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1. 发明专利

TW201809946A 參考電壓緩衝電路审中-公开
简体标题：参考电压缓冲电路
公开(公告)号：TW201809946A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：TW105114511
申请日：2016-05-11
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：陳昱璋 , CHEN, YU-CHANG , 賴傑帆 , LAI, CHIEH-FAN , 黃詩雄 , HUANG, SHIH-HSIUNG
IPC分类号： G05F1/46
CPC分类号： H03K19/00 , G01R31/31725 , G01R31/31937 , G05F3/08 , G06F1/10 , G06G7/186 , H03K5/13 , H03K17/296
摘要：一參考電壓緩衝電路包含有一運算放大器、一電容切換模組一第一電晶體以及一第二電晶體，其中該運算放大器包含兩個輸入端以及一輸出端，其中該兩個輸入端用來接收一輸入參考電壓以及一回授電壓；該電容切換模組耦接於該運算放大器的該輸出端；該第一電晶體的閘極耦接於該電容切換模組，且源極用來提供該回授電壓；以及該第二電晶體的閘極耦接於該電容切換模組，且源極用來提供一輸出參考電壓；其中該運算放大器的該輸出端在不直接連接到該第一、第二電晶體的情形下，透過該電容切換模組產生一穩定的控制電壓至該第一、第二電晶體的閘極。
简体摘要：一参考电压缓冲电路包含有一运算放大器、一电容切换模块一第一晶体管以及一第二晶体管，其中该运算放大器包含两个输入端以及一输出端，其中该两个输入端用来接收一输入参考电压以及一回授电压；该电容切换模块耦接于该运算放大器的该输出端；该第一晶体管的闸极耦接于该电容切换模块，且源极用来提供该回授电压；以及该第二晶体管的闸极耦接于该电容切换模块，且源极用来提供一输出参考电压；其中该运算放大器的该输出端在不直接连接到该第一、第二晶体管的情形下，透过该电容切换模块产生一稳定的控制电压至该第一、第二晶体管的闸极。

2. 发明专利

TW201743069A 邏輯分析儀及其資料擷取與效能測試之方法审中-公开
简体标题：逻辑分析仪及其数据截取与性能测试之方法
公开(公告)号：TW201743069A
公开(公告)日：2017-12-16
申请号：TW105140675
申请日：2016-12-08
申请人：孕龍科技股份有限公司 , ZEROPLUS TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：鄭秋豪 , CHENG, CHIU-HAO , 林松輝
IPC分类号： G01R31/3177
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/31723 , G01R31/31725 , G06F11/00
摘要：一種邏輯分析儀，包括有：一探棒、一可程式陣列模組、一第一傳輸介面、一儲存模組與一第二傳輸介面。所述資料擷取方法在於透過該探棒擷取一數位訊號；透過可程式陣列模組將該數位訊號整合為一訊號資料；透過該第一傳輸介面用以接收該訊號資料，並以一第一傳輸速率輸出至該儲存模組儲存；透過該第二傳輸介面，接收該儲存模組透過該第一傳輸介面回傳至該可程式陣列模組的該訊號資料，並以一第二傳輸速率輸出至該電腦儲存。所述效能測試方法在於測試多個待測物受一數位訊號觸發的反應時間，據以對待測物進行效能分析。
简体摘要：一种逻辑分析仪，包括有：一探棒、一可进程数组模块、一第一传输界面、一存储模块与一第二传输界面。所述数据截取方法在于透过该探棒截取一数码信号；透过可进程数组模块将该数码信号集成为一信号数据；透过该第一传输界面用以接收该信号数据，并以一第一传输速率输出至该存储模块存储；透过该第二传输界面，接收该存储模块透过该第一传输界面回传至该可进程数组模块的该信号数据，并以一第二传输速率输出至该电脑存储。所述性能测试方法在于测试多个待测物受一数码信号触发的反应时间，据以对待测物进行性能分析。

