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1. 发明专利

TWI393878B 面板檢測裝置及檢測面板的方法失效
简体标题：皮肤检测设备及检测皮肤的方法
公开(公告)号：TWI393878B
公开(公告)日：2013-04-21
申请号：TW097131406
申请日：2008-08-18
申请人：中華映管股份有限公司 , CHUNGHWA PICTURE TUBES, LTD.
发明人：高憲章 , KAO, HSIEN CHANG , 簡青俊 , CHIEN, CHING CHUN , 李智強 , LEE, CHIH CHIANG , 滕國璋 , TENG, KUO CHANG
IPC分类号： G01N21/896 , G01N21/88 , B65G49/06
CPC分类号： G01N21/86 , G01N2021/9513

2. 发明专利

TWI524990B 聚醯亞胺膜片之製造方法及製造裝置有权
简体标题：聚酰亚胺膜片之制造方法及制造设备
公开(公告)号：TWI524990B
公开(公告)日：2016-03-11
申请号：TW100102581
申请日：2011-01-25
申请人：宇部興產股份有限公司 , UBE INDUSTRIES, LTD.
发明人：樋口洋平 , HIGUCHI, YOHEI , 名越康浩 , NAGOSHI, YASUHIRO , 上木戶健 , UEKIDO, TAKESHI , 西野敏之 , NISHINO, TOSHIYUKI , 升井英治 , MASUI, EIJI
IPC分类号： B32B15/088 , B05D1/30 , B05D3/02 , B29C41/52 , B29K77/00 , B29L7/00 , B29L9/00
CPC分类号： B29C41/28 , B29K2079/08 , C08J5/18 , C08J2379/08 , G01B11/0691 , G01N21/86 , G01N2021/869

3. 发明专利

TW201134656A 聚醯亞胺膜片之製造方法及製造裝置 METHOD AND APPARATUS FOR MAKING POLYMIDE FILM 审中-公开
简体标题：聚酰亚胺膜片之制造方法及制造设备 METHOD AND APPARATUS FOR MAKING POLYMIDE FILM
公开(公告)号：TW201134656A
公开(公告)日：2011-10-16
申请号：TW100102581
申请日：2011-01-25
申请人：宇部興產股份有限公司
发明人：樋口洋平 , 名越康浩 , 上木戶健 , 西野敏之 , 升井英治
IPC分类号： B32B , B05D , B29C , B29K , B29L
CPC分类号： B29C41/28 , B29K2079/08 , C08J5/18 , C08J2379/08 , G01B11/0691 , G01N21/86 , G01N2021/869
摘要：本發明係關於一種聚醯亞胺膜片之製造方法及製造裝置；也就是說，本發明係提供一種可以生產性良好地製造具備在面內具備均勻物性之聚醯亞胺膜片之製造方法及製造裝置。藉由紅外線分光法測定自行支撐性膜片之溶媒含量，根據該測定結果，來控制由聚醯亞胺前驅體流延物之乾燥條件、自行支撐性膜片之後加熱條件及來自聚醯亞胺前驅體溶液之模具的擠出量而選出之1種以上條件。
简体摘要：本发明系关于一种聚酰亚胺膜片之制造方法及制造设备；也就是说，本发明系提供一种可以生产性良好地制造具备在面内具备均匀物性之聚酰亚胺膜片之制造方法及制造设备。借由红外线分光法测定自行支撑性膜片之溶媒含量，根据该测定结果，来控制由聚酰亚胺前驱体流延物之干燥条件、自行支撑性膜片之后加热条件及来自聚酰亚胺前驱体溶液之模具的挤出量而选出之1种以上条件。

4. 发明专利

TW201009322A 面板檢測裝置及檢測面板的方法 PANEL INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF PANEL 失效
简体标题：皮肤检测设备及检测皮肤的方法 PANEL INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF PANEL
公开(公告)号：TW201009322A
公开(公告)日：2010-03-01
申请号：TW097131406
申请日：2008-08-18
申请人：中華映管股份有限公司
发明人：高憲章 , 簡青俊 , 李智強 , 滕國璋
IPC分类号： G01N , B65G
CPC分类号： G01N21/86 , G01N2021/9513
摘要：本發明提供一種面板檢測裝置與檢測方法，其包含在相鄰之第一與第二輸送機之間隙上方或下方設置影像擷取元件，並利用第一輸送機將面板傳送至第二輸送機時，對通過該間隙之部分面板進行影像擷取動作。
简体摘要：本发明提供一种皮肤检测设备与检测方法，其包含在相邻之第一与第二输送机之间隙上方或下方设置影像截取组件，并利用第一输送机将皮肤发送至第二输送机时，对通过该间隙之部分皮肤进行影像截取动作。

