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1. 发明公开

KR1020080015621A 반도체 소자 테스트용 핸들러의 테스트 트레이 无效
标题翻译：用于测试半导体的处理器的测试盘
公开(公告)号：KR1020080015621A
公开(公告)日：2008-02-20
申请号：KR1020060077201
申请日：2006-08-16
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 박성문
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2601 , G01R1/0433 , H01L21/67333
摘要： A test tray for a handler for testing semiconductors is provided to prevent the semiconductors from being left from the test tray due to easy rotation of latches in case of external impact. A test tray for a handler for testing semiconductors includes a plurality of pocket units(120), a plurality of latches(130), an operation button(150), an elastic member, a guide hole(132), and a fixing pin(145). The plurality of pocket units receive the semiconductors. The plurality of latches are installed on both sides of the pocket units such that one end is movable to a first position at which the semiconductors received on the pocket units are fixed and a second position at which the fixed semiconductors are released. The operation button is installed to be movable to upper and lower parts outside each of the latches and rotates the latch with moving up and down through external force by being hinge-coupled to an outside of the latch. The elastic member elastically supports the operation button. The guide hole is formed in a long hole to be upward slanted outside each of the latches. The fixing pin guides rotation of the latches by being inserted inside the guide hole to be fixed.
摘要翻译：提供用于测试半导体的处理器的测试托盘，以防止半导体由于在外部冲击的情况下容易地旋转闩锁而从测试托盘中留下。用于测试半导体的处理器的测试盘包括多个凹穴单元（120），多个闩锁（130），操作按钮（150），弹性构件，引导孔（132）和固定销（ 145）。多个口袋单元接收半导体。多个闩锁安装在袋单元的两侧，使得一端可移动到第一位置，在该第一位置，容纳在口袋单元上的半导体被固定，并且固定半导体被释放的第二位置。操作按钮被安装成能够移动到每个闩锁之外的上部和下部部分，并且通过铰链连接到闩锁的外部，通过外力使上下移动的闩锁旋转。弹性构件弹性地支撑操作按钮。引导孔形成在长孔中，以向上倾斜地倾斜在每个闩锁之外。固定销通过插入待固定的引导孔中来引导闩锁的旋转。

2. 发明授权

KR100792732B1 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송장치 有权
标题翻译：奶酪托盘转运半导体奶嘴处理器
公开(公告)号：KR100792732B1
公开(公告)日：2008-01-11
申请号：KR1020060046516
申请日：2006-05-24
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 추승용 , 박성문 , 임용진
IPC分类号： H01L21/683
CPC分类号： G01R31/2893
摘要： 본 발명은 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송장치에 관한 것으로, 구조가 간단하고, 테스트 트레이 이송시 안정성과 신속성을 향상시킬 수 있도록 한 것이다.
이를 위한 본 발명은, 핸들러의 챔버 내부에 테스트 트레이의 이송방향을 향해 연장되도록 설치되며, 외주면에 테스트 트레이의 변부가 삽입되어 이동하는 나선형 궤적의 스크류홈이 형성된 복수개의 이송바아와; 상기 이송바아들을 일정한 회전량만큼 동기적으로 회동시키는 구동유닛을 포함 하여 구성된 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송장치를 제공한다.
핸들러, 테스트 트레이, 이송장치

3. 发明授权

KR100737400B1 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치 有权
标题翻译：半导体器件测试处理器的器件传输器件
公开(公告)号：KR100737400B1
公开(公告)日：2007-07-09
申请号：KR1020060042995
申请日：2006-05-12
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 함철호 , 임용진 , 추승용 , 박성문 , 장문석
IPC分类号： H01L21/677 , H01L21/68 , H01L21/02

