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1. 发明申请

WO2002067028A3 COMPOSANT DE COUPLAGE REALISE EN OPTIQUE INTEGREE 审中-公开
公开(公告)号：WO2002067028A3
公开(公告)日：2002-08-29
申请号：PCT/FR2002/000609
申请日：2002-02-18
申请人： TEEM PHOTONICS , BARBIER, Denis , BENECH, Pierre
发明人： BARBIER, Denis , BENECH, Pierre
IPC分类号： G02B6/28
摘要： Le composant de couplage, réalisé en optique intégrée est destiné à coopérer avec une diode laser de puissance (2), multimode de transverse, à semi-conducteur pour former un laser de puissance monomode transverse. Il comporte une zone d'entrée (4) connectée à au moins un guide d'onde de sortie (6) par au moins deux zones de rétrécissement adiabatique (5). Au moins deux fenêtres de filtrage (7) constituent les entrées des zones de rétrécissement adiabatique (5) à l'extrémité d'une zone de diffraction définie par la zone d'entrée. Des éléments réflecteurs, par exemple un réseau de Bragg (12), peuvent être disposés sur le guide d'onde de sortie. Une face émettrice (3) étant traitée antireflet, on délimite ainsi une cavité laser étendue oscillant sur un seul mode prédéterminé entre une face arrière réfléchissante (11) de la diode laser et les éléments réflecteurs (12).

2. 发明申请

WO2007017588A1 SPECTROGRAPHE À ONDE CONTRA-PROPAGATIVE 审中-公开
标题翻译：对比波动谱
公开(公告)号：WO2007017588A1
公开(公告)日：2007-02-15
申请号：PCT/FR2006/001908
申请日：2006-08-04
申请人： UNIVERSITE JOSEPH FOURIER , INSTITUT NATIONAL POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE , UNIVERSITE DE TECHNOLOGIE DE TROYES , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE - CNRS , LECOARER, Etienne , BENECH, Pierre , KERN, Pierre , LERONDEL, Gilles , BLAIZE, Sylvain , MORAND, Alain
发明人： LECOARER, Etienne , BENECH, Pierre , KERN, Pierre , LERONDEL, Gilles , BLAIZE, Sylvain , MORAND, Alain
IPC分类号： G01J3/45
CPC分类号： G01J3/4531 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0259 , G01J3/2803 , G01J3/4532
摘要： La présente invention se rapporte à un spectrographe (11) comprenant un guide d'onde (10) muni de deux accès (10a, 10b, 12), un moyen d'injection de deux ondes guidées contra-propagatives par chacun desdits accès de sorte à créer une interférence spatiale au sein dudit guide, un moyen de détection (19, 20, 14, 16) de l'énergie de l'onde évanescente du champ guidé issu de l'interférence desdites ondes contra-propagatives.
摘要翻译：本发明涉及一种包括具有访问（10a，10b，12）的波导（10）的光谱仪（11），用于通过每次访问注入两个引导的反向传播波的装置，以使得形成空间干扰波导，用于检测由所述反向传播波的干涉产生的引导场的ev逝波的能量的装置（19,20,14,16）。

3. 发明申请

WO02067028A2 INTEGRATED-OPTICS COUPLING COMPONENT, DESIGNED TO ADAPT A LIGHT SOURCE TO A GUIDED OPTICS ELEMENT AND POWER LASER COMPRISING SAME 审中-公开
标题翻译：集成光学耦合组件，设计为适应导光元件的光源和包含其的功率激光
公开(公告)号：WO02067028A2
公开(公告)日：2002-08-29
申请号：PCT/FR0200609
申请日：2002-02-18
申请人： TEEM PHOTONICS , BARBIER DENIS , BENECH PIERRE
发明人： BARBIER DENIS , BENECH PIERRE
IPC分类号： G02B6/122 , G02B6/12 , G02B6/125 , G02B6/126 , G02B6/28 , G02B6/42 , H01S5/00 , H01S5/14 , H01S5/20 , H01S5/40
CPC分类号： G02B6/125 , G02B6/12004 , G02B6/2813 , G02B6/42 , G02B6/4201 , G02B2006/12107 , G02B2006/1215 , H01S3/0632 , H01S5/005 , H01S5/141 , H01S5/146 , H01S5/2036
摘要： The invention concerns an integrated-optics coupling element designed to co-operate with a transverse multimode power laser diode (2), with semiconductor for forming a transverse monomode power laser. It comprises an input zone (4) connected to at least an output waveguide (6) by at least two adiabatic tapering zone (5). At least two filtering windows (7) constitute the inputs of the adiabatic tapering zone (5) at the end of a diffraction zone defined by the input zone. Reflecting elements, for example a Bragg grating (12), can be arranged on the output waveguide. By providing an emitting surface (3) with antiglare treatment, an extended laser cavity is thus delimited oscillating in a single predetermined mode between a reflecting rear surface (11) of the diode and the reflecting elements (12).
摘要翻译：本发明涉及设计成与横向多模功率激光二极管（2）配合的集成光学耦合元件，半导体用于形成横向单模功率激光器。它包括通过至少两个绝热锥形区（5）连接到至少一个输出波导（6）的输入区（4）。至少两个过滤窗口（7）构成在由输入区域限定的衍射区域的末端处的绝热锥形区域（5）的输入。可以在输出波导上布置反射元件，例如布拉格光栅（12）。通过提供具有防眩光处理的发射表面（3），因此限定在二极管的反射后表面（11）和反射元件（12）之间以单一预定模式振荡的扩展激光腔。

