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    • 6. 发明专利
    • 準分子雷射裝置
    • 准分子激光设备
    • TW522619B
    • 2003-03-01
    • TW089120617
    • 2000-10-04
    • 荏原製作所股份有限公司
    • 關口信一大澤將森敏佐藤忠中澤敏治
    • H01S
    • F16C32/0444F16C32/047F16C32/0493F16C32/0497F16C2380/26H01S3/036H01S3/225H02K7/09
    • 一種準分子雷射裝置,包含:其中密封有如鹵素氣體之雷射氣體之容器,配置於容器中之一對放電電極,以產生能使雷射光振盪之放電,以及具有轉軸之循環扇,以在一對放電電極之間產生高速雷射氣體流。轉軸之兩端,由轉子一定子機構可旋轉地予以支撐,或者轉軸之一端,由轉子一定子機構可旋轉地予以支撐,而轉軸之另一端,由磁性軸承予以支撐。該轉子一定子機構包含附接於循環扇之轉軸之轉子、設於與轉子相對之位置之定子、設於定子以提供轉矩給轉子之電動馬達繞組、以及設於定子以產生可浮起及支撐轉子之磁力之位置控制繞組。
    • 一种准分子激光设备,包含:其中密封有如卤素气体之激光气体之容器,配置于容器中之一对放电电极,以产生能使激光光振荡之放电,以及具有转轴之循环扇,以在一对放电电极之间产生高速激光气体流。转轴之两端,由转子一定子机构可旋转地予以支撑,或者转轴之一端,由转子一定子机构可旋转地予以支撑,而转轴之另一端,由磁性轴承予以支撑。该转子一定子机构包含附接于循环扇之转轴之转子、设于与转子相对之位置之定子、设于定子以提供转矩给转子之电动马达绕组、以及设于定子以产生可浮起及支撑转子之磁力之位置控制绕组。
    • 7. 发明专利
    • 電動機連體構造之磁性軸承裝置
    • 电动机连体构造之磁性轴承设备
    • TW451037B
    • 2001-08-21
    • TW089118561
    • 2000-09-11
    • 荏原製作所股份有限公司
    • 茨田敏光大山敦中澤敏治關口信一駒井正和
    • F16C
    • F16C32/0444F16C32/0457
    • 本發明提供一種不必要施行煩雜之磁性軸承之控制特性的再調整或設定的變更等,而可以經常施行穩定之運轉控制的電動機連體構造之磁性軸承裝置。
      本發明係於將旋轉軸11由磁性軸承14A、14B支撐,同時由電動機l2、13驅動之電動機連體構造之磁性軸承裝置中,對磁性軸承與電動機之驅動部,由共同之電源供給部20供給電力,且具備對於該電源供給部之電源變動,使供給於電動機之電源之變動成為預定值以下之電動機驅動電源部23者。
    • 本发明提供一种不必要施行烦杂之磁性轴承之控制特性的再调整或设置的变更等,而可以经常施行稳定之运转控制的电动机连体构造之磁性轴承设备。 本发明系于将旋转轴11由磁性轴承14A、14B支撑,同时由电动机l2、13驱动之电动机连体构造之磁性轴承设备中,对磁性轴承与电动机之驱动部,由共同之电源供给部20供给电力,且具备对于该电源供给部之电源变动,使供给于电动机之电源之变动成为预定值以下之电动机驱动电源部23者。
    • 10. 发明专利
    • 被安裝成為自由飄浮的轉動轉子體之顫動減低方法及實施此方法之裝置
    • 被安装成为自由飘浮的转动转子体之颤动减低方法及实施此方法之设备
    • TW460686B
    • 2001-10-21
    • TW089108688
    • 2000-05-06
    • LDT有限公司及雷射顯示科技兩合公司
    • 克賴斯特哈德 德特
    • G01M
    • F16C32/0438F16C32/0444G01M1/225G01M1/32G01M1/34
    • 在一種供在一被安裝成為自由飄浮,並在其外部圓周有反射面(13)之轉動轉子體(l)減低顫動之方法,一有既定入射位置之測量束(5)被經過之轉動轉子體(l)之反射面(13)所反射,並在反射後,被導至一位置檢測器(17),其訊號予以供給至一電腦(22)。在轉子體(l)之一整轉時,此電腦(22)確定位置檢測器(17)所發出訊號之最大及最小值間之差,及與該二值關聯之轉子體(l)之角位置,並自後者,計算供校正裝置之控制訊號(16)。在該轉時或在轉子體(l)之隨後一轉時,此校正裝置(16)在轉子體(l)以一種非接觸方式導致質量分布之變化,並且不以一種致使在轉子體(l)之此轉時所確定位置檢測器(17)所發出訊號之最小及最大值間之差小於在前一轉時所確定之差之方式,影響反射面(13)。本案也關於一種供實施此種方法之裝置。
    • 在一种供在一被安装成为自由飘浮,并在其外部圆周有反射面(13)之转动转子体(l)减低颤动之方法,一有既定入射位置之测量束(5)被经过之转动转子体(l)之反射面(13)所反射,并在反射后,被导至一位置检测器(17),其信号予以供给至一电脑(22)。在转子体(l)之一整转时,此电脑(22)确定位置检测器(17)所发出信号之最大及最小值间之差,及与该二值关联之转子体(l)之角位置,并自后者,计算供校正设备之控制信号(16)。在该转时或在转子体(l)之随后一转时,此校正设备(16)在转子体(l)以一种非接触方式导致质量分布之变化,并且不以一种致使在转子体(l)之此转时所确定位置检测器(17)所发出信号之最小及最大值间之差小于在前一转时所确定之差之方式,影响反射面(13)。本案也关于一种供实施此种方法之设备。