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1. 发明专利

JP5558637B2 Method and apparatus for surface inspection of the strip part 有权
公开(公告)号：JP5558637B2
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：JP2013545145
申请日：2011-11-24
申请人：エス・エム・エス・ジーマーク・アクチエンゲゼルシャフト
发明人：リヒター・ハンス−ペーター , アヘンバッハ・ディルク
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： G06T7/0004 , B21B38/00 , G01N21/8922

2. 发明专利

JP5453861B2 Periodic defect detection apparatus and method 有权
公开(公告)号：JP5453861B2
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：JP2009061501
申请日：2009-03-13
申请人： Jfeスチール株式会社
发明人：敬弘腰原 , 宏晴加藤 , 章生長棟
IPC分类号： G01N27/83 , G01N21/892 , G01N29/44
CPC分类号： G01N21/892 , G01N21/8922 , G01N27/83 , G01N2021/8918

3. 发明专利

JP2009265087A Periodic defect detecting device and method for the same 有权
标题翻译：定期缺陷检测装置及其相关方法
公开(公告)号：JP2009265087A
公开(公告)日：2009-11-12
申请号：JP2009061501
申请日：2009-03-13
申请人： Jfe Steel Corp , Jfeスチール株式会社
发明人： KOSHIHARA TAKAHIRO , KATO HIROHARU , NAGAMUNE AKIO
IPC分类号： G01N27/83 , G01N21/892 , G01N29/44
CPC分类号： G01N21/892 , G01N21/8922 , G01N27/83 , G01N2021/8918
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a periodic defect detecting device for band shape materials etc. and its method capable of using even if the generation period of defects changed and capable of precisely determining periodic defects generated not only at the last rolling roll, but also generated at a plurality of rolls of different diameters. SOLUTION: The periodic defect detecting device comprises: a sensors 4; a small area selecting means (72, 74) for determining the positions of small areas, the area lengths of which are smaller than that of an area, so that distance intervals between adjacent small areas are all equal, in the direction of arrangement of periodic defects, and selecting a signal corresponding to the positions of the plurality of small areas from the sensor output; an evaluation index calculating means 76 for calculating the evaluation index of the mutual similarity of the signal patterns between the plurality of signals selected by the small area selecting means; a set value varying means (73, 75) for repeating the operation processing of the small area selecting means and the evaluation index calculating means while varying the positions and distance intervals of the small areas; and a period determination means 77 for determining the distance intervals as periods when the evaluation index is higher than a preset value. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于带状材料等的周期性缺陷检测装置及其能够使用的方法，即使缺陷的产生周期发生变化并且能够精确地确定不仅在最后轧制辊产生的周期性缺陷，而且也产生在不同直径的多个辊上。
解决方案：周期性缺陷检测装置包括：传感器4; 用于确定区域长度小于区域的小区域的位置的小区域选择装置（72,74），使得在周期性排列方向上相邻小区域之间的距离全部相等并且从传感器输出中选择与多个小区域的位置对应的信号; 评估指标计算装置76，用于计算由小区域选择装置选择的多个信号之间的信号模式的相互相似度的评估指标; 用于在改变小区域的位置和距离间隔的同时重复小区域选择装置和评估指标计算装置的操作处理的设定值变化装置（73,75）以及周期确定装置77，用于将距离间隔确定为评估指数高于预设值的周期。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

4. 发明专利

JP2016500439A 移動する長繊維材料における周期構造の検出审中-公开
标题翻译：长纤维材料的周期性结构的移动检测
公开(公告)号：JP2016500439A
公开(公告)日：2016-01-12
申请号：JP2015545614
申请日：2013-12-02
申请人：ウステル・テヒノロジーズ・アクチエンゲゼルシヤフト
发明人：シュトルツ・ラファエル , ピラニ・ペーター
IPC分类号： G01N21/892 , G01N21/88 , G01N21/89 , G02B6/125
CPC分类号： D06H3/08 , B65H63/065 , B65H2701/31 , G01N21/8914 , G01N21/8915 , G01N21/8922 , G01N33/367
摘要：【要約書】移動する長繊維材料9における周期構造を識別するための方法において、前記繊維材料9が、その長手方向91に沿って配置され且つ互いに等間隔に離間された複数の個別検出位置43.1〜43.9で同時に走査される。前記複数の検出位置43.1〜43.9で検出された複数の走査信号が、1つの合成信号に加算される。前記繊維材料9の周期構造が、前記合成信号の経時変化に基づいて推測される。等間隔で不連続なそれぞれ複数の検出位置43.1〜43.9から成る複数のグループ場合は、前記繊維材料(9)の構造の空間スペクトルが、実質的に計算の労力なし取得され得る。
摘要翻译： [摘要]被移动。一种用于在长纤维材料9识别的周期性结构的方法，所述纤维材料9，多个单独的检测的位置43.1，其沿着纵向方向91隔开布置并且等距隔开彼此他们在同一时间〜43.9扫描。多个由所述多个检测的检测扫描信号的位置43.1至43.9被添加到单个复合信号。纤维材料9的周期性结构是基于所述复合信号的时间变化来估计。如果以不连续的多个检测的等间隔的多个组定位43.1 43.9，纤维材料（9）的结构的空间谱可以毫不费力基本上计算来获取。

