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1. 发明专利

TW201813306A 驅動裝置及電力供給系統审中-公开
简体标题：驱动设备及电力供给系统
公开(公告)号：TW201813306A
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW106119380
申请日：2017-06-12
申请人：瑞薩電子股份有限公司 , RENESAS ELECTRONICS CORPORATION
发明人：歸山隼一 , KAERIYAMA, SHUNICHI
IPC分类号： H03K17/04 , H03K17/14 , H03K17/16
CPC分类号： H03K17/0406 , H03K17/14 , H03K17/167
摘要：本發明之目的在於提供一種可反映製造過程或外部環境的差異同時以低電力驅動功率電晶體的驅動裝置以及電力供給系統。為了達成上述目的，本發明之觸發檢出電路TDET，在功率電晶體TR的開關期間，監視其端子間電壓或端子間電流，並檢出端子間電壓或端子間電流已到達既定的基準值。電流切換電路ISWC，從複數個暫存器REG1～REGn之中選擇輸出到可變電流驅動器電路IDVC的暫存器，在開關期間，以觸發檢出電路TDET的檢出結果為觸發信號切換所選擇之暫存器，藉此，令可變電流驅動器電路IDVC的驅動電流變化。
简体摘要：本发明之目的在于提供一种可反映制造过程或外部环境的差异同时以低电力驱动功率晶体管的驱动设备以及电力供给系统。为了达成上述目的，本发明之触发检出电路TDET，在功率晶体管TR的开关期间，监视其端子间电压或端子间电流，并检出端子间电压或端子间电流已到达既定的基准值。电流切换电路ISWC，从复数个寄存器REG1～REGn之中选择输出到可变电流驱动器电路IDVC的寄存器，在开关期间，以触发检出电路TDET的检出结果为触发信号切换所选择之寄存器，借此，令可变电流驱动器电路IDVC的驱动电流变化。

2. 发明专利

TW201725467A 用於相關電子開關的可程式化電流审中-公开
简体标题：用于相关电子开关的可进程化电流
公开(公告)号：TW201725467A
公开(公告)日：2017-07-16
申请号：TW105125722
申请日：2016-08-12
申请人： ARM股份有限公司 , ARM LIMITED
发明人：桑德胡巴爾S , SANDHU, BAL S. , 拉鐵摩爾喬治麥克內爾 , LATTIMORE, GEORGE MCNEIL , 阿金羅伯特坎貝爾 , AITKEN, ROBERT CAMPBELL
IPC分类号： G05F1/46
CPC分类号： H03K17/14 , G11C13/0007 , G11C13/0069 , G11C29/021 , G11C29/028 , G11C2013/0078 , H01L45/04 , H01L45/146 , H01L45/149 , H01L49/003
摘要：本文中所揭示的標的物可係關於用於相關電子開關的可程式化電流。
简体摘要：本文中所揭示的标的物可系关于用于相关电子开关的可进程化电流。

3. 发明专利

TW200740120A 溫度補償電路以及測試裝置 TEMPERATURE COMPENSATION CIRCUIT AND TEST EQUIPMENT 失效
简体标题：温度补偿电路以及测试设备 TEMPERATURE COMPENSATION CIRCUIT AND TEST EQUIPMENT
公开(公告)号：TW200740120A
公开(公告)日：2007-10-16
申请号：TW096101892
申请日：2007-01-18
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：桑名勇治 KUWANA, YUJI , 梅村芳春 UMEMURA, YOSHIHARU , 關野隆 SEKINO, TAKASHI
IPC分类号： H03K , G01R
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/2874 , H03K17/14 , H03K17/30
摘要：本發明提供一種溫度補償電路,其有效地對由邏輯電路所具有的開關元件的溫度變化引起的切換時序偏差進行補償。本發明的溫度補償電路對由邏輯電路所具有的開關元件的溫度變化引起的切換時序偏差進行補償,此溫度補償電路包括:溫度檢測部,該溫度檢測部檢測與開關元件的溫度相對應的値;以及修正部,該修正部根據與溫度相對應的値,在減小由開關元件的溫度變化引起的切換時序偏差的方向上,對自前段電路輸入至邏輯電路的邏輯訊號的電壓進行修正。
简体摘要：本发明提供一种温度补偿电路,其有效地对由逻辑电路所具有的开关组件的温度变化引起的切换时序偏差进行补偿。本发明的温度补偿电路对由逻辑电路所具有的开关组件的温度变化引起的切换时序偏差进行补偿,此温度补偿电路包括:温度检测部,该温度检测部检测与开关组件的温度相对应的値;以及修正部,该修正部根据与温度相对应的値,在减小由开关组件的温度变化引起的切换时序偏差的方向上,对自前段电路输入至逻辑电路的逻辑信号的电压进行修正。

