频谱公平化为转换频谱，使得两个转换频谱的单位和比例是同步的; 通过特定部分将两个转换谱相互整合和比较; 并计算比较结果以画出同步率并将绘图结果与参考同步率进行比较。（附图标记）（AA）开始; （BB）结束; （S100）设定目标光谱; （S110）设定比较光谱; （S120）执行社会化; （S130）通过计算差值绘制同步速率; （S140）将同步速率与参考同步速率进行比较

2. 发明公开

KR1020130087421A 발광 특성 측정 장치 및 방법 无效
标题翻译：发光特性测量仪器和发光性能测量方法
公开(公告)号：KR1020130087421A
公开(公告)日：2013-08-06
申请号：KR1020130008084
申请日：2013-01-24
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤 , 샤프 가부시키가이샤
发明人： 이토아키시게 , 야나기사와요시키 , 마츠모토요시노리 , 사토데츠야 , 이시카와신지 , 우치다렌
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/08
CPC分类号： G01J1/0252 , G01J1/08 , G01J1/44 , G01J3/0254 , G01J2001/083 , G01J2001/446
摘要： PURPOSE: A device and a method for measuring a luminescent property are provided to reduce time required for measurement while maintaining the accuracy of the measurement. CONSTITUTION: A device(1) for measuring a luminescent property includes an optical integrator(14), a light receiving device(15), and a control processing device(16). The optical integrator includes an incident port(14a) capable of receiving the lights emitted from a plurality of light emitting elements, receives the lights emitted from the light emitting elements, and brings the received lights into uniformity. The light receiving device receives the lights brought into uniformity by the optical integrator. The control processing device makes the light emitting elements emit lights successively and corrects the results of the light reception which are successively obtained according to the positions of the light emitting elements in respect to the incident port. [Reference numerals] (11) Stage device; (12) Power device; (15) Light receiving device; (15A) Spectroscope; (15B) Light receiver; (16) Control processing device
摘要翻译：目的：提供用于测量发光性质的装置和方法，以便在保持测量精度的同时减少测量所需的时间。构成：用于测量发光特性的装置（1）包括光学积分器（14），光接收装置（15）和控制处理装置（16）。光学积分器包括能够接收从多个发光元件发射的光的入射端口（14a），接收从发光元件发射的光，并使接收到的光均匀。光接收装置由光学积分器接收均匀的光。控制处理装置使得发光元件依次发光，并根据发光元件相对于入射口的位置连续获得的光接收结果进行校正。（附图标记）（11）舞台装置; （12）功率器件; （15）光接收装置; （15A）分光镜; （15B）光接收器; （16）控制处理装置

3. 实用新型

KR200342991Y1 외부 감시용 적외선 감지기 설치 구조 失效
标题翻译：红外探测器安装结构用于外部监测
公开(公告)号：KR200342991Y1
公开(公告)日：2004-02-25
申请号：KR2020030035836
申请日：2003-11-17
申请人： 최문수 , 연제하
发明人： 최문수
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/0238 , G01J1/08 , G01J2001/083
摘要： 본 고안은 케이스에 형성된 내부 슬라이딩 홈에 착탈가능한 내부 판넬에 외부 감시용 적외선 감지기를 부착 형성시키고, 케이스의 전면에는 자외선 차단 아크릴 덮개를 결합시킨 외부 감시용 적외선 감지기의 설치 구조에 관한 것으로서, 더 자세하게는 외부 감시용 적외선 감지기를 케이스 내부에 위치되도록 형성시켜 외부 환경으로부터의 기능저하를 방지하며, 벽면의 굴절된 부분과 창문의 높낮이 등에 관계없이 설치할 수 있어 설치비용이 저렴해지고 보다 쉽게 조립 및 설치가 가능하도록 한 것에 관한 것이다.
본 고안에 따르면, 외부 감시형 적외선 감지기를 외부 환경으로부터 보호되는 케이스의 내부에 설치하는 구성이 가능함에 따라 기능과 수명이 보호되어 오동작의 발생이 방지되고 제품의 수명을 연장시킬 수 있는 효과가 있으며, 고정 브라켓을 사용하는 고정 구조에 의해 벽면의 굴절된 부분과 창문의 높낮이 등에 관계없이 건물의 미관을 저해하지 않는 콤팩트한 형태로 쉽게 설치할 수 있어 설치 비용이 대폭 줄어드는 효과가 있으며, 설치장소 및 설치조건에 따라 다양하고 쉽게 조립할 수 있는 효과가 있다.

