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1. 发明公开

KR1020100034020A 3차원 형상 계측 장치, 3차원 형상 계측 방법, 3차원 형상 계측 프로그램, 및 기록 매체 失效
标题翻译：三维形状测量装置，三维形状测量方法，三维形状测量程序和记录介质
公开(公告)号：KR1020100034020A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：KR1020107001296
申请日：2008-07-04
申请人： 오므론 가부시키가이샤
发明人： 미츠모토다이스케 , 혼마유키
IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/245 , G06T15/00
CPC分类号： G01B11/2513 , G01B11/245 , G01B11/2509 , G06T7/521
摘要： A three-dimensional shape measuring device for measuring three-dimensional shape information quickly and accurately comprises a light projecting section (20) for projecting a light pattern having a brightness varying periodically according to the position onto a partial area of a transfer stage (52) on which a measurement object (12) is measured, a first line sensor (36) for imaging a light pattern projection area (14), a second line sensor (38) for imaging a light pattern non-projection area (16), and an image analysis/drive control section (40) for computing the phase of the light pattern in a pixel included in an image (86) produced by removing the background information from the image (82) captured by the first line sensor (36) and the image (84) captured by the second line sensor (38) from the brightness values of the pixel and the peripheral pixels in the image (86) and computing the height information on the measurement object (12) from the computed phase. The first line sensor (36) and the second line sensor (38) are so arranged that they can simultaneously image the light pattern projection area (14) and the light pattern non-projection area (16), respectively.
摘要翻译：一种用于快速，准确地测量三维形状信息的三维形状测量装置包括：一个光投射部分，用于将具有根据位置周期性变化的亮度的光图案投影到转印台（52）的局部区域上，在其上测量测量对象（12），用于对光图案投影区域（14）进行成像的第一行传感器（36），用于对光图案非投影区域（16）进行成像的第二行传感器（38），以及图像分析/驱动控制部分，用于计算通过从由第一行传感器（36）捕获的图像（82）中去除背景信息而产生的图像（86）中包括的像素中的光图案的相位;以及根据图像（86）中的像素和周边像素的亮度值从第二行传感器（38）捕获的图像（84），并从计算出的相位计算测量对象（12）的高度信息。第一线传感器（36）和第二线传感器（38）被布置成使得它们可以分别同时对光图案投影区域（14）和光图案非投影区域（16）进行成像。

2. 发明授权

KR101257188B1 3차원 형상 계측 장치, 3차원 형상 계측 방법 및 3차원 형상 계측 프로그램을 기록한 기록 매체 有权
标题翻译：三维形状测量装置，三维形状测量方法和三维形状测量程序的计算机可读记录介质
公开(公告)号：KR101257188B1
公开(公告)日：2013-04-22
申请号：KR1020117020989
申请日：2010-03-26
申请人： 오므론 가부시키가이샤
发明人： 혼마유키 , 미츠모토다이스케 , 다케무라스나오
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2522 , G01B11/2527
摘要： 계측 레인지를 유지하면서, 계측 가능한 높이를 간편하게 확장한다. 계측 대상에 투영된, 위치에 응하여 주기적으로 휘도가 변화하는 광 패턴을 해석함에 의해, 계측 대상의 3차원 형상을 계측하는 3차원 형상 계측 시스템은, 계측 대상의 높이의 기준면을 갖는 부착대에 계측 대상이 부착되고, 계측 헤드가 계측 대상 및 기준면에 광 패턴을 투영하여 촬상하고, 변위부가 계측 헤드를 높이 방향으로 변위시킨다. 촬상된 화상의 어떤 화소에서의 광 패턴의 위상을 위상 산출부(75)가 산출하고, 산출된 위상에 의거하여 높이 산출부(77)가 계측 대상의 높이를 산출하고, 산출된 높이에 의거하여 이송량 산출부(78)가 변위부를 변위시켜야 할 변위량을 산출한다. 높이 산출부(77)는, 위상 산출부(75)가 산출한 위상에 의거하여 높이를 산출하고, 산출한 높이를, 변위량에 의거하여 보정함에 의해, 계측 대상의 높이를 산출한다.

3. 发明公开

KR1020110119531A 형상 계측 장치 및 캘리브레이션 방법 无效
标题翻译：形状测量装置和校准方法
公开(公告)号：KR1020110119531A
公开(公告)日：2011-11-02
申请号：KR1020110026240
申请日：2011-03-24
申请人： 오므론 가부시키가이샤
发明人： 코지마타케시 , 미츠모토다이스케 , 오니시야스히로 , 쇼토 , 모리야스모토
IPC分类号： G01B11/24 , G06T15/00
CPC分类号： G01B11/2509 , G01N21/8806 , G06T7/586 , G06T2207/10024
摘要： PURPOSE: A shape measuring device and a calibration method are provided to calculate a three dimensional surface shape of a target object and minimize errors on the computation. CONSTITUTION: A shape measuring device comprises an illuminating member, an imaging device, a feature vector calculation member, a storage device and a shape calculation member. The illuminating member emits the light to a measurement object(4) arranged on the stage. The imaging device takes a picture of the measurement object. The feature vector calculation member produces the feature amount about color or brightness of multiple attention points on the surface of the measurement object. The shape calculation member converts data referred to according to the location of the attention point.
摘要翻译：目的：提供一种形状测量装置和校准方法来计算目标物体的三维表面形状，并使计算误差最小化。构成：形状测量装置包括照明构件，成像装置，特征向量计算构件，存储装置和形状计算构件。照明部件将光发射到布置在台架上的测量对象（4）。成像装置拍摄测量对象的图像。特征矢量计算部件产生关于测量对象表面上的多个注意点的颜色或亮度的特征量。形状计算部件根据注意点的位置来转换参照的数据。

