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    • 9. 发明申请
    • METHOD AND SYSTEM FOR FORMING PATTERNS USING CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPH
    • 使用充电颗粒光栅形成图案的方法和系统
    • WO2013158573A1
    • 2013-10-24
    • PCT/US2013/036669
    • 2013-04-15
    • D2S, INC.
    • FUJIMURA, AkiraAADAMOV, AnatolyKHALIULLIN, EldarBORK, Ingo
    • H01L21/027G03F1/70
    • G03F1/70G03F1/36G06F17/50G06F17/5009G06F17/5036G06F17/5068
    • A method for mask data preparation (MDP) is disclosed, in which a set of shots is determined that will form a pattern on a reticle, where the determination includes calculating the pattern that will be formed on a substrate using an optical lithographic process with a reticle formed using the set of shots. A method for optical proximity correction (OPC) or MDP is also disclosed, in which a preliminary set of charged particle beam shots is generated using a preliminary mask model, and then the shots are modified by calculating both a reticle pattern using a final mask model, and a resulting substrate pattern. A method for OPC is also disclosed, in which an ideal pattern for a photomask is calculated from a desired substrate pattern, where the model used in the calculation includes only optical lithography effects and/or substrate processing effects.
    • 公开了一种用于掩模数据准备(MDP)的方法,其中确定将在掩模版上形成图案的一组镜头,其中所述确定包括使用光学平版印刷工艺计算将在基底上形成的图案, 使用一组镜头形成掩模版。 还公开了一种用于光学邻近校正(OPC)或MDP的方法,其中使用初步掩模模型产生初始的带电粒子束照射集,然后通过使用最终掩模模型计算掩模版图案来修改镜头 ,以及所得到的衬底图案。 还公开了一种用于OPC的方法,其中根据期望的衬底图案计算光掩模的理想图案,其中计算中使用的模型仅包括光学光刻效果和/或衬底处理效果。