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1. 发明专利

TW201411119A 表面特徵映射审中-公开
简体标题：表面特征映射
公开(公告)号：TW201411119A
公开(公告)日：2014-03-16
申请号：TW102116546
申请日：2013-05-09
申请人：希捷科技有限公司 , SEAGATE TECHNOLOGY LLC
发明人：安納喬金 , AHNER, JOACHIM WALTER , 麥克羅琳史蒂芬 , MCLAURIN, STEPHEN KEITH
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/95
CPC分类号： G01N21/8806 , G01N21/47 , G01N21/8851 , G01N21/94 , G01N21/95 , G01N21/9501 , G01N21/9506 , G01N2021/8864 , G01N2201/061 , G01N2201/12
摘要：本文中提供一種設備，包括：光子發射機構，用於發射光子至物件的表面上；光子檢測機構，用於檢測散射自該物件的該表面中的特徵之光子；及映射機構，用於映射該物件的該表面中的該等特徵，其中該設備係配置成每100秒處理多個物件。
简体摘要：本文中提供一种设备，包括：光子发射机构，用于发射光子至对象的表面上；光子检测机构，用于检测散射自该对象的该表面中的特征之光子；及映射机构，用于映射该对象的该表面中的该等特征，其中该设备系配置成每100秒处理多个对象。

2. 发明专利

TW200606742A 確認系統,資料裝置,及使用該裝置之方法 AUTHENTICATION SYSTEM, DATA DEVICE, AND METHODS FOR USING THE SAME 审中-公开
简体标题：确认系统,数据设备,及使用该设备之方法 AUTHENTICATION SYSTEM, DATA DEVICE, AND METHODS FOR USING THE SAME
公开(公告)号：TW200606742A
公开(公告)日：2006-02-16
申请号：TW094112589
申请日：2005-04-20
申请人：通用電機股份有限公司 GENERAL ELECTRIC COMPANY
发明人：大衛嘉斯康 GASCOYNE, DAVID , 布萊恩羅倫斯 LAWRENCE, BRIAN , 斯利拉梅克利納梅魯華達 MARUVADA, SRIRAMAKRISHNA , 瑞迪斯拉夫波提瑞羅 POTYRAILO, RADISLAV ALEXANDROVICH , 菲利普史考特蘭 SCHOTTLAND, PHILIPPE , 米卡斯瑟 SZE, MICAH SAKIESTEWA , 瑪可威斯努戴爾 WISNUDEL, MARC BRIAN
IPC分类号： G06K
CPC分类号： G01N21/643 , G01N21/645 , G01N21/9506 , G01N2021/1753 , G01N2021/6417 , G01N2021/6439 , G01N2021/6471 , G01N2201/0627 , G11B19/122 , G11B23/281
摘要：一確認系統可包括：第一光源(LED1)、第二光源(LED2)，與至少三個用以偵測光譜靈敏度範圍內之類比發射強度的光學濾光感測裝置(PD)，其中每個光感測裝置(PD)可與第一光源及／或第二光源相通操作。該第一光源(LED1)可具有第一光源光譜分布，且可以提供充份激發以自包括發光標籤與色彩的媒體產生光致發光發射。該第二光源(LED2)可具有可見光多重波長光譜分布，且可以提供該媒體之充分可見光多重波長照射，以產生第二類比回應，其中該第二類比回應與該光致發光發射不同。每個光感測裝置(PD)可具有不同裝置光譜靈敏度範圍，該範圍包括該可見光多重波長光譜分布的至少一部分，且至少一個光感測裝置的裝置光譜靈敏度範圍包括所需之光致發光發射波長範圍的至少一部分。
简体摘要：一确认系统可包括：第一光源(LED1)、第二光源(LED2)，与至少三个用以侦测光谱灵敏度范围内之模拟发射强度的光学滤光传感设备(PD)，其中每个光传感设备(PD)可与第一光源及／或第二光源相通操作。该第一光源(LED1)可具有第一光源光谱分布，且可以提供充份激发以自包括发光标签与色彩的媒体产生光致发光发射。该第二光源(LED2)可具有可见光多重波长光谱分布，且可以提供该媒体之充分可见光多重波长照射，以产生第二模拟回应，其中该第二模拟回应与该光致发光发射不同。每个光传感设备(PD)可具有不同设备光谱灵敏度范围，该范围包括该可见光多重波长光谱分布的至少一部分，且至少一个光传感设备的设备光谱灵敏度范围包括所需之光致发光发射波长范围的至少一部分。

