专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR102231824B1 기어 펌프 또는 모터 有权
公开(公告)号：KR102231824B1
公开(公告)日：2021-03-24
申请号：KR1020207005944
申请日：2017-10-13
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 가나타니겐이치
IPC分类号： F04C2/18 , F03C2/08
摘要： 쌍을이루는기어를수납하는기어수납실을내부에구비한케이싱과, 케이싱과기어의사이에개재하는측판과, 이측판의기어를향한측의면인슬라이딩면과반대측의면인논슬라이딩면에형성되어그 논슬라이딩면과케이싱사이의공간을고압측과저압측으로구획하는개스킷을구비한기어펌프또는모터에있어서, 측판이표리반대, 고압부측과저압부측이반대와같은올바르지않은자세로장착되어있는것을조기에발견할수 있도록하기위해, 상기측판의자세가소정의자세이외인경우에, 상기측판의자세가소정의자세인경우와비교하여유량효율이저하되도록구성한다.

2. 发明公开

KR1020130018918A 방사선 검출기 有权
标题翻译：辐射探测器
公开(公告)号：KR1020130018918A
公开(公告)日：2013-02-25
申请号：KR1020127032134
申请日：2011-04-22
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 오히준이치 , 사토마사노부 , 후루타마사후미
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/161 , G01T1/17
CPC分类号： G01T1/1647
摘要： 형광의 잔광의 영향을 받지 않고 γ 선의 입사 위치를 정확히 특정하도록 보정할 수 있는 방사선 검출기를 제공한다. 본 발명에 따르면, 경시적으로 일정한 샘플링 간격 (Sa) 마다 광검출기 (3) 가 출력하는 형광의 강도를 나타내는 강도 데이터 (S) 를 취득하는 강도 데이터 취득부 (11) 와, 형광의 잔광에 기인하는 강도 데이터 (S) 의 변동 보정에 사용하는 보정값 (A) 을 취득하는 보정값 취득부 (14) 를 구비하고, 적산부 (15) 는 보정값 (A) 을 사용하여 강도 데이터 (S) 의 보정을 실시하도록 하고 있다. 이와 같이 하면 형광의 잔광 성분에 영향을 받지 않고 형광의 위치를 정확히 특정할 수 있다.
摘要翻译：提供一种能够校正以精确确定λ射线入射位置而不受荧光余辉影响的放射线检测器。根据本发明，提供了一个强度数据获取部分（11），用于以恒定采样间隔（Sa）获取指示从光电检测器（3）输出的荧光强度的强度数据（S）以及校正值获取部分14，其获取用于要进行强度数据S的校正的强度数据S的偏差校正的校正值A.积分部分15使用校正值A乘以强度数据S，进行修正。以这种方式，荧光的位置可以精确地指定而不受荧光的余辉成分的影响。

3. 发明公开

KR1020100039884A 고체촬상소자 및 그 구동방법 有权
标题翻译：固态成像元件及其驱动方法
公开(公告)号：KR1020100039884A
公开(公告)日：2010-04-16
申请号：KR1020107003061
申请日：2008-09-04
申请人： 고쿠리츠다이가쿠호진 도호쿠다이가쿠 , 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 스가와시게토시 , 곤도야스시 , 도미나가히데키
IPC分类号： H04N5/343
CPC分类号： H04N5/35572 , H04N5/3559 , H04N5/3575 , H04N5/3742 , H04N5/37452 , H04N5/378
摘要： An independent pixel output line (14) is arranged for each of pixels (10) arranged two-dimensionally in a pixel region (2a) and a plurality of storage units are connected to the respective pixel output lines (14). In a continuous read-out mode, all the pixels simultaneously execute photo charge accumulation and the storage units simultaneously capture signals in the storage units from the respective pixels (10) via the pixel output lines (14), after which the signals held in the respective storage units are successively read out and outputted. On the other hand, in a burst read-out mode, the process that all the pixels (10) simultaneously execute photo charge accumulation and the storage units simultaneously capture signals from the respective pixels (10) via the pixel output lines (14) is successively executed on the storage units so as to hold signals of a plurality of frames. Upon reception of an imaging stop instruction, capturing of a new signal is stopped and the image signals of the frames held in the storage units at the moment are successively read out. Thus, it is possible to perform a high-speed imaging although the number of frames is limited or a reduced-speed imaging without limiting the number of frames.
摘要翻译：为像素区域（2a）中二维布置的每个像素（10）布置独立的像素输出线（14），并且多个存储单元连接到各个像素输出线（14）。在连续读出模式中，所有像素同时执行光电荷累积，并且存储单元经由像素输出线（14）同时从各个像素（10）捕获存储单元中的信号，之后保持在相应地读出并输出各个存储单元。另一方面，在突发读出模式中，所有像素（10）同时执行光电荷累积和存储单元同时从像素（10）经由像素输出线（14）捕获信号的处理是在存储单元上依次执行以保持多个帧的信号。在接收到成像停止指令时，停止新信号的捕获，并且连续地读出保持在该时刻的存储单元中的帧的图像信号。因此，尽管帧的数量被限制，但是可以在不限制帧数的情况下执行低速成像。

