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1. 发明专利

TW201732271A 用於超光譜成像計量之系統及方法审中-公开
简体标题：用于超光谱成像计量之系统及方法
公开(公告)号：TW201732271A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW106103549
申请日：2017-02-02
申请人：克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：希爾安卓 V , HILL, ANDREW V.
IPC分类号： G01N21/88 , G02B27/18
CPC分类号： G01N21/4795 , G01J3/00 , G01N21/4788 , G01N21/9501 , G01N21/95623 , G01N2021/4709 , G01N2021/4711 , G01N2021/8461 , G02B3/0006 , G02B27/10 , G02B27/1013 , G02B27/4205 , G03F7/70616
摘要：本發明揭示一種計量系統，其包含：一照明源，其經組態以產生一照明光束；一或多個照明光學器件，其等經組態以將該照明光束導引至一樣本；一或多個收集光學器件，其等經組態以收集自該樣本發出之照明；一偵測器；及一超光譜成像子系統。該超光譜成像子系統包含：一分散元件，其定位於該組收集光學器件之一光瞳平面處，該分散元件經組態以光譜分散該所收集之照明；一透鏡陣列，其包含一聚焦元件陣列；及一或多個成像光學器件。該一或多個成像光學器件組合該光譜分散之所收集之照明以在該透鏡陣列上形成該光瞳平面之一影像。該透鏡陣列之該等聚焦元件使該所收集之照明以一陣列圖案分佈於該偵測器上。
简体摘要：本发明揭示一种计量系统，其包含：一照明源，其经组态以产生一照明光束；一或多个照明光学器件，其等经组态以将该照明光束导引至一样本；一或多个收集光学器件，其等经组态以收集自该样本发出之照明；一侦测器；及一超光谱成像子系统。该超光谱成像子系统包含：一分散组件，其定位于该组收集光学器件之一光瞳平面处，该分散组件经组态以光谱分散该所收集之照明；一透镜数组，其包含一聚焦组件数组；及一或多个成像光学器件。该一或多个成像光学器件组合该光谱分散之所收集之照明以在该透镜数组上形成该光瞳平面之一影像。该透镜数组之该等聚焦组件使该所收集之照明以一数组图案分布于该侦测器上。

2. 发明专利

TWI514000B MEMS為主監視系統及使用方法有权
简体标题： MEMS为主监视系统及使用方法
公开(公告)号：TWI514000B
公开(公告)日：2015-12-21
申请号：TW100130591
申请日：2011-08-26
申请人：康寧公司 , CORNING INCORPORATED
发明人：帶瓦保 , DEWA, PAUL G. , 威勤理查 , WIGGINS, RICHARD L.
IPC分类号： G02B26/08 , G02B27/14
CPC分类号： G02B27/145 , G02B26/0833 , G02B27/1013

3. 发明专利

TWI230816B 光學裝置的製造方法 MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL DEVICE 失效
简体标题：光学设备的制造方法 MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL DEVICE
公开(公告)号：TWI230816B
公开(公告)日：2005-04-11
申请号：TW093106334
申请日：2004-03-10
申请人：精工愛普生股份有限公司 SEIKO EPSON CORPORATION
发明人：北林雅志 KITABAYASHI, MASASHI , 山口英雄 YAMAGUCHI, HIDEO , 橋爪秀敏 HASHIZUME, HIDETOSHI , 藤澤尚平 FUJISAWA, SHOHEI , 飯沼和幸 IINUMA, KAZUYUKI
IPC分类号： G02B
CPC分类号： H04N9/317 , G02B27/1013 , G02B27/102 , G02B27/1046 , G02B27/1073 , G02B27/145 , G02B27/149 , G02B27/62 , H04N9/3105
摘要：光學裝置的製造方法，該光學裝置是具備：在框體本體內收納複數的光學零件的光學零件收納過程 S1；及實施移動光學零件的該光學零件的位置調整，在從光源射出的光束的照明光軸上的預定位置以定位構件將光學零件定位的光學零件定位過程S2；及此光學零件定位過程S2之後，將光學零件對於框體本體位置固定的光學零件位置固定過程 S3。其中，光學零件收納過程，是具備：將定位構件插通框體本體的孔的定位構件插通程序、及將光學零件收納在框體本體的光學零件收納程序、及將定位構件及光學零件抵接的定位構件抵接程序。
简体摘要：光学设备的制造方法，该光学设备是具备：在框体本体内收纳复数的光学零件的光学零件收纳过程 S1；及实施移动光学零件的该光学零件的位置调整，在从光源射出的光束的照明光轴上的预定位置以定位构件将光学零件定位的光学零件定位过程S2；及此光学零件定位过程S2之后，将光学零件对于框体本体位置固定的光学零件位置固定过程 S3。其中，光学零件收纳过程，是具备：将定位构件插通框体本体的孔的定位构件插通进程、及将光学零件收纳在框体本体的光学零件收纳进程、及将定位构件及光学零件抵接的定位构件抵接进程。