5. 发明专利

JP5836032B2 吸収性物品に係る積層体の圧搾部の検査装置、及び検査方法有权
标题翻译：检查装置压缩所述吸收制品的层叠体的部分，并且检查方法
公开(公告)号：JP5836032B2
公开(公告)日：2015-12-24
申请号：JP2011207698
申请日：2011-09-22
申请人：ユニ・チャーム株式会社
发明人：村上誠司
IPC分类号： A61F13/15 , A61F13/539 , A61F13/472 , G01N21/892
CPC分类号： A61F13/15731 , A61F13/533 , G01N21/8922 , G01N21/898

6. 发明专利

JP2014500508A Method and apparatus for surface inspection of the strip part 有权
公开(公告)号：JP2014500508A
公开(公告)日：2014-01-09
申请号：JP2013545145
申请日：2011-11-24
申请人：エス・エム・エス・ジーマーク・アクチエンゲゼルシャフト
发明人：リヒター・ハンス−ペーター , アヘンバッハ・ディルク
IPC分类号： G01N21/892
CPC分类号： G06T7/0004 , B21B38/00 , G01N21/8922
摘要：【課題】
検査されるストリップ部分の簡易で柔軟かつより迅速な操作を行うことができるよう、ストリップの表面検査のための従来の方法及び従来の装置を更に改善すること。
【解決手段】
−ストリップ部分１２０を金属ストリップ２１０から切断するステップ、−場合によっては存在するワークロールによって生じる周期的な欠陥の種類を考慮して、カメラシステム１５０及び評価装置３００によって切断されたストリップ部分１２０の上側及び／又は下側を自動的にチェックするステップ、−周期的に生じる欠陥の種類が検出されたときに表面検査のプロセスを終了するステップ、又は−周期的な欠陥の種類が前もって検出されなかったかったときに、周期的でない欠陥の種類についての検査員によるチェックのために、切断されたストリップ部分１２０をストリップ検査ユニット１４０へ供給するステップとを行う。

7. 发明专利

JPWO2011158810A1 欠陥発生源の特定方法および搬送装置の保守方法有权
公开(公告)号：JPWO2011158810A1
公开(公告)日：2013-08-19
申请号：JP2012520445
申请日：2011-06-13
申请人：旭硝子株式会社
发明人：敏和塩屋 , 敏和塩屋 , 村田　充 , 充村田 , 賢一高谷 , 賢一高谷 , 哲史瀧口 , 哲史瀧口 , 俊二井上 , 俊二井上
IPC分类号： G01N21/892 , C03B35/16
CPC分类号： G01N21/896 , C03B35/16 , C03B35/167 , G01N21/8922 , Y02P40/57
摘要：本発明は、複数のロールを有する搬送装置を備えた徐冷装置においてシート状ガラスが前記複数のロールによって搬送される際に、該シート状ガラスの搬送方向に一定の間隔で欠陥を生じさせるロールを特定する欠陥発生源の特定方法であって、前記複数のロールのうち一部のロールの周速度を変更して、前記シート状ガラスの搬送速度と異ならしめ、前記周速度の変更の前後における前記欠陥の間隔の変化の有無に応じて、前記欠陥発生源となっているロールを特定する欠陥発生源の特定方法に関する。

8. 发明专利

JP5965038B2 ウェブ製造プロセスにおける用途固有の繰り返し欠陥検出有权
标题翻译：应用程序特定的重复缺陷检测在幅材制造过程
公开(公告)号：JP5965038B2
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：JP2015149307
申请日：2015-07-29
申请人：スリーエムイノベイティブプロパティズカンパニー
发明人：スティーブンピー.フローダー , ジェイムズエー.マスターマン , スティーブンアール.ドレガー , カールジェイ.スケプス , スティーブンアール.ワーグマン
IPC分类号： G01N21/89 , G01N21/892
CPC分类号： G01N21/89 , D06H3/08 , G01N21/8922 , G01N2021/8917 , G01N2021/8918 , G01N21/8915