5. 发明专利

TW200940784A 用於造紙製程中監測表面添加物之螢光檢測法 FLUOROMETRIC METHOD FOR MONITORING SURFACE ADDITIVES IN A PAPERMAKING PROCESS 审中-公开
简体标题：用于造纸制程中监测表面添加物之萤光检测法 FLUOROMETRIC METHOD FOR MONITORING SURFACE ADDITIVES IN A PAPERMAKING PROCESS
公开(公告)号：TW200940784A
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW097137868
申请日：2008-10-02
申请人：奈寇公司
发明人：詹姆士L 湯瑪士 , 奧立惟克洛特 , 魯尼H 班克
IPC分类号： D21H
CPC分类号： G01N21/643 , D21H19/36 , D21H19/54 , D21H21/30 , D21H23/78 , G01N21/8422 , G01N21/86 , G01N21/91 , G01N33/346 , G01N2021/6484 , G01N2021/8416 , G01N2021/8427 , G01N2021/8917
摘要：一種監測且視需要可控制造紙製程中一種或多種表面添加物的方法，該方法包含下列步驟：（a）加入已知量的一種或多種表面添加物至造紙製程，單獨添加或與一種或多種惰性螢光示跡劑的已知量成已知比例添加，其中當該表面添加物具有螢光能力時可僅添加該表面添加物；（b）在添加表面添加物之後以及待紙張成型後，量測表面添加物及╱或一或多種惰性螢光示跡劑的螢光，其中表面添加物若具有螢光能力時可只量測該添加物，且其中螢光藉基於反射性的螢光計量器所量測；（c）找出螢光量與在紙張上披覆物之表面添加物濃度及╱或在紙張上披覆物厚度之間的相關性，其中螢光量是表面添加物（若它們具有螢光能力）及╱或紙張上惰性螢光示跡劑的螢光量；並且（d）回應於紙張上披覆物的厚度及╱或紙張上披覆物中表面添加物的濃度，視需要控制一種或多種的表面添加物添加至造紙製程，以調整造紙製程中表面添加物的添加量。
简体摘要：一种监测且视需要可控制造纸制程中一种或多种表面添加物的方法，该方法包含下列步骤：（a）加入已知量的一种或多种表面添加物至造纸制程，单独添加或与一种或多种惰性萤光示迹剂的已知量成已知比例添加，其中当该表面添加物具有萤光能力时可仅添加该表面添加物；（b）在添加表面添加物之后以及待纸张成型后，量测表面添加物及╱或一或多种惰性萤光示迹剂的萤光，其中表面添加物若具有萤光能力时可只量测该添加物，且其中萤光藉基于反射性的萤光计量器所量测；（c）找出萤光量与在纸张上披覆物之表面添加物浓度及╱或在纸张上披覆物厚度之间的相关性，其中萤光量是表面添加物（若它们具有萤光能力）及╱或纸张上惰性萤光示迹剂的萤光量；并且（d）回应于纸张上披覆物的厚度及╱或纸张上披覆物中表面添加物的浓度，视需要控制一种或多种的表面添加物添加至造纸制程，以调整造纸制程中表面添加物的添加量。

6. 发明专利

TWI615270B 膜或薄膜之製造方法有权
简体标题：膜或薄膜之制造方法
公开(公告)号：TWI615270B
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：TW103117212
申请日：2014-05-15
申请人：百德福鋼帶公司 , BERNDORF BAND GMBH
发明人：摩根畢瑟卡爾 , MORGENBESSER, KARL , 法蘭屈漢斯 , FLASCH, HANNES , 波斯柴克麥可 , PROSCHEK, MICHAEL
IPC分类号： B29D7/01 , B29C41/28 , B29C41/52 , B29C41/46 , B29C35/02 , G01N21/35 , B29K105/00
CPC分类号： B29C41/28 , B29C35/0277 , B29C35/0288 , B29C41/44 , B29C41/46 , B29C41/52 , B29K2105/0073 , B29L2007/00 , G01N21/8422 , G01N21/86 , G01N2021/3595 , G01N2021/8416