3. 发明专利

TW201742448A 條件式存取晶片、其內建自我測試電路及測試方法审中-公开
简体标题：条件式存取芯片、其内置自我测试电路及测试方法
公开(公告)号：TW201742448A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：TW105115415
申请日：2016-05-19
申请人：晨星半導體股份有限公司 , MSTAR SEMICONDUCTOR, INC.
发明人：蔡尚達 , TSAI, SHANG-TA , 翁培恩 , WENG, PEI-EN , 呂宗達 , LU, TSUNG-TA
IPC分类号： B25J19/02 , B23Q17/00
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/31703 , G01R31/31725 , G01R31/318566 , G01R31/318588
摘要：一種內建於一條件式存取晶片的自我測試電路，該條件式存取晶片利用複數邏輯單元解密一影音資料，該自我測試電路包含：一儲存單元，用來儲存一測試資料及一比對資料；以及一控制單元，耦接該些邏輯單元，用來：控制該些邏輯單元接收一時脈以進行一測試；自該儲存單元讀取該測試資料；將該測試資料依據該時脈輸入該些邏輯單元所組成之一掃描鏈；以及比對該掃描鏈之一輸出資料與該比對資料以得到一測試結果。
简体摘要：一种内置于一条件式存取芯片的自我测试电路，该条件式存取芯片利用复数逻辑单元解密一影音数据，该自我测试电路包含：一存储单元，用来存储一测试数据及一比对数据；以及一控制单元，耦接该些逻辑单元，用来：控制该些逻辑单元接收一时脉以进行一测试；自该存储单元读取该测试数据；将该测试数据依据该时脉输入该些逻辑单元所组成之一扫描链；以及比对该扫描链之一输出数据与该比对数据以得到一测试结果。

4. 发明专利

TWI559162B 用於產生唯一性識別符的方法、裝置與機器可讀儲存媒體有权
简体标题：用于产生唯一性识别符的方法、设备与机器可读存储媒体
公开(公告)号：TWI559162B
公开(公告)日：2016-11-21
申请号：TW102147568
申请日：2013-12-20
申请人：高通公司 , QUALCOMM INCORPORATED
发明人：郭栩 , GUO, XU
IPC分类号： G06F21/12 , G06F21/44
CPC分类号： G06F21/10 , G01R31/28 , G01R31/3004 , G01R31/31725 , G06F21/12 , G06F21/121 , G06F21/70 , G06F21/71 , G06F21/73 , G06F21/76 , G06F21/86 , H04L9/3278

5. 发明专利

TWI548886B 老化偵測電路及其方法有权
简体标题：老化侦测电路及其方法
公开(公告)号：TWI548886B
公开(公告)日：2016-09-11
申请号：TW103114276
申请日：2014-04-18
申请人：創意電子股份有限公司 , GLOBAL UNICHIP CORPORATION , 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：陳世豪 , CHEN, SHIHAO , 王易民 , WANG, YIMING , 汪鼎豪 , WANG, TINGHAO , 李宏俊 , LI, HUNGCHUN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/3173
CPC分类号： G01R31/2894 , G01R31/31725

6. 发明专利

TWI542890B 輸入及輸出路徑掃描速度最佳化技術有权
简体标题：输入及输出路径扫描速度最优化技术
公开(公告)号：TWI542890B
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：TW103113244
申请日：2014-04-10
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：賽利爾爵根 , SERRER, JURGEN , 費雪馬汀 , FISCHER, MARTIN
IPC分类号： G01R31/317 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/3016 , G01R31/31725 , G01R31/318594 , G01R31/31922 , G01R31/31937

7. 发明专利

TW201539193A 用來進行去偏斜控制之方法與裝置审中-公开
简体标题：用来进行去偏斜控制之方法与设备
公开(公告)号：TW201539193A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW103113283
申请日：2014-04-10
申请人：智原科技股份有限公司 , FARADAY TECHNOLOGY CORP.
发明人：張競升 , CHANG, CHING SHENG , 胡元民 , HU, YUAN MIN
IPC分类号： G06F13/38
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/31727
摘要：本發明提供一種用來進行去偏斜控制之方法與裝置，該方法係應用於一電子裝置，該方法包含有下列步驟：分別於該電子裝置之複數個線道進行符元偵測，以決定一特定符元分別在該複數個線道中之位置；依據該特定符元分別在該複數個線道中之位置，選擇性地重新排列該複數個線道中之解碼資料，以產生分別對應於該複數個線道之複數組去偏斜資料；以及藉由緩衝處理該複數組去偏斜資料來選擇性地延遲該複數組去偏斜資料之輸出時間，以控制該複數組去偏斜資料各自的開頭同時輸出。
简体摘要：本发明提供一种用来进行去偏斜控制之方法与设备，该方法系应用于一电子设备，该方法包含有下列步骤：分别于该电子设备之复数个线道进行符元侦测，以决定一特定符元分别在该复数个线道中之位置；依据该特定符元分别在该复数个线道中之位置，选择性地重新排列该复数个线道中之译码数据，以产生分别对应于该复数个线道之复数组去偏斜数据；以及借由缓冲处理该复数组去偏斜数据来选择性地延迟该复数组去偏斜数据之输出时间，以控制该复数组去偏斜数据各自的开头同时输出。

