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11. 发明公开

KR1020010089196A 인쇄회로기판의 솔더 페이스트 검사 및 도포장치 无效
标题翻译：用于测试和补充印刷电路板的焊膏的装置
公开(公告)号：KR1020010089196A
公开(公告)日：2001-09-29
申请号：KR1020010011828
申请日：2001-03-07
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준
IPC分类号： H05K13/04
CPC分类号： H05K3/341 , G06T7/0004 , H05K1/0269 , H05K3/1216
摘要： PURPOSE: A device for testing and refilling solder paste of print circuit board is provided to improve a quality accuracy and an inspection reliability of a refilling state of a solder paste printed on a print circuit board by inspecting the refilling state of the solder paste printed at first on the print circuit board and refilling the solder paste in addition on an indicated position. CONSTITUTION: A video recognition unit(130) inspects a refilling state of a solder paste printed at first on a print circuit board(1) by a screen printer. A solder paste refilling unit(150) refills the solder paste in addition on an indicated position of the print circuit board(1) according to the inspection result of the video recognition unit(130). A bond refilling unit(170) refills a bond on an additionally indicated position of the print circuit board(1).
摘要翻译：目的：提供一种用于测试和重新填充印刷电路板的焊膏的装置，通过检查印刷在印刷电路板上的焊膏的再填充状态来提高打印在印刷电路板上的焊膏的再填充状态的质量精度和检查可靠性首先在印刷电路板上，并在指示位置上再填充焊膏。构成：视频识别单元（130）通过丝网印刷机检查首先在印刷电路板（1）上印刷的焊膏的再填充状态。焊膏补充单元（150）根据视频识别单元（130）的检查结果，另外在印刷电路板（1）的指示位置上再填充焊膏。粘合剂填充单元（170）在印刷电路板（1）的附加指示位置上重新填充键。

12. 发明公开

KR1020180000879A 직선편광으로 인한 계측오차가 보정된 휘도색도계 有权
标题翻译：亮度比色计，校正由于线性偏振引起的测量误差
公开(公告)号：KR1020180000879A
公开(公告)日：2018-01-04
申请号：KR1020160079118
申请日：2016-06-24
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 이규호 , 김규석 , 박상우 , 지성철 , 박용희 , 최승엽
IPC分类号： G01J5/60 , G01J4/00
CPC分类号： G01J3/0224 , G01J3/0208 , G01J3/465 , G01J3/506 , G01J3/513 , G01J5/602 , G01J4/00 , G01J2004/002
摘要： 본발명의직선편광으로인한계측오차가보정된휘도색도계는일측으로부터조사되는빛이입사되는렌즈모듈, 렌즈모듈을통해입사된빛을투과하여편광특성을변환시키는편광변환모듈, 하나의단위블록으로마련되어편광변환모듈을거쳐입사된빛을반사및 투과시켜서로다른세 방향으로분광시키는분광모듈, 분광모듈을통해서로다른세 방향으로분광되는각각의빛의진행경로상에각각배치되어, 세방향으로분광되는각각의빛을특정스펙트럼을포함한단색광으로투과시키는필터모듈및 필터모듈을통해투과된각각의단색광의출사각에대응되도록배치되어, 각각의단색광에의해얻어지는휘도, 색도및 결함중 적어도어느하나의계측이가능하도록마련되는계측모듈을포함한다.
摘要翻译：亮度色度计测量误差修正由于本发明的线性极化是偏振转换模块，通过透镜模块，透镜模块，其中光入射转换偏振特性从一侧照射穿过光入射的单元块所提供的光入射通过偏振转换器模块，以反射和分光模块，分别布置每个光光谱的行进路径上的其它三个方向上通过的分光模块中，三个方向即频谱的其它三个方向上，如通过传输每个光光谱中的至少一个被设置成对应于每个通滤波器模块和用于发射单色光包括特定的频谱，亮度，色度和由各个单色之一获得的缺陷的过滤器模块发送的单色光的发射角度并且提供测量模块以便能够测量测量对象。

