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1. 发明授权

KR101428483B1 화상형성장치 有权
公开(公告)号：KR101428483B1
公开(公告)日：2014-08-11
申请号：KR1020070084104
申请日：2007-08-21
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 백성구 , 김성협 , 김선수 , 황규덕 , 김종우 , 조현기 , 류제형 , 김태희
IPC分类号： G03G15/00 , G03G15/20
CPC分类号： G03G21/20 , G03G15/2064
摘要： 정착장치의 내부에서 발생되는 열이 정착장치의 외부로 가능한 방출되지 않도록 하여 커버의 온도 상승을 최소화 할 수 있도록 한 화상형성장치를 개시한다. 개시된 화상형성장치는 본체와, 본체의 내부에 설치되고, 용지가 배출되는 출구를 가지는 정착장치와, 정착장치의 출구를 개폐하는 개폐부재와, 정착장치 내부의 열이 출구를 통해 빠져나가지 못하도록 출구를 폐쇄하는 제1위치와 용지가 통과할 수 있도록 출구를 개방하는 제2위치 사이에서 개폐부재를 이동시키기 위한 캠부재와, 캠부재를 회전시키기 위한 구동부와, 구동부를 제어하여 캠부재의 회전 위치를 결정하는 제어부를 구비한다.

2. 发明公开

KR1020130131755A 메탈 실리사이드를 포함하는 반도체 장치 및 이의 제조 방법 审中-实审
标题翻译：使用金属硅化物的半导体器件及其制造方法
公开(公告)号：KR1020130131755A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：KR1020120055543
申请日：2012-05-24
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 신충환 , 강상범 , 김대용 , 김정익 , 김철성 , 류제형 , 이상우 , 최효석
IPC分类号： H01L21/28
CPC分类号： H01L29/7839 , H01L21/26506 , H01L21/28 , H01L21/28518 , H01L21/28537 , H01L21/76814 , H01L23/485 , H01L27/092 , H01L29/0847 , H01L29/1608 , H01L29/161 , H01L29/165 , H01L29/401 , H01L29/665 , H01L29/66636 , H01L29/66643 , H01L29/78 , H01L29/7848 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： Provided are a semiconductor device comprising metal silicide and a manufacturing method thereof. The semiconductor device comprises a gate formed on a substrate; an elevated source/drain formed in both sides of the gate; and the metal silicide formed on a part of the elevated source/drain.. The elevate source/drain is protruded from the surface of the substrate and comprises a protrusion unit which surrounds the both sides of the metal silicide.
摘要翻译：提供一种包含金属硅化物的半导体器件及其制造方法。半导体器件包括形成在衬底上的栅极; 在门的两侧形成升高的源极/漏极; 以及形成在升高的源极/漏极的一部分上的金属硅化物。提升的源极/漏极从衬底的表面突出并且包括围绕金属硅化物的两侧的突出单元。

3. 发明公开

KR1020050050477A 반도체 디바이스 검사장치 无效
标题翻译：半导体器件的测试装置
公开(公告)号：KR1020050050477A
公开(公告)日：2005-05-31
申请号：KR1020030084226
申请日：2003-11-25
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 류제형 , 이수찬 , 이준호 , 김태규 , 이홍용 , 이성진
IPC分类号： H01L21/66
摘要： 본 발명은 반도체 디바이스 검사장치를 개시한다. 개시한 반도체 디바이스 검사장치는 디바이스가 탑재된 검사트레이를 수용하는 검사챔버와, 검사챔버 내부를 가열하거나 냉각하기 위한 가열 및 냉각장치와, 검사챔버 내부를 검사온도로 유지하기 위해 검사챔버의 내부온도 감지를 통해 가열 및 냉각장치를 제어하는 챔버온도 제어장치와, 디바이스와 접촉하며 디바이스를 가열하거나 냉각하기 위한 열발생원을 갖춘 접촉모듈과, 디바이스의 표면온도 감지를 통해 접촉모듈의 동작을 제어하는 디바이스온도 제어장치를 포함하는 것이다. 이러한 검사장치는 검사챔버 내부의 온도 뿐 아니라 각 디바이스의 표면온도를 미세하게 제어할 수 있도록 함으로써 디바이스의 검사가 진행되는 동안 디바이스의 표면의 온도를 정확한 검사온도로 유지할 수 있도록 한다.

