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1. 发明专利

TW200938856A 品種交換單元以及其製造方法 VARIETY EXCHANGING UNIT AND PRODUCTION METHOD 失效
简体标题：品种交换单元以及其制造方法 VARIETY EXCHANGING UNIT AND PRODUCTION METHOD
公开(公告)号：TW200938856A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：TW098103665
申请日：2009-02-05
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：宮田健 MIYATA, KEN
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07371 , G01R1/0483 , G01R1/06772
摘要：一種於測試裝置中信號的劣化較少的品種交換單元。該品種交換單元對應於被測試元件的品種而安裝於測試裝置中,且插入於被測試元件及測試裝置之間的信號路徑上,該品種交換單元包括:插座板,具有表面及背面,且被測試元件可接近及遠離該插座板的表面側;以及多個彈簧銷,以與被測試元件的連接端子相同的配置而由插座板支撐著,且,前端自插座板的表面突出並抵接於被測試元件的連接端子。
简体摘要：一种于测试设备中信号的劣化较少的品种交换单元。该品种交换单元对应于被测试组件的品种而安装于测试设备中,且插入于被测试组件及测试设备之间的信号路径上,该品种交换单元包括:插座板,具有表面及背面,且被测试组件可接近及远离该插座板的表面侧;以及多个弹簧销,以与被测试组件的连接端子相同的配置而由插座板支撑着,且,前端自插座板的表面突出并抵接于被测试组件的连接端子。

2. 发明专利

TWI314214B 測試裝置 TEST DEVICE 失效
简体标题：测试设备 TEST DEVICE
公开(公告)号：TWI314214B
公开(公告)日：2009-09-01
申请号：TW095114678
申请日：2006-04-25
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：長谷川崇 HASEGAWA, TAKASHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31922
摘要：一種測試裝置,包括;第1時序比較器,藉由第1選通信號取得DUT的輸出信號;第2時序比較器,藉由使第1選通信號延遲之第2選通信號取得DUT的輸出信號;先行邊緣判定電路,判定上升信號及下降信號之哪一個較先到達時序比較器;邊緣檢測電路,為了藉由第1及第2時序比較器取得較先到達之信號及較後到達之信號而調整延遲量;及閘與或閘,輸入第1及第2時序比較器的輸出;比較結果選擇電路,根據上升信號及下降信號之哪一個較先到達,選擇及閘或或閘的輸出。
简体摘要：一种测试设备,包括;第1时序比较器,借由第1选通信号取得DUT的输出信号;第2时序比较器,借由使第1选通信号延迟之第2选通信号取得DUT的输出信号;先行边缘判定电路,判定上升信号及下降信号之哪一个较先到达时序比较器;边缘检测电路,为了借由第1及第2时序比较器取得较先到达之信号及较后到达之信号而调整延迟量;及闸与或闸,输入第1及第2时序比较器的输出;比较结果选择电路,根据上升信号及下降信号之哪一个较先到达,选择及闸或或闸的输出。

3. 发明专利

TW200931046A 測試裝置、測試方法、量測裝置以及量測方法 TEST APPARATUS, TEST METHOD, MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD 失效
简体标题：测试设备、测试方法、量测设备以及量测方法 TEST APPARATUS, TEST METHOD, MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD
公开(公告)号：TW200931046A
公开(公告)日：2009-07-16
申请号：TW097148285
申请日：2008-12-11
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：佐原厚生 SAWARA, ATSUO , 宮地祐一 MIYAJI, YUICHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31937 , G01R31/31709
摘要：一種測試裝置,對被測試元件輸入數據信號和用於表示應接收數據信號的時序之選通信號,並在選通信號所指定的時序取入數據信號,對被測試元件的耐跳動性進行測試的測試裝置而且,該測試裝置包括:信號生成部,其生成供給到被測試元件的數據信號及選通信號;跳動施加部,其對數據信號或選通信號施加合成跳動,該合成跳動是將數據信號應容許的數據跳動和選通信號應容許的選通跳動進行合成;信號供給部,其將一方施加了合成跳動的數據信號及選通信號供給到被測試元件。
简体摘要：一种测试设备,对被测试组件输入数据信号和用于表示应接收数据信号的时序之选通信号,并在选通信号所指定的时序取入数据信号,对被测试组件的耐跳动性进行测试的测试设备而且,该测试设备包括:信号生成部,其生成供给到被测试组件的数据信号及选通信号;跳动施加部,其对数据信号或选通信号施加合成跳动,该合成跳动是将数据信号应容许的数据跳动和选通信号应容许的选通跳动进行合成;信号供给部,其将一方施加了合成跳动的数据信号及选通信号供给到被测试组件。

