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1. 发明公开

KR1020210038484A 점검장치 审中-实审
公开(公告)号：KR1020210038484A
公开(公告)日：2021-04-07
申请号：KR1020210035930
申请日：2021-03-19
申请人： (주)테크윙
发明人： 권성일 , 김형근
IPC分类号： B65G43/08 , B65G47/88 , B65G47/28
摘要： 본발명은적재트레이에적재된전자부품의적재상태를점검하기위한점검장치에관한것이다. 본발명에따른점검장치는, 점검위치에있는적재트레이에적재된전자부품에광을조사하는광조사기; 상기광조사원에의해광이조사된전자부품을촬영하는카메라; 상기카메라에의해획득된이미지내의광의형태와기준되는광의형태를비교하여전자부품의적재상태를점검하는분석기; 를포함한다. 본발명에따르면조사된광의형태를이용하여전자부품의적재상태를점검할수 있는새로운방식의기술이제시된다.

2. 发明授权

KR102217426B1 전자부품 이송장치 有权
公开(公告)号：KR102217426B1
公开(公告)日：2021-02-22
申请号：KR1020150021192
申请日：2015-02-11
申请人： (주)테크윙
发明人： 이석호 , 권성일
IPC分类号： G01R31/28 , B65G49/05 , B65G47/90 , B65G43/00
摘要： 본발명은전자부품이송장치에관한것이다. 본발명에따른전자부품이송장치는, 전자부품을파지하거나파지를해제할수 있는픽커; 상기픽커를전자부품을파지하는제1 영역에서전자부품의파지를해제하는제2 영역으로이동시키거나, 상기픽커를상기제2 영역에서상기제1 영역으로이동시키는수평이동기; 상기픽커에의한전자부품의파지가가능하도록상기픽커를하강시키거나, 전자부품을파지한상기픽커가상기수평이동기에의해수평이동이가능하도록상기픽커를상승시키는수직이동기; 및제3 영역에적재된전자부품을카메라로촬영하기위해, 광원으로부터오는빛을상기제2 영역에적재된전자부품측으로반사시키는반사판;을포함하고, 상기반사판은상기픽커와함께수평이동된다. 본발명에따르면카메라에의한이미지획득에필요한광원의설치위치에대한설계의자유도가상승된다.

3. 发明公开

KR1020160120880A 반도체소자 테스트용 핸들러에서 티칭점 설정 방법 및 핸들러 审中-实审
标题翻译：用于测试半导体器件和处理器的处理器中的教学点解决方法
公开(公告)号：KR1020160120880A
公开(公告)日：2016-10-19
申请号：KR1020150049993
申请日：2015-04-09
申请人： (주)테크윙
发明人： 전인구 , 권성일
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/68 , G01R31/28
摘要： 본발명은반도체소자테스트용핸들러에서티칭점설정방법및 핸들러에관한것이다. 본발명은이동장치를작동시켜감지기를티칭영역으로이동시켜서감지기에의해기준점을감지하고, 감지된기준점의위치를설정함으로써반도체소자를파지하거나파지를해제하기위한티칭점들을설정할수 있는기술이다. 본발명에따르면자동화된작업을통해티칭점들을설정할수 있기때문에인력및 시간을절감하고, 설정된티칭점들에대한신뢰성이향상된다.

