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1. 发明专利

JPWO2005121748A1 光導波装置有权
公开(公告)号：JPWO2005121748A1
公开(公告)日：2008-04-10
申请号：JP2006514571
申请日：2005-06-10
申请人：国立大学法人岐阜大学
发明人：田中　嘉津夫 , 嘉津夫田中 , 田中　雅宏 , 雅宏田中
IPC分类号： G01Q60/22 , G02B6/26 , G11B7/135
CPC分类号： G01Q60/22 , G02B6/262 , Y10S977/862
摘要：【課題】【解決手段】プラズモン活性媒質である銀(Ag)により構成された装置本体12に貫通形成された光導波路14に光が入射されると、当該光導波路14(微小開口16を含む)の画定面55で表面プラズモンが発生する。そのため、光導波路14内を伝搬する光の強度は、当該光が微小開口16に向けて伝搬するにつれて強くなる。また、第1凸片13aの先端51は、第2凸片13bの先端52と比較してより突出することから、凸部13の先端部において、前記光は当該先端部における電界の強度分布に基づき第1凸片13a近傍に集光される。そのため、微小開口16から滲み出された光が偏光方向に広がることは抑制される。よって、光導波路14を通じて伝搬される光の光強度を、その光の広がりの増大を招くことなく、良好なS/N比を維持しつつ、低コストで増強することができる。

2. 发明专利

JP3942785B2 And an optical fiber probe and cantilever with a microscopic aperture, their opening-forming method 有权
公开(公告)号：JP3942785B2
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：JP2000016806
申请日：2000-01-26
申请人：エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
发明人：誠人伊與木
IPC分类号： G01Q60/10 , G01Q60/22 , G01Q60/24 , G02B6/24
CPC分类号： G01Q60/22 , G02B6/241 , Y10S977/862 , Y10T225/10 , Y10T225/12

3. 发明专利

JP2006107584A Optical element and light spot position adjustment method 审中-公开
标题翻译：光学元件和光点位置调整方法
公开(公告)号：JP2006107584A
公开(公告)日：2006-04-20
申请号：JP2004290705
申请日：2004-10-01
申请人： Konica Minolta Opto Inc , コニカミノルタオプト株式会社
发明人： OKITSU MASAHIRO , OGURA KAZUYUKI , KONNO KENJI , HATANO HIROSHI
IPC分类号： G11B7/135 , G11B7/22
CPC分类号： G11B7/1374 , G11B7/08505 , G11B7/1387 , Y10S977/862
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical element for generating near-field light and its light spot position adjustment method capable of accurately detecting the positions of the fine structures formed on a thin metal film provided on a light condensing surface. SOLUTION: This is an optical element to condense the incident light and to generate near-field light smaller than the condensed light spot B near the condensing area. Thin metal films 74 are formed on the light condensing surface of the optical element, and apertures (fine structure patterns) 71 are formed in a matrix for generating the near-field light on the metal films 74. A position detecting pattern 73 for the apertures 71 is formed at the position separating the apertures 71. By scanning in the X and Y directions with an optical beam, the positions of the apertures 71 are found by detecting the reflected return light. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于产生近场光的光学元件及其光点位置调整方法，其能够精确地检测形成在设置在聚光表面上的薄金属膜上的微细结构的位置。
解决方案：这是一种用于冷凝入射光并产生比凝结区域附近的聚光点B小的近场光的光学元件。薄金属膜74形成在光学元件的聚光表面上，并且孔（精细结构图案）71形成为矩阵，用于在金属膜74上产生近场光。用于孔的位置检测图案73 71形成在分离孔71的位置。通过用光束在X和Y方向扫描，通过检测反射的返回光来找到孔71的位置。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

4. 发明专利

JP3497244B2 Near-field optical scanning microscope 失效
公开(公告)号：JP3497244B2
公开(公告)日：2004-02-16
申请号：JP15490694
申请日：1994-07-06
申请人：オリンパス株式会社
发明人：毅小灘 , 明敏戸田
IPC分类号： G01B11/30 , G01N37/00 , G01Q20/00 , G01Q30/02 , G01Q60/18 , G01N13/10 , G01N13/14
CPC分类号： G01Q60/22 , Y10S977/862

