专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2007094811A2 DETECTOR OPTICS FOR MULTIPLE ELECTRON BEAM TEST SYSTEM 审中-公开
标题翻译：多电子束测试系统的探测器光学
公开(公告)号：WO2007094811A2
公开(公告)日：2007-08-23
申请号：PCT/US2006019113
申请日：2006-05-05
申请人： MULTIBEAM SYSTEMS INC
发明人： PARKER N WILLIAM , MILLER S DANIEL
CPC分类号： H01J37/244 , H01J9/42 , H01J37/256 , H01J37/28 , H01J2237/24495 , H01J2237/24592 , H01J2237/2485 , H01J2237/2817
摘要： A detector optics system for collecting secondary electrons (SEs) and/or backscattered electrons (BSEs) in a multiple charged particle beam test system is disclosed. Aspects of the detector optics system include: the ability to image and/or electrically test a number of locations simultaneously across the full width of a large substrate with high throughput and uniform collection efficiency while avoiding crosstalk between signals generated by neighboring beams. In one embodiment, a linear array of N electron beams causes SEs to be emitted from the substrate, which are then collected by one or more linear arrays of >2N detectors. Each linear array is connected to a signal combiner circuit which dynamically determines which detectors are collecting SEs generated by each electron beam as it scans across the substrate surface and then combines the signals from these detectors to form N simultaneous output signals (one per charged particle beam) for each detector array.
摘要翻译：公开了一种用于在多重带电粒子束测试系统中收集二次电子（SE）和/或反向散射电子（BSE）的检测器光学系统。检测器光学系统的方面包括：在具有高吞吐量和均匀采集效率的同时在大型衬底的整个宽度上同时跨多个位置进行成像和/或电测试的能力，同时避免由相邻光束产生的信号之间的串扰。在一个实施例中，N个电子束的线性阵列导致从衬底发射SE，然后由> 2N个检测器的一个或多个线性阵列收集。每个线性阵列连接到信号组合器电路，其在动态地确定哪些检测器正在收集由每个电子束产生的SE，因为它扫描基板表面，然后组合来自这些检测器的信号以形成N个同时输出信号（每个带电粒子束一个）。

2. 发明申请

WO2007032779A2 APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION AND TESTING OF FLAT PANEL DISPLAY SUBSTRATES 审中-公开
标题翻译：用于检查和测试平板显示基板的装置和方法
公开(公告)号：WO2007032779A2
公开(公告)日：2007-03-22
申请号：PCT/US2006/011381
申请日：2006-03-28
申请人： MULTIBEAM SYSTEMS, INC.
发明人： PARKER, William, N.
IPC分类号： H01J3/14
CPC分类号： H01J37/256 , H01J9/42 , H01J37/09 , H01J37/147 , H01J37/244 , H01J2237/0492 , H01J2237/1501 , H01J2237/162 , H01J2237/188 , H01J2237/24475 , H01J2237/2448 , H01J2237/2594 , H01J2237/2817
摘要： A charged particle optical system for testing, imaging or inspecting substrates comprises: a charged particle optical assembly configured to produce a line of charged particle beams equally spaced along a main scan axis, each beam being deflectable through a large angle along the main scan axis; and linear detector optics aligned along the main scan axis. The detector optics includes a linear secondary electron detector, a field free tube, voltage contrast plates and a linear backscattered electron detector. The large beam deflection is achieved using an electrostatic deflector for which the exit aperture is larger than the entrance aperture. One embodiment of the deflector includes: two parallel plates with chamfered inner surfaces disposed perpendicularly to the main scan axis; and a multiplicity of electrodes positioned peripherally in the gap between the plates, the electrodes being configured to maintain a uniform electric field transverse to the main scan axis.
摘要翻译：用于测试，成像或检查基板的带电粒子光学系统包括：带电粒子光学组件，被配置为产生沿着主扫描轴等距间隔的带电粒子束线，每个束可沿主扫描轴线偏转大角度; 以及沿主扫描轴对准的线性检测器光学元件。检测器光学器件包括线性二次电子检测器，无磁场管，电压对比板和线性背散射电子检测器。使用静电偏转器实现大的光束偏转，出射孔大于入射孔。偏转器的一个实施例包括：具有与主扫描轴垂直设置的倒角内表面的两个平行板; 以及多个电极位于板之间的间隙周边，电极被配置为保持横向于主扫描轴的均匀电场。