4. 发明授权

KR100867126B1 화상형성장치 有权
标题翻译：图像形成装置
公开(公告)号：KR100867126B1
公开(公告)日：2008-11-06
申请号：KR1020070056969
申请日：2007-06-11
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 황규덕 , 김성혁 , 김선수 , 김종우 , 백성구 , 조현기 , 류제형 , 김태희
IPC分类号： G03G15/00
CPC分类号： G03G21/206 , G03G15/206 , G03G2221/1645
摘要： An image forming apparatus is provided to block heat from a fusing unit by a heat blocking member and minimize a heat increase of a cover because outside air circulating chamber and the heat blocking member are cooled while outside air circulates toward the outside air circulating chamber by natural air current wherein the outside air circulating chamber is between the cover and the heat blocking member. A fusing unit(40) is installed in a body(1). A cover(60) is installed in a body to open a side which faces the fusing unit. A heat blocking unit(70) is installed in the inside of the cover to block heat from the fusing unit. An outside air circulating chamber(80) is between the heat blocking member and the cover. Outside air circulates by convention current in the outside air circulating chamber. At least one outside air flowing hole(64) flows air in the outside air circulating chamber.
摘要翻译：图像形成装置被设置成通过隔热构件阻挡来自定影单元的热量，并且由于外部空气循环室和隔热构件在外部空气通过自然而向外部空气循环室循环时被冷却而使盖子的热量增加最小化其中外部空气循环室位于盖和阻热构件之间的气流。定影单元（40）安装在主体（1）中。盖体（60）安装在主体中以打开面向定影单元的一侧。热封单元（70）安装在盖的内部以阻挡来自定影单元的热量。外部空气循环室（80）在隔热构件和盖之间。外部空气通过常规电流循环在外部空气循环室中。至少一个外部空气流通孔（64）在外部空气循环室中流动空气。

5. 发明授权

KR100541546B1 반도체 디바이스 테스트장치 失效
标题翻译：半导体器件测试仪器
公开(公告)号：KR100541546B1
公开(公告)日：2006-01-10
申请号：KR1020030048083
申请日：2003-07-14
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이수찬 , 선용균 , 김현호 , 이병천 , 이준호 , 이종철 , 류제형 , 김태규 , 임순규
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/2893
摘要： 반도체 디바이스 테스트장치 및 그 반도체 디바이스 테스트장치의 로봇 속도 조절 방법을 제공한다. 이러한 반도체 디바이스 테스트 장치는 테스트트레이에 적재되는 인서트에 4개의 디바이스가 수용되도록 구성하고 그에 대응하는 테스트헤드의 구조 및 리드푸셔조립체의 구성을 개선하여 단위 시간당 테스트하는 디바이스의 량을 증대시킨다. 또한, 테스트할 때 발생되는 디바이스이 자기 발열을 전도방식에 의해 냉각시키도록 구성함에 따라 보다 향상된 온도조절을 한다. 한편, 디바이스를 이송하는 각종 로봇들을 디바이스의 테스트타임에 따라 자동으로 속도 조절하도록 하여 로봇에 과중한 피로가 가해지는 것을 해소한다. 또한 스태커에 있어서, 유저트레공급부 및 유저트레이출하부의 위치를 구분하여 사용하지 않고 테스트 진행상황에 따라 그 용도를 변경하여 사용할 수 있도록 하여 제한된 스태커 공간 내에서 보다 효과적으로 유저트레이를 공급하고 출하할 수 있다. 또한, 챔버부가 본체로부터 분리가능하도록 구성하여 본체 내부 점검을 보다 쉽게 행하는 이점이 있다.