4. 发明公开

KR1020100038445A 고체촬상소자 및 촬영장치 有权
标题翻译：固态成像元件和成像装置
公开(公告)号：KR1020100038445A
公开(公告)日：2010-04-14
申请号：KR1020107003062
申请日：2008-09-04
申请人： 고쿠리츠다이가쿠호진 도호쿠다이가쿠 , 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 스가와시게토시 , 곤도야스시 , 도미나가히데키
IPC分类号： H04N5/351
CPC分类号： H04N5/378 , H04N5/3415 , H04N5/374
摘要： An independent pixel output line (14) is arranged for each of pixels arrange in a two-dimensional array in a pixel region so that pixel signals can be successively written into storage units (22) via the pixel output lines (14). When pixel signals of a plurality of frames are held in the storage units (22), pixel signals corresponding to two arbitrary frames are read out from the storage units (22) and held in sample hold circuit units (61, 62), respectively. A difference between the pixel signals is obtained. Difference signals corresponding to a predetermined image range are accumulated and compared to a threshold value. When the accumulated value exceeds the threshold value, it is considered that an object has changed and a pulse generation circuit (66) generates a trigger signal. According to the trigger signal, control may be performed to stop the imaging. Thus, it is possible to perform an accurate high-speed imaging before or after occurrence of a target phenomenon.
摘要翻译：为像素区域中的二维阵列中的每个像素布置独立的像素输出线（14），使得像素信号可以经由像素输出线（14）被连续地写入存储单元（22）。当多个帧的像素信号被保持在存储单元（22）中时，分别从存储单元（22）读出对应于两个任意帧的像素信号并保持在采样保持电路单元（61,62）中。获得像素信号之间的差异。对应于预定图像范围的差分信号被累加并与阈值进行比较。当累积值超过阈值时，认为物体已经改变，并且脉冲发生电路（66）产生触发信号。根据触发信号，可以执行控制以停止成像。因此，可以在目标现象发生之前或之后执行准确的高速成像。

5. 发明授权

KR100904390B1 주사형 프로브 현미경 有权
标题翻译：扫描探针显微镜
公开(公告)号：KR100904390B1
公开(公告)日：2009-06-26
申请号：KR1020080069870
申请日：2008-07-18
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 오타마사히로
IPC分类号： G01N13/16
CPC分类号： G01Q20/02 , G01Q10/04 , G01Q10/06
摘要： 관찰 대상이나 관찰 목적에 따라 스캐너를 교환할 필요 없이 고분해능을 유지한 채로 미소 영역에서 광역까지 관찰할 수 있는 주사형 프로브 현미경이 개시된다. 탐침(13)을 XYZ축 방향으로 이동시키는 탐침측 스캐너(10)와 시료(12)를 XYZ축 방향으로 이동시키는 시료측 스캐너(11) 2개를 설치한다. 탐침측 스캐너(10)로 최대 주사 범위가 작은 스캐너를 사용하고, 시료측 스캐너(11)로 최대 주사 범위가 큰 스캐너를 사용하나, 관찰 대상이나 관찰 목적에 따라 양자를 교환하여 사용한다. 또는, 탐침측 스캐너(10)에서 미소 영역의 주사를 행함과 동시에 시료측 스캐너(11)에 의해 관찰 시야를 이동시킨다.