4. 发明公开

KR1020160098923A 전자부품 이송장치 审中-实审
标题翻译：电气设备传输设备
公开(公告)号：KR1020160098923A
公开(公告)日：2016-08-19
申请号：KR1020150021192
申请日：2015-02-11
申请人： (주)테크윙
发明人： 이석호 , 권성일
IPC分类号： G01R31/26 , B65G49/05 , B65G47/90 , B65G43/00
CPC分类号： G01R31/2601 , B65G43/00 , B65G47/901 , B65G49/05 , B65G2203/041
摘要： 본발명은전자부품이송장치에관한것이다. 본발명에따른전자부품이송장치는, 전자부품을파지하거나파지를해제할수 있는픽커; 상기픽커를전자부품을파지하는제1 영역에서전자부품의파지를해제하는제2 영역으로이동시키거나, 상기픽커를상기제2 영역에서상기제1 영역으로이동시키는수평이동기; 상기픽커에의한전자부품의파지가가능하도록상기픽커를하강시키거나, 전자부품을파지한상기픽커가상기수평이동기에의해수평이동이가능하도록상기픽커를상승시키는수직이동기; 및제3 영역에적재된전자부품을카메라로촬영하기위해, 광원으로부터오는빛을상기제2 영역에적재된전자부품측으로반사시키는반사판;을포함하고, 상기반사판은상기픽커와함께수평이동된다. 본발명에따르면카메라에의한이미지획득에필요한광원의설치위치에대한설계의자유도가상승된다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于传送电子元件的设备。根据本发明的用于传送电子部件的装置包括：用于夹持电子部件或释放夹持动作的拾取器; 用于将拾取器移动到第二区域的水平移动器，在第二区域中相对于电子部件的夹持动作从其中夹持电子部件的第一区域被释放，或者将拾取器从第二区域移动到第一区域; 用于允许拾取器下降的垂直移动器，以使得电子部件能够被拾取器抓住，或允许拾取器上升，从而使得握住电子部件的拾取器能够在水平方向上移动，水平方向通过水平推动者以及反射板，用于将来自光源的光反射到装载在第二区域上的电子部件的一侧，以便拍摄加载在第三区域上的电子部件，其中反射板在水平方向上与拾取器一起移动。根据本发明，提高了相对于从摄像机获得的图像获取所需的光源的安装位置的设计自由度。

5. 发明公开

KR1020160123502A 반도체소자 테스트용 핸들러 및 그 작동 방법 审中-实审
标题翻译：用于测试半导体器件的处理器及其操作方法
公开(公告)号：KR1020160123502A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：KR1020150053587
申请日：2015-04-16
申请人： (주)테크윙
发明人： 나윤성 , 권성일
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 본발명은반도체소자테스트용핸들러및 그작동방법에관한것이다. 본발명은핸들러의가동중에픽킹모듈의픽커또는픽커에의해파지된반도체소자의파지상태를촬영하고, 촬영된이미지와기 저장된이미지를비교하여픽킹모듈에의한티칭점의불량여부나반도체소자의파지불량여부를판단할수 있는기술이다. 본발명에따르면, 핸들러의가동중에지속적으로티칭점이조정되기때문에반도체소자의이동작업에대한신뢰성이향상되고, 티칭점불량에따른가동중지의상황이발생하지않기때문에핸들러의가동률을상승시켜처리용량을늘릴수 있으며, 반도체소자의파지불량여부를확인하여신속히대처할수 있다.

6. 发明公开

KR1020160047781A 전자부품 라벨링 장비 审中-实审
标题翻译：电子设备标签设备
公开(公告)号：KR1020160047781A
公开(公告)日：2016-05-03
申请号：KR1020140144133
申请日：2014-10-23
申请人： (주)테크윙
发明人： 권성일 , 이문호
IPC分类号： B65C9/40 , G01B11/24
CPC分类号： B65C9/40 , B65C1/02 , B65C9/1865 , B65C2009/404 , B65H43/04 , B65H2553/42 , B65H2701/192 , B65H2801/75
摘要： 본발명은 SSD와같이비교적대형인전자부품자체나전자부품이케이싱된제품에라벨을부착시키는라벨링장비에관한것이다. 본발명에따른전자부품라벨링장비는필름지지대상에있는라벨의불량을확인하기위한불량확인기를가진다. 라벨의 3차원적인불량여부를확인하기위해불량확인기는 2차원적인카메라와광원을구비할수 있다. 본발명에따르면불량라벨을별도처리할수 있다. 그리고더 나아가 2차원적인평면카메라와광원을이용하여라벨의 3차원적인불량을확인할수 있기때문에, 생산단가를절감할수 있다.
摘要翻译：本发明涉及将标签附着在电子部件本身上的标签设备，例如相对较大的SSD，以及电子部件的产品外壳。根据本发明，电子部件标签设备具有检查放置在胶片支架上的标签的缺陷的缺陷检查装置。缺陷检查装置可以包括二维照相机和光源，以便检查标签的三维缺陷。根据本发明，可以单独处理有缺陷的标签，并且通过使用二维平面照相机和光源，可以检查标签的三维缺陷，从而降低生产成本。