4. 发明申请

WO1996025656A1 INTERFEROMETRIC SENSING DEVICE 审中-公开
标题翻译：干涉感测装置
公开(公告)号：WO1996025656A1
公开(公告)日：1996-08-22
申请号：PCT/FR1996000145
申请日：1996-01-29
申请人： SCHNEIDER ELECTRIC S.A. , BENECH, Pierre , HELMERS, Hakon
发明人： SCHNEIDER ELECTRIC S.A.
IPC分类号： G01N21/45
CPC分类号： G01N21/45
摘要： A device comprising parallel input (2) and output (5) microguides with a planar guide therebetween defining a transition region (10). An optical tunnel effect provides coupling between the planar guide and the microguides. The transition region comprises at least two regions, i.e. a reference region (10a) and an interaction region (10b). The interaction region (10b) is made by depositing a superstrate of which the optical index or thickness is sensitive to a medium of interest. The light beam transmitted by the input microguide to the planar guide is divided into a reference beam passing through the reference region (10a) and a measuring beam passing through the interaction region (10b). The measuring and reference beams interfere with one another in the output microguide (5). Depending on the geometrical shape of the reference and interaction regions, the device forms a two-wave or multiple-wave interferometer. Said device is useful for making physical, chemical and biological sensors.
摘要翻译：一种包括平行输入（2）和输出（5）微导体的器件，其中平面引导件限定了过渡区域（10）。光隧道效应提供了平面引导和微导向之间的耦合。过渡区域包括至少两个区域，即参考区域（10a）和相互作用区域（10b）。相互作用区域（10b）通过将光学折射率或厚度对于感兴趣的介质敏感的覆层沉积而制成。由输入微导向器传送到平面引导件的光束被分成通过参考区域（10a）的参考光束和通过相互作用区域（10b）的测量光束。测量和参考光束在输出微导体（5）中彼此干涉。根据参考和相互作用区域的几何形状，器件形成双波或多波干涉仪。所述装置可用于制造物理，化学和生物传感器。

5. 发明申请

WO2006064134A1 DETECTEUR ET CAMERA SPECTROSCOPIQUES INTERFERENTIELS 审中-公开
标题翻译：干涉光谱检测器和摄像机
公开(公告)号：WO2006064134A1
公开(公告)日：2006-06-22
申请号：PCT/FR2005/003147
申请日：2005-12-15
申请人： UNIVERSITÉ JOSEPH FOURIER , INSTITUT NATIONAL POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE , LE COARER, Etienne , BENECH, Pierre
发明人： LE COARER, Etienne , BENECH, Pierre
IPC分类号： G02B6/42 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/0205
摘要： La présente invention se rapporte au domaine des détecteurs électroniques. Elle concerne un détecteur spectroscopique interférentiel caractérisé en ce qu'il comprend un guide d'onde présentant une face d'entrée et un miroir sur la face opposée, et des moyens de détection de rayonnements électromagnétiques délivrant un signal électrique fonction de l'intensité locale de l'onde électromagnétique, ladite détection étant réalisée entre la face d'entrée et le miroir.
摘要翻译：本发明涉及电子检测器领域。它涉及一种干涉光谱检测器，其特征在于它包括一个波导，该波导具有在相对侧的输入侧和反射镜，以及用于检测作为电磁波的局部强度传递电信号的电磁射线的装置，所述检测是在输入侧和反射镜之间产生。