8. 发明专利

TW201517518A 掃描正反器及相關方法审中-公开
简体标题：扫描正反器及相关方法
公开(公告)号：TW201517518A
公开(公告)日：2015-05-01
申请号：TW102137974
申请日：2013-10-21
申请人：創意電子股份有限公司 , GLOBAL UNICHIP CORPORATION , 台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：陳水謨 , CHEN, SHO MO , 吳健誠 , WU, CHIEN CHENG
IPC分类号： H03K3/356 , G01R31/3185
CPC分类号： G01R31/31725 , G01R31/31712 , G01R31/318541
摘要：一種掃描正反器與相關方法。掃描正反器包括有一資料輸入端、一掃描輸入端、一正反器電路、一第一電晶體與複數個第二電晶體。第一電晶體的閘極耦接掃描輸入端，第二電晶體的閘極共同耦接至一致能訊號，第一電晶體與各第二電晶體的源極與汲極串連地耦接至正反器電路，以增加該掃描輸入端至該正反器電路間的延遲。
简体摘要：一种扫描正反器与相关方法。扫描正反器包括有一数据输入端、一扫描输入端、一正反器电路、一第一晶体管与复数个第二晶体管。第一晶体管的闸极耦接扫描输入端，第二晶体管的闸极共同耦接至一致能信号，第一晶体管与各第二晶体管的源极与汲极串连地耦接至正反器电路，以增加该扫描输入端至该正反器电路间的延迟。

9. 发明专利

TW201514506A 延遲差量測電路及方法审中-公开
简体标题：延迟差量测电路及方法
公开(公告)号：TW201514506A
公开(公告)日：2015-04-16
申请号：TW103109354
申请日：2014-03-14
申请人：台灣積體電路製造股份有限公司 , TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY LTD.
发明人：李紹宇 , LI, SHAO YU
IPC分类号： G01R29/00
CPC分类号： G01R27/28 , G01R31/31725 , H03K5/135 , H03L7/00
摘要：本揭露提供一種延遲差量測電路及其量測方法。量測電路包含信號產生器、脈衝延遲產生器及時間電流轉換器。信號產生器經配置以產生包含上升延遲資訊之第一信號，以及包含下降延遲資訊之第二信號。上升延遲及下降延遲存在延遲差。脈衝延遲產生器經配置以提供附加延遲給第一信號或第二信號。時間電流轉換器經配置以擷取延遲差。
简体摘要：本揭露提供一种延迟差量测电路及其量测方法。量测电路包含信号产生器、脉冲延迟产生器及时间电流转换器。信号产生器经配置以产生包含上升延迟信息之第一信号，以及包含下降延迟信息之第二信号。上升延迟及下降延迟存在延迟差。脉冲延迟产生器经配置以提供附加延迟给第一信号或第二信号。时间电流转换器经配置以截取延迟差。

10. 发明专利

TWI479167B 使用同步化雷射脈衝的雷射輔助裝置修改系統及方法有权
简体标题：使用同步化激光脉冲的激光辅助设备修改系统及方法
公开(公告)号：TWI479167B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：TW102117339
申请日：2013-05-16
申请人： DCG系統公司 , DCG SYSTEMS, INC.
发明人：維達卡巴普拉文 , VEDAGARBHA, PRAVEEN , 萊德德理克 , REID, DERRYCK , 瑟雷斯凱斯 , SERRELS, KEITH , 維克斯詹姆士 S , VICKERS, JAMES S.
IPC分类号： G01R31/311
CPC分类号： G01R31/311 , G01R31/31725

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