4. 发明专利

TW201643442A 溫度補償電路以及感測裝置审中-公开
简体标题：温度补偿电路以及传感设备
公开(公告)号：TW201643442A
公开(公告)日：2016-12-16
申请号：TW105115241
申请日：2016-05-18
申请人：精工半導體有限公司 , SII SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：有山稔 , ARIYAMA, MINORU
IPC分类号： G01R1/44 , G01R33/07
CPC分类号： G01R33/0082 , G01R33/07 , H03K17/14
摘要：本發明提供一種可僅對溫度補償量進行獨立調整的溫度補償電路。所述溫度補償電路包括：第一溫度補償電壓端子，設置於第一電阻與第二電阻的連接點；第二溫度補償電壓端子，設置於第三電阻與第四電阻的連接點；第一電壓端子，設置於第一電阻與第四電阻的連接點；第二電壓端子，設置於第二電阻與第三電阻的連接點；第五電阻，連接於電源端子與第一電壓端子之間；以及第六電阻，連接於接地端子與第二電壓端子之間。
简体摘要：本发明提供一种可仅对温度补偿量进行独立调整的温度补偿电路。所述温度补偿电路包括：第一温度补偿电压端子，设置于第一电阻与第二电阻的连接点；第二温度补偿电压端子，设置于第三电阻与第四电阻的连接点；第一电压端子，设置于第一电阻与第四电阻的连接点；第二电压端子，设置于第二电阻与第三电阻的连接点；第五电阻，连接于电源端子与第一电压端子之间；以及第六电阻，连接于接地端子与第二电压端子之间。

5. 发明专利

TWI401887B 溫度補償電路以及測試裝置失效
简体标题：温度补偿电路以及测试设备
公开(公告)号：TWI401887B
公开(公告)日：2013-07-11
申请号：TW096101892
申请日：2007-01-18
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：桑名勇治 , KUWANA, YUJI , 梅村芳春 , UMEMURA, YOSHIHARU , 關野隆 , SEKINO, TAKASHI
IPC分类号： H03K3/011 , G01R31/3181
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/2874 , H03K17/14 , H03K17/30

