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    • 10. 发明授权
    • Lithographic apparatus and method
    • 平版印刷设备和方法
    • US07714981B2
    • 2010-05-11
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    • 2006-10-30
    • Johannes OnvleeErik Roelof Loopstra
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    • G03B27/42
    • G03F7/70775G03F1/42G03F1/44G03F7/707G03F9/7011
    • In a lithographic apparatus, a slip of a patterning device relative to a support, the support being constructed to support the patterning device, may be provided by: measuring a position of the support relative to a structure of the lithographic apparatus; measuring a position of the patterning device relative to the structure of the lithographic apparatus; determining a correlation between the position of the patterning device and the position of the support; and deriving from the correlation a slip of the patterning device relative to the support. The structure may include a projection system to project a radiation beam patterned by the patterning device onto a target portion of the substrate. The projection system may be connected to a frame, such as a metrology frame of the lithographic apparatus.
    • 在光刻设备中,图案形成装置相对于支撑件的滑动可以通过以下方式来提供:测量支撑件相对于光刻设备的结构的位置; 测量所述图案形成装置相对于所述光刻设备的结构的位置; 确定图案形成装置的位置与支撑件的位置之间的相关性; 并且从相关性导出图案形成装置相对于支撑件的滑移。 该结构可以包括投影系统,以将由图案形成装置图案化的辐射束投影到基板的目标部分上。 投影系统可以连接到诸如光刻设备的计量框架的框架。