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1. 发明专利

TWI354547B 連續式檢測裝置及連續式檢測系統 CONTINUOUS TESTING DEVICE AND CONTINUOUS TESTING SYSTEM 有权
简体标题：连续式检测设备及连续式检测系统 CONTINUOUS TESTING DEVICE AND CONTINUOUS TESTING SYSTEM
公开(公告)号：TWI354547B
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：TW097115988
申请日：2008-04-30
申请人：瑞鼎科技股份有限公司
发明人：楊裕雄 , 林明瑜 , 蔡昆熹 , 王威 , 徐琅 , 劉承賢 , 周忠誠
IPC分类号： A61B , G01N
CPC分类号： G01N21/31 , B01L3/502761 , B01L3/502792 , B01L9/527 , B01L2300/0864 , B01L2300/0867 , B01L2400/0424 , B01L2400/0427 , B01L2400/0454 , B03C5/005 , B03C5/026 , G01N21/05 , G01N33/491 , G01N2021/0325 , G01N2021/0346 , G01N2021/058 , G01N2201/062
摘要：一種連續式檢測裝置，用以檢測一流體中之一目標物之濃度。連續式檢測裝置包括一第一晶片、一訊號源以及一第二晶片。第一晶片包括一分離單元及一反應單元。分離單元用以分離目標物及流體中之一非目標物。反應單元用以使分離出非目標物之流體與一試劑進行反應。訊號源用以提供一訊號通過與試劑反應之流體。第二晶片設置於第一晶片之一側，並且包括一訊號轉換元件及一處理單元。訊號轉換元件用以接收通過流體之訊號，並依據此訊號輸出一電性訊號。處理單元用以根據電性訊號取得目標物之濃度。
简体摘要：一种连续式检测设备，用以检测一流体中之一目标物之浓度。连续式检测设备包括一第一芯片、一信号源以及一第二芯片。第一芯片包括一分离单元及一反应单元。分离单元用以分离目标物及流体中之一非目标物。反应单元用以使分离出非目标物之流体与一试剂进行反应。信号源用以提供一信号通过与试剂反应之流体。第二芯片设置于第一芯片之一侧，并且包括一信号转换组件及一处理单元。信号转换组件用以接收通过流体之信号，并依据此信号输出一电性信号。处理单元用以根据电性信号取得目标物之浓度。

2. 发明专利

TWI353443B 微晶片檢查裝置失效
简体标题：微芯片检查设备
公开(公告)号：TWI353443B
公开(公告)日：2011-12-01
申请号：TW094124152
申请日：2005-07-15
申请人：羅姆股份有限公司
发明人：野澤繁典 , 松本茂樹
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N21/03 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , G01N2021/0346
摘要：本發明的課題在於提供一種即使使用放電燈來作為光源時，也可得到高測定精度的微晶片檢查裝置、以及使用於該微晶片檢查裝置的微晶片及晶片保持具。
本發明之微晶片檢查裝置，係具備具有吸光光度測定部的微晶片所成，具有透射微晶片的吸光光度測定部之從光源所放射的光被受光於透射光受光部的構成，設有：將朝微晶片中的吸光光度測定部的光軸方向直線狀地延伸，並從其一端射入的光源所放射的光，從另一端射出，藉此導入至上述微晶片的吸光光度測定部的孔徑部；及透射配置於從孔徑部的一端一直到吸光光度測定部的光路上所射入的光的一部分，並反射其他的一部分的射入光分割反射鏡；及用以受光來自該反射鏡的反射光的反射光受光部。
简体摘要：本发明的课题在于提供一种即使使用放电灯来作为光源时，也可得到高测定精度的微芯片检查设备、以及使用于该微芯片检查设备的微芯片及芯片保持具。本发明之微芯片检查设备，系具备具有吸光光度测定部的微芯片所成，具有透射微芯片的吸光光度测定部之从光源所放射的光被受光于透射光受光部的构成，设有：将朝微芯片中的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸，并从其一端射入的光源所放射的光，从另一端射出，借此导入至上述微芯片的吸光光度测定部的孔径部；及透射配置于从孔径部的一端一直到吸光光度测定部的光路上所射入的光的一部分，并反射其他的一部分的射入光分割反射镜；及用以受光来自该反射镜的反射光的反射光受光部。