4. 发明专利

TW200921125A 電子元件以及診斷裝置 ELECTRONIC DEVICE AND DIAGNOSIS APPARATUS 失效
简体标题：电子组件以及诊断设备 ELECTRONIC DEVICE AND DIAGNOSIS APPARATUS
公开(公告)号：TW200921125A
公开(公告)日：2009-05-16
申请号：TW097132779
申请日：2008-08-27
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：秦真彥 HATA, MASAHIKO
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31721 , G01R31/3016
摘要：本發明的目的是提供一種電子元件以及診斷裝置。本發明的電子元件包括:多個電路,其與時脈信號同步地進行動作;多個正反器,其與時脈信號同步地取得從多個電路所輸出的信號的數據値,並保持到下一時脈信號的輸入為止,在對禁止終端賦予信號的情況下,該些多個正反器成為持續保持所取得的數據値之時脈禁止狀態;時序控制部,其對多個正反器的各個禁止終端,在應診斷電路的時序中使保持信號輸出;以及多條診斷用配線,其與多個正反器分別對應而設置,並將對應的正反器所保持的數據値作為診斷用數據而輸出。
简体摘要：本发明的目的是提供一种电子组件以及诊断设备。本发明的电子组件包括:多个电路,其与时脉信号同步地进行动作;多个正反器,其与时脉信号同步地取得从多个电路所输出的信号的数据値,并保持到下一时脉信号的输入为止,在对禁止终端赋予信号的情况下,该些多个正反器成为持续保持所取得的数据値之时脉禁止状态;时序控制部,其对多个正反器的各个禁止终端,在应诊断电路的时序中使保持信号输出;以及多条诊断用配线,其与多个正反器分别对应而设置,并将对应的正反器所保持的数据値作为诊断用数据而输出。

5. 发明专利

TW200921112A 電源穩定化電路、電子元件以及測試裝置 POWER SOURCE STABILIZING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE AND TESTING INSTRUMENT 失效
简体标题：电源稳定化电路、电子组件以及测试设备 POWER SOURCE STABILIZING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE AND TESTING INSTRUMENT
公开(公告)号：TW200921112A
公开(公告)日：2009-05-16
申请号：TW097133626
申请日：2008-09-02
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：小島昭二 KOJIMA, SHOJI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/31721 , G01R31/31924
摘要：一種電源穩定化電路,設於電子元件的晶片內,使供給至電子元件的動作電路的電源電壓穩定化,其包括:放大器,對主電源配線中的電源電壓的變動成分進行檢測,且將所測得的變動成分放大並輸出,上述主電源配線用於將電源電壓供給至動作電路;以及穩定化電容器,設於放大器的輸出端及主電源配線之間,且根據放大器的輸出,來將用以抑制主電源配線中的電源電壓的變動的電流供給至主電源配線。
简体摘要：一种电源稳定化电路,设于电子组件的芯片内,使供给至电子组件的动作电路的电源电压稳定化,其包括:放大器,对主电源配线中的电源电压的变动成分进行检测,且将所测得的变动成分放大并输出,上述主电源配线用于将电源电压供给至动作电路;以及稳定化电容器,设于放大器的输出端及主电源配线之间,且根据放大器的输出,来将用以抑制主电源配线中的电源电压的变动的电流供给至主电源配线。

6. 发明专利

TW200919172A 電子元件、主機裝置、通訊系統以及程式 ELECTRONIC ELEMENT, HOST DEVICE, COMMUNICATION SYSTEM AND PROGRAM 失效
简体标题：电子组件、主机设备、通信系统以及进程 ELECTRONIC ELEMENT, HOST DEVICE, COMMUNICATION SYSTEM AND PROGRAM
公开(公告)号：TW200919172A
公开(公告)日：2009-05-01
申请号：TW097124904
申请日：2008-07-02
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：岡安俊幸 OKAYASU, TOSHIYUKI
IPC分类号： G06F , G01R
CPC分类号： G06F11/24 , G01R31/2884 , G01R31/31908
摘要：本發明的目的是提供一種通信系統,為一種包括主機裝置和電子元件的通信系統,該電子元件是安裝在通過主機裝置和網路而進行通信的機器中;其中,電子元件包括:動作電路,其在電子元件的安裝時動作;診斷電路,其對動作電路進行測試;以及結果發送部,其將診斷電路的測試結果通過網路而發送到主機裝置;而且,主機裝置包括:測試資訊存儲部,其預先存儲用於表示診斷電路應執行的測試內容之測試資訊;以及測試資訊發送部,其在電子元件要求測試資訊的情況下,將測試資訊發送到電子元件。
简体摘要：本发明的目的是提供一种通信系统,为一种包括主机设备和电子组件的通信系统,该电子组件是安装在通过主机设备和网络而进行通信的机器中;其中,电子组件包括:动作电路,其在电子组件的安装时动作;诊断电路,其对动作电路进行测试;以及结果发送部,其将诊断电路的测试结果通过网络而发送到主机设备;而且,主机设备包括:测试信息存储部,其预先存储用于表示诊断电路应运行的测试内容之测试信息;以及测试信息发送部,其在电子组件要求测试信息的情况下,将测试信息发送到电子组件。