9. 发明专利

JP2013081658A Device and method for inspecting seal portion relating to absorbent article 有权
标题翻译：用于检查与吸收物品相关的密封部件的装置和方法
公开(公告)号：JP2013081658A
公开(公告)日：2013-05-09
申请号：JP2011224187
申请日：2011-10-11
申请人： Unicharm Corp , ユニ・チャーム株式会社
发明人： MURAKAMI SEIJI
IPC分类号： A61F13/15 , A61F13/472 , G06T1/00
CPC分类号： G01N21/8922 , A61F13/15731 , A61F13/15772 , A61F13/4756 , A61F2013/15796 , G01N21/898 , G06T7/0004 , G06T7/136 , G06T2207/10004 , G06T2207/30124
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device and an inspection method capable of accurately inspecting abnormal perforation and abnormal bonding of a seal portion relating to absorbent articles such as sanitary napkins.SOLUTION: The inspection device 70 for a seal portion 1S bonded at the outer peripheral part of the absorbent article is provided. The inspection device includes: an imaging processing unit for imaging a region in which the seal portion is formed, and generating data thereof as planar image data; a first binarizing processing unit for performing a binarizing process such that an area in which a perforated part being perforated in the thickness direction is imaged, within an imaged part of the seal portion in the planar image; a second binarizing processing unit for performing a binarizing process such that a region in which an abnormally bonded part is imaged is included in an image identified by one of the binary values in the binarized image; a first abnormality determination processing unit for determining presence or absence of abnormal perforation, on the basis of the binarized image generated by the first binarization processing unit; and a second abnormality determination processing unit for determining whether or not there is an abnormal bonding, on the basis of the binarized image generated by the second binarization processing unit.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够精确地检查与卫生巾等吸收性物品有关的密封部的异常穿孔和异常接合的检查装置和检查方法。解决方案：提供一种用于密封部分1S的检查装置70，该密封部分1S粘结在吸收性物品的外周部分。检查装置包括：成像处理单元，用于对其中形成密封部分的区域进行成像，并将其数据生成为平面图像数据; 第一二值化处理单元，用于执行二值化处理，使得在厚度方向上穿孔的穿孔部分成像的区域在平面图像中的密封部分的成像部分内; 第二二值化处理单元，用于执行二值化处理，使得其中异常粘合部分被成像的区域被包括在由二值化图像中的二进制值之一识别的图像中; 基于由所述第一二值化处理单元生成的二值化图像，确定异常穿孔的存在或不存在的第一异常判定处理单元; 以及第二异常确定处理单元，用于基于由第二二值化处理单元生成的二值化图像来确定是否存在异常粘合。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

10. 发明专利

JP2009180590A Method and device for inspecting surface flaw of disk 有权
标题翻译：用于检查盘表面波的方法和装置
公开(公告)号：JP2009180590A
公开(公告)日：2009-08-13
申请号：JP2008019133
申请日：2008-01-30
申请人： Hitachi High-Technologies Corp , 株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人： HARIYAMA TATSUO , SASAZAWA HIDEAKI , YOSHIDA MINORU , SERIKAWA SHIGERU
IPC分类号： G01N21/95
CPC分类号： G01N21/8922 , G01N21/9501 , G01N21/9506 , G01N2021/8825 , G01N2021/8854
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To classify a periodically occurring linear and circular arc-like flaws and an insularly occurring linear and circular arc-like flaws with respect to the linear and circular arc-like flaws occurring on the surface of a disk to detect them. SOLUTION: Light is projected on the surface of the disk by light transmitting systems (101 and 102) and the regularly reflected light and scattered light thereof are received by light receiving systems (102, 103, 104, 105 and 202) while the signals thereof are subjected to two-dimensional frequency filtering processing (4013) to actualize the flaw of the disk. Next, flaw determining processing (4015) is performed by a parameter such as flaw width, length or the like being the feature quantity of the linear and circular arc-like flaws to extract a linear and insular flaw candidate. Subsequently, periodic determining processing (4016) is performed by a parameter such as a flaw occurring direction, the mutual interval between the flaws, produced coordinates or the like being a periodic feature quantity to classify the periodically occurring linear and circular arc-like flaws and the insularly occurring linear and circular arc-like flaws to detect them. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：对于在盘表面上出现的线性和圆弧形缺陷，分类周期性发生的线性和圆弧形缺陷以及孤立的线性和圆弧形缺陷，检测他们解决方案：光通过光传输系统（101和102）投射在光盘的表面上，其规则的反射光和散射光被光接收系统（102,103,104,105和202）接收，同时对其信号进行二维频率滤波处理（4013）以实现盘的缺陷。接下来，通过诸如缺陷宽度，长度等的参数来执行缺陷确定处理（4015），其是线性和圆弧状缺陷的特征量，以提取线性和孤立缺陷候选。随后，通过诸如缺陷发生方向，缺陷之间的相互间隔，产生的坐标等作为周期性特征量的参数来执行周期性确定处理（4016），以分类周期性发生的线性和圆弧形缺陷，以及孤立地发生的线性和圆弧形缺陷来检测它们。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

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