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1. 发明专利

TW200801507A 液中物質檢測感測器 SENSOR FOR DETECTING SUBSTANCE IN LIQUID 失效
简体标题：液中物质检测传感器 SENSOR FOR DETECTING SUBSTANCE IN LIQUID
公开(公告)号：TW200801507A
公开(公告)日：2008-01-01
申请号：TW096107621
申请日：2007-03-06
申请人：村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：岡口健二朗 OKAGUCHI, KENJIRO , 羽田拓生 HADA, TAKUO , 門田道雄 KADOTA, MICHIO
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/022 , G01N2291/014 , G01N2291/0255 , G01N2291/0256 , G01N2291/0423 , G01N2291/0425
摘要：本發明提供一種液中物質檢測感測器,具有:感測用SAW元件,係以與液體中的檢測物質產生反應之反應膜覆蓋IDT之方式形成、及參考用SAW元件,能以更高靈敏度且確實地測定液體中的檢測物質。此液中物質檢測感測器1,其特徵在於,具備:感測用振盪電路11,包含感測用SAW元件12,係設置有以覆蓋至少一個IDT之方式形成、與液體中物質產生反應之反應膜,及連接於感測用SAW元件12之第1放大電路15;以及參考用振盪電路21,包含具有至少一個IDT但不具有反應膜之參考用SAW元件22,及連接於參考用SAW元件之第2放大電路25;當使用於感測用SAW元件及參考用SAW元件之壓電基板之電機耦合係數設為k^2(%)時,感測用振盪電路11之振盪頻率與參考用振盪電路21之振盪頻率隔開200�k^2(ppm)以上。
简体摘要：本发明提供一种液中物质检测传感器,具有:传感用SAW组件,系以与液体中的检测物质产生反应之反应膜覆盖IDT之方式形成、及参考用SAW组件,能以更高灵敏度且确实地测定液体中的检测物质。此液中物质检测传感器1,其特征在于,具备:传感用振荡电路11,包含传感用SAW组件12,系设置有以覆盖至少一个IDT之方式形成、与液体中物质产生反应之反应膜,及连接于传感用SAW组件12之第1放大电路15;以及参考用振荡电路21,包含具有至少一个IDT但不具有反应膜之参考用SAW组件22,及连接于参考用SAW组件之第2放大电路25;当使用于传感用SAW组件及参考用SAW组件之压电基板之电机耦合系数设为k^2(%)时,传感用振荡电路11之振荡频率与参考用振荡电路21之振荡频率隔开200�k^2(ppm)以上。

2. 发明专利

TW200636237A 表面波感測裝置审中-公开
简体标题：表面波传感设备
公开(公告)号：TW200636237A
公开(公告)日：2006-10-16
申请号：TW094139026
申请日：2005-11-07
申请人：村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：門田道雄 KADOTA, MICHIO , 藤本耕治 FUJIMOTO, KOJI
IPC分类号： G01N , H03H
CPC分类号： G01N29/022 , G01N29/2462 , G01N2291/0255 , G01N2291/0256 , G01N2291/0423
摘要：本發明係提供一種表面波感測裝置，其難以產生因附著液體而導致不是所希望之短路或測量精度下降，可給與可靠性優異之測量結果。本發明之表面波感測裝置1，其配置為：於含有第1通孔導體5a、5b、6a、6b之底部基板2之第1主面2a側，經由熱壓著性各向異性導電片7、8而接著有彈性表面波元件11、21，且於彈性表面波元件11、21之壓電基板12、22之第1主面12a、22a側形成有IDT13、14等電極，且該電極經由設置於壓電基板12、22之第2通孔導體16a、16b、26a、26b而拉出至第2主面12b、22側，而第1通孔導體5a、5b、5e、5f經由熱壓著性各向異性導電片7、8而重合於第2通孔導體16a、16b、26a、26b。
简体摘要：本发明系提供一种表面波传感设备，其难以产生因附着液体而导致不是所希望之短路或测量精度下降，可给与可靠性优异之测量结果。本发明之表面波传感设备1，其配置为：于含有第1通孔导体5a、5b、6a、6b之底部基板2之第1主面2a侧，经由热压着性各向异性导电片7、8而接着有弹性表面波组件11、21，且于弹性表面波组件11、21之压电基板12、22之第1主面12a、22a侧形成有IDT13、14等电极，且该电极经由设置于压电基板12、22之第2通孔导体16a、16b、26a、26b而拉出至第2主面12b、22侧，而第1通孔导体5a、5b、5e、5f经由热压着性各向异性导电片7、8而重合于第2通孔导体16a、16b、26a、26b。