3. 发明专利

TWI268805B 連接微組件之裝置 DEVICE FOR CONNECTING MICROCOMPONENTS 失效
简体标题：连接微组件之设备 DEVICE FOR CONNECTING MICROCOMPONENTS
公开(公告)号：TWI268805B
公开(公告)日：2006-12-21
申请号：TW091102230
申请日：2002-02-07
申请人：麥克專利有限公司 MERCK PATENT GMBH
发明人：葛多‧彼柏 PIEPER, GUIDO , 麥克‧史麥斯 SCHMELZ, MICHAEL , 漢斯‧巫茲格 WURZIGER, HANNS , 諾伯特‧史威辛格 SCHWESINGER, NORBERT
IPC分类号： B01J , B01L
CPC分类号： B01J19/0093 , B01J2219/0081 , B01J2219/00828 , B01L3/5027 , B01L9/527 , B01L2200/027 , B01L2200/0689 , B01L2300/0887 , G01N2035/00326 , Y10T29/49126 , Y10T29/5313 , Y10T29/53174 , Y10T29/53252
摘要：在一種用於連接微組件之裝置，在較佳為具有一種板形設計，並較佳為由矽所組成之特定微反應器，將一有孔徑對應於在微組件之孔徑之密封板設置在諸微組件之間。
简体摘要：在一种用于连接微组件之设备，在较佳为具有一种板形设计，并较佳为由硅所组成之特定微反应器，将一有孔径对应于在微组件之孔径之密封板设置在诸微组件之间。

4. 发明专利

TW200617368A 微晶片檢查裝置及該構成構件失效
简体标题：微芯片检查设备及该构成构件
公开(公告)号：TW200617368A
公开(公告)日：2006-06-01
申请号：TW094124152
申请日：2005-07-15
申请人：牛尾電機股份有限公司 USHIO DENKI KABUSHIKI KAISHA
发明人：野澤繁典 NOZAWA, SHIGENORI , 松本茂樹 MATSUMOTO, SHIGEKI
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N21/03 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , G01N2021/0346
摘要：本發明的課題是針對於，提供一種即使作為光源使用放電燈時，也可得到高測定精度的微晶片檢查裝置，以及使用於該微晶片檢查裝置的微晶片及晶片保持具。本發明用以解決手段是：一種微晶片檢查裝置，屬於具備具有吸光光度測定部的微晶片所成，而從透射微晶片的吸光光度測定部的光源所放射的光被受光於透射光受光的構成，其特徵為：設有：朝微晶片的吸光光度測定部的光軸方向直線狀地延伸，並將從其一端射入的光源所放射的光，藉由從另一端射出而導入至上述微晶片的吸光光度測定部的孔徑部，及透射配置於從孔徑部的一端一直到吸光光度測定部的光路上所射入的光的一部分，並反射其他的一部分的射入光分割反射鏡，及用以受光來自該反射鏡的反射光受光部。
简体摘要：本发明的课题是针对于，提供一种即使作为光源使用放电灯时，也可得到高测定精度的微芯片检查设备，以及使用于该微芯片检查设备的微芯片及芯片保持具。本发明用以解决手段是：一种微芯片检查设备，属于具备具有吸光光度测定部的微芯片所成，而从透射微芯片的吸光光度测定部的光源所放射的光被受光于透射光受光的构成，其特征为：设有：朝微芯片的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸，并将从其一端射入的光源所放射的光，借由从另一端射出而导入至上述微芯片的吸光光度测定部的孔径部，及透射配置于从孔径部的一端一直到吸光光度测定部的光路上所射入的光的一部分，并反射其他的一部分的射入光分割反射镜，及用以受光来自该反射镜的反射光受光部。