3. 发明申请

WO2006006101A2 SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATED FILAMENT TESTING OF GAS DISCHARGE LAMPS 审中-公开
标题翻译：气体放电灯自动测试的系统和方法
公开(公告)号：WO2006006101A2
公开(公告)日：2006-01-19
申请号：PCT/IB2005/052161
申请日：2005-06-29
申请人： ACCESS BUSINESS GROUP INTERNATIONAL LLC , WENDT, Ernest T. , MOLLEMA, Scott A. , VECZIEDINS, Karlis
发明人： WENDT, Ernest T. , MOLLEMA, Scott A. , VECZIEDINS, Karlis
IPC分类号： H01J9/42
CPC分类号： H01J9/42 , G01R31/44 , H05B41/295 , H05B41/36
摘要： A system for automated testing of the lamp filaments has an ohm meter. The ohm meter ís used to determine the resistance of the lamp filament prior to energizing the lamp. A multiplexer switches the ohm meter from one lamp filament to the next so that the lamp filaments are quick y and accurately tested. After the cold resistance of the lamp filaments is measured, a power supply energizes the lamp filaments.
摘要翻译：用于灯丝自动测试的系统具有欧姆计。欧姆计ís用于在通电灯之前确定灯丝的电阻。多路复用器将欧姆表从一个灯丝切换到下一个，使灯丝快速准确测试。在测量灯丝的耐冷性之后，电源为灯丝供能。

4. 发明申请

WO2004015661A3 METHOD FOR ON-LINE TESTING OF A LIGHT-EMITTING PANEL 审中-公开
标题翻译：一种发光板的在线测试方法
公开(公告)号：WO2004015661A3
公开(公告)日：2004-07-01
申请号：PCT/US0322865
申请日：2003-07-23
申请人： SCIENCE APPLIC INT CORP
发明人： WYETH CONVERS N , GREEN ALBERT M , GEORGE VICTOR E
IPC分类号： G01M11/00 , G09G3/00 , G09G3/22 , H01J9/02 , H01J9/227 , H01J9/24 , H01J9/42 , H01J17/49 , H01T21/06 , H01J9/00
CPC分类号： H01J17/49 , G09G3/006 , G09G3/22 , H01J9/42 , H01J11/18 , H01J2217/492
摘要： A method of testing a light-emitting panel and the component parts therein including an assembled web containing light-emitting micro-components is disclosed. The method utilizes radiometric measuring devices disposed throughout a continuous fabrication process. Qualities of the components are measured so that product defects or process deficiencies can be corrected or eliminated.
摘要翻译：公开了一种测试发光面板及其组件的方法，其中包括含有发光微组件的组装网。该方法利用在连续制造过程中设置的辐射测量装置。测量组件的质量，以便可以纠正或消除产品缺陷或过程缺陷。

5. 发明申请

WO0235510A8 A METHOD FOR TESTING A LIGHT-EMITTING PANEL AND THE COMPONENTS THEREIN 审中-公开
标题翻译：一种用于测试发光板及其组件的方法
公开(公告)号：WO0235510A8
公开(公告)日：2002-07-11
申请号：PCT/US0142782
申请日：2001-10-26
申请人： SCIENCE APPLIC INT CORP
发明人： JOHNSON ROGER LAVERNE , GREEN ALBERT MYRON , GEORGE EDWARD VICTOR , WYETH NEWELL CONVERS
IPC分类号： G01M11/00 , G09G3/00 , G09G3/22 , H01J9/02 , H01J9/227 , H01J9/24 , H01J9/42 , H01J17/49 , G09G3/34 , H01J61/30 , H01J61/42 , H01J65/00
CPC分类号： H01J11/18 , G09G3/006 , G09G3/22 , H01J9/42 , H01J17/49 , H01J2217/492
摘要： A process for in-line testing and control of the manufacture of a display panel having a plurality of light-emitting micro-components sandwiched between two substrates is disclosed. The preferred process includes a step (900) of forming micro-capsules containing a gas capable of ionization when a sufficiently large voltage is supplied across the micro-component via at least two electrodes, a step (910) of forming a panel having at least one electrode for ionization of the gas and plurality of sockets for receiving the micro-capsules, a micro-component placement process (930), a process (940) of aligning a second substrate which may have another electrode placed thereon, and a dicing process (950). Another process (905) to dope or coat the micro-components with an emission enhancement material such as low affinity material, conductive, reflective and/or luminescent material, e.g., magnesium oxide, gold, aluminum, and/or phosphor coatings, may also be provided. The panels are preferably tested, such as for size, shape, position, material properties, or electric function after each process and the data stored and subsequently analyzed to determine necessary modifications of the process and/or product.
摘要翻译：公开了一种用于在线测试和控制制造具有夹在两个基板之间的多个发光微型部件的显示面板的方法。优选的方法包括以下步骤（900）：当通过至少两个电极向微型部件提供足够大的电压时，形成包含能够离子化的气体的微型胶囊;形成面板的步骤（910），所述面板至少具有至少一个用于气体电离的一个电极和用于接收微囊的多个插座，微元件放置过程（930），对准可以具有放置在其上的另一个电极的第二基板的过程（940），以及切割过程（950）。用发射增强材料（例如低亲和性材料，导电，反射和/或发光材料，例如氧化镁，金，铝和/或磷光体涂层）掺杂或涂布微元件的另一种工艺（905）也可以提供。优选对面板进行测试，例如在每个过程之后对尺寸，形状，位置，材料特性或电功能进行测试，并存储和随后分析数据以确定过程和/或产品的必要修改。