4. 发明公开

KR1020080087450A 반도체 소자 테스트 핸들러용 덕트 및 이를 포함하는테스트 핸들러 有权
标题翻译：用于半导体测试处理器和测试处理器的DUCT
公开(公告)号：KR1020080087450A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：KR1020070029699
申请日：2007-03-27
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 김만복 , 추승용 , 박성문 , 이응룡
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2601 , G01R1/0408 , G01R31/2867 , H01L21/683 , H01L22/30
摘要： A duct for a semiconductor test handler and a test handler having the same are provided to improve work efficiency by minimizing heat loss in transferring temperature-controlled fluid to semiconductor devices in a test tray. A duct(1) for a semiconductor test handler includes a temperature control unit(3), a main body(4), a passage forming unit(5), and a flow control unit(6). The temperature control unit controls a temperature of fluid supplied from a blower(2) to maintain semiconductor devices in a test tray at constant temperature corresponding to a test condition. The main body is opened to a test board side to transfer the temperature-controlled fluid to the semiconductor devices. The passage forming unit is installed inside the main body and forms a plurality of passages(A,B,C) to transfer the fluid to the semiconductor devices in each section of the test tray. The flow control unit controls flow of the fluid in the passages.
摘要翻译：提供了用于半导体测试处理器的管道和具有该管道的测试处理器，以通过将温度控制流体转移到测试托盘中的半导体器件的最小化热损失来提高工作效率。用于半导体测试处理器的管道（1）包括温度控制单元（3），主体（4），通道形成单元（5）和流量控制单元（6）。温度控制单元控制从鼓风机（2）供应的流体的温度，以将测试托盘中的半导体器件保持在与测试条件相对应的恒定温度。将主体打开到测试板侧，以将温度控制的流体传送到半导体器件。通道形成单元安装在主体内部并形成多个通道（A，B，C），以将流体转移到测试托盘的每个部分中的半导体器件。流量控制单元控制通道中的流体的流动。

5. 发明授权

KR100792730B1 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 有权
标题翻译：半导体器件测试处理器的载体模块
公开(公告)号：KR100792730B1
公开(公告)日：2008-01-08
申请号：KR1020060043103
申请日：2006-05-12
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 현성욱 , 박성문
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/67
摘要： 본 발명은 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈에 관한 것으로, 본 발명의 캐리어 모듈은, 반도체 소자가 안착되는 포켓부가 형성된 캐리어 몸체와; 상기 포켓부의 양측에 회전축을 중심으로 상하로 회전가능하게 설치되어, 상기 포켓부에 안착된 반도체 소자를 고정하는 제 1위치와 반도체 소자를 해제하는 제 2위치로 회동하는 한 쌍의 랫치와; 상기 랫치를 탄성적으로 지지하는 탄성부재와; 상기 캐리어 몸체에 상하로 이동가능하게 설치되며, 그 일측이 상기 랫치의 하부에 접촉하도록 설치되어, 캐리어 몸체의 하부에서부터 가해지는 외력에 의해 상승하면서 상기 랫치를 제 2위치로 회동시키는 작동부재를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
핸들러, 캐리어, 캐리어 모듈
摘要翻译：本发明涉及一种用于半导体器件测试处理器的载体模块。本发明的载体模块包括：载体主体，具有其上安装有半导体器件的袋部; 可旋转地安装上下左右旋转的上袋体部分的两侧的轴，以及一对枢转的第二位置用于释放闩锁的第一位置和用于固定的半导体元件的半导体装置的安装在袋部; 用于弹性支撑棘轮的弹性构件; 被安装为能够上下移动的支承体，所述一侧包括所安装的，以便在与所述较低值相接触的操作部件（108）的大鼠，大鼠值旋转到第二位置，并且通过从背带主体的下部施加的外力凸起并且其特征在于，配置的。