6. 发明专利

TWI350678B 降頻變頻混頻器之補償校正 OFFSET CORRECTION FOR DOWN-CONVERSION MIXERS 有权
简体标题：降频变频混频器之补偿校正 OFFSET CORRECTION FOR DOWN-CONVERSION MIXERS
公开(公告)号：TWI350678B
公开(公告)日：2011-10-11
申请号：TW092119837
申请日：2003-07-21
申请人：意法易利信股份有限公司
发明人：威廉利德曼懷特
IPC分类号： H04L
CPC分类号： H03D7/1425 , H03B2201/0208 , H03D7/1433 , H03D7/1458 , H03D2200/0043 , H03D2200/0047 , H03D2200/009 , H03K17/14 , H03K17/603 , H03K17/6264
摘要：本發明揭示一種直接變頻接收器(200)，其包括提供在直接變頻混頻器(250)中由於元件不匹配而導致之偏壓補償之一測值之一檢波器(230)，及依據此一測值減低該偏壓補償之一校正網路(240)。直接變頻混頻器(250)藉與一本局-振盪器(LO)信號混合解調該一射頻(RF)輸入信號以提供一差動基帶輸出信號。一差動峰值檢波器在混頻器之差動輸出之每一側上比較該峰值信號值，及一差動積分器(245)平均這些峰信號值間之差異以提供偏壓補償之測值。校正網路(240)對提供有差動輸出之每一切換對之每一本局振盪器通路上加一校正補償，但與本局振盪器連接相反。藉對每一對中之相反電晶體加上校正補償，可減低在切換時間中對間之差異，及，相同的，亦將來自本局振盪器至RF輸入級之差動-模式洩漏予以減低。
简体摘要：本发明揭示一种直接变频接收器(200)，其包括提供在直接变频混频器(250)中由于组件不匹配而导致之偏压补偿之一测值之一检波器(230)，及依据此一测值减低该偏压补偿之一校正网络(240)。直接变频混频器(250)藉与一本局-振荡器(LO)信号混合解调该一射频(RF)输入信号以提供一差动基带输出信号。一差动峰值检波器在混频器之差动输出之每一侧上比较该峰值信号值，及一差动积分器(245)平均这些峰信号值间之差异以提供偏压补偿之测值。校正网络(240)对提供有差动输出之每一切换对之每一本局振荡器通路上加一校正补偿，但与本局振荡器连接相反。藉对每一对中之相反晶体管加上校正补偿，可减低在切换时间中对间之差异，及，相同的，亦将来自本局振荡器至RF输入级之差动-模式泄漏予以减低。

7. 发明专利

TW201535972A 半導體裝置审中-公开
简体标题：半导体设备
公开(公告)号：TW201535972A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW103136443
申请日：2014-10-22
申请人：豐田自動車股份有限公司 , TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA
发明人：早稲倉真樹 , WASEKURA, MASAKI
IPC分类号： H03K17/082 , H03K17/14 , H03K17/56
CPC分类号： H03K5/08 , H03K17/0828 , H03K17/14 , H03K17/18 , H03K17/567 , H03K17/74 , H03K2217/0027
摘要：一種半導體裝置包括一電晶體(12)、一二極體(15)、一感測電晶體(13)、一感測二極體(16)、一電阻器(20)、及一箝位電路(30)。二極體係反向並聯連接至電晶體。電阻器在電阻器的一端係連接至感測電晶體的射極和感測二極體的陽極，且在電阻器的另一端係連接至電晶體的射極和二極體的陽極。箝位電路係配置以當一感測二極體電流流動時箝住在電阻器中產生的一電壓。一感測二極體電流與流至二極體之電流的比率係大於一感測電流與流至電晶體之電流的比率。
简体摘要：一种半导体设备包括一晶体管(12)、一二极管(15)、一传感晶体管(13)、一传感二极管(16)、一电阻器(20)、及一箝位电路(30)。二极管系反向并联连接至晶体管。电阻器在电阻器的一端系连接至传感晶体管的射极和传感二极管的阳极，且在电阻器的另一端系连接至晶体管的射极和二极管的阳极。箝位电路系配置以当一传感二极管电流流动时箝住在电阻器中产生的一电压。一传感二极管电流与流至二极管之电流的比率系大于一传感电流与流至晶体管之电流的比率。