6. 发明申请

WO99023683A1 METHOD OF MANUFACTURING A CATHODE RAY TUBE 审中-公开
标题翻译：制造阴极射线管的方法
公开(公告)号：WO99023683A1
公开(公告)日：1999-05-14
申请号：PCT/IB1998/001705
申请日：1998-10-26
IPC分类号： H01J9/42
CPC分类号： H01J9/42
摘要： To test a cathode ray tube or an apparatus comprising a cathode ray tube, a part of the electron gun is heated by means of high-frequency electromagnetic radiation. By virtue thereof, the warm-up period, that is the time which, after turning on the cathode ray tube, must elapse before the testing operation can be carried out, can be reduced, for example, from approximately 30 minutes to approximately 2 minutes.
摘要翻译：为了测试阴极射线管或包括阴极射线管的装置，电子枪的一部分通过高频电磁辐射被加热。因此，可以在例如从大约30分钟到大约2分钟之间减少预热时间，即在接通阴极射线管之后，必须经过测试操作之前的时间。

7. 发明申请

WO99018592A1 METHOD OF MANUFACTURING A DISPLAY DEVICE 审中-公开
标题翻译：制造显示装置的方法
公开(公告)号：WO99018592A1
公开(公告)日：1999-04-15
申请号：PCT/IB1998/001498
申请日：1998-09-28
IPC分类号： G09F9/00 , H01J9/42
CPC分类号： H01J9/42
摘要： A method of manufacturing a display device comprising an air-tight envelope and at least a glass part (3) which forms part of said air-tight envelope, is characterized in that the glass part (3) is warmed up, during a first time period, at a first temperature (T1), whereafter the glass part is immersed, during a second time period, in a fluid (32) at a second temperature (T2), said second temperature being lower than the first temperature (T2
摘要翻译：一种制造显示装置的方法，其特征在于，在第一时间期间，玻璃部分（3）被加热，所述显示装置包括气密外壳和至少形成所述气密外壳的一部分的玻璃部分（3）在第一温度（T1），然后玻璃部分在第二时间段内浸没在第二温度（T2）的流体（32）中，所述第二温度低于第一温度（T2

8. 发明申请

WO2009041008A1 放電管の封入ガス圧測定方法と放電管の製造方法审中-公开
标题翻译：用于测量电气放电管中密封气体的压力的方法及制造电放电管的方法
公开(公告)号：WO2009041008A1
公开(公告)日：2009-04-02
申请号：PCT/JP2008/002606
申请日：2008-09-22
申请人：パナソニック株式会社 , 森理夫
发明人：森理夫
IPC分类号： H01J9/42 , H01J9/395
CPC分类号： H01J9/42 , H01J9/395
摘要：　放電管（１）は、バルブ（２）と、バルブ（２）内に封入されたガス（６）と、バルブ（２）内に設けられた電極（４Ａ，４Ｂ）とを有する。バルブ（２）は長手方向に延び、長手方向に沿って互いに反対側に配列された第１の端部（３Ｂ）と第２の端部（３Ａ）とを有する。この放電管（１）のバルブ（２）の第１の端部（３Ｂ）を液体（７）中に漬けた状態で液体（７）を第１の端部（３Ｂ）からバルブ内に浸入させることにより、ガス（６）よりなる気泡（２０）をバルブ（２）内に発生させる。バルブ（２）の長手方向を水平に維持しながら、気泡（２０）の長手方向での長さを測定する。気泡（２０）の測定された長さに基づいて放電管（１）でのガス（６）の圧力を算出する。この方法により、簡便にかつ高精度で放電管（１）のバルブ（２）に封入されたガス（６）の圧力を測定することができる。
摘要翻译：放电管（1）具有灯泡（2），密封在灯泡（2）中的气体（6）和设置在灯泡（2）中的电极（4A，4B）。灯泡（2）具有第一和第二沿着灯泡（2）的长度方向延伸并沿长度方向设置在相对侧的端部（3B，3A）。第一端部（3B）浸没在液体（7）中，在该状态下，液体（7）通过第一端部（3B）进入灯泡，从而形成气体（20） 6）在灯泡（2）中。在水平地保持灯泡（2）的长度方向的同时，测量灯泡（2）的长度方向上的大小（20）的长度。从测量长度计算出放电管（1）中气体（6）的压力。利用该方法，可以简单且精确地确定密封在放电管（1）的灯泡（2）中的气体（6）的压力。