3. 发明专利

TW480335B 用以於球形界限材料中聚焦相位陣列之傳播波路徑之方法及裝置有权
简体标题：用以于球形界限材料中聚焦相位数组之传播波路径之方法及设备
公开(公告)号：TW480335B
公开(公告)日：2002-03-21
申请号：TW089122436
申请日：2000-10-25
申请人：燃燒工程核能公司
发明人：羅爵F 德威
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/2456 , G01N29/262 , G01N2291/0423 , G01N2291/106 , G01N2291/265
摘要：本發明係與一種用以聚焦超音波之方法及裝置有關，該波是從一相位陣列朝向一球形界限物體傳播使得其可在同時間且相位相同地到達一預先設定的焦點，藉此相當程度地，非破壞性地改善物體中可能的裂縫之可偵測性，以及物體的結構特性。所揭示的方法包含使用一重覆的程序計算在球形工作部份之表面上多個較佳的折射點三位置。每個較佳的折射點對應於相位陣列機制的元件之一。較佳的折射點之位置與預先設定的焦點以及相位元件之位置有關。在計算較佳的折射點之後，該方法包含計算對每個相位陣列機制之每個元件之脈衝發射時間，其是與從元件所發出的波之相關的時間有關的。
简体摘要：本发明系与一种用以聚焦超音波之方法及设备有关，该波是从一相位数组朝向一球形界限物体传播使得其可在同时间且相位相同地到达一预先设置的焦点，借此相当程度地，非破坏性地改善物体中可能的裂缝之可侦测性，以及物体的结构特性。所揭示的方法包含使用一重复的进程计算在球形工作部份之表面上多个较佳的折射点三位置。每个较佳的折射点对应于相位数组机制的组件之一。较佳的折射点之位置与预先设置的焦点以及相比特件之位置有关。在计算较佳的折射点之后，该方法包含计算对每个相位数组机制之每个组件之脉冲发射时间，其是与从组件所发出的波之相关的时间有关的。

4. 发明专利

TW201439532A 光學聲音基體評估系統及方法审中-公开
简体标题：光学声音基体评估系统及方法
公开(公告)号：TW201439532A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW103103917
申请日：2014-02-06
申请人：魯道夫科技股份有限公司 , RUDOLPH TECHNOLOGIES, INC. , 科羅拉多大學董事會 , THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF COLORADO
发明人：莫瑞陶德 , MURRAY, TODD , 米亨戴爾曼珠沙 , MEHENDALE, MANJUSHA , 柯迪洋斯基麥可 , KOTELYANSKII, MICHAEL , 梅爾羅賓 , MAIR, ROBIN , 摩肯漢布利亞 , MUKUNDHAN, PRIYA
IPC分类号： G01N29/04 , H01L21/66 , H01L21/67
CPC分类号： H01L22/20 , G01N21/00 , G01N21/1702 , G01N21/41 , G01N21/9501 , G01N29/04 , G01N29/2418 , G01N2021/8461 , G01N2201/06113 , G01N2291/011 , G01N2291/028 , G01N2291/0423 , G01N2291/0426 , H01L21/0231 , H01L21/78 , H01L22/00 , H01L22/10 , H01L22/12
摘要：此處揭示識別形成於一基體內之一結構的一或多個特性之系統及方法。於該基體內感應表面聲波及本體聲波，及行進通過一關注結構，於該處感測聲波。該波內編碼有關該結構的一或多個特性之資訊。該編碼資訊係經評估以決定該關注特性。
简体摘要：此处揭示识别形成于一基体内之一结构的一或多个特性之系统及方法。于该基体内感应表面声波及本体声波，及行进通过一关注结构，于该处传感声波。该波内编码有关该结构的一或多个特性之信息。该编码信息系经评估以决定该关注特性。

5. 发明专利

TW201213801A 利用氣相層析分析之多維微氣相層析儀的氣相分析物光譜銳化及分離 GAS ANALYTE SPECTRUM SHARPENING AND SEPARATION WITH MULTI-DIMENSIONAL MICRO-GC FOR GAS CHROMATOGRAPHY ANALYSIS 审中-公开
简体标题：利用气相层析分析之多维微气相层析仪的气相分析物光谱锐化及分离 GAS ANALYTE SPECTRUM SHARPENING AND SEPARATION WITH MULTI-DIMENSIONAL MICRO-GC FOR GAS CHROMATOGRAPHY ANALYSIS
公开(公告)号：TW201213801A
公开(公告)日：2012-04-01
申请号：TW100114151
申请日：2011-04-22
申请人：創控生技股份有限公司
发明人：周宗冠 , 朱世琦 , 鄭嘉升 , 王禮鵬 , 黃建霖
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N30/30 , G01N29/022 , G01N30/463 , G01N30/465 , G01N30/468 , G01N30/6095 , G01N2030/884 , G01N2291/021 , G01N2291/0256 , G01N2291/0423 , G01N2291/0426
摘要：本發明闡述一種包括一第一氣相層析儀之設備之實施例，該第一氣相層析儀包括一流體進口、一流體出口及一第一溫度控制件。一控制器耦合至該第一溫度控制件且包括將一第一溫度輪廓施加至該第一溫度控制件從而加熱、冷卻或既加熱又冷卻該第一氣相層析儀的邏輯。本發明亦揭示並主張其他實施例。
简体摘要：本发明阐述一种包括一第一气相层析仪之设备之实施例，该第一气相层析仪包括一流体进口、一流体出口及一第一温度控制件。一控制器耦合至该第一温度控制件且包括将一第一温度轮廓施加至该第一温度控制件从而加热、冷却或既加热又冷却该第一气相层析仪的逻辑。本发明亦揭示并主张其他实施例。