13. 发明授权

KR101741021B1 간섭필터를 이용한 면측정 휘도색도계 有权
公开(公告)号：KR101741021B1
公开(公告)日：2017-05-29
申请号：KR1020150073996
申请日：2015-05-27
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 이규호 , 김규석 , 박상우 , 박용희
IPC分类号： G01J3/12
摘要： 본발명은간섭필터를이용한면측정휘도색도계에관한것으로, 광로가형성된메인바디, 상기메인바디의광로일측에마련되어, 디스플레이장치로부터발산되는빛을상기광로에투광시키는렌즈모듈, 상기메인바디의광로타측에하나의단위블록으로마련되어, 상기렌즈모듈을통해상기광로로투광되는빛을반사시키거나투과시켜서로다른세 방향으로분광시키는분광모듈, 상기분광모듈을통해서로다른세 방향으로분광된각각의빛의진행경로상에배치되어, 상기각각의빛을특정스펙트럼을포함한단색광으로투과시키는필터모듈및 상기분광모듈로입사되는빛의입사각이일정각도를유지하고직진성을확보할수 있도록, 상기렌즈모듈과상기분광모듈사이에배치되어상기렌즈모듈로부터투광되는빛을투과시키는텔레센트릭모듈을포함하는간섭필터를이용한면측정휘도색도계가개시된다.

14. 发明授权

KR101703280B1 비접촉 색상계측기 有权
标题翻译：色度计非接触式设备
公开(公告)号：KR101703280B1
公开(公告)日：2017-02-06
申请号：KR1020140112020
申请日：2014-08-27
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준 , 이규호 , 김규석 , 조선호 , 박상우
IPC分类号： G01J3/46
摘要： 본발명은별도로이격되어배치되는측정대상물로부터출사되는빛을감지하여색상을계측하는색상계측기에관한것으로, 내부에수광공간이형성된케이스, 상기케이스의일측에결합되며, 내부방향으로복수개의렌즈가연속적으로구성되고, 상기측정대상물에서빛이출사되는영역방향으로배치되어출사된빛을상기케이스내부로전달하는입광렌즈모듈상기수광공간내부에구비되며상기입광렌즈모듈로부터전달되는빛을수광하고, 수광된빛의광량에따라상기측정대상물의포커싱여부를판단하는포커싱모듈및 상기수광공간내부에배치되며, 상기포커싱모듈에서판단된상기측정대상물의포커싱여부에따라상기입광렌즈모듈로부터전달되는빛을전기적신호로변환하고이를통해색상을측정하는측정모듈을포함하며, 상기입광렌즈는상기측정대상물과기 설정된거리만큼이격된상태로비접촉하며상기측정대상물에서출사되는빛을수광하는것을특징으로하는비접촉색상계측기가개시된다.
摘要翻译：本发明涉及一种检测从与彩色计间隔开的被测量目标发射的光并测量颜色的色度计。该色表包括：内部具有光接收空间的壳体; 耦合到壳体的一侧的入射透镜模块具有沿向内方向排列成一行的多个透镜，并且沿着来自目标的光的方向布置，以将光透射到壳体中; 聚焦模块，其在布置在光接收空间中时从入射透镜模块接收光，以便根据所接收的光量确定目标是否聚焦; 以及布置在光接收空间中的测量模块，根据由聚焦模块确定的目标的焦点将从入射透镜模块传输的光转换为电信号，并通过电信号测量颜色。入射透镜接收从测量对象发射的光，同时与测量目标间隔预定距离，并且不在其间建立接触。

