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1. 发明公开

KR1020130087421A 발광 특성 측정 장치 및 방법 无效
标题翻译：发光特性测量仪器和发光性能测量方法
公开(公告)号：KR1020130087421A
公开(公告)日：2013-08-06
申请号：KR1020130008084
申请日：2013-01-24
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤 , 샤프 가부시키가이샤
发明人： 이토아키시게 , 야나기사와요시키 , 마츠모토요시노리 , 사토데츠야 , 이시카와신지 , 우치다렌
IPC分类号： G01J1/02 , G01J1/08
CPC分类号： G01J1/0252 , G01J1/08 , G01J1/44 , G01J3/0254 , G01J2001/083 , G01J2001/446
摘要： PURPOSE: A device and a method for measuring a luminescent property are provided to reduce time required for measurement while maintaining the accuracy of the measurement. CONSTITUTION: A device(1) for measuring a luminescent property includes an optical integrator(14), a light receiving device(15), and a control processing device(16). The optical integrator includes an incident port(14a) capable of receiving the lights emitted from a plurality of light emitting elements, receives the lights emitted from the light emitting elements, and brings the received lights into uniformity. The light receiving device receives the lights brought into uniformity by the optical integrator. The control processing device makes the light emitting elements emit lights successively and corrects the results of the light reception which are successively obtained according to the positions of the light emitting elements in respect to the incident port. [Reference numerals] (11) Stage device; (12) Power device; (15) Light receiving device; (15A) Spectroscope; (15B) Light receiver; (16) Control processing device
摘要翻译：目的：提供用于测量发光性质的装置和方法，以便在保持测量精度的同时减少测量所需的时间。构成：用于测量发光特性的装置（1）包括光学积分器（14），光接收装置（15）和控制处理装置（16）。光学积分器包括能够接收从多个发光元件发射的光的入射端口（14a），接收从发光元件发射的光，并使接收到的光均匀。光接收装置由光学积分器接收均匀的光。控制处理装置使得发光元件依次发光，并根据发光元件相对于入射口的位置连续获得的光接收结果进行校正。（附图标记）（11）舞台装置; （12）功率器件; （15）光接收装置; （15A）分光镜; （15B）光接收器; （16）控制处理装置

2. 发明授权

KR101749804B1 편광 검사 장치 有权
标题翻译：极化检测系统
公开(公告)号：KR101749804B1
公开(公告)日：2017-06-21
申请号：KR1020150075152
申请日：2015-05-28
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤
发明人： 마츠모토요시노리 , 츠보타다카시 , 하마구치도요아키 , 이토아키시게
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/21
CPC分类号： G01N21/21 , G01N21/8422 , G01N21/8851 , G01N21/8901 , G01N2021/8848 , G01N2201/0612 , G01N2201/062
摘要： 본발명의일 양태의편광검사장치는, 편광상태및 파장이서로상이한복수의광을검사대상물에조사하는조사부와, 상기검사대상물에서얻어지는복수의광을파장분리하여개별적으로수광하고, 상기검사대상물에서얻어지는복수의광에따른수광신호를출력하는수광부와, 상기수광신호를사용하여타원방위각, 편광도및 편광성분강도중 적어도 1 개를구하여상기검사대상물의양부판정을실시하는처리부를구비한다.
摘要翻译：根据本发明的一个方面，提供了一种偏振检查设备，其包括：照射单元，其将具有不同偏振状态和波长的多个光照射到待检查对象; 以及处理部分，用于通过使用光接收信号来确定椭圆方位角，偏振度和偏振分量强度中的至少一个，以确定待检查对象是正还是负。

3. 发明授权

KR101757104B1 광전 변환 소자 평가 장치 有权
公开(公告)号：KR101757104B1
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：KR1020160001022
申请日：2016-01-05
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤
发明人： 이토아키시게 , 이시카와마사토 , 츠보타다카시 , 마츠모토요시노리
IPC分类号： G01R31/40 , H02S50/10 , H01L31/20 , G01R31/28 , G01R31/01
CPC分类号： H02S50/15 , G01N21/1717 , G01N2021/1719 , G01N2021/1725
摘要： 광전변환소자평가장치는, 측정대상인광전변환소자에프로브광을조사하는프로브광원과, 프로브광이조사되고있는상기광전변환소자에펄스상의펌프광을조사하는펌프광원과, 상기광전변환소자로부터얻어지는상기프로브광의광량변화의시간의존성을검출하는수광소자를구비하고있다.

4. 发明公开

KR1020160103503A 광전 변환 소자 평가 장치 有权
标题翻译：光电转换元件评估装置
公开(公告)号：KR1020160103503A
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：KR1020160001022
申请日：2016-01-05
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤
发明人： 이토아키시게 , 이시카와마사토 , 츠보타다카시 , 마츠모토요시노리
IPC分类号： G01R31/40 , H02S50/10 , H01L31/20 , G01R31/28 , G01R31/01
CPC分类号： H02S50/15 , G01N21/1717 , G01N2021/1719 , G01N2021/1725
摘要： 광전변환소자평가장치는, 측정대상인광전변환소자에프로브광을조사하는프로브광원과, 프로브광이조사되고있는상기광전변환소자에펄스상의펌프광을조사하는펌프광원과, 상기광전변환소자로부터얻어지는상기프로브광의광량변화의시간의존성을검출하는수광소자를구비하고있다.
摘要翻译：光电转换元件评估装置包括：被配置为将探测光照射到作为测量对象的光电转换元件的探测光源; 泵浦光源，被配置为将脉冲泵浦光照射到所述光电转换元件，所述光电转换元件被照射到所述光电转换元件; 以及受光元件，其被配置为检测从所述光电转换元件获得的探测光的量的变化的时间依赖性。因此，光电转换元件评估装置抑制对光电转换元件的损坏。

5. 发明公开

KR1020150138819A 편광 검사 장치 有权
标题翻译：使用偏光灯检查装置
公开(公告)号：KR1020150138819A
公开(公告)日：2015-12-10
申请号：KR1020150075152
申请日：2015-05-28
申请人： 요코가와 덴키 가부시키가이샤
发明人： 마츠모토요시노리 , 츠보타다카시 , 하마구치도요아키 , 이토아키시게
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/21
CPC分类号： G01N21/21 , G01N21/8422 , G01N21/8851 , G01N21/8901 , G01N2021/8848 , G01N2201/0612 , G01N2201/062
摘要： 본발명의일 양태의편광검사장치는, 편광상태및 파장이서로상이한복수의광을검사대상물에조사하는조사부와, 상기검사대상물에서얻어지는복수의광을파장분리하여개별적으로수광하고, 상기검사대상물에서얻어지는복수의광에따른수광신호를출력하는수광부와, 상기수광신호를사용하여타원방위각, 편광도및 편광성분강도중 적어도 1 개를구하여상기검사대상물의양부판정을실시하는처리부를구비한다.
摘要翻译：根据本发明的一个方面的使用偏振光的检查装置包括：照射器，被配置为用具有不同偏振态和不同波长的多个光照射检查对象; 光接收器，被配置为对从所述检查对象获得的多个光进行波长解复用以分别接收所述多个光，并输出与从所述检查对象获得的所述多个光相关联的光接收信号; 以及处理器，其被配置为使用所述光接收信号来计算椭圆方位角，偏振度和偏振分量强度中的至少一个，并且确定所述检查对象是否有缺陷或无缺陷。

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