4. 发明公开

KR1020150116616A 입체 영상 디스플레이의 광학 특성 측정 장치 审中-实审
标题翻译：三维显示的光学测量系统
公开(公告)号：KR1020150116616A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：KR1020140041691
申请日：2014-04-08
申请人： 이진수
发明人： 이진수
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： G01J1/08 , G01J1/0252 , G01J1/4204 , G01J2001/083
摘要： 본발명은입체영상표시장치의광학특성측정장비에관한것으로, 입체영상이가지는다양한광확특성을측정하기위한장치로서, 상세하게는디스플레이고정부에설치된입체영상표시장치와전원및 모터드라이버로제어되는제 1, 2, 3 이동수단및 계측기를통해광학정보를수집하고, 이를통해입체영상표시장치가방출하는공간상의광 정보를분석하는것을특징으로한다k
摘要翻译：本发明涉及用于测量立体图像的各种光学特性的立体图像显示器的光学特性测量装置。具体地说，本发明的光学性质测量装置通过安装在由电源和电动机驱动器控制的显示固定部，第一，第二和第三移动单元上的立体图像显示装置收集光学信息，以及测量仪器，然后分析从立体图像显示装置通过其发射的空间光学特性。

5. 发明公开

KR1020150085461A 광센서 및 그를 구비하는 전자 장치 审中-实审
标题翻译：光传感器和电子设备
公开(公告)号：KR1020150085461A
公开(公告)日：2015-07-23
申请号：KR1020140155422
申请日：2014-11-10
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 조성제 , 김광복 , 조재걸 , 김재홍 , 정선태 , 조철호
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： G01J1/0271 , G01J1/08 , G01J2001/083 , H01S5/18366
摘要： 본발명의실시예들에따르면, 조광물질이함유된광도파로; 상기광도파로에가시광을입사하는발광소자; 및상기발광소자로부터출사되어상기광도파로를진행한가시광을검출하는수광소자를포함하는광센서및 그를구비하는전자장치가개시되며, 자외선에노출됨에따라조광물질에의해가시광에대한상기광도파로의투과율이변화할수 있다. 본발명에따른광센서및 그를구비하는전자장치는실시예에따라다양하게구현될수 있다.
摘要翻译：公开了一种光学传感器和具有该光学传感器的电子设备。根据本发明实施例的光学传感器包括：包含照明材料的光波导; 将可见光发射到光波导上的发光元件; 以及光接收元件，其检测从所述发光元件发射并在所述光波导中传播的可见光。用于可见光的光波导的透射率可以通过暴露于紫外光的照明材料而改变。根据本发明的实施例，可以各种实现根据本发明的光学传感器和具有该光学传感器的电子设备。

6. 发明公开

KR1020150033042A 근접 센서 및 그 제조 방법 有权
标题翻译：近似传感器及其制造方法
公开(公告)号：KR1020150033042A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：KR1020130112503
申请日：2013-09-23
申请人： (주)파트론
发明人： 김태원 , 정영우 , 김규섭
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： G01J1/0295 , G01J1/08 , G01J2001/083
摘要： 본발명은측면이광 차페성인몰딩부를포함하는근접센서와그 제조방법에관한것으로, 발광부에서누설되어수광부로입사되는누설광을최소화하여검출정확도를향상시킬수 있고, 누설광을최소화하면서근접센서의구성요소를단순화하여제조단가를낮출수 있는장점이있다. 본발명의근접센서는베이스기판, 상기베이스기판상에실장된발광부, 상기베이스기판상에실장된수광부, 상기발광부를봉지하고, 상기베이스기판에대향하는상면및 상기상면으로부터상기베이스기판까지연장되는측면을구비하는제1 몰딩부, 상기수광부를봉지하고, 상기베이스기판에대향하는상면및 상기상면으로부터상기베이스기판까지연장되는측면을구비하는제2 몰딩부를포함하되, 상기제1 몰딩부와상기제2 몰딩부는서로이격되어사이에이격공간을형성한다.
摘要翻译：本发明涉及一种接近传感器，其包括其侧表面具有遮光性的成型单元，以及一种用于制造接近传感器的方法，其可以使从发光单元泄漏的光最小化并入射到光接收单元，从而改善检测精度，并且可以最小化泄漏光并简化接近传感器的部件，从而降低制造成本。接近传感器包括：基底; 安装在基底基板上的发光单元; 安装在基底基板上的光接收单元; 第一模制单元，被配置为密封所述发光单元，并且具有与所述基底基板相对设置的上表面，以及从所述上表面延伸到所述基底的侧表面; 以及第二成型单元，其被配置为密封所述光接收单元，并且具有与所述基底基板相对设置的上表面和从所述上表面延伸到所述基底的侧表面，其中所述第一模制单元和所述第二模制单元间隔开彼此分开以在它们之间形成空间。