3. 发明专利

TW200527405A 外觀檢查裝置失效
简体标题：外观检查设备
公开(公告)号：TW200527405A
公开(公告)日：2005-08-16
申请号：TW093132605
申请日：2004-10-27
申请人：新力光碟科技股份有限公司 SONY DISC TECHNOLOGY INC.
发明人：野島和久 NOJIMA, KAZUHISA
IPC分类号： G11B
CPC分类号： G11B7/0948 , G01N21/9506
摘要：本發明係利用透鏡59將光源58變換成行狀之平行光，並使其入射於分光鏡60。分光鏡60係反射入射光之一半，使其垂直入射於光碟65之表面之行狀區域，並使剩下之一半透過而傾斜地入射於光碟65之表面之行狀區域。利用第1攝影機62檢出垂直入射於光碟65之表面之光之反射光之光量。此入射光、反射光均垂直於光碟65之表面，故即使表面發生大缺陷，在第1攝影機62之攝影中，也不會產生虛像，而可執行正確之缺陷尺寸之檢知。
简体摘要：本发明系利用透镜59将光源58变换成行状之平行光，并使其入射于分光镜60。分光镜60系反射入射光之一半，使其垂直入射于光盘65之表面之行状区域，并使剩下之一半透过而倾斜地入射于光盘65之表面之行状区域。利用第1摄影机62检出垂直入射于光盘65之表面之光之反射光之光量。此入射光、反射光均垂直于光盘65之表面，故即使表面发生大缺陷，在第1摄影机62之摄影中，也不会产生虚像，而可运行正确之缺陷尺寸之检知。

4. 发明专利

TWI348688B 偵測缺陷光碟片的裝置與方法 APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING A DEFECT OF AN OPTICAL DISC 有权
简体标题：侦测缺陷光盘片的设备与方法 APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING A DEFECT OF AN OPTICAL DISC
公开(公告)号：TWI348688B
公开(公告)日：2011-09-11
申请号：TW096116540
申请日：2007-05-09
申请人：凌陽科技股份有限公司
发明人：陳慶全 , 林義鈞
IPC分类号： G11B
CPC分类号： G11B7/0948 , G01N21/9506 , G11B7/0053 , G11B20/18
摘要：本發明揭露一種偵測缺陷光碟片的裝置與方法，包括下列步驟：確定一光學讀取頭於一鎖軌狀態存取一軌道上的資料；切割類比的一波浪信號成為數位的一波浪時脈信號；根據波浪時脈信號決定該軌道是否為一缺陷區域；以及，當該軌道確定為缺陷區域時，維持該光學讀寫頭的位置不變。
简体摘要：本发明揭露一种侦测缺陷光盘片的设备与方法，包括下列步骤：确定一光学读取头于一锁轨状态存取一轨道上的数据；切割模拟的一波浪信号成为数码的一波浪时脉信号；根据波浪时脉信号决定该轨道是否为一缺陷区域；以及，当该轨道确定为缺陷区域时，维持该光学读写头的位置不变。

5. 发明专利

TW200844425A 用於偵測透明固態物件中之缺陷的方法及裝置 METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS IN A TRANSPARENT SOLID ARTICLE 审中-公开
简体标题：用于侦测透明固态对象中之缺陷的方法及设备 METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS IN A TRANSPARENT SOLID ARTICLE
公开(公告)号：TW200844425A
公开(公告)日：2008-11-16
申请号：TW096140666
申请日：2007-10-30
申请人：拜耳材料科學股份有限公司 BAYER MATERIALSCIENCE AG
发明人：沙瑞畢 SARABI, BAHMAN , 史丹吉 STANGE, JENS , 克勞斯 SALEWSKI, KLAUS , 哈拉斯 HALAS, CHRISTOF , 卡貝奇 KARBACH, ALEXANDER
IPC分类号： G01N , C08G , C08J
CPC分类号： G01N21/958 , B29C45/768 , B29C2945/76153 , B29C2945/76287 , B29C2945/76464 , G01N15/0227 , G01N21/94 , G01N21/9506 , G01N2021/151 , G01N2021/646 , G01N2021/6491 , G01N2021/8858 , G01N2021/8861 , G01N2021/8874 , G06T7/0004 , G06T2207/30164
摘要：本發明揭露一種用於偵測於一透明固態物件中缺陷的方法及裝置。依據此一方法,固態物件曝光於來自第一光源之光線下,並偵測其於曝光中所產生之螢光。從而進行螢光之影像處理;基於所射出螢光之形狀、大小或顏色,沉積於物件上之塵埃粒子乃與螢光缺陷作區分。一種適合進行此一方法之裝置,包含:(i)用於讓該物件曝光於第一光源之光線下的手段;(ii)用於偵測來自該缺陷之射出螢光的手段;以及(iii)用於進行該螢光之影像處理的手段。
简体摘要：本发明揭露一种用于侦测于一透明固态对象中缺陷的方法及设备。依据此一方法,固态对象曝光于来自第一光源之光线下,并侦测其于曝光中所产生之萤光。从而进行萤光之影像处理;基于所射出萤光之形状、大小或颜色,沉积于对象上之尘埃粒子乃与萤光缺陷作区分。一种适合进行此一方法之设备,包含:(i)用于让该对象曝光于第一光源之光线下的手段;(ii)用于侦测来自该缺陷之射出萤光的手段;以及(iii)用于进行该萤光之影像处理的手段。