6. 发明公开

KR1020050008227A 반도체 디바이스 테스트장치 失效
标题翻译：半导体器件测试装置和控制机器人速度的方法通过改变测试盘操作系统来提高测试过程的生产率
公开(公告)号：KR1020050008227A
公开(公告)日：2005-01-21
申请号：KR1020030048083
申请日：2003-07-14
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이수찬 , 선용균 , 김현호 , 이병천 , 이준호 , 이종철 , 류제형 , 김태규 , 임순규
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R31/2893
摘要： PURPOSE: A semiconductor device test apparatus and a method for controlling robot speed thereof is provided to improve the productivity of a test process by changing the operating system of the test tray and its peripheral units. CONSTITUTION: A semiconductor device test apparatus includes a body and the following units. a supply part(214) of a user tray and a sending out part(214') of the user tray is formed in a stacker(210). Devices waiting for test on the user tray is seated on a test tray of a device loading part(220) by a loading robot(217). The test tray received from the device loading part is precooled or preheated by a soak chamber(251). The preheated or precooled devices is tested by a test chamber(253). The devices come out from the test chamber is sent to a device unloading part(290) after recovering a room temperature by a desoak chamber(257). The devices of the device unloading part are picked up and transferred to a plurality of sorter table(274) by a classifying robot(273) according to a test result. The devices transferred to a plurality of the sorter table are picked up and send to the sending out part of the user tray by an unloading robot(291). The sock chamber, the test chamber and the desoak chamber are capable of separating from the body by a sliding unit.
摘要翻译：目的：提供一种用于控制机器人速度的半导体器件测试装置和方法，通过改变测试托盘及其周边单元的操作系统来提高测试过程的生产率。构成：半导体器件测试装置包括主体和以下单元。用户托盘的供应部分（214）和用户托盘的发送部分（214'）形成在堆叠器（210）中。在用户托盘上等待测试的设备由装载机器人（217）安置在设备装载部件（220）的测试托盘上。从装置装载部接收的试验盘被浸泡室（251）预冷却或预热。预热或预冷器件通过测试室（253）进行测试。在通过解泡室（257）恢复室温后，从测试室出来的装置被送到装置卸载部分（290）。根据测试结果，通过分类机器人（273）拾取装置卸载部件的装置并将其传送到多个分拣机台（274）。通过卸载机器人（291）拾取传送到多个分拣机的装置并发送给用户托盘的一部分。袜子室，测试室和脱泡室能够通过滑动单元与身体分离。

7. 发明公开

KR1020050001809A 반도체소자 검사장치 有权
标题翻译：用于检查无热影响的全面半导体器件的装置
公开(公告)号：KR1020050001809A
公开(公告)日：2005-01-07
申请号：KR1020030042145
申请日：2003-06-26
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김태규 , 류제형 , 이준호 , 이성진 , 이홍용
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/0458
摘要： PURPOSE: An apparatus is provided to perform an exact test on a semiconductor device without the influence of heat on the test by dissipating effectively the heat of the semiconductor device using heat pipes. CONSTITUTION: An apparatus includes a match plate(20) and a contact module connected with the match plate. The contact module(50) includes a radiation part and a test part. The radiation part is used for radiating heat from a semiconductor device to the outside. The test part is used for pressing fixedly a lead line of the semiconductor device. The radiation part includes a plurality of heat pipes.
摘要翻译：目的：提供一种装置，通过使用热管有效地散发半导体器件的热量，对半导体器件进行精确测试，而不受热量对测试的影响。构成：装置包括一个匹配板（20）和一个与该匹配板连接的接触模块。接触模块（50）包括辐射部分和测试部分。辐射部分用于从半导体器件向外部辐射热量。测试部件用于固定地挤压半导体器件的引线。辐射部分包括多个热管。

