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    • 4. 发明专利
    • 近場天線量測方法及其量測系統
    • 近场天线量测方法及其量测系统
    • TW201730569A
    • 2017-09-01
    • TW105105870
    • 2016-02-26
    • 國立中正大學
    • 蔡作敏邱柏瑞蔡東展
    • G01R29/08G01R29/10G01R29/00
    • G01R29/10
    • 本發明係揭露一種近場天線量測方法及其量測系統,其係選取對應一待測天線之一量測區塊,以於量測區塊上量測待測天線發射之天線訊號。首先,於量測區塊上選取複數初始量測點,並在初始量測點量測天線訊號之初始電場值。接著,於量測區塊上選取複數初始內插點,每一初始內插點與其相鄰之初始內插點或初始量測點之距離係小於天線訊號之波長的一半,並對初始電場值進行內插,以得到分別對應初始內插點之初始電場內插值。最後,處理初始電場值與初始電場內插值,以於初始量測點與初始內插點得到天線訊號之電場收斂值,以解決量測上的耗時問題。
    • 本发明系揭露一种近场天线量测方法及其量测系统,其系选取对应一待测天线之一量测区块,以于量测区块上量测待测天线发射之天线信号。首先,于量测区块上选取复数初始量测点,并在初始量测点量测天线信号之初始电场值。接着,于量测区块上选取复数初始内插点,每一初始内插点与其相邻之初始内插点或初始量测点之距离系小于天线信号之波长的一半,并对初始电场值进行内插,以得到分别对应初始内插点之初始电场内插值。最后,处理初始电场值与初始电场内插值,以于初始量测点与初始内插点得到天线信号之电场收敛值,以解决量测上的耗时问题。
    • 9. 发明专利
    • 測試系統與方法
    • 测试系统与方法
    • TW201835584A
    • 2018-10-01
    • TW107105330
    • 2018-02-13
    • 日商愛德萬測試股份有限公司ADVANTEST CORPORATION
    • 蘇 美美SU, MEI-MEI
    • G01R29/00
    • 揭露一種電子連接器技術。在一範例中,用於將一電子子總成耦接至一電子總成的一連接器包含一連接器本體具有以及一子總成介面,該子總成介面組配為與一電子子總成電氣式耦接。該連接器具有組配為可電氣式耦接到一電子總成之一電路板的一電路板介面。該連接器具有至少兩列的接觸點,該等接觸點係組配為將該電路板與該電子子總成電氣式耦接。該等至少兩列接觸點相對於彼此偏移對齊,以致使一列中的任何接地接觸點避免與另一列的任何接地接觸點所存在的一平面相交,以在當該等至少兩列接觸點在以一預定高速率位元率傳輸訊號時,至少部分地消除列至列串擾。
    • 揭露一种电子连接器技术。在一范例中,用于将一电子子总成耦接至一电子总成的一连接器包含一连接器本体具有以及一子总成界面,该子总成界面组配为与一电子子总成电气式耦接。该连接器具有组配为可电气式耦接到一电子总成之一电路板的一电路板界面。该连接器具有至少两列的接触点,该等接触点系组配为将该电路板与该电子子总成电气式耦接。该等至少两列接触点相对于彼此偏移对齐,以致使一列中的任何接地接触点避免与另一列的任何接地接触点所存在的一平面相交,以在当该等至少两列接触点在以一预定高速率比特率传输信号时,至少部分地消除列至列串扰。