6. 发明专利

TW201140025A 使用表面聲波計量學之基板分析 SUBSTRATE ANALYSIS USING SURFACE ACOUSTIC WAVE METROLOGY 审中-公开
简体标题：使用表面声波计量学之基板分析 SUBSTRATE ANALYSIS USING SURFACE ACOUSTIC WAVE METROLOGY
公开(公告)号：TW201140025A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：TW099134579
申请日：2010-10-11
申请人：魯道夫科技股份有限公司
发明人：柯根麥可 , 庫泰楊斯基麥可J , 摩拉斯克里斯多福J , 馬里斯漢弗瑞
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/2418 , B82Y20/00 , B82Y35/00 , G01N29/041 , G01N29/12 , G01N2291/0423 , G01Q60/22
摘要：本發明所揭示的是一種强加以及分析一基板中的表面聲波、以決定該基板的特徵的系統,亦揭示用於强加以及分析一基板中的表面聲波的光元件以及配置,其中,NSOM、格柵、以及奈米光元件可以被用來在一基板中强加表面聲波,並且亦可以被用來測量該基板中由於表面聲波通過其間所出現的暫時改變。
简体摘要：本发明所揭示的是一种强加以及分析一基板中的表面声波、以决定该基板的特征的系统,亦揭示用于强加以及分析一基板中的表面声波的光组件以及配置,其中,NSOM、格栅、以及奈米光组件可以被用来在一基板中强加表面声波,并且亦可以被用来测量该基板中由于表面声波通过其间所出现的暂时改变。

7. 发明专利

TWI331216B 液中物質檢測感測器 SENSOR FOR DETECTING SUBSTANCE IN LIQUID 失效
简体标题：液中物质检测传感器 SENSOR FOR DETECTING SUBSTANCE IN LIQUID
公开(公告)号：TWI331216B
公开(公告)日：2010-10-01
申请号：TW096107621
申请日：2007-03-06
申请人：村田製作所股份有限公司
发明人：岡口健二朗 , 羽田拓生 , 門田道雄
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/022 , G01N2291/014 , G01N2291/0255 , G01N2291/0256 , G01N2291/0423 , G01N2291/0425
摘要：本發明提供一種液中物質檢測感測器，具有：感測用表面波元件，係以與液體中的檢測物質產生反應之反應膜覆蓋指狀電極之方式形成、及參考用表面波元件，能以更高靈敏度且確實地測定液體中的檢測物質。
此液中物質檢測感測器1，其特徵在於，具備：感測用振盪電路11，包含感測用表面波元件12，係設置有以覆蓋至少一個指狀電極之方式形成、與液體中物質產生反應之反應膜，及連接於感測用表面波元件12之第1放大電路15；以及參考用振盪電路21，包含具有至少一個指狀電極但不具有反應膜之參考用表面波元件22，及連接於參考用表面波元件之第2放大電路25；當使用於感測用表面波元件及參考用表面波元件之壓電基板之電機耦合係數設為k2(%)時，感測用振盪電路11之振盪頻率與參考用振盪電路21之振盪頻率隔開200×k2(ppm)以上。
简体摘要：本发明提供一种液中物质检测传感器，具有：传感用表面波组件，系以与液体中的检测物质产生反应之反应膜覆盖指状电极之方式形成、及参考用表面波组件，能以更高灵敏度且确实地测定液体中的检测物质。此液中物质检测传感器1，其特征在于，具备：传感用振荡电路11，包含传感用表面波组件12，系设置有以覆盖至少一个指状电极之方式形成、与液体中物质产生反应之反应膜，及连接于传感用表面波组件12之第1放大电路15；以及参考用振荡电路21，包含具有至少一个指状电极但不具有反应膜之参考用表面波组件22，及连接于参考用表面波组件之第2放大电路25；当使用于传感用表面波组件及参考用表面波组件之压电基板之电机耦合系数设为k2(%)时，传感用振荡电路11之振荡频率与参考用振荡电路21之振荡频率隔开200×k2(ppm)以上。