7. 发明专利

TW201740096A 用於在透明片上的光學測量之系統及方法审中-公开
简体标题：用于在透明片上的光学测量之系统及方法
公开(公告)号：TW201740096A
公开(公告)日：2017-11-16
申请号：TW105141045
申请日：2016-12-12
申请人：帝斯曼知識產權資產管理有限公司 , DSM IP ASSETS B.V.
发明人：西亞斯沃夫岡 , THEISS, WOLFGANG , 阿邦吉拉德斯 , ABEN, GERARDUS
IPC分类号： G01N21/47 , G01N21/86 , G01N21/896
CPC分类号： G01N21/474 , G01J3/0254 , G01J2001/0481 , G01J2001/061 , G01N21/59 , G01N21/8422 , G01N21/86 , G01N21/896 , G01N2021/4735 , G01N2021/8411 , G01N2021/8618 , G01N2201/0632 , G01N2201/065
摘要：本發明關於一種用於測量透明樣本片之光透射及/或光反射特性的系統，該系統包含一偵測總成與一控制單元，其中該偵測總成包含一積分球，其具有一取樣端口、一照明端口、一偵測端口、定位於該照明端口的一內部光源、及耦合至一光譜儀並定位於該偵測端口的一光偵測器；偵測直接來自該取樣端口或來自該積分球之壁之輻射的構件；軸向對齊於該取樣端口的一外部光源；以該內部光源或以該外部光源照明的構件；一參考標準，以及將其定位於該取樣端口及從該取樣端口定位的構件。此系統係相對緊湊，並可有利地用於既有片材產線以供製程和品質控制。本發明亦關於一種用於應用該系統測量透明樣本片的光透射及/或光反射特性的方法；以及關於包含該方法之製作片材，尤其是AR-塗覆玻璃片的製程。
简体摘要：本发明关于一种用于测量透明样本片之光透射及/或光反射特性的系统，该系统包含一侦测总成与一控制单元，其中该侦测总成包含一积分球，其具有一采样端口、一照明端口、一侦测端口、定位于该照明端口的一内部光源、及耦合至一光谱仪并定位于该侦测端口的一光侦测器；侦测直接来自该采样端口或来自该积分球之壁之辐射的构件；轴向对齐于该采样端口的一外部光源；以该内部光源或以该外部光源照明的构件；一参考标准，以及将其定位于该采样端口及从该采样端口定位的构件。此系统系相对紧凑，并可有利地用于既有片材产线以供制程和品质控制。本发明亦关于一种用于应用该系统测量透明样本片的光透射及/或光反射特性的方法；以及关于包含该方法之制作片材，尤其是AR-涂覆玻璃片的制程。

8. 发明专利

TW201736628A 光學檢查系統、用於處理在可撓性基板上之材料的處理系統、以及一種檢查可撓性基板的方法审中-公开
简体标题：光学检查系统、用于处理在可挠性基板上之材料的处理系统、以及一种检查可挠性基板的方法
公开(公告)号：TW201736628A
公开(公告)日：2017-10-16
申请号：TW106101066
申请日：2017-01-12
申请人：應用材料股份有限公司 , APPLIED MATERIALS, INC.
发明人：皮瑞里西法畢歐 , PIERALISI, FABIO , 瑞絲佛羅里安 , RIES, FLORIAN
IPC分类号： C23C14/54 , G01N21/89 , G01N21/86
CPC分类号： G01N21/8901 , C23C14/547 , G01N21/8422 , G01N21/86 , G01N21/8914 , G01N21/896
摘要：根據本發明公開之一方面，提出一種光學檢查系統(100)，用於檢查一可撓性的基板(10)。此光學檢查系統包括一基板支撐件(20)，其具有一用以導向基板沿著一基板輸送路徑(T)之至少部分凸出的基板支撐表面(22)，基板支撐件係設置在基板輸送路徑的第一側(1)上；一光源(30)係設置在基板輸送路徑的第二側(2)上並用以導射一光束穿透過基板的一受支撐部，所述受支撐部與凸出的基板支撐表面相接觸；以及一光偵測器，用以執行基板的穿透率量測。根據本發明公開之另一方面，提出一種可撓性基板的檢查方法。
简体摘要：根据本发明公开之一方面，提出一种光学检查系统(100)，用于检查一可挠性的基板(10)。此光学检查系统包括一基板支撑件(20)，其具有一用以导向基板沿着一基板输送路径(T)之至少部分凸出的基板支撑表面(22)，基板支撑件系设置在基板输送路径的第一侧(1)上；一光源(30)系设置在基板输送路径的第二侧(2)上并用以导射一光束穿透过基板的一受支撑部，所述受支撑部与凸出的基板支撑表面相接触；以及一光侦测器，用以运行基板的穿透率量测。根据本发明公开之另一方面，提出一种可挠性基板的检查方法。

