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1. 发明专利

JP2020048148A AD変換装置及び自己診断方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020048148A
公开(公告)日：2020-03-26
申请号：JP2018176887
申请日：2018-09-21
申请人：株式会社豊田自動織機
发明人：村松祐希 , 長谷隆介
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , H03M1/10
摘要：【課題】複数種類の自己診断データがAD変換器に入力される場合において、ある種類の自己診断データにおいてのみデジタルデータ同士が一致しないと判断される場合であっても、AD変換器が異常であると判断する。【解決手段】上位制御部6は、自己診断用1ビットパルスデータSv1のAD変換後のデジタルデータがデジタルデータDv1と一致しないことが閾値NG1th以上連続した場合、または、自己診断用1ビットパルスデータSv2のAD変換後のデジタルデータがデジタルデータDv2と一致しないことが閾値NG2th以上連続した場合、AD変換器5が異常であると判断する。【選択図】図1

2. 发明专利

JP6585827B2 センサ装置有权
公开(公告)号：JP6585827B2
公开(公告)日：2019-10-02
申请号：JP2018508463
申请日：2017-01-30
申请人：日立オートモティブシステムズ株式会社
发明人：小松成亘 , 宮嶋健太郎
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/316

4. 发明专利

JP2017195428A 異常検出装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017195428A
公开(公告)日：2017-10-26
申请号：JP2016082678
申请日：2016-04-18
申请人：株式会社オートネットワーク技術研究所 , 住友電装株式会社 , 住友電気工業株式会社
发明人：蒲原永典
IPC分类号： G01R31/316 , H03M1/10
摘要：【課題】AD変換器の動作電圧に異常が生じた場合にその異常をより早期に検出し得る異常検出装置を提供する。【解決手段】異常検出装置1は、第1導電路81に接続された電源線10と、第1導電路81に接続された第1入力線11と、第2導電路82に接続された第2入力線12とを備える。第1導電路81には、第1電源部91によって第1電圧が印加され、第2導電路82には、第2電源部92によって第2電圧が印加される。AD変換器3は、電源線10によって動作電圧が入力されるとともに、第1入力線11からの入力によって設定される基準電圧値に基づき、少なくとも第2入力線12から入力されたアナログ電圧値をデジタル値に変換する構成をなす。異常判定部は、AD変換器3が第2入力線12からのアナログ電圧値を変換した変換値に基づいて異常が発生しているか否かを判定する。【選択図】図1

5. 发明专利

JP2016057248A データ生成装置、検査装置、データ生成方法および検査方法审中-公开
标题翻译：数据生成装置，检查装置，数据生成方法和检查方法
公开(公告)号：JP2016057248A
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：JP2014185834
申请日：2014-09-12
申请人：日置電機株式会社
发明人：清水隆弘
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28
摘要：【課題】検査対象部品を個別的かつ効率的に検査することが可能なシミュレーションデータを生成する。【解決手段】検査対象部品51で構成される単位電気回路(Cs1,Cs2)が接触点P1,P2を並列接続点として複数並列接続されて構成された並列回路Cspを検査対象回路50として抽出する抽出処理部と、検査対象回路50の検査対象部品51のすべてが良好であることを示す第1良否状態、並びに断線状態の検査対象部品が1つ以上存在する単位電気回路を不良単位電気回路として不良単位電気回路が1つ以上存在するすべての組み合わせ、および短絡状態の検査対象部品が1つ以上存在する組み合わせを予め決められた特定方法で特定した各組み合わせにそれぞれ対応する第2良否状態と、各良否状態において接触点P1,P2で測定されるべき被測定量のシミュレーション値とを対応付けたシミュレーションデータを生成するデータ生成部とを備えている。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：生成允许单独和有效检查检查对象部件的模拟数据。解决方案：数据生成装置包括：提取处理单元，其提取作为检查对象电路50的并行电路Csp，其中，由检查对象部件51构成的多个单位电路（Cs1，Cs2）作为并联连接点与接触点P1，P2并联连接，以及数据生成单元，其生成将表示检查对象电路50的所有检查对象部件51都可接受的第一质量状态与对应于具有所有组合的每个组合相对应的第二质量状态的模拟数据，所述组合具有一个或多个缺陷单元电存在定义其中存在一个或多个处于断开状态的检查对象部件作为缺陷单元电路的单元电路，并且存在其中存在以预定规格指定的短路状态中的一个或多个检查对象部件的组合方法，其在每个质量状态下具有在接触点P1和P2处要测量的量的模拟值。选择图：图2

6. 发明专利

JP5617768B2 半導体装置および半導体装置の測定方法有权
标题翻译：的半导体装置的测定方法及半导体装置
公开(公告)号：JP5617768B2
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：JP2011130112
申请日：2011-06-10
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/316 , H01L21/822 , H01L27/04