6. 发明公开

KR1020080070013A 질량분석장치 有权
标题翻译：质谱仪
公开(公告)号：KR1020080070013A
公开(公告)日：2008-07-29
申请号：KR1020087011980
申请日：2006-06-27
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 우메무라요시카츠
IPC分类号： H01J49/26 , G01N27/62
CPC分类号： H01J49/004 , H01J49/0031
摘要： An analyzer previously inputs, from an input part (25), the mass of a fragment removed by the first cleaving, as a precursor ion selection standard in the second cleaving, together with other analysis conditions. Upon the start of an automatic analysis, a control unit (21) successively carries out an MS1 analysis, an MS2 analysis, and an MS3 analysis. During this process, a data processing part (23) determines the valence of each ion species corresponding to peaks in a mass spectrum obtained in the MS1 analysis. After the completion of the MS2 analysis, a search is made for an ion species satisfying the selection standard among the ion species corresponding to peaks in a mass spectrum obtained by the MS2 analysis by taking into consideration the above determined valence. The ion species is selected as a precursor ion in the second cleaving in the MS3 analysis. Thus, an improved analysis efficiency and the provision of highly accurate information about chemical structures can be realized by automatically selecting a precursor ion to be selected and cleaved in each stage of MSn analysis according to the mass of a fragment removed by the cleaving of the preceding stage, regardless of the valence of the object ion.
摘要翻译：分析仪先前从输入部分（25）输入通过第一次切割除去的片段的质量作为第二次切割中的前体离子选择标准以及其它分析条件。在自动分析开始时，控制单元（21）依次执行MS1分析，MS2分析和MS3分析。在该过程中，数据处理部分（23）确定对应于在MS1分析中获得的质谱中的峰的每个离子种类的价数。完成MS2分析后，通过考虑上述确定的价态，搜索通过MS2分析获得的质谱中与峰对应的离子种类中满足选择标准的离子种类。在MS3分析中的第二次裂解中，选择离子种类作为前体离子。因此，通过在MSn分析的每个阶段中自动选择要选择和切割的前体离子，根据通过前述的切割除去的片段的质量，可以实现提高的分析效率和提供关于化学结构的高度准确的信息阶段，不管物体离子的价态如何。

7. 发明授权

KR100813868B1 기판 검사 장치 失效
标题翻译：检测基板的装置
公开(公告)号：KR100813868B1
公开(公告)日：2008-03-17
申请号：KR1020070066414
申请日：2007-07-03
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 오카모토,히데키 , 타나세,준이치로우 , 쿠로다,신-이치
IPC分类号： G02F1/13
CPC分类号： G02F1/1309 , G01R31/302 , G02F1/1303 , G02F2001/136254 , G09G3/006
摘要： An apparatus for inspecting a substrate is provided to enable a probe frame stocker to be installed in an area in which a rod lock chamber or a main chamber is installed, thereby preventing an increase in the installation area of the probe frame stocker. An apparatus for inspecting a substrate(1) comprises a main chamber(2), a rod lock chamber(3), and a probe frame stocker(4). The main chamber performs the inspection of the substrate in a vacuum. The rod lock chamber performs the input/output of the substrate between a standby side and the rod lock chamber and between the main chamber and the rod lock chamber. The probe frame stocker contacts electrically the substrate to store a probe frame applying an inspection signal. The probe frame stocker is disposed in the upper part of the rod lock chamber.
摘要翻译：提供了一种用于检查基板的装置，以使探针框架储料器能够安装在安装有杆锁定室或主室的区域中，从而防止了探针框架储料器的安装面积的增加。用于检查基板（1）的装置包括主室（2），杆锁定室（3）和探针框架储料器（4）。主室在真空中进行基板的检查。杆锁定室执行待机侧和杆锁定室之间以及主室和杆锁定室之间的衬底的输入/输出。探针架储存器电接触基板以存储施加检查信号的探针框架。探针框架储料器设置在杆锁定室的上部。

8. 发明公开

KR1020070106916A 밸브 기구 및 유로 기판 无效
标题翻译：阀门结构和通风基板
公开(公告)号：KR1020070106916A
公开(公告)日：2007-11-06
申请号：KR1020060126841
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 카지,토루
IPC分类号： F16K31/02 , B81B3/00
CPC分类号： F15C5/00 , F16K99/0001 , F16K99/0011 , F16K99/0026 , F16K99/0046 , Y10T137/86879
摘要： A valve structure and a passage substrate are provided to integrate a plurality of fluid passages with the valve structure to perform high integration of the passage substrate. A passage substrate includes a fluid passage(16). The passage substrate is formed by overlapping a PDMS substrate(14) on a glass substrate(12). A spherical valve chamber(18) is formed at the fluid passage. The valve chamber is formed by the PDMS substrate. The PDMS substrate corresponding to the valve chamber has a smaller thickness than other parts thereof. The small thickness part of the PDMS substrate forms one side wall(22) of the valve chamber. The one side wall can be resiliently bent toward the glass substrate. A magnetic body(20) is buried in a portion of the PDMS substrate for constituting the one side wall.
摘要翻译：提供阀结构和通道基板以将多个流体通道与阀结构集成，以实现通道基板的高度集成。通道基底包括流体通道（16）。通道基板通过在玻璃基板（12）上重叠PDMS基板（14）而形成。在流体通道处形成球形阀室（18）。阀室由PDMS基板形成。对应于阀室的PDMS基板的厚度比其它部分的厚度小。 PDMS基板的小厚度部分形成阀室的一个侧壁（22）。单侧壁可以朝向玻璃基板弹性弯曲。磁性体（20）被埋在PDMS衬底的一部分中，用于构成一个侧壁。