4. 发明授权

KR101141345B1 3차원 형상 계측 장치, 3차원 형상 계측 방법, 3차원 형상 계측 프로그램, 및 기록 매체 失效
标题翻译：三维形状测量装置，三维形状测量方法，三维形状测量程序和记录介质
公开(公告)号：KR101141345B1
公开(公告)日：2012-05-03
申请号：KR1020107001296
申请日：2008-07-04
申请人： 오므론 가부시키가이샤
发明人： 미츠모토다이스케 , 혼마유키
IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/245 , G06T15/00
CPC分类号： G01B11/2513 , G01B11/245 , G01B11/2509 , G06T7/521
摘要： 위치에 응하여 주기적으로 휘도가 변화하는 광 패턴을, 계측 대상(12)이 계측되는 반송 스테이지(52)상의 일부의 영역에 투영하는 투광부(20)와, 광 패턴 조사 영역(14)을 촬상하는 제 1의 라인 센서(36)와, 광 패턴 비조사 영역(16)을 촬상하는 제 2의 라인 센서(38)와, 제 1의 라인 센서(36)가 촬상한 화상(82) 및 제 2의 라인 센서(38)가 촬상한 화상(84)으로부터, 배경 정보를 제거한 화상(86)에 포함되는 어느 화소에서의 광 패턴의 위상을, 화상(86)에서의 화소와 그 주변의 화소의 휘도치에 의거하여 산출하고, 산출한 위상에 의거하여 계측 대상(12)의 높이 정보를 산출하는 화상 해석?구동 제어부(40)를 구비하고, 제 1의 라인 센서(36) 및 제 2의 라인 센서(38)는, 각각, 광 패턴 조사 영역(14) 및 광 패턴 비조사 영역(16)을, 동시에 촬상할 수 있도록 배치되어 있다. 이로써, 신속하면서 고정밀도로 3차원 형상 정보를 계측할 수 있는 3차원 형상 계측 장치를 실현한다.
摘要翻译：一种用于快速，准确地测量三维形状信息的三维形状测量装置包括：一个光投射部分，用于将具有根据位置周期性变化的亮度的光图案投影到转印台（52）的局部区域上，在其上测量测量对象（12），用于对光图案投影区域（14）进行成像的第一行传感器（36），用于对光图案非投影区域（16）进行成像的第二行传感器（38），以及图像分析/驱动控制部分，用于计算通过从由第一行传感器（36）捕获的图像（82）中去除背景信息而产生的图像（86）中包括的像素中的光图案的相位;以及根据图像（86）中的像素和周边像素的亮度值从第二行传感器（38）捕获的图像（84），并从计算出的相位计算测量对象（12）的高度信息。第一线传感器（36）和第二线传感器（38）被布置成使得它们可以分别同时对光图案投影区域（14）和光图案非投影区域（16）进行成像。

5. 发明公开

KR1020110126669A 3차원 형상 계측 장치, 3차원 형상 계측 방법 및 3차원 형상 계측 프로그램을 기록한 기록 매체 有权
标题翻译：三维形状测量装置，三维形状测量方法和三维形状测量程序
公开(公告)号：KR1020110126669A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：KR1020117020989
申请日：2010-03-26
申请人： 오므론 가부시키가이샤
发明人： 혼마유키 , 미츠모토다이스케 , 다케무라스나오
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2522 , G01B11/2527
摘要： 계측 레인지를 유지하면서, 계측 가능한 높이를 간편하게 확장한다. 계측 대상에 투영된, 위치에 응하여 주기적으로 휘도가 변화하는 광 패턴을 해석함에 의해, 계측 대상의 3차원 형상을 계측하는 3차원 형상 계측 시스템은, 계측 대상의 높이의 기준면을 갖는 부착대에 계측 대상이 부착되고, 계측 헤드가 계측 대상 및 기준면에 광 패턴을 투영하여 촬상하고, 변위부가 계측 헤드를 높이 방향으로 변위시킨다. 촬상된 화상의 어떤 화소에서의 광 패턴의 위상을 위상 산출부(75)가 산출하고, 산출된 위상에 의거하여 높이 산출부(77)가 계측 대상의 높이를 산출하고, 산출된 높이에 의거하여 이송량 산출부(78)가 변위부를 변위시켜야 할 변위량을 산출한다. 높이 산출부(77)는, 위상 산출부(75)가 산출한 위상에 의거하여 높이를 산출하고, 산출한 높이를, 변위량에 의거하여 보정함에 의해, 계측 대상의 높이를 산출한다.

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