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    • 6. 发明授权
    • Packaged integrated circuit and method therefor
    • 封装集成电路及其方法
    • US06617524B2
    • 2003-09-09
    • US10013401
    • 2001-12-11
    • Nhat D. Vo
    • Nhat D. Vo
    • H05K100
    • H01L21/565H01L2224/49171
    • To mitigate mold encapsulant bleeding and solder mask cracking in plastic semiconductor packages, a damming structure constructed from metal traces is formed in-line with the encapsulant perimeter. In one embodiment, each damming trace is connected to only one electrical trace, which includes a bonding connection, a signal portion and a plating portion. The damming traces can consist of one trace that is wider than any of the signal traces or multiple rows of traces, for example. The result is a reduction in mold encapsulant bleeding and, thus, an eradication of the processes performed to clean the bleeding.
    • 为了减轻塑料半导体封装中的模具密封剂渗出和焊接掩模开裂,由金属迹线构成的阻塞结构与密封剂周边成一直线。 在一个实施例中,每个阻塞迹线仅连接到一个电迹线,其包括接合连接,信号部分和电镀部分。 例如,阻挡迹线可以包括比任何信号迹线或多行迹线更宽的一条迹线。 结果是模具密封剂渗血减少,因此消除了清洁出血所进行的过程。