5. 发明专利

JP2003315240A Nanotube, near-field light detection apparatus and near- field-light detection method 有权
标题翻译：纳米管，近场光检测装置和近场光检测方法
公开(公告)号：JP2003315240A
公开(公告)日：2003-11-06
申请号：JP2002116148
申请日：2002-04-18
申请人： Nec Corp , 日本電気株式会社
发明人： MIYAMOTO YOSHIYUKI
IPC分类号： G01B11/30 , B82B1/00 , G01B11/00 , G01Q60/18 , G01Q60/22 , G01Q70/12 , G01N13/14 , G12B21/06
CPC分类号： G01Q60/22 , G01B11/00 , G01Q70/12 , Y10S977/862 , Y10S977/876 , Y10S977/954
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a near-field-light detection apparatus of high spatial resolution. SOLUTION: The near-field-light detection apparatus is provided with a near-field-light detection part 3 used to convert near-field light from the surface of a specimen 4 into an electrical signal; and a voltage power supply 1 used to apply a prescribed voltage to the detection part 3 via interconnections 2. In the detection part 3, a prescribed part becomes a nanotube to be used as an insulating region, and two regions separated by the insulating region are electron-excited by the near-field light to be converted into the electrical signal. COPYRIGHT: (C)2004,JPO
摘要翻译：要解决的问题：提供高空间分辨率的近场光检测装置。解决方案：近场光检测装置设置有用于将来自样本4的表面的近场光转换成电信号的近场光检测部3; 以及用于经由互连2向检测部3施加规定电压的电压电源1.在检测部3中，规定的部分变为要用作绝缘区的纳米管，并且由绝缘区分开的两个区域是电子激发的近场光被转换为电信号。版权所有（C）2004，JPO

7. 发明专利

JP4403281B2 The optical waveguide device 有权
公开(公告)号：JP4403281B2
公开(公告)日：2010-01-27
申请号：JP2006514571
申请日：2005-06-10
申请人：国立大学法人岐阜大学
发明人：嘉津夫田中 , 雅宏田中
IPC分类号： G01Q60/22 , G01N21/27 , G02B6/26
CPC分类号： G01Q60/22 , G02B6/262 , Y10S977/862

8. 发明专利

JP3856468B2 Electromagnetic radiation transmitter or electromagnetic radiation detection apparatus of the microscope 失效
公开(公告)号：JP3856468B2
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：JP50921196
申请日：1995-09-05
申请人：フィッシャー,ウルリヒ
发明人：フィッシャー，ウルリヒ
IPC分类号： G01B11/30 , G01N27/82 , G01N37/00 , G01Q60/18 , G01Q60/56 , G01R29/08 , G01R29/10 , G02B21/00
CPC分类号： G01Q60/22 , G01N27/82 , Y10S977/862

9. 发明专利

JP2006071534A Probe microscope system suited for long body specimen observation 有权
标题翻译：用于长身体样本观察的探针显微镜系统
公开(公告)号：JP2006071534A
公开(公告)日：2006-03-16
申请号：JP2004256853
申请日：2004-09-03
申请人： Sii Nanotechnology Inc , Tokyo Institute Of Technology , エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 , 国立大学法人東京工業大学
发明人： FUJIHIRA MASAMICHI , YASUTAKE MASATOSHI , ATAKA TATSUAKI
IPC分类号： G01N21/64 , G01Q10/02 , G01Q10/06 , G01Q30/02 , G01Q30/04 , G01Q30/08 , G01Q30/14 , G01Q30/20 , G01Q60/18 , G01Q80/00
CPC分类号： G01Q30/14 , G01Q10/06 , Y10S977/853 , Y10S977/86 , Y10S977/862 , Y10S977/869 , Y10S977/871
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multifunctional analyzer for detecting a shape and physical property information with high resolution and determining a position where a known RNA hybridizes, including the serial read of overall base sequence with respect to a length of DNA specimen extended in one direction on a substrate. SOLUTION: This microscope system is equipped with a fluorescence microscope as a detection system, a scanning near-field microscope, and a scanning probe microscope. These microscopes are fixed to a switching mechanism. A switching operation of the mechanism allows each of the microscopes to be moved to a position where the same point of a specimen can be observed. This microscope system is equipped with the function of directly detecting the shape and physical property information on a length of DNA by the probe microscope using multifunctional scanning. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于以高分辨率检测形状和物理性质信息并确定已知RNA杂交的位置的多功能分析仪，包括对DNA样本的长度的整个碱基序列的连续读取在基板上沿一个方向延伸。
解决方案：本显微镜系统配备荧光显微镜作为检测系统，扫描近场显微镜和扫描探针显微镜。这些显微镜固定在切换机构上。该机构的切换操作允许每个显微镜移动到可以观察到样本的相同点的位置。该显微镜系统具有通过探针显微镜使用多功能扫描直接检测DNA长度的形状和物理性质的功能。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

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