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    • 10. 发明专利
    • 分光測定裝置及分光測定方法
    • 分光测定设备及分光测定方法
    • TW201621284A
    • 2016-06-16
    • TW104139008
    • 2015-11-24
    • 濱松赫德尼古斯股份有限公司HAMAMATSU PHOTONICS K. K.
    • 鈴木健吾SUZUKI, KENGO井口和也IGUCHI, KAZUYA
    • G01J3/02G01J1/58
    • G01J3/36G01J3/0254G01J3/4406G01N21/64G01N21/645G01N2021/6421G01N2021/6469G01N2021/6484G01N2201/065
    • 分光測定裝置1包含:光源10、積分器20、第1分光檢測器41、第2分光檢測器42及解析部50。積分器20包含:內部空間21,其供配置測定對象物;光輸入部22,其將光輸入至內部空間21;光輸出部23,其將光自內部空間21輸出;及試料安裝部24,其安裝測定對象物。第1分光檢測器41接收自積分器20輸出之光,對該光中之第1波長區域之光進行分光而取得第1光譜資料。第2分光檢測器42接收自積分器20輸出之光,對該光中之第2波長區域之光進行分光而取得第2光譜資料。第1波長區域與第2波長區域包含一部分重疊之波長區域。藉此,實現可分光測定更廣之波長區域之被測定光的分光測定裝置及分光測定方法。
    • 分光测定设备1包含:光源10、积分器20、第1分光检测器41、第2分光检测器42及解析部50。积分器20包含:内部空间21,其供配置测定对象物;光输入部22,其将光输入至内部空间21;光输出部23,其将光自内部空间21输出;及试料安装部24,其安装测定对象物。第1分光检测器41接收自积分器20输出之光,对该光中之第1波长区域之光进行分光而取得第1光谱数据。第2分光检测器42接收自积分器20输出之光,对该光中之第2波长区域之光进行分光而取得第2光谱数据。第1波长区域与第2波长区域包含一部分重叠之波长区域。借此,实现可分光测定更广之波长区域之被测定光的分光测定设备及分光测定方法。