6. 发明申请

WO2006082293A1 PROCEDE ET SYSTEME DE TEST OU DE MESURE D'ELEMENTS ELECTRIQUES, AU MOYEN DE DEUX IMPULSIONS DECALEES 审中-公开
标题翻译：使用两个偏移脉冲测试或测量电气元件的方法和系统
公开(公告)号：WO2006082293A1
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：PCT/FR2006/000154
申请日：2006-01-24
申请人： BEAMIND , VAUCHER, Christophe , BENECH, Pierre
发明人： VAUCHER, Christophe , BENECH, Pierre
IPC分类号： G01R31/308 , G01R31/305
CPC分类号： G01R31/305 , G01R31/307 , G01R31/308 , G01R31/311
摘要： L'invention concerne un procédé de test d'éléments électriques (2-1) comprenant des étapes consistant à appliquer un premier faisceau de particules (4-1) à un premier emplacement (3- 1) d'un élément électrique, pour libérer des électrons du premier emplacement, appliquer un second faisceau de particules (4-2) à un second emplacement (3-2) d'un élément électrique, avec un décalage temporel (Δt) non nul relativement à l'application du premier faisceau de particules (4-1) , pour libérer des électrons du second emplacement, collecter des électrons libérés sous l'effet des premier et second faisceaux de particules, et mesurer au moins une quantité de charges électriques correspondant à la collecte des électrons libérés sous l'effet du second faisceau de particules, et en déduire quantitativement ou qualitativement une caractéristique électrique de l'élément électrique.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试电气元件（2-1）的方法，包括以下步骤：将第一光束（4-1）施加到电气元件的第一位置（3-1），以将电子从第一位置，将第二个粒子束（4-2）施加到电气元件的第二位置（3-2），相对于第一个粒子束的时间偏移（Δt）不为零（4-1），以释放所述第二位置的电子，收集在所述第一和第二粒子束的作用下释放的电子，并且测量与在所述第一和第二粒子的作用下释放的电子的集合相对应的至少一个量的电荷第二个颗粒束，并从中量化或定性地推导出电气元件的一个电特性。

7. 发明申请

WO1997025607A1 OPTICAL DEVICE FOR DETECTING THE CHARACTERISTICS OF MOVING PARTICLES 审中-公开
标题翻译：用于检测移动颗粒特性的光学装置
公开(公告)号：WO1997025607A1
公开(公告)日：1997-07-17
申请号：PCT/FR1996000048
申请日：1996-01-11
申请人： SCHNEIDER ELECTRIC S.A. , BENECH, Pierre , CARTELIER, Alain , SCHANEN, Isabelle
发明人： SCHNEIDER ELECTRIC S.A.
IPC分类号： G01N15/02
CPC分类号： G01N15/0205 , G01N2015/145 , G01P5/26 , G01S17/58
摘要： The device uses the Doppler effect principle of laser velocity measurement. It comprises optical emission and reception guides formed by optical integration techniques on a single substrate (12), preferably glass. The emission guides, connected to a light source (3) produce two mutually coherent beams (1, 2) whose inclination from one another (A) is such as to constitute interference fringes in a measurement region (P) external to the substrate. The reception guides transmit to a detection and processing circuit (11, 9) the light refracted by the passage of particles across the measurement region. The substrate (12) is mounted on a support (15) installed in the orifice of a wall (16) along which flows the fluid transporting the particles to be examined. The substrate (12) comprises a plane (17) that is in contact with the fluid. This device facilitates determining the speed, size and/or number of moving particles in a fluid being displaced along a wall (16).
摘要翻译：该装置使用激光速度测量的多普勒效应原理。它包括通过光学积分技术在单个基板（12），优选玻璃上形成的光发射和接收引导件。连接到光源（3）的发射导向器产生两个相互相干的光束（1,2），其彼此的倾斜度（A）在基板外部的测量区域（P）中构成干涉条纹。接收指南将检测和处理电路（11,9）传送通过颗粒通过测量区域而折射的光。衬底（12）安装在安装在壁（16）的孔口中的支撑件（15）上，沿着该支撑件流动输送待检查颗粒的流体。衬底（12）包括与流体接触的平面（17）。该装置有助于确定沿着壁（16）移位的流体中的移动颗粒的速度，尺寸和/或数量。

8. 发明申请

WO1994014028A1 INTERFEROMETRIC MEASUREMENT DEVICE 审中-公开
标题翻译：干涉测量装置
公开(公告)号：WO1994014028A1
公开(公告)日：1994-06-23
申请号：PCT/FR1993001194
申请日：1993-12-06
申请人： MERLIN GERIN , KEVORKIAN, Antoine , DUPORT-SCHANEN, Isabelle , BENECH, Pierre
发明人： MERLIN GERIN
IPC分类号： G01B09/02
CPC分类号： G02B6/12004 , G01B9/02032 , G02B6/122 , G02B2006/12195
摘要： Two input beams (10, 20) of an interferometric measurement device produced by integrated optics technology are widened to form two spread flat beams producing an interference pattern (30). Two sensors (15, 25) deliver two measurement signals, preferably in phase quadrature, representative of two points on the interference plane.
摘要翻译：通过集成光学技术制造的干涉测量装置的两个输入光束（10,20）被加宽以形成产生干涉图案（30）的两个扩展平面光束。两个传感器（15,25）提供两个相位正交的测量信号，代表干涉平面上的两个点。

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