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    • 5. 发明申请
    • ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM FOR PROJECTION LITHOGRAPHY
    • 用于投影光刻的照明光学系统
    • WO2012076454A1
    • 2012-06-14
    • PCT/EP2011/071714
    • 2011-12-05
    • CARL ZEISS SMT GMBHOSSMANN, JensENDRES, MartinSTÜTZLE, Ralf
    • OSSMANN, JensENDRES, MartinSTÜTZLE, Ralf
    • G03F7/20
    • G03F7/70141G03F7/70058
    • An illumination optical system for projection lithography has an optical assembly for guiding illumination light to an object field (19) to be illuminated in an object plane (17). The illumination optical system divides a bundle of the illumination light into a plurality of part bundles, which are allocated to various illumination directions of the object field illumination. The illumination optical system is configured in such a way that at least some of the part bundles are superimposed on one another in a first superimposition plane (31) according to a first superimposition specification and in a second superimposition plane (16), which is spaced apart from the first superimposition plane (31), according to a second superimposition specification. The result is an illumination optical system, in which an influencing and/or a monitoring of an illumination intensity distribution over the object field is made possible, as far as possible without influencing an illumination angle distribution.
    • 用于投影光刻的照明光学系统具有用于将照明光引导到在物平面(17)中被照明的物场(19)的光学组件。 照明光学系统将一束照明光分成分配给物场照明的各种照明方向的多个部分束。 照明光学系统被配置成使得至少一些部分束根据第一叠加指示在第一叠加平面(31)中彼此重叠,并且在第二叠加平面(16)中被间隔开 除了第一叠加平面(31)之外,根据第二重叠规格。 结果是在不影响照明角度分布的情况下尽可能地使对物场的照明强度分布的影响和/或监视成为可能的照明光学系统。
    • 7. 发明申请
    • BELEUCHTUNGSOPTIK SOWIE OPTISCHE SYSTEME FÜR DIE MIKROLITHOGRAPHIE
    • 照明的光学元件和微光刻光学系统
    • WO2010099807A1
    • 2010-09-10
    • PCT/EP2009/001622
    • 2009-03-06
    • CARL ZEISS SMT AGENDRES, Martin
    • ENDRES, Martin
    • G03F7/20
    • G03F7/702G03F7/70066G03F7/70075G03F7/70108G03F7/70191
    • Eine Beleuchtungsoptik für die Mikrolithographie dient zur Ausleuchtung eines Objektfeldes (12). Die Beleuchtungsoptik hat eine erste Übertragungsoptik zur Führung von Beleuchtungslicht (3), ausgehend von einer Lichtquelle. Der ersten Übertragungsoptik nachgeordnet ist ein Beleuchtungsvorgabe-Facettenspiegel (7) mit einer Vielzahl von Beleuchtungsvorgabe-Facetten (25). Der Beleuchtungsvorgabe-Facettenspiegel (7) erzeugt eine vorgegebene Ausleuchtung des Objektfeldes (12) über eine ausleuchtbare Berandungsform des Beleuchtungsvorgabe-Facettenspiegels (7) und individuelle Kippwinkel der Beleuchtungsvorgabe-Facetten (25). Eine Anordnung der ersten Übertragungsoptik und des Beleuchtungsvorgabe-Facettenspiegels (7) ist derart, dass eine telezentrische Beleuchtung des Objektfeldes (12) resultiert. Ein optisches System gemäß einem weiteren Aspekt hat zwischen dem Beleuchtungsvorgabe-Facettenspiegel und dem Objektfeld eine Eintrittspupillenebene einer Projektionsoptik, die zusammen mit der Beleuchtungsoptik zu einem optischen System für die Mikrolithographie gehört. Eine Anordnung der ersten Übertragungsoptik und des Beleuchtungsvorgabe-Facettenspiegels ist bei diesem weiteren Aspekt derart, dass eine an die Eintrittspupille der Projektionsoptik angepasste Beleuchtung des Objektfeldes resultiert. Bei weiteren Aspekten innerhalb eines optischen Systems mit einer Projektionsoptik und einer Beleuchtungsoptik liegen im Verhältnis zu einer Baulänge der Projektionsoptik ein großer Objekt-Bild-Versatz bzw. ein großer Zwischenfokus-Bild-Versatz vor. Es resultieren Beleuchtungsoptiken und optische Systeme, die besonderen Effizienzanforderungen hinsichtlich der Nutzung des Beleuchtungslichts genügen.
    • 用于微光刻的照明光学系统,用于照明物场(12)。 该照明光学部件具有用于引导照明光(3),从光源出发的第一传输光学系统。 第一传输光纤的下游是具有多个照明预置刻面(25)的照明默认分面镜(7)。 照明默认分面镜(7)通过所述照明目标面镜(7)和所述照明默认面的各个倾斜角度(25)的光激励边界形状产生的物场(12)的预定的照明。 和照明默认分面镜(7)所述第一中继光学器件的布置是这样的物视场的远心照明(12)的结果。 根据另一个方面的光学系统具有照明默认分面镜和所述物场的投影光学系统,它与照明光学系统的用于微光刻的光学系统一起所属的入射光瞳平面之间。 所述第一中继光学器件和照明默认分面镜的布置在这个另外的方面,其适合于物场结果的投影光学装置照明的入射光瞳是这样。 在具有投影光学系统和照明光学系统的光学系统内的进一步的方面是一大对象图像偏移或相对于一个大的中间焦点像位移到投射光学部件的整体长度。 这导致照明光学器件以及满足关于使用的照明光的特定性能要求的光学系统。
    • 8. 发明申请
    • PROJECTION OBJECTIVE FOR MICROLITHOGRAPHY
    • 投影目标的微观算法
    • WO2009115180A1
    • 2009-09-24
    • PCT/EP2009/001448
    • 2009-02-28
    • CARL ZEISS SMT AGZELLNER, JohannesMANN, Hans-JürgenENDRES, Martin
    • ZELLNER, JohannesMANN, Hans-JürgenENDRES, Martin
    • G03F7/20
    • G03F7/70316G02B17/0663G03F7/702G03F7/70233
    • A projection objective (7) for microlithography is used for imaging an object field (4) in an object plane (5) into an image field (8) in an image plane (9). The projection objective (7) comprises at least six mirrors (M1 to M6) of which at least one mirror has a freeform reflecting surface. According to one aspect of the invention, the ratio between an overall length (T) of the projection objective (7) and an object image shift (d OIS ) is smaller than 12. According to another aspect of the invention, the image plane (9) is the first field plane of the projection objective (7) downstream of the object plane (5). According to another aspect of the invention, the projection objective has a plurality of mirrors (M1 to M6), wherein the ratio between an overall length (T) and an object image shift (d OIS ) is smaller than 2.
    • 用于微光刻的投影物镜(7)用于将物平面(5)中的物场(4)成像为图像平面(9)中的图像场(8)。 投影物镜(7)包括至少六个反射镜(M1至M6),其中至少一个反射镜具有自由形反射表面。 根据本发明的一个方面,投影物镜(7)的总长(T)与物体像偏移(dOIS)之间的比率小于12.根据本发明的另一方面,图像平面(9 )是物平面(5)下游的投影物镜(7)的第一场平面。 根据本发明的另一方面,投影物镜具有多个反射镜(M1至M6),其中总长度(T)和物体图像偏移(dOIS)之间的比率小于2。