6. 发明授权

KR100785740B1 반도체 소자 테스트 핸들러용 로테이터 有权
标题翻译：用于半导体测试处理器的转子
公开(公告)号：KR100785740B1
公开(公告)日：2007-12-18
申请号：KR1020060038659
申请日：2006-04-28
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 박성문
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 반도체 소자 테스트 핸들러용 로테이터에 관한 것으로, 본 발명의 로테이터는, 반도체 소자를 해제 가능하게 장착하는 테스트 트레이를 지지하는 프레임과; 상기 프레임을 핸들러 본체에 회전 가능하게 연결하는 회전축부재와; 상기 회전축부재를 소정 각도로 회동시키는 동력을 발생시키는 모터를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 따르면, 상기 로테이터의 프레임을 모터에 의해 회동시키므로 상기 프레임을 정확한 위치로 회동시킬 수 있으며, 작은 크기로 큰 동력을 제공할 수 있다.
반도체 소자, 핸들러, 로테이터, 모터

7. 发明公开

KR1020070112942A 반도체 소자 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송장치 有权
标题翻译：用于SEMICOANDUCTOR TEAT HANDLER的TEAT TRAY TRANSFER
公开(公告)号：KR1020070112942A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：KR1020060046516
申请日：2006-05-24
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 추승용 , 박성문 , 임용진
IPC分类号： H01L21/683
CPC分类号： G01R31/2893
摘要： A test tray transfer apparatus of a semiconductor device test tray handler is provided to transfer the test tray stably and rapidly as a simple structure by using a plurality of transferring bars and a driving unit. A plurality of transfer bars(10) on which screw grooves of a spiral locus are formed are installed within a handler chamber(1) and extended toward the transfer direction. A driving unit rotates the transfer bars depending on an uniform rotating amount. The driving unit is composed of a driving pulley(22) joined to an axis of a motor, a plurality of followers(23) fixed on each transfer bars and a driving power transmitting belt.
摘要翻译：提供一种半导体器件测试托盘处理器的测试托盘传送装置，通过使用多个传送杆和驱动单元，以简单的结构稳定且快速地传送测试托盘。在其中形成螺旋轨迹的螺旋槽的多个传送杆（10）安装在处理器室（1）内并朝向传送方向延伸。驱动单元根据均匀的旋转量旋转传送杆。驱动单元由与马达的轴线连接的驱动滑轮（22），固定在各个传送杆上的多个从动件（23）和驱动动力传递带构成。

8. 发明公开

KR1020070109720A 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 有权
标题翻译：用于半导体测试处理器的载波模块
公开(公告)号：KR1020070109720A
公开(公告)日：2007-11-15
申请号：KR1020060043102
申请日：2006-05-12
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 현성욱 , 박성문
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/67
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R1/0433 , G01R31/2601 , G01R31/2893 , H01L22/30
摘要： A carrier module for semiconductor test handler is provided to make supple the functioning of latches which fixes a semiconductor device, and to offer carrier module for semiconductor test handler which has simple structure. A carrier module is installed to rotate with the carrier body(11) that has a pocket part(13) on which a semiconductor device(S) is set safe as the carrier module rotates up and down on the axis(16) of both sides of pocket part(13); comprises one pair of latches(15) which fixes on the first position the semiconductor device(S) which is set safe on the pocket part(13) and move to the second place where the semiconductor device is released; comprises elastic members(18) which elastically supports the latches; and is formed to move to the second place by external force that external device(P) applies from lower part to upper part of the carrier body(11) and move back to the first place by elastic member(18).
摘要翻译：提供了一种用于半导体测试处理器的载体模块，用于使固定半导体器件的锁存器的功能变得简单，并提供了具有简单结构的半导体测试处理器的载体模块。载体模块被安装成随着载体主体（11）旋转，该载体主体（11）具有袋状部分（13），半导体装置（S）被安置在其上，因为载体模块在两侧的轴线（16）上上下旋转的口袋部分（13）; 包括一对闩锁（15），其在所述第一位置固定所述半导体器件（S），所述半导体器件（S）在所述口袋部分（13）上安全地移动并移动到所述半导体器件被释放的第二位置; 包括弹性地支撑闩锁的弹性构件（18）并且通过由外部装置（P）从载体主体（11）的下部到上部施加的外力而形成为向第二位移动，并且通过弹性构件（18）返回到第一位置。