7. 发明公开

KR1020140068652A 광 측정장치 및 제어방법, 그리고 광 측정방법 有权
标题翻译：光学测量装置及其控制方法和光学测量方法
公开(公告)号：KR1020140068652A
公开(公告)日：2014-06-09
申请号：KR1020120136399
申请日：2012-11-28
申请人： 주식회사 맥사이언스
发明人： 윤철오 , 공웅걸 , 한상준 , 윤수영
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/08
CPC分类号： G01J1/08 , G01J1/029 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/446
摘要： The present invention relates to a light measuring device for measuring physical characteristics of light, a control method therefor, and a light measuring method. The light measuring device according to one aspect of the present invention comprises a light guiding unit forming a plurality of split light paths, a digital converting unit for converting light signals inputted via the respective light paths into digital signals, and a control and signal processing unit for analyzing the light signals for respective wavelengths, which are converted by the digital converting unit, to obtain information on physical characteristics of an incident light. The light measuring device preferably measures characteristics for respective wavelengths of the light, a distribution of light, and a light intensity variation according to time by using one device.
摘要翻译：本发明涉及用于测量光的物理特性的光测量装置，其控制方法和光测量方法。根据本发明的一个方面的光测量装置包括形成多个分开的光路的导光单元，用于将经由各个光路输入的光信号转换为数字信号的数字转换单元，以及控制和信号处理单元用于分析由数字转换单元转换的各个波长的光信号，以获得关于入射光的物理特性的信息。光测量装置优选通过使用一个装置来测量各种波长的光的特性，光的分布和根据时间的光强度变化。

8. 发明公开

KR1020150055860A 렌즈 이미지상의 빛튐 검출 방법 有权
标题翻译：镜头图像中的光学检测方法
公开(公告)号：KR1020150055860A
公开(公告)日：2015-05-22
申请号：KR1020130138369
申请日：2013-11-14
申请人： 태백하이텍 주식회사
发明人： 서승환 , 최경융 , 성시용 , 김대영
IPC分类号： G01J1/08
CPC分类号： G01J1/08 , G01J1/0411 , G01J3/513 , G01J2001/083
摘要： 본발명은, LED와렌즈를포함하는발광체의빛튐을검출하는방법으로서, 상기렌즈상측에광을확산시키는확산판을배치하는단계; 상기렌즈와상기확산판을통하여촬영하고촬영물을출력하는단계; 상기촬영물상에서검출영역을설정하는단계; 상기검출영역의광도의평균값을환산하는단계; 상기평균값과상기검출영역의광도를비교하는단계; 및상기단계에서의비교결과상기평균값보다일정값이상높은광도를갖는영역을빛튐으로설정하는단계를포함하는렌즈이미지상의빛튐검출방법을제공한다. 본발명은, 백라이트유닛에서사용하는 LED 모듈의렌즈에의해형성된이미지상에설정된영역에서일정이상의광도를갖는부분을이미지상의빛튐으로서검출할수 있다.
摘要翻译：本发明涉及一种检测包括LED和透镜在内的照明体上的污迹的方法。该方法包括：放置漫射板以将光漫射到透镜的上部的步骤; 通过透镜和扩散板拍摄图像并输出图像的步骤; 在图像上设置检测区域的步骤; 改变检测区域的发光强度的平均值的步骤; 比较平均值与检测区域的发光强度的步骤; 作为步骤中的比较结果，将具有比平均值高的发光强度的区域设置为污迹的步骤。本发明能够检测在由设置在由背光单元使用的LED模块的透镜形成的图像上的区域中具有比预定值更高的发光强度的部分作为图像上的污迹。

