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1. 发明申请

WO2011024170A1 A METHOD AND APPARATUS FOR THIN FILM QUALITY CONTROL IN A BATCH MANUFACTURING LAYOUT 审中-公开
标题翻译：一种用于分批制造布局中的薄膜质量控制的方法和设备
公开(公告)号：WO2011024170A1
公开(公告)日：2011-03-03
申请号：PCT/IL2010/000698
申请日：2010-08-26
申请人： BRIGHTVIEW SYSTEMS LTD. , ASPIR, Doron , SHOHAM, Benjamin , SCHEINER, David
发明人： ASPIR, Doron , SHOHAM, Benjamin , SCHEINER, David
IPC分类号： G06F19/00
CPC分类号： G05B19/41875 , G01N21/9501 , G05B2219/32179 , G05B2219/32182 , G05B2219/32183 , H02S50/00
摘要： Presented is a system for thin film photovoltaic panel quality control in a batch manufacturing process. The system includes a panel illuminating unit, a detector unit, a robotic mechanism handling the panel and providing a relative displacement between the panel and the panel illuminating unit and illumination detector unit. A control unit is operative to coordinate the quality control process with movements of at least the robotic mechanism, process at least one detected illumination thin film interaction product and derive at least one thin film parameter.
摘要翻译：提出了一种用于批量生产过程中的薄膜光伏面板质量控制的系统。该系统包括面板照明单元，检测器单元，处理面板并提供面板与面板照明单元和照明检测器单元之间的相对位移的机器人机构。控制单元可操作以协调质量控制过程与至少机器人机构的运动，处理至少一个检测到的照明薄膜相互作用产物并导出至少一个薄膜参数。

2. 发明申请

WO2004059567A3 AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD 审中-公开
标题翻译：自动光学检测系统和方法
公开(公告)号：WO2004059567A3
公开(公告)日：2004-08-19
申请号：PCT/IL0301095
申请日：2003-12-21
申请人： ORBOTECH LTD , LEVI MICHAEL , BERNARD SOLOMON , ASPIR DORON , FRIDMAN ELAD
发明人： LEVI MICHAEL , BERNARD SOLOMON , ASPIR DORON , FRIDMAN ELAD
IPC分类号： G01N21/956 , G06T7/00 , G06K9/00 , G01N21/00
CPC分类号： G01N21/95607 , G06T7/0004
摘要： A system comprising automatic apparatus for automatic optical inspection (AOI), verification and correction of defects in an article, and a processor operative to select between AOI, verification and correction for performing on the article.
摘要翻译：一种系统，包括用于自动光学检测（AOI）的自动装置，验证和校正物品中的缺陷，以及处理器，用于在AOI之间进行选择，验证和校正以在物品上执行。

3. 发明申请

WO2011024170A4 A METHOD AND APPARATUS FOR THIN FILM QUALITY CONTROL IN A BATCH MANUFACTURING LAYOUT 审中-公开
标题翻译：批量生产布局中薄膜质量控制的方法与装置
公开(公告)号：WO2011024170A4
公开(公告)日：2011-05-05
申请号：PCT/IL2010000698
申请日：2010-08-26
申请人： BRIGHTVIEW SYSTEMS LTD , ASPIR DORON , SHOHAM BENJAMIN , SCHEINER DAVID
发明人： ASPIR DORON , SHOHAM BENJAMIN , SCHEINER DAVID
IPC分类号： G06F19/00
CPC分类号： G05B19/41875 , G01N21/9501 , G05B2219/32179 , G05B2219/32182 , G05B2219/32183 , H02S50/00
摘要： Presented is a system for thin film photovoltaic panel quality control in a batch manufacturing process. The system includes a panel illuminating unit, a detector unit, a robotic mechanism handling the panel and providing a relative displacement between the panel and the panel illuminating unit and illumination detector unit. A control unit is operative to coordinate the quality control process with movements of at least the robotic mechanism, process at least one detected illumination thin film interaction product and derive at least one thin film parameter.
摘要翻译：提出了一种批量生产过程中的薄膜光伏面板质量控制系统。该系统包括面板照明单元，检测器单元，处理面板并在面板和面板照明单元和照明检测器单元之间提供相对位移的机器人机构。控制单元可操作以通过至少机器人机构的移动来协调质量控制过程，处理至少一个检测到的照明薄膜相互作用产物并且导出至少一个薄膜参数。

4. 发明申请

WO2004059567A2 AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION SYSTEM AND METHOD 审中-公开
标题翻译：自动光学检测系统及方法
公开(公告)号：WO2004059567A2
公开(公告)日：2004-07-15
申请号：PCT/IL2003/001095
申请日：2003-12-21
申请人： ORBOTECH LTD. , LEVI, Michael , BERNARD, Solomon , ASPIR, Doron , FRIDMAN, Elad
发明人： LEVI, Michael , BERNARD, Solomon , ASPIR, Doron , FRIDMAN, Elad
IPC分类号： G06K9/00
CPC分类号： G01N21/95607 , G06T7/0004
摘要： A system comprising automatic apparatus for automatic optical inspection (AOI), verification and correction of defects in an article, and a processor operative to select between AOI, verification and correction for performing on the article.
摘要翻译：一种包括用于自动光学检查（AOI）的自动装置，物品中的缺陷的验证和校正的系统，以及可操作以在AOI，验证和用于在物品上执行的校正之间进行选择的处理器的系统。

5. 发明申请

WO0140770A3 ADAPTIVE TOLERANCE REFERENCE INSPECTION SYSTEM 审中-公开
标题翻译：自适应公差参考检查系统
公开(公告)号：WO0140770A3
公开(公告)日：2002-03-28
申请号：PCT/IL0000820
申请日：2000-12-05
申请人： ORBOTECH LTD , ASPIR DORON , KRAUS MENAHEM , ORGAD DROR , NADIVI JACOB
发明人： ASPIR DORON , KRAUS MENAHEM , ORGAD DROR , NADIVI JACOB
IPC分类号： G01R31/302 , G01N21/956
CPC分类号： G01R31/302
摘要： Method and apparatus for automatically optically inspecting electrical circuits by matching portions of an electrical circuit being inspected to corresponding portions in a reference, wherein an adaptive spatial tolerance representing a permissible deviation in the location of corresponding portions is applied to a portion. The spatial tolerances for each portion is in part a function of a characteristic of the portion, for example one or more of: the proximity of the portion to other portions of predetermined type, a spatial location of the portion in an electrical circuit, a material from which the portion is formed, the color of the portion and the intensity of light reflected by the portion. Non-defective matching portions an electrical circuit being inspected and in a reference must be separated by a distance which is less than the adaptive spatial tolerance.
摘要翻译：通过将被检查的电路的部分匹配到参考中的相应部分来自动光学检查电路的方法和装置，其中表示相应部分的位置的允许偏差的自适应空间公差被应用于一部分。每个部分的空间公差部分地是部分的特性的函数，例如以下中的一个或多个的功能：部分与预定类型的其他部分的接近，电路中的该部分的空间位置，材料形成该部分的部分的颜色和由该部分反射的光的强度。被检查的电路和参考中的无缺陷匹配部分必须分开小于自适应空间容差的距离。

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