7. 发明专利

JP2014192783A Radio frequency analog integrated circuit 审中-公开
标题翻译：无线电频率模拟集成电路
公开(公告)号：JP2014192783A
公开(公告)日：2014-10-06
申请号：JP2013067888
申请日：2013-03-28
申请人： Japan Radio Co Ltd , 日本無線株式会社
发明人： IIJIMA KENTA , TSUSHIMA KENGO , HIRABAYASHI KAZUO
IPC分类号： H04B1/16 , G01R31/28 , G01R31/316 , H04B1/30
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a radio frequency analog integrated circuit capable of achieving low-cost testing.SOLUTION: The radio frequency analog integrated circuit, being a RF analog IC 30 with a linear amplifier 11 and mixers 14, 15 having a function that down-converts an input signal into DC for outputting, includes: an internal oscillator 21 that generates a signal for converting a frequency; switches SW1-SW5 capable of using a signal of the same frequency from the internal oscillator 21 as inputs of the mixers 14, 15; and phase shifters 12, 23 that are output from the internal oscillator and change phases of signals input into the mixers 14, 15.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够实现低成本测试的射频模拟集成电路。解决方案：射频模拟集成电路，其是具有线性放大器11的RF模拟IC 30和具有以下功能的功能的混频器14,15 将输入信号下变频为DC用于输出，包括：产生用于转换频率的信号的内部振荡器21; 开关SW1-SW5能够使用来自内部振荡器21的相同频率的信号作为混频器14,15的输入; 以及从内部振荡器输出并改变输入混频器14,15的信号的相位的移相器12,23。

8. 发明专利

JP5336232B2 Switching circuit and the test method 有权
公开(公告)号：JP5336232B2
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：JP2009065458
申请日：2009-03-18
申请人：住友電工デバイス・イノベーション株式会社
发明人：直行宮澤
IPC分类号： H03K17/00 , G01R31/28 , G01R31/316 , H03K17/693
CPC分类号： H03K17/693 , H03K2217/0054 , H04B1/48
摘要： There is provided a method for testing a switching circuit including a first FET connected between input/output terminals, a capacitor connected between one of the input/output terminals and the first FET, and a second FET that is connected in parallel with the capacitor and has a gate electrode connected to a ground terminal. The method includes, applying a potential that sets the second FET to a conducting state to the ground terminal, and testing a DC test for the first FET via the second FET.

9. 发明专利

JP5311698B2 A semiconductor device having a Dac 有权
公开(公告)号：JP5311698B2
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：JP2001150182
申请日：2001-05-18
申请人：ローム株式会社
发明人：泰則河村 , 潤佐々木
IPC分类号： G01R31/316 , G01R31/28 , G01R31/3185 , G06F11/22 , H01L21/822 , H01L27/04 , H03M1/10
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To make a tester for outputting a digital signal for test of high frequency unnecessary in a semiconductor device having a DAC, and realize tests in various test modes of high frequency. SOLUTION: The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test. On the basis of clock for test from the input terminal, the test pattern generating means generates the digital signal for test which is based on the test pattern, and supplies the signal to an input side of the DAC.

10. 发明专利

JP2013190396A Measurement device and measurement method 有权
标题翻译：测量装置和测量方法
公开(公告)号：JP2013190396A
公开(公告)日：2013-09-26
申请号：JP2012058735
申请日：2012-03-15
申请人： Anritsu Corp , アンリツ株式会社
发明人： YAMADA YASUNORI
IPC分类号： G01R31/316 , H05K7/20
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement device having reduced aging time compared to conventional devices and to provide an associated measurement method.SOLUTION: A modular measurement device 100 includes; an internal temperature sensor 52 for detecting internal temperature; an external temperature sensor 111 for detecting external temperature; a cooling fan rotation control unit 113 for controlling rotation of a cooling fan 12; a target temperature table 53 which includes target internal temperature data and defines a relationship between the external temperature and internal temperature; and a minimum rotation rate table 54 which defines a relationship between a minimum rotation rate of the cooling fan 12, at which temperatures of devices inside the device do not exceed an upper limit of operating temperature during an aging period, and the external temperature. The cooling fan rotation control unit 113 is configured to control the cooling fan 12 on the basis of the internal temperature, the external temperature, the target temperature table 53, and the minimum rotation rate table 54.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种与常规装置相比具有降低的老化时间的测量装置，并提供相关的测量方法。解决方案：模块化测量装置100包括：用于检测内部温度的内部温度传感器52; 用于检测外部温度的外部温度传感器111; 用于控制冷却风扇12的旋转的冷却风扇旋转控制单元113; 目标温度表53，其包括目标内部温度数据，并且定义外部温度和内部温度之间的关系; 以及最小转速表54，该最小转速表54限定了冷却风扇12的最小转速与装置内部的装置的温度不超过老化期间的运转温度的上限之间的关系以及外部温度。冷却风扇旋转控制单元113根据内部温度，外部温度，目标温度表53和最小转速表54来控制冷却风扇12。

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