6. 发明专利

TWI246066B 品質測試裝置及方法、以及電腦及電腦可讀取的儲存媒體 QUALITY-TESTING APPARATUS AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM CAPABLE OF BEING READ BY A COMPUTER 失效
简体标题：品质测试设备及方法、以及电脑及电脑可读取的存储媒体 QUALITY-TESTING APPARATUS AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM CAPABLE OF BEING READ BY A COMPUTER
公开(公告)号：TWI246066B
公开(公告)日：2005-12-21
申请号：TW091125195
申请日：2002-10-25
申请人：語音器材公司 AUDIODEW AKTIEOLAG
发明人：威爾赫森烏耳夫 WILHELMSON, ULF
IPC分类号： G11B
CPC分类号： G11B7/00375 , G01N21/9506 , G11B7/268 , G11B20/1816
摘要：一種用於光碟的品質測試裝置，此光碟係以螺旋或環狀圖型的形式儲存光學可讀取的資訊，此圖型係為一複數個本質上同中心的軌道(3)。該裝置具有一雷射光源(21)及一驅動裝置(22)，該裝置可自雷射光源投射一雷射光點至光碟的表面上，且在徑向方向移動此投射的雷射光點越過光碟碟表面的一部份，並跨過至少一些軌道。一種光檢測器(21)，其係用以當其移動時，檢測來自投射的雷射光點的反射光。此光檢測器會產生一時間變異測量訊號(HF)，其係與移動雷射光點跨過各自軌道有關。一處理裝置(40)，用以測量光碟被選部分的訊號振幅，及提供一包含重要參數的輸出，例如在凹洞及平面環狀圖型中，對稱及相關訊號的強度。
简体摘要：一种用于光盘的品质测试设备，此光盘系以螺旋或环状图型的形式存储光学可读取的信息，此图型系为一复数个本质上同中心的轨道(3)。该设备具有一激光光源(21)及一驱动设备(22)，该设备可自激光光源投射一激光光点至光盘的表面上，且在径向方向移动此投射的激光光点越过光盘碟表面的一部份，并跨过至少一些轨道。一种光检测器(21)，其系用以当其移动时，检测来自投射的激光光点的反射光。此光检测器会产生一时间变异测量信号(HF)，其系与移动激光光点跨过各自轨道有关。一处理设备(40)，用以测量光盘被选部分的信号振幅，及提供一包含重要参数的输出，例如在凹洞及平面环状图型中，对称及相关信号的强度。

7. 发明专利

TW468151B 光學資料載體瑕疵之光學檢定方法和裝置有权
简体标题：光学数据载体瑕疵之光学检定方法和设备
公开(公告)号：TW468151B
公开(公告)日：2001-12-11
申请号：TW090102131
申请日：2001-02-02
申请人：巴斯勒公司
发明人：陸特傑斯
IPC分类号： G11B
CPC分类号： G01N21/9506
摘要：本發明係關於物體，尤指光學資料載體上的瑕疵，如局部變形或氣泡之光學檢定方法和裝置，其中物體是以至少一光源的光照明，而物體反射或透射的光由至少一光敏性接收體所接收，其中無瑕疵的物體，光是沿正常反射軸線，以正常反射角度反射或透射通過物體。按照本發明，擬議在光敏性接收體前，當光沿偏離正常反射軸線的反射軸線和/或以偏離正常反射角度的反射角度，反射或透射通過物體時，入射於接收體的至少一部份光之至少一性能即告變異。
简体摘要：本发明系关于物体，尤指光学数据载体上的瑕疵，如局部变形或气泡之光学检定方法和设备，其中物体是以至少一光源的光照明，而物体反射或透射的光由至少一光敏性接收体所接收，其中无瑕疵的物体，光是沿正常反射轴线，以正常反射角度反射或透射通过物体。按照本发明，拟议在光敏性接收体前，当光沿偏离正常反射轴线的反射轴线和/或以偏离正常反射角度的反射角度，反射或透射通过物体时，入射于接收体的至少一部份光之至少一性能即告变异。