8. 发明授权

KR101398899B1 화상형성장치 有权
公开(公告)号：KR101398899B1
公开(公告)日：2014-05-26
申请号：KR1020070065119
申请日：2007-06-29
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 황규덕 , 김성협 , 김선수 , 김종우 , 백성구 , 조현기 , 류제형 , 김태희
IPC分类号： G03G15/20 , G03G15/04 , G03G15/06
摘要： 개시된 본 발명에 의한 화상형성장치는 감광체와, 감광체에 빛을 조사하여 정전잠상을 형성시키는 노광장치와, 감광체에 현상제를 부착하여 가시화상을 형성시키는 현상기와, 감광체에 형성된 가시화상을 인쇄매체로 전사시키는 전사장치와, 열을 발생하는 히팅롤러, 히팅롤러와 밀착되는 가압롤러, 히팅롤러 및/또는 가압롤러를 보호하는 정착기커버를 갖는 정착기를 포함하고, 정착기커버의 내부면에는 상승하는 공기의 흐름 방향을 따라 연장되는 복수의 리블렛(riblet)이 형성된 것을 특징으로 한다. 이러한 본 발명에 의하면, 정착기커버의 내부면에 공기의 상승 방향을 따라 가는 홈 형태의 리블렛이 다수 구비됨으로써, 히팅롤러에서 주변으로의 열전달이 억제된다.
화상형성장치, 정착기, 정착기커버, 리블렛, 열전달

9. 发明公开

KR1020120126215A 전기오븐의 도어 无效
标题翻译：电烤箱门
公开(公告)号：KR1020120126215A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：KR1020110043843
申请日：2011-05-11
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김광순 , 조풍연 , 이동진 , 류제형 , 오동진
IPC分类号： F24C15/02 , F24C7/00
CPC分类号： F24C15/04
摘要： PURPOSE: A door of an electric oven is provided to be formed on a part of glass by replacing the glass with a perforated plate. CONSTITUTION: A door(100) of an electric oven comprises front glass(110), rear glass(120), and a perforated plate(130). The rear glass is installed at the front. The rear glass is installed at the rear side of the front glass. The perforated plate is installed between the front glass and the rear glass. The perforated plate prevents the discharge of the heat generated from a cooking chamber. The perforated plate comprises projection holes(137). Users see the inside of the cooking chamber through the projection holes.
摘要翻译：目的：通过用多孔板代替玻璃来提供电烤炉的门，以形成在玻璃的一部分上。构成：电烤炉的门（100）包括前玻璃（110），后玻璃（120）和多孔板（130）。后玻璃安装在前面。后玻璃安装在前玻璃的后侧。多孔板安装在前玻璃和后玻璃之间。多孔板防止从烹饪室产生的热量排出。多孔板包括突出孔（137）。用户通过投影孔看到烹饪室的内部。

10. 发明公开

KR1020090019567A 화상형성장치 有权
标题翻译：图像形成装置
公开(公告)号：KR1020090019567A
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：KR1020070084104
申请日：2007-08-21
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 백성구 , 김성협 , 김선수 , 황규덕 , 김종우 , 조현기 , 류제형 , 김태희
IPC分类号： G03G15/00 , G03G15/20
CPC分类号： G03G21/20 , G03G15/2064
摘要： An image forming apparatus for preventing the settlement of heat inside a device radiated to the outside is provided to minimize the temperature of parts which are in the surrounding of the fixing device and to minimize that the heat of a settlement inside of device is radiated to the fixing device outside. A fixing device(40) is installed inside a main body(10). An opening and closing member(100) opens and closes the exit of the fixing device. The heat of the settlement inside of device is unable to go through exit. A cam member(210) moves opening and closing member between the first location closing exit and the second position opening exit. A driving part rotates the cam member. The controller controls the driving part. The rotational phase of the cam member is determined. A cover(70) opens and closes a portion of the main body. It is installed on the top of the fixing device.
摘要翻译：提供一种用于防止辐射到外部的装置内的热量沉降的图像形成装置，以使定影装置周围的部件的温度最小化，并使装置内部的沉降物的热辐射到固定装置外面。固定装置（40）安装在主体（10）的内部。打开和关闭构件（100）打开和关闭定影装置的出口。设备内部沉淀物的热量不能通过出口。凸轮构件（210）使打开和关闭构件在第一位置关闭出口和第二位置打开出口之间移动。驱动部件使凸轮部件旋转。控制器控制驱动部分。确定凸轮构件的旋转相位。盖（70）打开和关闭主体的一部分。它安装在定影装置的顶部。

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