9. 发明授权

KR100867888B1 반도체 소자 테스트 핸들러용 덕트 및 이를 포함하는테스트 핸들러 有权
标题翻译：用于半导体测试处理器和测试处理器的管道包括其
公开(公告)号：KR100867888B1
公开(公告)日：2008-11-10
申请号：KR1020070029699
申请日：2007-03-27
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 김만복 , 추승용 , 박성문 , 이응룡
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
摘要： 본 발명은 테스트트레이에 담겨진 반도체 소자들이 테스트 조건에 상응하는 항온으로 유지되도록 송풍장치로부터 공급되는 유체의 온도를 조절하는 온도조성부; 온도가 조절된 상기 유체가 상기 반도체 소자들에 전달되도록 테스트보드측으로 개방된 본체; 상기 본체의 내측에 설치되고, 상기 유체의 전달방향을 전환하여 상기 유체가 반도체 소자들이 상기 테스트트레이에 담겨진 각 구역별로 전달되도록 복수개의 유로를 형성하는 유로형성부; 및 상기 복수개의 유로를 통해 흐르는 상기 유체 각각의 유량을 조절하는 유량조절부를 포함하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 덕트 및 이를 포함하는 테스트 핸들러에 관한 것으로서,
본 발명에 따르면, 반도체 소자들이 담겨진 테스트트레이의 각 구역별로 온도가 조절된 유체의 유량을 조절하여 공급함으로써, 각 구역별로 상이한 온도로 변화된 반도체 소자들을 테스트 조건에 상응하는 항온으로 효율적으로 유지시킬 수 있으며, 그에 따라 테스트 결과의 정확성 및 수율을 향상시킬 수 있다.
덕트, 핸들러, 테스트트레이, 반도체

10. 发明授权

KR100789292B1 반도체 소자 테스트용 핸들러 및 트레이 이송방법 有权
标题翻译：半导体测试处理器和托盘传输方法
公开(公告)号：KR100789292B1
公开(公告)日：2007-12-28
申请号：KR1020070013732
申请日：2007-02-09
申请人： 미래산업 주식회사
发明人： 박성문 , 추승용
IPC分类号： H01L21/677
CPC分类号： H01L21/67144 , G01R31/2603 , H01L21/67721 , H01L21/67754 , H01L21/6838 , H05K13/0404
摘要： A semiconductor test handler and a tray transferring method are provided to hold simultaneously two trays and to reduce a tray supplying time by using a tray gripper. A semiconductor test handler includes a base(152), a plurality of holders(154,158) extended and contracted to both sides of the base in order to hold selectively a tray, and a gripper having a driving unit for driving the holders. The holders are composed of a first holder and a second holder. The driving unit includes an actuator for driving the first holder and the second holder. The first holder is positioned at the outside of the base in comparison with the second holder. An end part extended from the first holder is positioned at a lower part of the base in comparison with an end part extended from the second holder. The first and second holders are used for holding by stacking trays. Further, a sensor unit is installed in order to sense existence the trays along a movement of the base at one side of the base.
摘要翻译：提供半导体测试处理器和托盘传送方法以同时保持两个托盘并且通过使用托盘夹持器来减少托盘供应时间。半导体测试处理器包括基座（152），多个保持器（154,158），其延伸和收缩到基座的两侧以便选择性地保持托盘;以及夹具，具有用于驱动保持器的驱动单元。保持器由第一保持器和第二保持器构成。驱动单元包括用于驱动第一保持器和第二保持器的致动器。与第二支架相比，第一支架位于基座的外侧。与从第二支架延伸的端部相比，从第一支架延伸的端部位于基座的下部。第一和第二支架用于通过堆放托盘进行保持。此外，安装传感器单元以便感测托盘沿着基座的一侧的运动的存在。

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