会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明申请
    • PROCEDE DE REALISATION D'UNE STRUCTURE PAR ASSEMBLAGE D'AU MOINS DEUX ELEMENTS PAR COLLAGE DIRECT
    • 通过直接集合组装至少两个元件来构建结构的方法
    • WO2015128399A3
    • 2015-09-03
    • PCT/EP2015/053984
    • 2015-02-26
    • COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES
    • GONDCHARTON, PaulBENAISSA, LamineIMBERT, BrunoMORICEAU, Hubert
    • H01L21/60H01L21/768H01L21/98H01L23/485
    • Procédé de réalisation d'une structure par collage direct de deux éléments comportant la réalisation des éléments à assembler et l'assemblage desdits éléments, dans lequel la réalisation des éléments à assembler comporte les étapes: - dépôt sur un substrat d'une couche de TiN ou TaN par dépôt physique en phase vapeur, - dépôt d'une couche de cuivre sur la couche de TiN ou TaN, les conditions de dépôt de la couche de TiN ou TaN par dépôt physique en phase vapeur étant telles que la couche de cuivre présente une orientatioin cristallographique principalement en (220), et dans lequel l'assemblage desdits éléments comporte les étapes: - polissage des surfaces des couches de cuivre destinées à venir en contact de sorte à ce qu'elles présentent une rugosité inférieure à 1 nm RMS et des propriétés hydrophiles, - mise en contact desdites surfaces, - stockage de ladite structure à pression atmosphérique et à température ambiante.
    • 处理程序; 通过直接结合两个元素来构建结构,包括完成元素“ 组装和组装所述元件,其中元件的完成 包括以下步骤: - 通过物理气相在TiN或TaN层的衬底上, - 在所述层上的铜层 TiN或TaN中,通过物理气相去除TiN或TaN层的条件使得铜层主要在(220)晶面取向, 并且其中所述元件的组件包括以下步骤:抛光打算使用的铜层的表面; 与...接触 他们展示的是什么粗糙和蔼; INFé&agrave更高; 1nm RMS和亲水性质, - 接触所述表面, - 存储所述结构和材料; 大气压力和> 环境温度。