4. 发明专利

TW201516515A 透鏡陣列模組及用於製造其之晶圓級技術审中-公开
简体标题：透镜数组模块及用于制造其之晶圆级技术
公开(公告)号：TW201516515A
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW103134095
申请日：2014-09-30
申请人：海特根微光學公司 , HEPTAGON MICRO OPTICS PTE. LTD.
发明人：羅絲馬克斯 , ROSSI, MARKUS
IPC分类号： G02B7/04
CPC分类号： G02B27/1013 , G02B3/0031 , G02B3/0062 , G02B13/0065 , G02B13/007 , G02B13/0085 , G02B17/08 , G02B17/086 , G02B27/1066 , G02B27/123 , H01L27/14625 , H01L27/14627 , H01L27/14685 , H04N5/2254
摘要：本發明揭示一種透鏡模組，其包含：一基板；一第一被動光學元件陣列，其在該基板上；及一第二被動光學元件陣列，其與該第一陣列分離。該第一陣列之該等光學元件及該第二陣列之該等光學元件形成多個光學通道，其中至少一光學通道係包含一反射式光學元件及一折射式光學元件之一折射反射式(catadioptric)光學通道。該反射式光學元件經配置以反射光朝向該折射式光學元件，各光學通道具有一對應視場，且該透鏡模組具有由該複數個光學通道之該視場所對的角度範圍界定之一總視場。
简体摘要：本发明揭示一种透镜模块，其包含：一基板；一第一被动光学组件数组，其在该基板上；及一第二被动光学组件数组，其与该第一数组分离。该第一数组之该等光学组件及该第二数组之该等光学组件形成多个光学信道，其中至少一光学信道系包含一反射式光学组件及一折射式光学组件之一折射反射式(catadioptric)光学信道。该反射式光学组件经配置以反射光朝向该折射式光学组件，各光学信道具有一对应视场，且该透镜模块具有由该复数个光学信道之该视场所对的角度范围界定之一总视场。

5. 发明专利

TW201034172A 積體電路上具有多種功能之垂直波導 VERTICAL WAVEGUIDES WITH VARIOUS FUNCTIONALITY ON INTEGRATED CIRCUITS 审中-公开
简体标题：集成电路上具有多种功能之垂直波导 VERTICAL WAVEGUIDES WITH VARIOUS FUNCTIONALITY ON INTEGRATED CIRCUITS
公开(公告)号：TW201034172A
公开(公告)日：2010-09-16
申请号：TW098138687
申请日：2009-11-13
申请人：立那工業股份有限公司
发明人：伍伯慕尼 , 伍迪湯瑪士P H F
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G02B27/1013 , B82Y20/00 , G01J1/0425 , G02B6/102 , G02B6/107 , G02B6/12004 , G02B6/12007 , G02B6/42 , G02B2006/12138 , G02B2006/1215 , H01L21/02532 , H01L21/02573 , H01L21/02653 , H01L27/14621 , H01L27/14627 , H01L27/14629 , H01L27/14632 , H01L27/14649 , H01L27/14685 , H01L27/14687 , H01L28/60
摘要：一實施例係關於一種裝置，該裝置包括一光學管，該光學管包括一核心及一包覆層，該光學管經組態以藉由該核心及該包覆層以一選擇性波長分離入射於該光學管上之一電磁輻射束之波長，其中該核心經組態以既作為用以透射高達該選擇性波長之波長之一通道且亦作為用以偵測透射穿過該核心之該等高達該選擇性波長之波長之一主動元件。其他實施例係關於一種複合光偵測器。
简体摘要：一实施例系关于一种设备，该设备包括一光学管，该光学管包括一内核及一包覆层，该光学管经组态以借由该内核及该包覆层以一选择性波长分离入射于该光学管上之一电磁辐射束之波长，其中该内核经组态以既作为用以透射高达该选择性波长之波长之一信道且亦作为用以侦测透射穿过该内核之该等高达该选择性波长之波长之一主动组件。其他实施例系关于一种复合光侦测器。

