专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI486993B 處理裝置、離子植入裝置及離子植入方法有权
简体标题：处理设备、离子植入设备及离子植入方法
公开(公告)号：TWI486993B
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW102147124
申请日：2013-12-19
申请人：台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：汪紹華 , WANG, SHAO HUA , 陳明德 , CHEN, MING TE , 李聖偉 , LEE, SHENG WEI
IPC分类号： H01J37/317
CPC分类号： H01J37/3171 , C23C14/48 , G01R31/2607 , G01R31/3177 , G01R31/318552 , G01R31/318558 , G01R31/318572 , G01R31/318594 , H01J37/3007 , H01J2237/15 , H01J2237/30472 , H01J2237/31701

2. 发明专利

TW201432774A 處理裝置、離子植入裝置及離子植入方法审中-公开
简体标题：处理设备、离子植入设备及离子植入方法
公开(公告)号：TW201432774A
公开(公告)日：2014-08-16
申请号：TW102147124
申请日：2013-12-19
申请人：台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：汪紹華 , WANG, SHAO HUA , 陳明德 , CHEN, MING TE , 李聖偉 , LEE, SHENG WEI
IPC分类号： H01J37/317
CPC分类号： H01J37/3171 , C23C14/48 , G01R31/2607 , G01R31/3177 , G01R31/318552 , G01R31/318558 , G01R31/318572 , G01R31/318594 , H01J37/3007 , H01J2237/15 , H01J2237/30472 , H01J2237/31701
摘要：一種處理裝置，包括一末端站、一離子束產生器以及一掃描裝置。末端站係支撐一工件。離子束產生器係產生一離子束朝向末端站。掃描裝置係以一橫向掃描方向掃描離子束。掃描裝置係設置於朝向末端站之離子束之一第一路徑之中以及朝向末端站之離子束之一第二路徑之外。
简体摘要：一种处理设备，包括一末端站、一离子束产生器以及一扫描设备。末端站系支撑一工件。离子束产生器系产生一离子束朝向末端站。扫描设备系以一横向扫描方向扫描离子束。扫描设备系设置于朝向末端站之离子束之一第一路径之中以及朝向末端站之离子束之一第二路径之外。

3. 发明专利

TWI403744B 測試資料處理系統之方法及裝置失效
简体标题：测试数据处理系统之方法及设备
公开(公告)号：TWI403744B
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：TW096102861
申请日：2007-01-25
申请人：飛思卡爾半導體公司 , FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC.
发明人：蓋瑞R 莫里森 , MORRISON, GARY R. , 喬斯A 里昂 , LYON, JOSE A. , 威廉C 莫伊爾 , MOYER, WILLIAM C. , 安東尼M 理波 , REIPOLD, ANTHONY M.
IPC分类号： G01R31/317 , G06F11/00
CPC分类号： G01R31/318544 , G01R31/318536 , G01R31/318552 , G06F11/2236

4. 发明专利

TW201140091A 於掃描移位操作中降低瞬時電壓衰減之系統與裝置 SYSTEM AND DEVICE FOR REDUCING INSTANTANEOUS VOLTAGE DROOP DURING A SCAN SHIFT OPERATION 失效
简体标题：于扫描移位操作中降低瞬时电压衰减之系统与设备 SYSTEM AND DEVICE FOR REDUCING INSTANTANEOUS VOLTAGE DROOP DURING A SCAN SHIFT OPERATION
公开(公告)号：TW201140091A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：TW099129505
申请日：2010-09-01
申请人： LSI股份有限公司
发明人：戴芙塔普拉山納納蘭卓 , 高爾山迪 , 昆達艾倫
IPC分类号： G01R
CPC分类号： H03K3/015 , G01R31/318552 , G01R31/318594
摘要：本發明揭示了一種用來減少掃描移位操作期間的瞬間電壓下降(IVD)之系統及裝置。在一實施例中,一系統包含被配置成接收一輸入時脈信號之一第一組時脈閘控單元、以及被耦合到該第一組時脈閘控單元之一第一組正反器。該第一組時脈閘控單元中之每一時脈閘控單元包含用來在一掃描移位操作期間將該輸入時脈信號延遲一第一持續時間之一第一延遲元件。該系統亦包含被配置成接收該輸入時脈信號之一第二組時脈閘控單元、以及被耦合到該第二組時脈閘控單元之一第二組正反器。該第二組時脈閘控單元中之每一時脈閘控單元包含用來在該掃描移位操作期間將該輸入時脈信號延遲一第二持續時間之一第二延遲元件。
简体摘要：本发明揭示了一种用来减少扫描移位操作期间的瞬间电压下降(IVD)之系统及设备。在一实施例中,一系统包含被配置成接收一输入时脉信号之一第一组时脉闸控单元、以及被耦合到该第一组时脉闸控单元之一第一组正反器。该第一组时脉闸控单元中之每一时脉闸控单元包含用来在一扫描移位操作期间将该输入时脉信号延迟一第一持续时间之一第一延迟组件。该系统亦包含被配置成接收该输入时脉信号之一第二组时脉闸控单元、以及被耦合到该第二组时脉闸控单元之一第二组正反器。该第二组时脉闸控单元中之每一时脉闸控单元包含用来在该扫描移位操作期间将该输入时脉信号延迟一第二持续时间之一第二延迟组件。