15. 发明公开

KR1020160025168A 비접촉 색상계측기 有权
标题翻译：彩色仪器的无缝设备
公开(公告)号：KR1020160025168A
公开(公告)日：2016-03-08
申请号：KR1020140112020
申请日：2014-08-27
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준 , 이규호 , 김규석 , 조선호 , 박상우
IPC分类号： G01J3/46
CPC分类号： G01J3/465 , G01J1/0271 , G01J1/44 , G01J2001/446
摘要： 본발명은별도로이격되어배치되는측정대상물로부터출사되는빛을감지하여색상을계측하는색상계측기에관한것으로, 내부에수광공간이형성된케이스, 상기케이스의일측에결합되며, 내부방향으로복수개의렌즈가연속적으로구성되고, 상기측정대상물에서빛이출사되는영역방향으로배치되어출사된빛을상기케이스내부로전달하는입광렌즈모듈상기수광공간내부에구비되며상기입광렌즈모듈로부터전달되는빛을수광하고, 수광된빛의광량에따라상기측정대상물의포커싱여부를판단하는포커싱모듈및 상기수광공간내부에배치되며, 상기포커싱모듈에서판단된상기측정대상물의포커싱여부에따라상기입광렌즈모듈로부터전달되는빛을전기적신호로변환하고이를통해색상을측정하는측정모듈을포함하며, 상기입광렌즈는상기측정대상물과기 설정된거리만큼이격된상태로비접촉하며상기측정대상물에서출사되는빛을수광하는것을특징으로하는비접촉색상계측기가개시된다.
摘要翻译：本发明涉及一种检测从与彩色计间隔开的被测量目标发射的光并测量颜色的色度计。该色表包括：内部具有光接收空间的壳体; 耦合到壳体的一侧的入射透镜模块具有沿向内方向排列成一行的多个透镜，并且沿着来自目标的光的方向布置，以将光透射到壳体中; 聚焦模块，其在布置在光接收空间中时从入射透镜模块接收光，以便根据所接收的光量确定目标是否聚焦; 以及布置在光接收空间中的测量模块，根据由聚焦模块确定的目标的焦点将从入射透镜模块传输的光转换为电信号，并通过电信号测量颜色。入射透镜接收从测量对象发射的光，同时与测量目标间隔预定距离，并且不在其间建立接触。

16. 发明授权

KR101358884B1 펨 기능을 구비한 평판디스플레이 리페어 장치 失效
标题翻译：具有光子发射显微镜容量的显示器维修设备
公开(公告)号：KR101358884B1
公开(公告)日：2014-02-06
申请号：KR1020110092548
申请日：2011-09-14
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준 , 전동철 , 이규호 , 김규석 , 강면구 , 엄성하 , 오동훈 , 전재웅 , 고정현
IPC分类号： G02F1/13 , H01S3/00
摘要： 본 발명은 펨 기능을 구비한 평판디스플레이 리페어 장치 및 오토 리페어 방법에 관한 것으로, 마이크로프로세서로 이루어진 제어부; 평판디스플레이에 생긴 1㎛~2㎛ 크기의 미소 결함을 포톤 대역 검출방식으로 검출하여 검출신호를 제어부로 전송하는 펨장치부; 제어부의 제어신호에 따라 레이저 빔을 미소 결함 부위에 조사하여 암점화시키는 방식으로 수선하는 리페어장치부; 레이저 빔과 광학처리를 위한 부재들이 배열된 공통부; 평판디스플레이의 영상이나 레이저 가공 영상을 실시간 취득하여 제어부로 전송하는 비젼부;가 하나의 유닛으로 이루어져 광학계를 구성하는 펨 기능을 구비한 평판디스플레이 리페어 장치에 있어서; 상기 공통부는 평판디스플레이 하부에서 상부를 향해 광을 조사하는 제3조명부, 평판디스플레이의 상부에 배치되는 렌즈부(대물렌즈), 렌즈부의 렌즈를 변환시키는 렌즈변환부, 렌즈변환부 상부에 배치되어 광을 분리시키는 제4스플리터, 제4스플리터의 상부에 배치되어 광을 분리시키는 제3스플리터, 제3스플리터에 수직접속되어 렌즈부의 촛점을 조절하는 초점조절부, 초점조절부에 연결되고 평판디스플레이의 영상을 볼 수 있도록 광원을 제공하면서 광량 손실을 줄이는 제2조명부, 제3스플리터의 상부에 배치되는 튜브렌즈, 튜브렌즈의 상부에 배치되어 광을 분리시키는 제2스플리터로 구성되고; 상기 리페어장치부는 제2스플리터의 상부에 배치되어 레이저 빔의 모양을 결정하는 마스크, 마스크의 상부에 배치되어 레이저 빔의 크기를 가변시키는 슬릿, 슬릿 상부에 배치되어 광을 분리하는 제1스플리터, 제1스플리터를 통해 평판디스플레이로 광을 조사하는 제1조명부, 제1스플리터에 직교되게 접속되어 레이저 빔의 단면을 고르게 형성하는 빔형성장치, 빔형성장치에 연결되어 레이저 빔의 출력을 조절하는 빔조절장치, 빔조절장치에 연결되어 레이저 빔을 발진하는 레이저발진기로 구성되며; 상기 펨장치부는 제4스플리터에 접속되어 제4스플리터에 의해 분기된 평판디스플레이의 포톤을 결상하는 결상렌즈, 결상된 상을 수직반사시키는 제2미러, 반사된 상 중에서 일정 대역의 포톤만 검출하도록 필터링하는 제2대역필터, 제2대역필터를 통과한 포톤의 검출시간과 영역을 조절하는 조리개, 조리개를 거친 포톤을 검출하여 제어부로 전송하는 검출기로 구성되고; 상기 비젼부는 제2스플리터에 접속되어 제2스플리터를 통해 분기된 영상 중 불필요한 파장대역을 필터링하는 제1대역필터, 제1대역필터를 통해 필터링된 영상을 수직 반사하는 제1미러, 반사된 영상을 촬영에 필요한 배율로 변환하는 배율변환부, 변환된 배율의 영상을 촬상하고 촬상된 신호를 제어부로 전송하는 카메라로 구성되는 것을 특징으로 하는 펨 기능을 구비한 평판디스플레이 리페어 장치를 제공한다.
본 발명에 따르면, 평판디스플레이 검사 및 리페어 장비에 펨장치를 구현하여 하나의 통합된 시스템 형태의 광학계를 구현함으로써 기존 일반 광학현미경으로는 검출할 수 없었던 1㎛-2㎛ 크기의 미세 불량까지 검출가능하고, 오토 리페어도 용이하여 효율적인 검출능력과 수율 향상에 기여하는 효과를 얻을 수 있다.