6. 发明专利

TW400439B 分色棱鏡組件及其製造方法失效
简体标题：分色棱镜组件及其制造方法
公开(公告)号：TW400439B
公开(公告)日：2000-08-01
申请号：TW088109841
申请日：1999-06-11
申请人：光學塗料實驗股份有限公司
发明人：布瑞特布利亞斯 , 布萊恩.罕竹
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B27/145 , G02B5/04 , G02B27/1013 , G02B27/1073 , H04N9/097
摘要：一種可用於資訊顯示系統的分色裝置，係由三個稜鏡所組成，其配置可提供每一色彩的空氣等效厚度調整值。空氣等效厚度調整值用以修正三個稜鏡中的任何變異，並提供一種方法來修正資訊顯示系統中其他光學元件所產生的色差。分色裝置改進影像的品質並提供一個機會，利用具有高色差之低精度元件及／或塑膠光學元件來降低顯示系統的成本。
简体摘要：一种可用于信息显示系统的分色设备，系由三个棱镜所组成，其配置可提供每一色彩的空气等效厚度调整值。空气等效厚度调整值用以修正三个棱镜中的任何变异，并提供一种方法来修正信息显示系统中其他光学组件所产生的色差。分色设备改进影像的品质并提供一个机会，利用具有高色差之低精度组件及／或塑胶光学组件来降低显示系统的成本。

7. 发明专利

TWI562341B 積體電路上具有多種功能之垂直波導有权
简体标题：集成电路上具有多种功能之垂直波导
公开(公告)号：TWI562341B
公开(公告)日：2016-12-11
申请号：TW104108370
申请日：2009-11-13
申请人：立那工業股份有限公司 , ZENA TECHNOLOGIES, INC.
发明人：伍伯慕尼 , WOBER, MUNIB , 伍迪湯瑪士P H F , WENDLING, THOMAS P. H. F.
IPC分类号： H01L27/14 , H01L27/15 , H01L31/12 , H01L31/10 , G02B6/42 , B82Y20/00
CPC分类号： G02B27/1013 , B82Y20/00 , G01J1/0425 , G02B6/102 , G02B6/107 , G02B6/12004 , G02B6/12007 , G02B6/42 , G02B2006/12138 , G02B2006/1215 , H01L21/02532 , H01L21/02573 , H01L21/02653 , H01L27/14621 , H01L27/14627 , H01L27/14629 , H01L27/14632 , H01L27/14649 , H01L27/14685 , H01L27/14687 , H01L28/60