8. 发明专利

TW200410532A 降頻變頻混頻器之補償校正 OFFSET CORRECTION FOR DOWN-CONVERSION MIXERS 审中-公开
简体标题：降频变频混频器之补偿校正 OFFSET CORRECTION FOR DOWN-CONVERSION MIXERS
公开(公告)号：TW200410532A
公开(公告)日：2004-06-16
申请号：TW092119837
申请日：2003-07-21
申请人：皇家飛利浦電子股份有限公司 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
发明人：威廉利德曼-懷特
IPC分类号： H04L
CPC分类号： H03D7/1425 , H03B2201/0208 , H03D7/1433 , H03D7/1458 , H03D2200/0043 , H03D2200/0047 , H03D2200/009 , H03K17/14 , H03K17/603 , H03K17/6264
摘要：本發明揭示一種直接變頻接收器(200)，其包括提供在直接變頻混頻器(250)中由於元件不匹配而導致之偏壓補償之一測值之一檢波器(230)，及依據此一測值減低該偏壓補償之一校正網路(240)。直接變頻混頻器(250)藉與一本局–振盪器(LO)信號混合解調該一射頻(RF)輸入信號以提供一差動基帶輸出信號。一差動峰值檢波器在混頻器之差動輸出之每一側上比較該峰值信號值，及一差動積分器(245)平均這些峰信號值間之差異以提供偏壓補償之測值。校正網路(240)對提供有差動輸出之每一切換對之每一本局振盪器通路上加一校正補償，但與本局振盪器連接相反。藉對每一對中之相反電晶體加上校正補償，可減低在切換時間中對間之差異，及，相同的，亦將來自本局振盪器至RF輸入級之差動–模式洩漏予以減低。
简体摘要：本发明揭示一种直接变频接收器(200)，其包括提供在直接变频混频器(250)中由于组件不匹配而导致之偏压补偿之一测值之一检波器(230)，及依据此一测值减低该偏压补偿之一校正网络(240)。直接变频混频器(250)藉与一本局–振荡器(LO)信号混合解调该一射频(RF)输入信号以提供一差动基带输出信号。一差动峰值检波器在混频器之差动输出之每一侧上比较该峰值信号值，及一差动积分器(245)平均这些峰信号值间之差异以提供偏压补偿之测值。校正网络(240)对提供有差动输出之每一切换对之每一本局振荡器通路上加一校正补偿，但与本局振荡器连接相反。藉对每一对中之相反晶体管加上校正补偿，可减低在切换时间中对间之差异，及，相同的，亦将来自本局振荡器至RF输入级之差动–模式泄漏予以减低。

9. 发明专利

TW227635B 附有電流檢測功能之電晶體失效
简体标题：附有电流检测功能之晶体管
公开(公告)号：TW227635B
公开(公告)日：1994-08-01
申请号：TW082102027
申请日：1993-03-19
申请人：豐田自動織機製作所股份有限公司
发明人：森昌吾
IPC分类号： H03K
CPC分类号： H03K17/0826 , H01L27/0248 , H03K17/14
摘要：（目的）使檢測結果之感測電壓不隨溫度之變化而變化而能檢測高精確度之電流。（構成）一種附有電流檢測功能之電晶體Tr具備有使主電流，流過之主電晶體部與檢測流經該主電晶體部之電流之感測電晶體部，感測電阻Rs具有一適當之溫度係數，能使感測電壓Vs不隨溫度變化而變動而保持一定，該感測電阻Rs係設置於感測電晶體部之射極。由感測電阻 Rs 之兩端可以獲得沒有溫度漂移(temperature drift)之感測電壓Vs。
简体摘要：（目的）使检测结果之传感电压不随温度之变化而变化而能检测高精确度之电流。（构成）一种附有电流检测功能之晶体管Tr具备有使主电流，流过之主晶体管部与检测流经该主晶体管部之电流之传感晶体管部，传感电阻Rs具有一适当之温度系数，能使传感电压Vs不随温度变化而变动而保持一定，该传感电阻Rs系设置于传感晶体管部之射极。由传感电阻 Rs 之两端可以获得没有温度漂移(temperature drift)之传感电压Vs。

10. 发明专利

TWI555330B 半導體裝置有权
简体标题：半导体设备
公开(公告)号：TWI555330B
公开(公告)日：2016-10-21
申请号：TW103136443
申请日：2014-10-22
申请人：豐田自動車股份有限公司 , TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA
发明人：早稲倉真樹 , WASEKURA, MASAKI
IPC分类号： H03K17/082 , H03K17/14 , H03K17/56
CPC分类号： H03K5/08 , H03K17/0828 , H03K17/14 , H03K17/18 , H03K17/567 , H03K17/74 , H03K2217/0027

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