17. 发明授权

KR101198406B1 패턴 검사 장치 有权
标题翻译：图案检查装置
公开(公告)号：KR101198406B1
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：KR1020100036786
申请日：2010-04-21
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준 , 전동철 , 김윤식 , 이제연
IPC分类号： G01N21/956 , G01B11/30 , H01L21/66
摘要： 패턴을 검사하는 방법 및 장치가 제공된다. 본 발명의 일 측면에 따른 광 관련 판 요소에 형성된 패턴을 검사하는 장치는 상기 광 관련 판 요소의 상면에 반사광을 조명하는 제 1 광원, 상기 반사광에 의해 조명된 상기 상면을 촬영하는 제 1 카메라, 상기 광 관련 판 요소의 하면에 투과광을 조명하는 제 2 광원, 상기 투과광이 투과된 상기 광 관련 판 요소의 상면을 촬영하는 제 2 카메라 및 상기 제 1 카메라 및 상기 제 2 카메라에 의해 촬영된 상기 패턴에서, 미리 정해진 기준 휘도 보다 높은 값을 가지는 부분을 검출하여 상기 패턴에 대한 불량 여부를 판단하는 패턴 검사부를 포함한다.
또한, 본 발명은 광 관련 판 요소의 하중에 의한 쳐짐 또는 평탄도 불균일에 의하여, 광 관련 판 요소에 대한 카메라의 초점 거리 오차가 발생하는 경우, 검사에 문제가 없도록 이를 실시간으로 보정하는 장치를 제공하고, 광 관련 판 요소의 패턴에 대하여 다양한 결함, 즉, 쇼트 및 오픈 등의 결함을 동시에 검출할 수 있는 장치를 제공하여, 복수개의 검사 시스템을 사용해야 했던 종래 기술의 한계를 극복할 수 있다.