8. 发明专利

TW201602650A 光波分離網格與形成光波分離網格的方法审中-公开
简体标题：光波分离网格与形成光波分离网格的方法
公开(公告)号：TW201602650A
公开(公告)日：2016-01-16
申请号：TW104109544
申请日：2015-03-25
申请人：應用材料股份有限公司 , APPLIED MATERIALS, INC.
发明人：迪爾丹尼爾李 , DIEHL, DANIEL LEE , 曹勇 , CAO, YONG , 朱明偉 , ZHU, MINGWEI , 陳泰舟 , CHEN, TAI CHOU PAPO
IPC分类号： G02B5/28 , C23C14/06
CPC分类号： G02B27/1013 , C23C14/0676 , G02B5/285
摘要：本文提供光波分離網格與形成方法。一些實施例中，光波分離網格包括：第一層，具有ROxNy之分子式，其中該第一層具有第一折射率；以及第二層，該第二層配置於該第一層頂上且有別於該第一層，該第二層具有R’OxNy之分子式，其中該第二層具有與該第一折射率不同的第二折射率，且其中R與R’各為金屬或介電材料之一者。一些實施例中，一種形成光波分離網格的方法包括：透過物理氣相沉積製程在基板頂上沉積具有預定期望折射率的第一層；以及於該第一層頂上沉積第二層，該第二層有別於該第一層，其中該第二層具有與該第一折射率不同的預定第二折射率。
简体摘要：本文提供光波分离网格与形成方法。一些实施例中，光波分离网格包括：第一层，具有ROxNy之分子式，其中该第一层具有第一折射率；以及第二层，该第二层配置于该第一层顶上且有别于该第一层，该第二层具有R’OxNy之分子式，其中该第二层具有与该第一折射率不同的第二折射率，且其中R与R’各为金属或介电材料之一者。一些实施例中，一种形成光波分离网格的方法包括：透过物理气相沉积制程在基板顶上沉积具有预定期望折射率的第一层；以及于该第一层顶上沉积第二层，该第二层有别于该第一层，其中该第二层具有与该第一折射率不同的预定第二折射率。

9. 发明专利

TW201234043A MEMS為主監視系統及使用方法 MEMS BASED SURVEILLANCE SYSTEM AND A METHOD FOR USING SAME 审中-公开
简体标题： MEMS为主监视系统及使用方法 MEMS BASED SURVEILLANCE SYSTEM AND A METHOD FOR USING SAME
公开(公告)号：TW201234043A
公开(公告)日：2012-08-16
申请号：TW100130591
申请日：2011-08-26
申请人：康寧公司
发明人：帶瓦保 , 威勤理查
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G02B27/145 , G02B26/0833 , G02B27/1013
摘要：茲揭示一種微電機(MEMS)式監視系統以及為以利用該MEMS式監視系統的方法以進行物體成像。在一範例裡，該MEMS式監視系統可從四個包含可見光、近紅外光、紅外光及遠紅外光的不同波長範圍來記錄物體的影像。
简体摘要：兹揭示一种微电机(MEMS)式监视系统以及为以利用该MEMS式监视系统的方法以进行物体成像。在一范例里，该MEMS式监视系统可从四个包含可见光、近红外光、红外光及远红外光的不同波长范围来记录物体的影像。

10. 发明专利

TWI288289B 光學零件用框體及投影機 OPTICAL COMPONENT CASING AND PROJECTOR 有权
简体标题：光学零件用框体及投影机 OPTICAL COMPONENT CASING AND PROJECTOR
公开(公告)号：TWI288289B
公开(公告)日：2007-10-11
申请号：TW093106327
申请日：2004-03-10
申请人：精工愛普生股份有限公司 SEIKO EPSON CORPORATION
发明人：北林雅志 KITABAYASHI, MASASHI , 山口英雄 YAMAGUCHI, HIDEO , 橋爪秀敏 HASHIZUME, HIDETOSHI , 藤澤尚平 FUJISAWA, SHOHEI , 飯沼和幸 IINUMA, KAZUYUKI
IPC分类号： G03B
CPC分类号： H04N9/317 , G02B27/1013 , G02B27/102 , G02B27/1046 , G02B27/1073 , G02B27/145 , G02B27/149 , G02B27/62 , H04N9/3105
摘要：本發明之光學零件用框體(25)具備有朝著內部貫穿的複數個孔，將複數個光學零件收納配置在內部的容器形狀構件(25A)及蓋形構件(25B)所構成的框體本體，及將複數個光學零件定位在框體本體內的預定位置的複數個定位構件(253)。複數個定位構件(253)插穿複數個孔和光學零件抵接，將光學零件定位在從光源所射出光束的照明光軸上的預定位置。
简体摘要：本发明之光学零件用框体(25)具备有朝着内部贯穿的复数个孔，将复数个光学零件收纳配置在内部的容器形状构件(25A)及盖形构件(25B)所构成的框体本体，及将复数个光学零件定位在框体本体内的预定位置的复数个定位构件(253)。复数个定位构件(253)插穿复数个孔和光学零件抵接，将光学零件定位在从光源所射出光束的照明光轴上的预定位置。

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