9. 发明申请

WO2005052975A1 プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法审中-公开
标题翻译：等离子显示面板照明检测方法
公开(公告)号：WO2005052975A1
公开(公告)日：2005-06-09
申请号：PCT/JP2004/017668
申请日：2004-11-22
申请人：松下電器産業株式会社 , 伊倉恒生 , 脇谷敬夫
发明人：伊倉恒生 , 脇谷敬夫
IPC分类号： H01J9/42
CPC分类号： H01J9/42 , G09G3/006 , G09G3/2022 , G09G3/293 , G09G2310/0218 , H01J2217/49
摘要： A method of inspecting lighting of a plasma display panel in which cells are formed at two-level crossings between electrodes arranged in the row direction and electrodes arranged in the column direction and gradation display is conducted by combining subfields constituting one field for lighting. In a predetermined subfield, not applying a write pulse voltage to a cell to be inspected a write pulse voltage is applied to at least one specific cell which is one of the cells adjacent to the cell to be inspected, and in the next subfield a write pulse voltage is applied to the cell to be inspected. If there is a defect in the partition of the cell to be inspected, the discharge in the adjacent cells adversely influences through the defective partition the amount of charge of the partition of the cell to be inspected. As a result, in the next subfield, the cell to be inspected does not light. Thus lighting failure caused by the defective partition can be detection.
摘要翻译：通过组合用于点亮的一个场的子场来进行等离子体显示面板的照明方法，该等离子体显示面板中的电池形成在沿行方向排列的电极和排列在列方向上的电极和灰度显示之间的两级交叉处。在预定的子场中，不向要检查的单元施加写入脉冲电压，写入脉冲电压被施加到与被检测单元相邻的单元之一的至少一个特定单元，并且在下一个子场中写入将脉冲电压施加到要检查的电池。如果要检查的单元的分区存在缺陷，则相邻单元中的放电通过缺陷分区对待检查单元的分区的电荷量产生不利影响。结果，在下一个子场中，待检查的单元不亮。因此，可以检测由故障分区引起的照明故障。

10. 发明申请

WO2005034166A1 ディスプレイパネルの点灯検査装置およびディスプレイパネルの製造方法审中-公开
标题翻译：用于显示面板和显示面板生产方法的照明检查装置
公开(公告)号：WO2005034166A1
公开(公告)日：2005-04-14
申请号：PCT/JP2004/014573
申请日：2004-09-28
申请人：松下電器産業株式会社 , 伊倉恒生 , 脇谷敬夫 , 大谷俊哉
发明人：伊倉恒生 , 脇谷敬夫 , 大谷俊哉
IPC分类号： H01J9/42
CPC分类号： H01J9/42
摘要：ディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、製品状態のディスプレイパネルの表示状態と同等の表示状態を実現し、検査精度を向上させる。ディスプレイパネル（２１）を点灯表示させて検査を行う点灯検査装置において、ディスプレイパネル（２１）を点灯表示させるための駆動回路を設けた回路基板（２７）と、駆動回路の接地電位となる導電性を有するシャーシ（２５）と、このシャーシ（２５）に固定され且つ回路基板（２７）を取り付けるための導電性を有する支柱（２６）とを有し、シャーシ（２５）と支柱（２６）とは軟質金属（２８）を介して接続されている。
摘要翻译：在显示面板的照明检查中，实现与产品状态下的显示面板相同的显示条件，以提高检查精度。用于进行用于显示的点亮显示面板（21）的检查的照明检查装置具有电路基板（27），设置有用于显示显示面板（21）的点亮用驱动电路，具有导电性的底座（25）为驱动电路提供接地电位，以及固定到底架（25）并且其上安装有电路板（27）的导电柱（26）。底架（25）和支柱（26）之间与软金属（28）连接。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式