7. 发明公开

KR1020130105104A 사이드도킹식 테스트핸들러 有权
标题翻译：侧面锁定式测试操作器的侧面锁定型和操作方法
公开(公告)号：KR1020130105104A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：KR1020120027248
申请日：2012-03-16
申请人： (주)테크윙
发明人： 전인구 , 김창래 , 권성일
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26 , H01L21/66
摘要： PURPOSE: A side docking type test handler is provided to improve the stability and reliability of products. CONSTITUTION: A test tray (410), which includes the insert having a lever for gripping settled semiconductor device or releasing the grip, is transported along the fixed cyclic pathway. A loading system device (420) loads the semiconductor device to the test tray. A first posture converting device (451) changes the posture of the test tray, which the loading is completed by the loading device, in a vertical direction. A test chamber (460) supports the test for the semiconductor devices loaded on the test tray which the posture is perpendicularly converted by the first posture converting device. A second posture converting device (452) changes the posture of the test tray, which passed through the test chamber, in a horizontal direction. A unloading device (480) unloads the semiconductor device from the test tray which the posture is horizontally converted by the second posture converting device.
摘要翻译：目的：提供侧对接式测试处理器，以提高产品的稳定性和可靠性。构成：包括具有用于夹持固定的半导体器件或释放把手的杆的插入件的测试托盘（410）沿着固定循环路径被传送。加载系统装置（420）将半导体装置加载到试验盘。第一姿势转换装置（451）沿垂直方向改变由装载装置完成的装载的测试盘的姿势。测试室（460）支持对由第一姿态转换装置垂直转换姿势的加载在测试盘上的半导体装置的测试。第二姿势转换装置452使穿过测试室的测试盘的姿态在水平方向上变化。卸载装置（480）从姿态由第二姿势转换装置水平转换的试验托盘卸载半导体装置。

8. 发明授权

KR102263907B1 반도체소자 테스트용 핸들러에서 티칭점 설정 방법 및 핸들러 有权
公开(公告)号：KR102263907B1
公开(公告)日：2021-06-14
申请号：KR1020150049993
申请日：2015-04-09
申请人： (주)테크윙
发明人： 전인구 , 권성일
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/68 , G01R31/28

9. 发明授权

KR102236632B1 점검장치 有权
公开(公告)号：KR102236632B1
公开(公告)日：2021-04-07
申请号：KR1020140102496
申请日：2014-08-08
申请人： (주)테크윙
发明人： 권성일 , 김형근
IPC分类号： B65G21/12 , H05K1/02
摘要： 본발명은적재트레이에적재된전자부품의적재상태를점검하기위한점검장치에관한것이다. 본발명에따른점검장치는, 점검위치에있는적재트레이에적재된전자부품에광을조사하는광조사기; 상기광조사원에의해광이조사된전자부품을촬영하는카메라; 상기카메라에의해획득된이미지내의광의형태와기준되는광의형태를비교하여전자부품의적재상태를점검하는분석기; 를포함한다. 본발명에따르면조사된광의형태를이용하여전자부품의적재상태를점검할수 있는새로운방식의기술이제시된다.

10. 发明公开

KR1020210021502A 전자부품의 안착상태를 확인하기 위한 장치 审中-实审
公开(公告)号：KR1020210021502A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：KR1020210019257
申请日：2021-02-10
申请人： (주)테크윙
发明人： 이석호 , 권성일
IPC分类号： G01R31/28 , B65G49/05 , B65G47/90 , B65G43/00
摘要： 본발명은전자부품이송장치에관한것이다. 본발명에따른전자부품이송장치는, 전자부품을파지하거나파지를해제할수 있는픽커; 상기픽커를전자부품을파지하는제1 영역에서전자부품의파지를해제하는제2 영역으로이동시키거나, 상기픽커를상기제2 영역에서상기제1 영역으로이동시키는수평이동기; 상기픽커에의한전자부품의파지가가능하도록상기픽커를하강시키거나, 전자부품을파지한상기픽커가상기수평이동기에의해수평이동이가능하도록상기픽커를상승시키는수직이동기; 및제3 영역에적재된전자부품을카메라로촬영하기위해, 광원으로부터오는빛을상기제2 영역에적재된전자부품측으로반사시키는반사판;을포함하고, 상기반사판은상기픽커와함께수평이동된다. 본발명에따르면카메라에의한이미지획득에필요한광원의설치위치에대한설계의자유도가상승된다.

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