8. 发明专利

TW328587B 快速瑕疵分析之光學裝置失效
简体标题：快速瑕疵分析之光学设备
公开(公告)号：TW328587B
公开(公告)日：1998-03-21
申请号：TW086109748
申请日：1997-07-10
申请人：萬國商業機器公司
发明人：蘭富安西佩那
IPC分类号： G11B
CPC分类号： G01B11/0608 , G01B9/02019 , G01B9/02048 , G01B9/02068 , G01B2290/70 , G01N21/9506
摘要：一種檢驗一樣本表面之裝置包含：一廣域掃描干涉儀，用以找出該表面中之缺陷或異常處；以及一窄域掃描干涉儀，用以發展該廣域掃描干涉儀所找出的個別缺陷之輪廓。可以一軸為中心而旋轉以驅動該樣本，同時使該等干涉儀沿著該軸之徑向而移動。
简体摘要：一种检验一样本表面之设备包含：一广域扫描干涉仪，用以找出该表面中之缺陷或异常处；以及一窄域扫描干涉仪，用以发展该广域扫描干涉仪所找出的个别缺陷之轮廓。可以一轴为中心而旋转以驱动该样本，同时使该等干涉仪沿着该轴之径向而移动。

9. 发明专利

TW200841007A 控制熱塑性模製組成物之方法及設備 METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING THE QUALITY OF THERMOPLASTIC MOLDING COMPOSITIONS 审中-公开
简体标题：控制热塑性模制组成物之方法及设备 METHOD AND DEVICE FOR CONTROLLING THE QUALITY OF THERMOPLASTIC MOLDING COMPOSITIONS
公开(公告)号：TW200841007A
公开(公告)日：2008-10-16
申请号：TW096140662
申请日：2007-10-30
申请人：拜耳材料科學股份有限公司 BAYER MATERIALSCIENCE AG
发明人：賽巴曼 SARABI, BAHMAN , 史傑斯 STANGE, JENS , 賽克斯 SALEWSKI, KLAUS , 賀克里 HALAS, CHRISTOF , 康亞利 KARBACH, ALEXANDER
IPC分类号： G01N , B29C
CPC分类号： G01N21/958 , B29B9/16 , B29C45/0053 , B29C45/2708 , B29C45/7686 , B29C47/0011 , B29C47/402 , B29C2037/903 , B29C2045/0027 , B29C2945/76341 , B29C2945/76421 , B29C2945/76464 , B29C2945/76652 , B29L2017/005 , G01N21/94 , G01N21/9506 , G01N2021/6421 , G01N2021/646 , B29C2945/76153
摘要：本發明揭示一種用於控制於粒狀形式之熱塑性模製組成物之品質之方法。該方法需要自一批次之粒狀物獲得樣本,自樣本製造至少一個透明之塑膠物件,對於該物件檢查可見之缺陷及根據檢查,決定該物件是否符合至少一種預先決定之品質接受標準。亦揭示者係一種用於執行本發明之方法之設備。
简体摘要：本发明揭示一种用于控制于粒状形式之热塑性模制组成物之品质之方法。该方法需要自一批次之粒状物获得样本,自样本制造至少一个透明之塑胶对象,对于该对象检查可见之缺陷及根据检查,决定该对象是否符合至少一种预先决定之品质接受标准。亦揭示者系一种用于运行本发明之方法之设备。

10. 发明专利

TW200745536A 端部檢查裝置审中-公开
简体标题：端部检查设备
公开(公告)号：TW200745536A
公开(公告)日：2007-12-16
申请号：TW096116471
申请日：2007-05-09
申请人：尼康股份有限公司 NIKON CORPORATION
发明人： 口直史 SAKAGUCHI, NAOSHI
IPC分类号： G01N , H01L
CPC分类号： G01N21/9506 , G01N21/9503 , G01N2021/8825
摘要：端部檢查裝置包括:照明手段5,係對平板形狀之被檢測物體1的端部,從被檢測物體之表面或背面的上方或下方以外之位置照射擴散光;攝影手段4,係從對和被檢測物體之表面或背面平行的面垂直方向位置拍攝端部;以及檢查手段7,係根據攝影手段所得的影像,檢查對端部之表面或背面傾斜的部分之狀態。
简体摘要：端部检查设备包括:照明手段5,系对平板形状之被检测物体1的端部,从被检测物体之表面或背面的上方或下方以外之位置照射扩散光;摄影手段4,系从对和被检测物体之表面或背面平行的面垂直方向位置拍摄端部;以及检查手段7,系根据摄影手段所得的影像,检查对端部之表面或背面倾斜的部分之状态。

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