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    • 3. 发明申请
    • 走査型電子顕微鏡像観察用の試料支持部材及び走査型電子顕微鏡像の観察方法
    • 用于观察扫描电子显微镜图像的示例支持组件和观察扫描电子显微镜图像的方法
    • WO2013099241A1
    • 2013-07-04
    • PCT/JP2012/008321
    • 2012-12-26
    • 独立行政法人産業技術総合研究所
    • 小椋 俊彦
    • H01J37/20H01J37/09H01J37/18H01J37/28
    • H01J37/20G21K5/08H01J37/28H01J2237/2003H01J2237/2004H01J2237/2813
    •  試料支持部材への電子注入により、電子線が入射した部位の絶縁性薄膜(11)と導電性薄膜(12)との間に電位勾配が生じると、絶縁性薄膜(11)の表面のポテンシャル障壁が薄くなり、トンネル効果による電子放出現象(電界放出現象)が起こる。絶縁性薄膜(11)の内部で生じた2次電子は、この電位勾配に沿って、導電性薄膜(12)側へとトンネル透過する。トンネル透過した2次電子は導電性薄膜(12)内を拡散して試料(30)に到達するが、試料(30)が生物試料などの電子透過率の高いものである場合には、2次電子は試料(30)内部もトンネル透過し、この2次電子(42)が2次電子検出器(50)により検知されて試料(30)の内部構造を反映するSEM画像が得られる。
    • 当在通过将电子注入到样品支撑构件中电子束入射的区域中的绝缘薄膜(11)和导电薄膜(12)之间产生电位梯度时,在 绝缘薄膜(11)变薄,并且由于隧道效应而发生电子发射现象(场发射现象)。 在绝缘薄膜(11)内产生的二次电子沿着电势梯度通向导电薄膜(12)侧。 已经在导电薄膜(12)内隧道扩散的二次电子到达样品(30),并且如果诸如生物样品的样品(30)具有高电子透射率,则二次电子也隧穿 可以通过二次电子检测器(50)检测样品(30)的内​​部,二次电子(42),并且可以获得样品(30)的内​​部结构被反射的SEM图像。
    • 7. 发明申请
    • UNIVERSAL SAMPLE HOLDER
    • 通用样品架
    • WO2013136260A1
    • 2013-09-19
    • PCT/IB2013/051933
    • 2013-03-12
    • ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL)
    • KNOTT, Graham
    • G01N1/06G02B21/34H01J37/20
    • G01N21/01G01N1/06G02B21/34H01J37/20H01J37/261H01J2237/2004H01J2237/2007H01J2237/20214
    • This device is for holding samples during their preparation prior to imaging in the electron microscope. The design means it can be transferred between the light and electron microscopes as well as trimming devices used to prepare the final sample. It can also be used at both ambient and cryo temperatures down to -110°C. The device consists of a base plate that can be held on the stage of a light microscope. It has an aperture through which transmitted light can pass. In this aperture is a clamp which holds a small transparent plastic sphere; the sample sphere. The sample for preparation is bonded to this sphere. The shape of this clamp and sphere means that the sample can be held at any angle to allow for optimal imaging in any light microscope and in the trimming devices, including the ultramicrotome. Once trimmed, the entire universal sample holder can then be transferred into the scanning electron microscope, or held in the ultramicrotome for thin sectioning.
    • 该装置用于在电子显微镜成像之前准备样品。 该设计意味着它可以在光和电子显微镜之间转移,以及用于制备最终样品的修整装置。 它也可以在低于-110°C的环境温度和低温条件下使用。 该装置由可以保持在光学显微镜的台上的基板组成。 它具有透射光可以通过的孔径。 该孔是夹持小透明塑料球的夹具; 样品球体。 用于制备的样品结合到该球体上。 该夹具和球体的形状意味着样品可以以任何角度保持,以允许在任何光学显微镜和修剪装置(包括超薄切片机)中进行最佳成像。 一旦修整,整个通用样品架可以转移到扫描电子显微镜中,或者保持在超薄切片机中用于薄切片。