5. 发明专利

TW200510093A 具有超疏水性表面之盤式載具 TRAY CARRIER WITH ULTRAPHOBIC SURFACES 审中-公开
简体标题：具有超疏水性表面之盘式载具 TRAY CARRIER WITH ULTRAPHOBIC SURFACES
公开(公告)号：TW200510093A
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：TW093110483
申请日：2004-04-15
申请人：安堤格里斯公司 ENTEGRIS, INC.
发明人：查爾斯艾克斯崔恩 CHARLES W. EXTRAND
IPC分类号： B65D , B23B , H01L
CPC分类号： B01L3/502707 , B01L3/5027 , B01L9/52 , B01L9/527 , B01L2300/166 , B08B17/06 , B08B17/065 , B65G2201/0258 , F15D1/065
摘要：一種具有超疏水性表面之盤式載體，用以增進更有效的清洗與乾燥該盤式載體。在本發明中，一盤式載體之整個表面或部分表面係為超疏水性。該盤式載體之超疏水性表面使該液體可與該表面接觸，例如可用於清洗中，以快速且容易「滾落」，而不會留下一液體薄膜或實質上液滴量。如此一來，會花費較少時間與能量於乾燥該表面上，且縮小重新沉積殘留物，藉此改良方法的全面品質，並促進該盤式載體之經濟重新使用。除此之外，該超疏水性表面可抗拒初始沉積的污染，該污染可能為液體或蒸氣形式。
简体摘要：一种具有超疏水性表面之盘式载体，用以增进更有效的清洗与干燥该盘式载体。在本发明中，一盘式载体之整个表面或部分表面系为超疏水性。该盘式载体之超疏水性表面使该液体可与该表面接触，例如可用于清洗中，以快速且容易“滚落”，而不会留下一液体薄膜或实质上液滴量。如此一来，会花费较少时间与能量于干燥该表面上，且缩小重新沉积残留物，借此改良方法的全面品质，并促进该盘式载体之经济重新使用。除此之外，该超疏水性表面可抗拒初始沉积的污染，该污染可能为液体或蒸气形式。

6. 发明专利

TW201541579A 用於流體及裝置共整合之低成本封裝审中-公开
简体标题：用于流体及设备共集成之低成本封装
公开(公告)号：TW201541579A
公开(公告)日：2015-11-01
申请号：TW104110568
申请日：2015-03-31
申请人：慕特拉生物公司 , MULTERRA BIO, INC.
发明人：米蘭尼亞凱維M , MILANINIA, KAVEH M.
IPC分类号： H01L23/28 , H01L21/58
CPC分类号： H01L23/04 , B01L3/502707 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0645 , B01L2300/0816 , H01L21/50 , H01L21/52 , H01L21/565 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：本發明提供用於封裝一晶片之方法及其中該晶片與封裝係共面且無間隙之封裝晶片。在某些例項中，該封裝晶片具有與該晶片整合之電極或流體。
简体摘要：本发明提供用于封装一芯片之方法及其中该芯片与封装系共面且无间隙之封装芯片。在某些实例中，该封装芯片具有与该芯片集成之电极或流体。