7. 发明专利

TW200915334A 冗餘線分配裝置、記憶體修補裝置、冗餘線分配方法、記憶體製造方法以及電腦可讀取媒體 SPARE LINE ALLOCATION DEVICE, MEMORY SUPPLEMENTARY DEVICE, SPARE LINE ALLOCATION METHOD, MEMORY MANUFACTION METHOD AND COMPUTER READIBLE MEDIA 审中-公开
简体标题：冗余线分配设备、内存修补设备、冗余线分配方法、内存制造方法以及电脑可读取媒体 SPARE LINE ALLOCATION DEVICE, MEMORY SUPPLEMENTARY DEVICE, SPARE LINE ALLOCATION METHOD, MEMORY MANUFACTION METHOD AND COMPUTER READIBLE MEDIA
公开(公告)号：TW200915334A
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：TW097127654
申请日：2008-07-21
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：藤井俊朗 FUJII, TOSHIRO
IPC分类号： G11C
CPC分类号： G11C29/44 , G11C29/72
摘要：一種冗餘線分配裝置,針對設有多條冗餘線的記憶體,來決定對哪一條失效線分配冗餘線,此冗餘線分配裝置具備:位元計數部,對於各條失效線中所含的各個失效位元,將包含該失效位元且與該失效線不同方向的失效線所具有的失效位元的個數作為正交失效位元數而進行計數,並對應每個失效位元而存儲正交失效位元數;加權計算部,根據各條失效線中所含的失效位元的正交失效位元數,來計算各條失效線的加權係數,並對應每條失效線而存儲加權係數;以及分配部,根據加權計算部已計算出的加權係數的大小關係,來決定對哪一條失效線分配冗餘線。
简体摘要：一种冗余线分配设备,针对设有多条冗余线的内存,来决定对哪一条失效线分配冗余线,此冗余线分配设备具备:比特计数部,对于各条失效线中所含的各个失效比特,将包含该失效比特且与该失效线不同方向的失效线所具有的失效比特的个数作为正交失效比特数而进行计数,并对应每个失效比特而存储正交失效比特数;加权计算部,根据各条失效线中所含的失效比特的正交失效比特数,来计算各条失效线的加权系数,并对应每条失效线而存储加权系数;以及分配部,根据加权计算部已计算出的加权系数的大小关系,来决定对哪一条失效线分配冗余线。

8. 发明专利

TW200912350A 波形產生裝置、波形產生方法以及程式 WAVEFORM GENERATING DEVICE, WAVEFORM GENERATING METHOD AND PROGRAM 失效
简体标题：波形产生设备、波形产生方法以及进程 WAVEFORM GENERATING DEVICE, WAVEFORM GENERATING METHOD AND PROGRAM
公开(公告)号：TW200912350A
公开(公告)日：2009-03-16
申请号：TW097120636
申请日：2008-06-03
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：高橋毅 TAKAHASHI, TAKESHI , 田雅之 TOMITA, MASAYUKI
IPC分类号： G01R , G06F
CPC分类号： G01R31/2841 , G06F1/0321
摘要：一種波形產生裝置,可產生任意波形的信號,該波形產生裝置包括:波形記憶體,記憶著分別包含信號値的系列的多個波形資料;濾波處理部,從波形記憶體中,讀出多個波形資料中作為應產生的波形的來源的波形資料,並將所讀出的波形資料過濾後轉換為已轉換的波形資料,並將該已轉換的波形資料寫入到波形記憶體中;以及波形輸出部,從波形記憶體中讀出已轉換的波形資料,並將所讀出的已轉換的波形資料的信號値的系列所對應的波形的信號輸出。
简体摘要：一种波形产生设备,可产生任意波形的信号,该波形产生设备包括:波形内存,记忆着分别包含信号値的系列的多个波形数据;滤波处理部,从波形内存中,读出多个波形数据中作为应产生的波形的来源的波形数据,并将所读出的波形数据过滤后转换为已转换的波形数据,并将该已转换的波形数据写入到波形内存中;以及波形输出部,从波形内存中读出已转换的波形数据,并将所读出的已转换的波形数据的信号値的系列所对应的波形的信号输出。

