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1. 发明申请

WO2002067028A3 COMPOSANT DE COUPLAGE REALISE EN OPTIQUE INTEGREE 审中-公开
公开(公告)号：WO2002067028A3
公开(公告)日：2002-08-29
申请号：PCT/FR2002/000609
申请日：2002-02-18
申请人： TEEM PHOTONICS , BARBIER, Denis , BENECH, Pierre
发明人： BARBIER, Denis , BENECH, Pierre
IPC分类号： G02B6/28
摘要： Le composant de couplage, réalisé en optique intégrée est destiné à coopérer avec une diode laser de puissance (2), multimode de transverse, à semi-conducteur pour former un laser de puissance monomode transverse. Il comporte une zone d'entrée (4) connectée à au moins un guide d'onde de sortie (6) par au moins deux zones de rétrécissement adiabatique (5). Au moins deux fenêtres de filtrage (7) constituent les entrées des zones de rétrécissement adiabatique (5) à l'extrémité d'une zone de diffraction définie par la zone d'entrée. Des éléments réflecteurs, par exemple un réseau de Bragg (12), peuvent être disposés sur le guide d'onde de sortie. Une face émettrice (3) étant traitée antireflet, on délimite ainsi une cavité laser étendue oscillant sur un seul mode prédéterminé entre une face arrière réfléchissante (11) de la diode laser et les éléments réflecteurs (12).

2. 发明申请

WO2007017588A1 SPECTROGRAPHE À ONDE CONTRA-PROPAGATIVE 审中-公开
标题翻译：对比波动谱
公开(公告)号：WO2007017588A1
公开(公告)日：2007-02-15
申请号：PCT/FR2006/001908
申请日：2006-08-04
申请人： UNIVERSITE JOSEPH FOURIER , INSTITUT NATIONAL POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE , UNIVERSITE DE TECHNOLOGIE DE TROYES , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE - CNRS , LECOARER, Etienne , BENECH, Pierre , KERN, Pierre , LERONDEL, Gilles , BLAIZE, Sylvain , MORAND, Alain
发明人： LECOARER, Etienne , BENECH, Pierre , KERN, Pierre , LERONDEL, Gilles , BLAIZE, Sylvain , MORAND, Alain
IPC分类号： G01J3/45
CPC分类号： G01J3/4531 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0259 , G01J3/2803 , G01J3/4532
摘要： La présente invention se rapporte à un spectrographe (11) comprenant un guide d'onde (10) muni de deux accès (10a, 10b, 12), un moyen d'injection de deux ondes guidées contra-propagatives par chacun desdits accès de sorte à créer une interférence spatiale au sein dudit guide, un moyen de détection (19, 20, 14, 16) de l'énergie de l'onde évanescente du champ guidé issu de l'interférence desdites ondes contra-propagatives.
摘要翻译：本发明涉及一种包括具有访问（10a，10b，12）的波导（10）的光谱仪（11），用于通过每次访问注入两个引导的反向传播波的装置，以使得形成空间干扰波导，用于检测由所述反向传播波的干涉产生的引导场的ev逝波的能量的装置（19,20,14,16）。

3. 发明申请

WO2006064134A1 DETECTEUR ET CAMERA SPECTROSCOPIQUES INTERFERENTIELS 审中-公开
标题翻译：干涉光谱检测器和摄像机
公开(公告)号：WO2006064134A1
公开(公告)日：2006-06-22
申请号：PCT/FR2005/003147
申请日：2005-12-15
申请人： UNIVERSITÉ JOSEPH FOURIER , INSTITUT NATIONAL POLYTECHNIQUE DE GRENOBLE , LE COARER, Etienne , BENECH, Pierre
发明人： LE COARER, Etienne , BENECH, Pierre
IPC分类号： G02B6/42 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/0205
摘要： La présente invention se rapporte au domaine des détecteurs électroniques. Elle concerne un détecteur spectroscopique interférentiel caractérisé en ce qu'il comprend un guide d'onde présentant une face d'entrée et un miroir sur la face opposée, et des moyens de détection de rayonnements électromagnétiques délivrant un signal électrique fonction de l'intensité locale de l'onde électromagnétique, ladite détection étant réalisée entre la face d'entrée et le miroir.
摘要翻译：本发明涉及电子检测器领域。它涉及一种干涉光谱检测器，其特征在于它包括一个波导，该波导具有在相对侧的输入侧和反射镜，以及用于检测作为电磁波的局部强度传递电信号的电磁射线的装置，所述检测是在输入侧和反射镜之间产生。

4. 发明申请

WO2006082293A1 PROCEDE ET SYSTEME DE TEST OU DE MESURE D'ELEMENTS ELECTRIQUES, AU MOYEN DE DEUX IMPULSIONS DECALEES 审中-公开
标题翻译：使用两个偏移脉冲测试或测量电气元件的方法和系统
公开(公告)号：WO2006082293A1
公开(公告)日：2006-08-10
申请号：PCT/FR2006/000154
申请日：2006-01-24
申请人： BEAMIND , VAUCHER, Christophe , BENECH, Pierre
发明人： VAUCHER, Christophe , BENECH, Pierre
IPC分类号： G01R31/308 , G01R31/305
CPC分类号： G01R31/305 , G01R31/307 , G01R31/308 , G01R31/311
摘要： L'invention concerne un procédé de test d'éléments électriques (2-1) comprenant des étapes consistant à appliquer un premier faisceau de particules (4-1) à un premier emplacement (3- 1) d'un élément électrique, pour libérer des électrons du premier emplacement, appliquer un second faisceau de particules (4-2) à un second emplacement (3-2) d'un élément électrique, avec un décalage temporel (Δt) non nul relativement à l'application du premier faisceau de particules (4-1) , pour libérer des électrons du second emplacement, collecter des électrons libérés sous l'effet des premier et second faisceaux de particules, et mesurer au moins une quantité de charges électriques correspondant à la collecte des électrons libérés sous l'effet du second faisceau de particules, et en déduire quantitativement ou qualitativement une caractéristique électrique de l'élément électrique.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测试电气元件（2-1）的方法，包括以下步骤：将第一光束（4-1）施加到电气元件的第一位置（3-1），以将电子从第一位置，将第二个粒子束（4-2）施加到电气元件的第二位置（3-2），相对于第一个粒子束的时间偏移（Δt）不为零（4-1），以释放所述第二位置的电子，收集在所述第一和第二粒子束的作用下释放的电子，并且测量与在所述第一和第二粒子的作用下释放的电子的集合相对应的至少一个量的电荷第二个颗粒束，并从中量化或定性地推导出电气元件的一个电特性。

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