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1. 发明申请

WO2012101943A1 マイクロアレイの解析方法および読取り装置审中-公开
标题翻译：微波分析方法和读取装置
公开(公告)号：WO2012101943A1
公开(公告)日：2012-08-02
申请号：PCT/JP2011/080007
申请日：2011-12-26
申请人：東レ株式会社 , 尾崎久美江 , 佐々本裕方 , 薙野邦久
发明人：尾崎　久美江 , 佐々本　裕方 , 薙野　邦久
IPC分类号： G01N21/64 , G01N33/53 , G01N33/543 , G01N37/00
CPC分类号： G01N21/6486 , B01J2219/00529 , B01J2219/00576 , B01J2219/00693 , C40B60/12 , G01N21/6452 , G01N21/6456 , G01N33/54373 , G01N33/582 , G06F19/20
摘要：　ポジティブコントロールを配置していないＤＮＡチップの解析においても、もしくは、サンプルに含まれるＤＮＡ量が少ないチップの解析においても、アライメント処理を適切に行うことが可能な解析方法を提供するために、凹凸形状を有する基板表面にプローブが配置されたマイクロアレイに励起光を照射し、励起光で励起された各プローブからの蛍光量を数値データとして得るマイクロアレイの解析方法であって、プローブの蛍光量を測定して蛍光画像データを取得するステップ（ａ）と、基板表面からの反射光及び／又は散乱光を受光して、該光の受光強度からマイクロアレイの基板表面の凹凸形状をアライメント用画像データとして取得するステップ（ｂ）と、前記アライメント用画像データに基づいて前記蛍光画像データにおける各プローブの位置を決定するステップ（ｃ）と、を含む、マイクロアレイの解析方法とする。
摘要翻译：为了提供即使在没有排列有阳性对照的DNA芯片的分析中，甚至在分析样本中含有很少DNA的芯片的分析中也能够进行适当的取向处理性能的分析方法，该照射用微阵列分析方法利用激发光，在具有不平坦形状的基板表面上设置探针的微阵列，并且获得作为数值数据的来自激发光激发的每个探针的荧光量包括：步骤（a），用于测量探针的荧光量并获取荧光图像数据; 从所述基板表面接收反射光和/或散射光的步骤（b），根据所接收的光的强度，获取所述微阵列的基板表面的不均匀形状作为对准的图像数据; 以及基于用于对准的图像数据来确定荧光图像数据中的每个探针的位置的步骤（c）。

2. 发明申请

WO2002071023A1 ディスプレイパネルの検査方法および検査装置ならびに製造方法审中-公开
标题翻译：检查方法，检查装置和显示面板的制造方法
公开(公告)号：WO2002071023A1
公开(公告)日：2002-09-12
申请号：PCT/JP2002/001854
申请日：2002-02-28
申请人：東レ株式会社 , 倉又理 , 佐々本裕方 , 杉原洋樹 , 津田敬治
发明人：倉又理 , 佐々本裕方 , 杉原洋樹 , 津田敬治
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： H01J9/42 , G01N21/8806 , G01N21/95 , G01N2021/646 , G01N2021/9513 , H01J2217/49 , Y10S345/904
摘要： An inspection method, an inspection device, and a manufacturing method for display panel capable of manufacturing a high quality and highly reliable substrate by determining optimum optical conditions for the inspection of the surface shape of an inspected object by the structural characteristics thereof, accurately performing the inspection by reflecting the determined conditions on the inspection device to increase an yield rate without lowering a yield; the inspection device, comprising an illumination means, an imaging means, and a signal processing means; the inspection method, characterized by comprising the steps of measuring the signals of the bright and dark of a plurality of fluorescent substance layers while moving the substrate or the illumination means and imaging means in the direction of intersecting the fluorescent substance layers coated on the substrate at specified intervals and measuring a coated amount for each fluorescent substance layer by the obtained signals.
摘要翻译：一种用于通过根据其结构特征确定检查对象的表面形状的最佳光学条件来制造高质量和高可靠性基板的检查方法，检查装置和制造方法，准确地执行通过在检查装置上反映确定的条件来检查，以提高产量而不降低产量; 所述检查装置包括照明装置，成像装置和信号处理装置; 该检查方法的特征在于包括以下步骤：在基板或照明装置和成像装置沿着与涂覆在基板上的荧光物质层相交的方向移动基板或成像装置的同时测量多个荧光物质层的明暗信号通过获得的信号测量每个荧光物质层的涂布量。

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