9. 发明专利

TW200529348A 用以載置電子零件之薄膜承載膠帶及半導體元件之檢視裝置及方法 INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR FILM CARRIER TAPES FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENTS AND SEMICONDUCTOR DEVICES 审中-公开
简体标题：用以载置电子零件之薄膜承载胶带及半导体组件之视图设备及方法 INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR FILM CARRIER TAPES FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENTS AND SEMICONDUCTOR DEVICES
公开(公告)号：TW200529348A
公开(公告)日：2005-09-01
申请号：TW094104810
申请日：2005-02-18
申请人：三井金屬礦業股份有限公司 MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.
发明人：山本昌彥 YAMAMOTO, MASAHIKO , 幸山佳弘 KOUZAN, YOSHIHIRO , 埜藤幸雄 NOTO, SACHIO , 小林清人 KOBAYASHI, KIYOHITO
IPC分类号： H01L
CPC分类号： H01L21/67288 , G01N21/86 , G01N21/8803 , H01L21/67132
摘要：本發明有關一種檢視裝置及方法，其可使檢視者以正常坐姿之位置視覺檢視用以載置電子零件之薄膜承載膠帶，而無關於放大鏡之放大倍率。此檢視裝置密實而可有效利用檢視室內之空間。此檢視裝置包含彼此相鄰之一進料捲軸3及一捲取捲軸7，以及包含一檢視部10，其設置位置係使得相鄰之進料捲軸與捲取捲軸係以相對於該檢視部10為進料捲軸3及捲取捲軸7之順序。來自該進料捲軸3之薄膜承載膠帶T以實質上垂直於該檢視部10之方向輸送且沿著實質上垂直之方向以放大鏡11檢視。
简体摘要：本发明有关一种视图设备及方法，其可使视图者以正常坐姿之位置视觉视图用以载置电子零件之薄膜承载胶带，而无关于放大镜之放大倍率。此视图设备密实而可有效利用视图室内之空间。此视图设备包含彼此相邻之一进料卷轴3及一卷取卷轴7，以及包含一视图部10，其设置位置系使得相邻之进料卷轴与卷取卷轴系以相对于该视图部10为进料卷轴3及卷取卷轴7之顺序。来自该进料卷轴3之薄膜承载胶带T以实质上垂直于该视图部10之方向输送且沿着实质上垂直之方向以放大镜11视图。

10. 实用新型

TW461261U 滑動拉鍊用滑動頭本體姿勢揀選裝置失效
简体标题：滑动拉链用滑动头本体姿势拣选设备
公开(公告)号：TW461261U
公开(公告)日：2001-10-21
申请号：TW089218464
申请日：1999-07-21
申请人：華可貴股份有限公司
发明人：松島涉 , 開澤修一
IPC分类号： A44B
CPC分类号： G01N21/86
摘要：本創作提供一種滑動拉鍊用滑動頭本體姿勢揀選裝置，以此種裝置，不需要調整該裝置以適用於個別之不同形態之滑動拉鍊用滑動頭的本體，可以共用相同之裝置以揀選不同形態之本體，且依據姿勢來揀選該本體係容易的。用以供應滑動拉鍊用滑動頭之本體(12)的滑動拉鍊用滑動頭本體姿勢揀選裝置，包含該本體(12)於上移動之一轉移路徑(14)，及被設於該轉移路徑(14)之某些中點處且用以偵測每一該本體(12)之姿勢的一感測部份(16)。該感測部份(16)具有用以感測該本體(12)之一存在/不存在區別感測器(28)，及用以區別該本體(12)之姿勢的一姿勢區別感測器(30)。該姿勢區別感測器(30)具有光發射部份(34)與(35)及光接收部份(36)與(37)。用以構成該姿勢區別感測器(30)且導引光線之光學纖維(38)之末端部份，均被置於該轉移路徑(14)上。
简体摘要：本创作提供一种滑动拉链用滑动头本体姿势拣选设备，以此种设备，不需要调整该设备以适用于个别之不同形态之滑动拉链用滑动头的本体，可以共享相同之设备以拣选不同形态之本体，且依据姿势来拣选该本体系容易的。用以供应滑动拉链用滑动头之本体(12)的滑动拉链用滑动头本体姿势拣选设备，包含该本体(12)于上移动之一转移路径(14)，及被设于该转移路径(14)之某些中点处且用以侦测每一该本体(12)之姿势的一传感部份(16)。该传感部份(16)具有用以传感该本体(12)之一存在/不存在区别传感器(28)，及用以区别该本体(12)之姿势的一姿势区别传感器(30)。该姿势区别传感器(30)具有光发射部份(34)与(35)及光接收部份(36)与(37)。用以构成该姿势区别传感器(30)且导引光线之光学纤维(38)之末端部份，均被置于该转移路径(14)上。

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