9. 发明授权

KR101520377B1 서카디언 조도계 有权
标题翻译： CIRCADIAN照度计
公开(公告)号：KR101520377B1
公开(公告)日：2015-05-15
申请号：KR1020140014230
申请日：2014-02-07
申请人： 피에스아이 주식회사
发明人： 도영락 , 오지혜
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： G01J1/4228 , G01J1/08 , G01J2001/083 , G01J2001/4252
摘要： 사람의시각으로인지할수 없으나인체의생체에영향을미치는비시각적조도인서카디언조도를검출할수 있는서카디언조도계가개시된다. 상기서카디언조도계는, 광원으로부터입사되는빛의시각적조도값검출하는시각조도계; 상기광원의종류에따른서카디언작용계수(Circadian Action Factor: CAF) 또는서카디언복사효능(circadian efficacy of radiation: CER) 및복사발광효능(luminous efficacy of radiation: LER) 값을저장하는저장부; 및상기시각적조도값과상기광원의종류에따른상기광원의종류에따른서카디언작용계수또는서카디언복사효능및 복사발광효능값을이용하여하기식과같이서카디언조도값을연산하는연산부를포함한다.[식]서카디언조도값(blm/m) = 서카디언작용계수(blm/lm) X 시각적조도값(lm/m)= (서카디언복사효능값(blm)/복사발광효능값(lm)) X 시각적조도값(lm/m)
摘要翻译：本发明公开了一种用于检测昼夜照度的昼夜照度计，其不能用肉眼检测，而是影响人体。昼夜照度计包括：用于测量来自光源的入射光的视觉照度水平的视觉照度计; 存储单元，用于存储昼夜动作因子（CAF）或辐射的昼夜效能（CER）和辐射的发光功率（LER）的值; 以及计算单元，用于使用视觉照度水平和昼夜动作因子的值或辐射的昼夜效能值以及对应于一种类型的光源的辐射的发光效率计算昼夜照度水平：昼夜照度（blm） / m ^ 2）=昼夜动作因子（blm / lm）X视觉照度（lm / m ^ 2）=（辐射的昼夜效能（blm）/辐射的发光效率（lm））X视觉照度（lm / 2）。

10. 发明公开

KR1020140081096A 반도체 발광 소자의 광특성 측정 장치 有权
标题翻译： LED的光特性的测量装置
公开(公告)号：KR1020140081096A
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：KR1020120150465
申请日：2012-12-21
申请人： (재)한국나노기술원
发明人： 최영수 , 박경호
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/08
CPC分类号： G01J1/08 , G01J1/0242 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/446
摘要： The present invention relates to an apparatus for measuring optical characteristics of a semiconductor light emitting device, comprising a hollow cylindrical rotary body, an optical characteristics measuring unit installed within the body and measuring optical characteristics of a semiconductor light emitting device, a measurement stage leading the semiconductor light emitting device to a position of the optical characteristics measuring unit through a central portion of the body and leading out therefrom, and a support coupled to a lower portion of the body to support the body. Optical characteristics of a semiconductor light emitting device can be easily measured intermittently or continuously by using 360-degree rotatable optical characteristics measuring unit, regardless of wafer size, and optical characteristics of various types of LEDs can be measured.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量半导体发光器件的光学特性的装置，包括中空圆柱形旋转体，安装在体内的光学特性测量单元和测量半导体发光器件的光学特性，测量台引导半导体发光器件通过本体的中心部分从光学特性测量单元的位置引出，并且与主体的下部相连以支撑身体。可以通过使用360度旋转光学特性测量单元间歇地或连续地测量半导体发光器件的光学特性，而不管晶片尺寸如何，并且可以测量各种类型的LED的光学特性。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式