9. 发明公开

KR1020070064262A 레이저 결정화장치 및 결정화방법 无效
标题翻译：激光结晶装置和结晶方法
公开(公告)号：KR1020070064262A
公开(公告)日：2007-06-20
申请号：KR1020060126761
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 에키쇼센탄 기쥬쓰 가이하쓰센타 , 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 타카미요시오 , 타구치타츠히로
IPC分类号： G02F1/13 , H01L21/20 , H01S3/10 , H01L29/786
CPC分类号： B23K26/04 , B23K26/043 , B23K26/0608 , B23K26/0622 , B23K26/0676 , H01L21/02686 , H01L21/2026 , H01L21/02667
摘要： A laser crystallization apparatus and a laser crystallization method are provided to form a semiconductor thin film having large-sized crystallization grains, by irradiating a substrate to be processed with a pulse laser light having a predetermined light intensity when the semiconductor thin film is crystallized. A laser crystallization apparatus(500) comprises a laser source(20), a phase shifter(24) for modulating a pulse laser light, an excimer crystallization optical system(26), a substrate supporting stage, a position measuring unit, and a signal generating unit(60). The substrate supporting stage continuously moves in a predetermined direction while the substrate supporting stage supports a substrate to be crystallized. The signal generating unit controls the laser source to generate the pulse laser light based on a position of the substrate supporting stage measured by the position measuring unit.
摘要翻译：提供激光结晶装置和激光结晶方法，通过在半导体薄膜结晶时用具有预定光强度的脉冲激光照射待处理基板，形成具有大尺寸晶粒的半导体薄膜。激光结晶装置（500）包括激光源（20），用于调制脉冲激光的移相器（24），准分子结晶光学系统（26），基板支撑台，位置测量单元和信号生成单元（60）。基板支撑台在预定方向上连续移动，同时基板支撑台支撑待结晶的基板。信号发生单元基于由位置测量单元测量的基板支撑台的位置来控制激光源产生脉冲激光。

10. 发明授权

KR100595348B1 박막 또는 박층의 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치 有权
标题翻译：测量薄膜或薄层厚度的方法和装置
公开(公告)号：KR100595348B1
公开(公告)日：2006-07-03
申请号：KR1020030058383
申请日：2003-08-22
申请人： 가부시키가이샤 시마쓰세사쿠쇼
发明人： 신야가즈나리 , 니시무라다카시
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01B11/0675
摘要： 본 발명은 분광 측정에 의해 박막 또는 박층의 두께를 측정하는 방법을 제공하는바, 이러한 분광 측정은 층들이 서로 다른 굴절율들을 갖는 복층막의 측정에 적용가능하다. 상기 방법에 따르면, 막으로부터의 간섭광이 측정 스펙트럼을 생성하기 위하여 측정된다. 측정 스펙트럼의 파형(waveform)은 기저 스펙트럼들의 선형 합에 의해 근사적으로 표현될 수 있다. 따라서, 주기를 파라미터로 각각 갖는 기저 스펙트럼들을 이용하여 다양한 근사 스펙트럼들이 생성될 수 있다. 그러면, 측정 스펙트럼에 대하여 이승오차를 최소화하는 근사 스펙트럼이 식별된다. 최소이승오차는 소정 주기들의 각각에 대하여 연산된다. 최소이승오차 및 주기 사이의 관계를 표현하기 위한 그래프가 그려진다. 당해 층과 그래프 상에 나타난 최소이승오차의 다수개의 극소점들 사이의 대응이 결정된다. 극소점이 나타나는 주기와 당해 층의 굴절율(refractive index)로부터 각 층의 두께가 산출된다.
박막, 박층, 두께, 측정, 분광

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式