5. 发明专利

TWI341393B 利用可編程測試時鐘控制器產生用於電子電路掃瞄測試之可配置測試時鐘之測試時鐘控制結構 TEST CLOCK CONTROL STRUCTURES TO GENERATE CONFIGURABLE TEST CLOCKS FOR SCAN-BASED TESTING OF ELECTRONIC CIRCUITS USING PROGRAMMABLE TEST CLOCK CONTROLLERS 有权
简体标题：利用可编程测试时钟控制器产生用于电子电路扫瞄测试之可配置测试时钟之测试时钟控制结构 TEST CLOCK CONTROL STRUCTURES TO GENERATE CONFIGURABLE TEST CLOCKS FOR SCAN-BASED TESTING OF ELECTRONIC CIRCUITS USING PROGRAMMABLE TEST CLOCK CONTROLLERS
公开(公告)号：TWI341393B
公开(公告)日：2011-05-01
申请号：TW096121218
申请日：2007-06-12
申请人：矽像公司
发明人：宋晶頌
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318552 , G01R31/318541 , G01R31/318594 , G01R31/31922
摘要：本發明揭露用於產生掃描鏈之測試時鐘以實施電子電路掃描測試之系統、結構及方法。一實施例中，測試時鐘控制結構包含可編程測試時鐘控制器。可編程測試時鐘控制器包含測試時鐘產生器，用於產生可配置測試時鐘。其亦包含掃瞄層介面以利用可配置測試時鐘驅動掃描鏈部分，以及控制層介面，其係配置以存取控制資訊，以便控制掃描鏈部分。另一實施例中，係利用一方法實施電路掃描測試。該方法包含利用實施動態偵錯測試模式進行至少一內部區域測試及進行至少一跨區域測試，該動態偵錯測試模式可包含上次偏移啟動測試模式及寬面測試模式。
简体摘要：本发明揭露用于产生扫描链之测试时钟以实施电子电路扫描测试之系统、结构及方法。一实施例中，测试时钟控制结构包含可编程测试时钟控制器。可编程测试时钟控制器包含测试时钟产生器，用于产生可配置测试时钟。其亦包含扫瞄层界面以利用可配置测试时钟驱动扫描链部分，以及控制层界面，其系配置以存取控制信息，以便控制扫描链部分。另一实施例中，系利用一方法实施电路扫描测试。该方法包含利用实施动态侦错测试模式进行至少一内部区域测试及进行至少一跨区域测试，该动态侦错测试模式可包含上次偏移启动测试模式及宽面测试模式。

6. 发明专利

TWI264555B 高速互連電路測試方法及裝置 HIGH SPEED INTERCONNECT CIRCUIT TEST METHOD AND APPARATUS 有权
简体标题：高速互连电路测试方法及设备 HIGH SPEED INTERCONNECT CIRCUIT TEST METHOD AND APPARATUS
公开(公告)号：TWI264555B
公开(公告)日：2006-10-21
申请号：TW092102750
申请日：2003-02-11
申请人：德州儀器公司 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
发明人：李D. 魏塞爾 LEE D. WHETSEL
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318552 , G01R31/318555 , G01R31/31858
摘要：本發明揭示一種Propagation Test(傳播測試)指令、一 Decay Test(衰減測試)指令及一Cycle Test(循環測試)指令，以提供測試含JTAG邊界掃描單元之電路間的直流電(DC)與交流電(AC)互連電路。要執行附加指令，測試存取連接埠(Test Access Port)電路與邊界掃描單元還需要一些附加項目。該等指令係為傳統JTAG操作結構的延伸。
简体摘要：本发明揭示一种Propagation Test(传播测试)指令、一 Decay Test(衰减测试)指令及一Cycle Test(循环测试)指令，以提供测试含JTAG边界扫描单元之电路间的直流电(DC)与交流电(AC)互连电路。要运行附加指令，测试存取端口(Test Access Port)电路与边界扫描单元还需要一些附加项目。该等指令系为传统JTAG操作结构的延伸。

