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1. 发明专利

JP4080464B2 Verification method of test vector generation method and an electronic circuit using the same 有权
公开(公告)号：JP4080464B2
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：JP2004207624
申请日：2004-07-14
申请人：松下電器産業株式会社
发明人：啓二朗梅原 , 正和田中
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3163

2. 发明专利

JP2006031277A Method for generating verification vector, and method for verifying electronic circuit by using the same 有权
标题翻译：用于生成验证矢量的方法，以及使用该方法验证电子电路的方法
公开(公告)号：JP2006031277A
公开(公告)日：2006-02-02
申请号：JP2004207624
申请日：2004-07-14
申请人： Matsushita Electric Ind Co Ltd , 松下電器産業株式会社
发明人： UMEHARA KEIJIRO , TANAKA MASAKAZU
IPC分类号： G06F17/50 , H01L21/82
CPC分类号： G06F11/263 , G01R31/3163
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To realize an equivalency verification in an analog circuit and the functional model single body.
SOLUTION: A test circuit for extracting a function included in a circuit from a circuit topology or function descriptions, and for inputting a verification vector corresponding to the extracted circuit function is generated, and a verification result is obtained. At the time of verifying equivalency, only the comparison object circuit of the prepared test circuit is replaced, and the similar verification is operated, and a difference between the verification result and the above mentioned result is compared, and when the difference is within an allowable range, it is judged that those circuits are equivalent. Thus, the circuit itself is verified by the analog circuit or function model simplex. Also, the equivalency is verified in the minimum configuration.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：实现模拟电路和功能模型单体的等效性验证。解决方案：产生用于从电路拓扑或功能描述中提取包括在电路中的功能以及用于输入与所提取的电路功能相对应的验证矢量的测试电路，并且获得验证结果。在验证等价时，仅替换准备的测试电路的比较对象电路，并进行类似的验证，并比较验证结果与上述结果之间的差异，并且当差值在允许值范围内，判断为这些电路是等效的。因此，电路本身由模拟电路或功能模型单纯度验证。此外，在最小配置中验证了等效性。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

3. 发明专利

JP2017038200A 半導体装置及び故障検出方法审中-公开
标题翻译：该半导体装置和故障检测方法
公开(公告)号：JP2017038200A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：JP2015157914
申请日：2015-08-10
申请人：ルネサスエレクトロニクス株式会社
发明人：奥田裕一 , 中根秀夫 , 山本崇也 , 木村圭助 , 大島俊
IPC分类号： H03M1/38 , H03M1/10
CPC分类号： G01R31/3163
摘要：【課題】アナログ回路を構成する素子の過度なばらつきを故障として検出することが可能な半導体装置及び故障検出方法を提供すること。【解決手段】一実施の形態によれば、半導体装置1は、ADコンバータ11と、ADコンバータ11によって処理されるアナログ信号Ain、に対応するディジタル信号Doの誤差を補正するディジタルアシスト回路12と、ディジタルアシスト回路による補正量に基づいて、ADコンバータ11が故障しているか否かを検出する故障検出回路13と、を備える。それにより、半導体装置1は、ADコンバータ11を構成する素子の過度なばらつきを故障として検出することができる。【選択図】図1
摘要翻译：提供一种半导体器件和能够检测过度变化在构成模拟电路元件的故障的故障检测方法。甲根据一个实施例，半导体器件1包括：AD转换器11，数字辅助电路12用于校正数字信号的误差别对应于所述模拟信号AIN，由AD转换器11处理，由数字辅助电路基于所述校正量包括用于检测AD转换器11是否发生故障时，故障检测电路13。由此，半导体装置1可以在构成AD转换器11作为故障元件检测过度变化。点域1

4. 发明专利

JP2015169524A 試験装置、キャリブレーションデバイス、キャリブレーション方法、および試験方法审中-公开
标题翻译：测试设备，校准设备，校准方法和测试方法
公开(公告)号：JP2015169524A
公开(公告)日：2015-09-28
申请号：JP2014044152
申请日：2014-03-06
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：増田伸 , 原英生 , 安高剛
IPC分类号： H01L21/66 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31917 , G01R31/3163 , G01R31/31713 , G01R31/31901 , G01R31/3191
摘要：【課題】光インターフェースを備える複数の被試験デバイスを簡便に試験する。【解決手段】光試験信号を発生する光試験信号発生部と、複数の被試験デバイスのうち試験対象の被試験デバイスに光試験信号を供給する光信号供給部と、複数の被試験デバイスが出力する光信号のうち、試験対象の被試験デバイスが出力する光信号を選択する第1光スイッチ部と、選択された光信号を受光する光信号受信部とを備える試験装置および試験方法を提供する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：容易地测试包括光学接口在内的多个待测设备。解决方案：提供一种测试设备和测试方法。测试装置包括：产生光学测试信号的光学测试信号产生单元; 光信号供给单元，将多个被测设备的光信号供给被测设备; 第一光开关单元，从被测试的多个被测设备输出的光信号中选择由被测对象器件输出的光信号; 以及光信号接收单元，其接收所选择的光信号。

5. 发明专利

JP3563750B2 Test based on scanning for analog circuit 失效
公开(公告)号：JP3563750B2
公开(公告)日：2004-09-08
申请号：JP25811993
申请日：1993-10-15
申请人：テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド
发明人：オーモーリスジョン
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , G01R31/3167 , G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/3163 , G01R31/3167 , G01R31/318536

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