9. 发明专利

TW200912349A 測試裝置以及傳送裝置 TESTING DEVICE AND TRANSMITTING DEVICE 审中-公开
简体标题：测试设备以及发送设备 TESTING DEVICE AND TRANSMITTING DEVICE
公开(公告)号：TW200912349A
公开(公告)日：2009-03-16
申请号：TW097126164
申请日：2008-07-10
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：篠島圭 SASAJIMA, KEI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/3193 , G01R31/31922 , G01R31/31924
摘要：一種測試裝置,包括測試信號產生部、主驅動部、複製驅動部、電阻分壓部、比較部、判定部與調整部。測試信號產生部產生測試信號。主驅動部輸出輸出電壓至與被測試元件連接的輸入輸出接腳。複製驅動部輸出對應測試信號的比較電壓。電阻分壓部產生對比較電壓進行電阻分壓後所得的分壓電壓。比較部比較輸入輸出接腳的電壓與分壓電壓。判定部根據比較部的比較結果來判定被測試元件是否優良。在主驅動部輸出輸出電壓且被測試元件的信號輸入輸出端子未輸出響應信號的狀態下,調整部使分壓電壓相同於輸入輸出接腳的電壓加上臨界電壓所得的電壓。
简体摘要：一种测试设备,包括测试信号产生部、主驱动部、复制驱动部、电阻分压部、比较部、判定部与调整部。测试信号产生部产生测试信号。主驱动部输出输出电压至与被测试组件连接的输入输出接脚。复制驱动部输出对应测试信号的比较电压。电阻分压部产生对比较电压进行电阻分压后所得的分压电压。比较部比较输入输出接脚的电压与分压电压。判定部根据比较部的比较结果来判定被测试组件是否优良。在主驱动部输出输出电压且被测试组件的信号输入输出端子未输出响应信号的状态下,调整部使分压电压相同于输入输出接脚的电压加上临界电压所得的电压。

10. 发明专利

TW200912295A 荷電粒子線檢查裝置及荷電粒子線檢查方法失效
简体标题：荷电粒子线检查设备及荷电粒子线检查方法
公开(公告)号：TW200912295A
公开(公告)日：2009-03-16
申请号：TW097120235
申请日：2008-05-30
申请人：愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION
发明人：伊藤啓介 ITOU, KEISUKE , 岩井俊道 IWAI, TOSHIMICHI
IPC分类号： G01N , H01J
CPC分类号： H01J37/28 , G01B15/00 , H01J37/20 , H01J37/266 , H01J2237/0041 , H01J2237/10
摘要：本發明之課題係提供可輕易且在短時間進行試樣表面電位之穩定化,可以良好精確度測量試樣之電子束尺寸測量裝置及電子束尺寸測量方法。荷電粒子線檢查裝置包含有發射電子束之電子槍、使前述電子束聚焦之第1聚光透鏡及第2聚光透鏡、配置於前述第1聚光透鏡與第2聚光透鏡間之電子束控制板及控制部,該控制部係進行穩定化處理者,該穩定化處理係令供給至前述第1聚光透鏡及第2聚光透鏡之激磁電流為預定値,調整通過前述電子束控制板開口之電子束之電流量,令照射至試樣之電子束之電流量大於測量時,將該電子束照射至該試樣上預定時間。控制部於進行穩定化處理後,使供給至第1聚光透鏡及第2聚光透鏡之激磁電流回復至測量時之値,進行試樣之尺寸測量。
简体摘要：本发明之课题系提供可轻易且在短时间进行试样表面电位之稳定化,可以良好精确度测量试样之电子束尺寸测量设备及电子束尺寸测量方法。荷电粒子线检查设备包含有发射电子束之电子枪、使前述电子束聚焦之第1聚光透镜及第2聚光透镜、配置于前述第1聚光透镜与第2聚光透镜间之电子束控制板及控制部,该控制部系进行稳定化处理者,该稳定化处理系令供给至前述第1聚光透镜及第2聚光透镜之激磁电流为预定値,调整通过前述电子束控制板开口之电子束之电流量,令照射至试样之电子束之电流量大于测量时,将该电子束照射至该试样上预定时间。控制部于进行稳定化处理后,使供给至第1聚光透镜及第2聚光透镜之激磁电流回复至测量时之値,进行试样之尺寸测量。

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