7. 发明专利

TW200502563A 以單掃描時脈進行掃描測試之方法及其架構 A SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING SCAN TEST WITH SINGLE SCAN CLOCK 审中-公开
简体标题：以单扫描时脉进行扫描测试之方法及其架构 A SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING SCAN TEST WITH SINGLE SCAN CLOCK
公开(公告)号：TW200502563A
公开(公告)日：2005-01-16
申请号：TW092118131
申请日：2003-07-02
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：吳奇峰 WU, CHI-FENG
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318594 , G01R31/318552
摘要：一種以單掃描時脈進行掃描測試之多時脈域邏輯系統及其相關方法。該邏輯系統包括第一時脈域，係根據第一時脈訊號進行邏輯運算及掃描測試；及第二時脈域，係根據第二時脈訊號進行邏輯運算，並根據第一時脈訊號進行掃瞄測試。
简体摘要：一种以单扫描时脉进行扫描测试之多时脉域逻辑系统及其相关方法。该逻辑系统包括第一时脉域，系根据第一时脉信号进行逻辑运算及扫描测试；及第二时脉域，系根据第二时脉信号进行逻辑运算，并根据第一时脉信号进行扫瞄测试。

8. 发明专利

TWI506291B 積體電路及於積體電路中建立掃描測試架構之方法有权
简体标题：集成电路及于集成电路中创建扫描测试架构之方法
公开(公告)号：TWI506291B
公开(公告)日：2015-11-01
申请号：TW103117732
申请日：2014-05-21
申请人：聯發科技(新加坡)私人有限公司 , MEDIATEK SINGAPORE PTE. LTD.
发明人：任建國 , REN, JIANGUO , 戴冲 , DAI, CHONG , 高峰國 , GAO, FENGGUO , 黃上賓 , HUANG, SHANG BIN , 薛文皓 , HSUEH, WEN HAO
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/31704 , G01R31/318544 , G01R31/318547 , G01R31/318552 , G01R31/318583 , G01R31/318594 , G06F17/505 , G06F2217/14

9. 发明专利

TWI461717B 掃描時脈產生器以及掃描時脈產生方法有权
简体标题：扫描时脉产生器以及扫描时脉产生方法
公开(公告)号：TWI461717B
公开(公告)日：2014-11-21
申请号：TW101140973
申请日：2012-11-05
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：陳瑩晏 , CHEN, YING YEN , 林振東 , LIN, CHEN TUNG , 李日農 , LEE, JIH NUNG
IPC分类号： G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/318536 , G01R31/318552

10. 发明专利

TW201100831A 掃描鏈電路及方法 SCAN CHAIN CIRCUIT AND METHOD 审中-公开
简体标题：扫描链电路及方法 SCAN CHAIN CIRCUIT AND METHOD
公开(公告)号：TW201100831A
公开(公告)日：2011-01-01
申请号：TW098142633
申请日：2009-12-11
申请人：高通公司
发明人：瑞秋帕里崔維尼
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R31/318552
摘要：本發明揭示一種掃描鏈電路。該掃描鏈電路包括一串聯耦接時控電路鏈。在一第一操作模式中,該等時控電路中之每一者回應於一時脈信號之一上升邊緣而雙態觸發。在一第二操作模式中,該串聯耦接時控電路鏈中的該等時控電路之一第一集合回應於該時脈信號之該上升邊緣而雙態觸發,且該串聯耦接時控電路鏈中的該等時控電路之一第二集合回應於該時脈信號之一下降邊緣而雙態觸發。
简体摘要：本发明揭示一种扫描链电路。该扫描链电路包括一串联耦接时控电路链。在一第一操作模式中,该等时控电路中之每一者回应于一时脉信号之一上升边缘而双态触发。在一第二操作模式中,该串联耦接时控电路链中的该等时控电路之一第一集合回应于该时脉信号之该上升边缘而双态触发,且该串联耦接时控电路链中的该等时控电路之一第二集合回应于该时脉信号之一下降边缘而双态触发。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式