8. 实用新型

TW572208U 圓柱體表面之超音波探傷裝置及利用此之輥研削裝置失效
简体标题：圆柱体表面之超音波探伤设备及利用此之辊研削设备
公开(公告)号：TW572208U
公开(公告)日：2004-01-11
申请号：TW091209107
申请日：1998-10-30
申请人： JFE鋼鐵股份有限公司 JFE STEEL CORPORATION
发明人：高田一 , 杉本良一 , 守井隆史 , 田征雄
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/2487 , B24B5/363 , B24B5/37 , B24B27/033 , B24B49/10 , B24B49/12 , G01N29/041 , G01N29/228 , G01N29/245 , G01N29/26 , G01N29/28 , G01N29/40 , G01N29/42 , G01N2291/0421 , G01N2291/0423 , G01N2291/057 , G01N2291/2634
摘要：本創作係有關於一種圓柱體表面之超音波探傷方法及其探傷裝置，利用此之輥研削裝置，其目的乃用表面波做超音波探傷之際，防止一次裂縫的過度檢測，同時，減低結晶粒界的雜訊準位，提昇缺陷檢測能力。
具體而言，用表面波的熱壓延輥的超音波探傷之際，在收發訊前述表面波的表面波探針10，具備有配設在超音波振動子10A的超音波收發訊面之樹脂製尖劈10C、和配設在其背面之阻尼材10B，生成脈衝寬度為表面波波長2.5倍以下的短脈衝；甚至，對應於輥周速度來供給媒體液；對應於反射波高度來決定研削量加以研削輥，又，邊部分研削輥邊探傷，求得輥研削量的最適值。
简体摘要：本创作系有关于一种圆柱体表面之超音波探伤方法及其探伤设备，利用此之辊研削设备，其目的乃用表面波做超音波探伤之际，防止一次裂缝的过度检测，同时，减低结晶粒界的噪声准位，提升缺陷检测能力。具体而言，用表面波的热压延辊的超音波探伤之际，在收发讯前述表面波的表面波探针10，具备有配设在超音波振动子10A的超音波收发讯面之树脂制尖噼10C、和配设在其背面之阻尼材10B，生成脉冲宽度为表面波波长2.5倍以下的短脉冲；甚至，对应于辊周速度来供给媒体液；对应于反射波高度来决定研削量加以研削辊，又，边部分研削辊边探伤，求得辊研削量的最适值。

9. 发明专利

TW364058B 評鑑及檢查複合材料修補物的結構體所用之方法及儀器失效
简体标题：评鉴及检查复合材料修补物的结构体所用之方法及仪器
公开(公告)号：TW364058B
公开(公告)日：1999-07-11
申请号：TW085113819
申请日：1996-11-13
申请人：義系統公司
发明人： J.H.鍾
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/12 , G01N29/348 , G01N2291/0231 , G01N2291/0423 , G01N2291/102
摘要：一種方法及儀器，用以評鑑及檢查複合物修補結構體。它產生一組變化頻率的電場信號以測試及評鑑複合物修補區域。該電場信號被轉換成機械信號，被傳遞穿越該結構體的複合物修補區域。傳遞過來的機械信號被接收並轉換成電場信號以便處理。處理過的信號被用以比對基準參者信號以決定該複合物修補區域已受損傷或未受損傷。該基準參者信號是在作複合物修補結構體之時獲取的。
简体摘要：一种方法及仪器，用以评鉴及检查复合物修补结构体。它产生一组变化频率的电场信号以测试及评鉴复合物修补区域。该电场信号被转换成机械信号，被传递穿越该结构体的复合物修补区域。传递过来的机械信号被接收并转换成电场信号以便处理。处理过的信号被用以比对基准参者信号以决定该复合物修补区域已受损伤或未受损伤。该基准参者信号是在作复合物修补结构体之时获取的。

10. 发明专利

TWI547689B 氣相層析設備、氣相分析系統及用於自流體時域分離化學品之方法有权
简体标题：气相层析设备、气相分析系统及用于自流体时域分离化学品之方法
公开(公告)号：TWI547689B
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：TW100114151
申请日：2011-04-22
申请人：創控生技股份有限公司 , TRICORNTECH CORPORATION
发明人：周宗冠 , CHOU, TSUNG KUAN A. , 朱世琦 , CHU, SHIH CHI , 鄭嘉升 , CHENG, CHIA SHENG , 王禮鵬 , WANG, LI-PENG , 黃建霖 , HUANG, CHIEN LIN
IPC分类号： G01N30/02 , G01N30/30 , G01N30/60 , G01N30/46
CPC分类号： G01N30/30 , G01N29/022 , G01N30/463 , G01N30/465 , G01N30/468 , G01N30/6095 , G01N2030/884 , G01N2291/021 , G01N2291/0256 , G01N2291/0423 , G01N2291/0426

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