18. 发明公开

KR1020120065484A 미분 간섭 현미경 광학계를 이용한 도전볼 압흔 검사방법 有权
标题翻译：使用差分干涉对比显微镜检查导电球的注入方法
公开(公告)号：KR1020120065484A
公开(公告)日：2012-06-21
申请号：KR1020100126639
申请日：2010-12-13
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준 , 이규호
IPC分类号： G01B9/04 , G01N3/42
摘要： PURPOSE: A method for inspecting an indentation of a conductive ball using a differential interference contrast microscope is provided to perform an auto focusing and inspection by using one inspecting camera without a separate focusing camera because the member of a processing screen per second is increased by reducing a region of interest. CONSTITUTION: A method for inspecting an indentation of a conductive ball using a differential interference contrast microscope is as follows. An auto focusing and inspection function are performed by using one inspection camera(100). When performing the auto focusing, the region of interest is reduced as a specific region not a full size of a test object so that a high speed auto focusing is performed. When performing the inspection, the region of interest is controlled in a software way, thereby being photographed by enlarging into a whole area of the inspection area.
摘要翻译：目的：提供使用差分干涉对比显微镜检查导电球的压痕的方法，通过使用一个没有单独的聚焦照相机的检查照相机进行自动聚焦和检查，因为每秒处理屏幕的成员通过减少一个感兴趣的区域构成：使用微分干涉对比显微镜检查导电球的压痕的方法如下。通过使用一个检查照相机（100）执行自动聚焦和检查功能。当执行自动对焦时，感兴趣区域被减小为不是测试对象的全尺寸的特定区域，使得执行高速自动对焦。在执行检查时，以软件方式控制感兴趣区域，从而通过放大到检查区域的整个区域进行拍照。

19. 发明授权

KR101083999B1 기판 조립체의 검사방법 失效
标题翻译：基板组件检查方法
公开(公告)号：KR101083999B1
公开(公告)日：2011-11-17
申请号：KR1020090066214
申请日：2009-07-21
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 김지형 , 박재성 , 김태영 , 전동철
IPC分类号： H05K13/08 , G01B11/24
摘要： 본 발명은 동일 기판 조립체에 대해 얼라인 검사와 압흔 검사를 모두 수행하지 않고 기판 조립체의 전체 검사 수량중 일부 검사 수량에 대해서는 압흔 검사를 수행하고, 나머지 검사수량에 대해서는 얼라인 검사를 수행하되, 기판 조립체에 대해 전수 검사를 수행함으로써, 생산성 측면에서 효율을 기대할 수 있음과 아울러 불량품을 효율적으로 판별할 수 있는 기판 조립체의 검사방법을 제공하는 것을 목적으로 하며,
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 회로기판의 전극에 상기 회로기판과는 별도의 전자부품이 도전볼 입자를 매개로 전기적으로 접속되어 실장된 기판 조립체에 대해, 상기 회로기판에 상기 전자부품이 올바른 위치에 실장되었는지를 검사하는 얼라인 검사와, 상기 도전볼 입자의 압흔 상태를 검사하는 압흔 검사를 수행하는 검사방법에 있어서,
서로 이웃하는 두 대의 제1, 제2 검사대를 구비하여, 상기 제1, 제2 검사대 각각에 상기 기판 조립체를 로딩하되 전체 검사대상 기판 조립체 중에서 5~20%만 샘플링하여 제1 검사대로 로딩한 후 압흔 검사를 수행하고, 나머지 80~95%의 기판 조립체는 제2 검사대로 로딩하여 얼라인 검사를 수행하되, 상기 제1 검사대의 기판 조립체에 대한 압흔 검사와 상기 제2 검사대의 기판 조립체에 대한 얼라인 검사를 동시에 수행하는 것을 특징으로 한다.
압흔, 얼라인, 검사

20. 发明授权

KR101013573B1 반도체 칩 외관 검사 방법 및 그 장치 失效
标题翻译：半导体芯片外观检查方法及其设备
公开(公告)号：KR101013573B1
公开(公告)日：2011-02-14
申请号：KR1020080130404
申请日：2008-12-19
申请人： (주)에이앤아이
发明人： 오병준 , 임근영 , 황성찬 , 윤재헌
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/68
摘要： 본 발명은 반도체 칩 외관 검사 방법 및 그 장치에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 반도체 웨이퍼를 절단하여 생성된 칩의 불량여부를 검사하기 위해 라인스캔 카메라를 사용하여 다양한 불량종류에 따른 불량 칩을 고속으로 정확하게 검사하여 신뢰성을 향상함과 아울러 1,2차 스캔시 조명부의 광량을 다르게 하여 보다 정확한 검사가 가능하고, 상기 조명부를 경통과 별도구조로 설치하여 유지보수가 편리함은 물론 구조가 간단하여 제조비용이 절감되고 조명부에서 발생하는 열이 라인스캔 카메라에 영향을 주지 않는 반도체 칩 외관 검사 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
반도체 칩, 웨이퍼, 검사, 라인스캔 카메라, 조명부

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