7. 发明专利

TWI374111B 微流體裝置交互連接系統或模組安裝或連接 MODULAR MOUNTING AND CONNECTION OR INTERCONNECTION SYSTEM FOR MICROFLUIDIC DEVICES 有权
简体标题：微流体设备交互连接系统或模块安装或连接 MODULAR MOUNTING AND CONNECTION OR INTERCONNECTION SYSTEM FOR MICROFLUIDIC DEVICES
公开(公告)号：TWI374111B
公开(公告)日：2012-10-11
申请号：TW096116578
申请日：2007-05-09
申请人：康寧公司
发明人：歐力位羅貝特 , 保羅帶拉提道得
IPC分类号： B81B , B01J
CPC分类号： B01L9/527 , B01J2219/0081 , B01J2219/0813 , B01L3/565 , B01L2200/026 , B01L2200/027 , B01L2200/028 , B01L2300/0816 , F16B2/06 , Y10T137/7504 , Y10T137/87153 , Y10T137/87249 , Y10T403/18
摘要：一種微流體裝置(20)之模組按裝以及連接或交互連接系統，該系統包含一組多個端部相鄰壓力密封流體連接器或轉接器(32)，一個或多個夾持結構(54,56)，其均構造成固定一個流體連接器(32)以壓力靠在微流體裝置(20)之平面性表面上，以及緊壓於該裝置，在其另一個直接地相對之平面性表面上為接觸襯墊(48)或另一流體連接器(32)，每一夾持結構(54,56)包含獨立地可移動提供壓力之元件例如壓力螺絲(36)，其構造將提供可控制數量之壓力。系統需要更進一步包含一個或多個裝置架構(58)，其構造均承受以及利用一個或多個連接之夾持結構(54,56)固定微流體裝置(20)，裝置架構(58)構造為容納裝置以及連接夾持結構(54,56)，其藉由只限制一個或兩個夾持結構(54,56)以並無扭力或彎矩施加於該裝置(20)方式達成，以及一個或多個系統架構(70)，其構造成承受及固定一組多個裝置架構(58)彼此以三維陣列相鄰，使得裝置(20)之間所需要流體交互連接的體積減為最低。
简体摘要：一种微流体设备(20)之模块按装以及连接或交互连接系统，该系统包含一组多个端部相邻压力密封流体连接器或转接器(32)，一个或多个夹持结构(54,56)，其均构造成固定一个流体连接器(32)以压力靠在微流体设备(20)之平面性表面上，以及紧压于该设备，在其另一个直接地相对之平面性表面上为接触衬垫(48)或另一流体连接器(32)，每一夹持结构(54,56)包含独立地可移动提供压力之组件例如压力螺丝(36)，其构造将提供可控制数量之压力。系统需要更进一步包含一个或多个设备架构(58)，其构造均承受以及利用一个或多个连接之夹持结构(54,56)固定微流体设备(20)，设备架构(58)构造为容纳设备以及连接夹持结构(54,56)，其借由只限制一个或两个夹持结构(54,56)以并无扭力或弯矩施加于该设备(20)方式达成，以及一个或多个系统架构(70)，其构造成承受及固定一组多个设备架构(58)彼此以三维数组相邻，使得设备(20)之间所需要流体交互连接的体积减为最低。

8. 发明专利

TW200940985A 檢查裝置审中-公开
简体标题：检查设备
公开(公告)号：TW200940985A
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW098101529
申请日：2009-01-16
申请人：牛尾電機股份有限公司
发明人：小川義正 , 美安勝置 , 奧村善彥
IPC分类号： G01N , H05K , F21V
CPC分类号： G01N21/255 , B01L3/5027 , B01L9/527 , G01J1/08 , G01J2001/0276 , G01N2035/00158
摘要：〔課題〕本發明，其目的在於進行檢體的分析之檢查裝置中，進行小型化裝置的同時，隨著提高光源的亮度遮蔽產生在光源周圍的電磁波。〔解決手段〕一種檢查裝置，具備了：具備收容檢查流體的檢查流體收容部之微晶片，和對前述微晶片的檢查流體收容部、射入光到前述檢查流體之放電燈，和收容該放電燈之光源收容部，和根據從檢查流體收容部所射出之光的強度來算出檢測對象成分的濃度之演算機構；其特徵在於：前述光源收容部，係於由絕緣材料所形成的框體部的外部，具備遮蔽從前述光線所放射出來的電磁波、連接到接地（earth）之遮蔽機構。
简体摘要：〔课题〕本发明，其目的在于进行检体的分析之检查设备中，进行小型化设备的同时，随着提高光源的亮度屏蔽产生在光源周围的电磁波。〔解决手段〕一种检查设备，具备了：具备收容检查流体的检查流体收容部之微芯片，和对前述微芯片的检查流体收容部、射入光到前述检查流体之放电灯，和收容该放电灯之光源收容部，和根据从检查流体收容部所射出之光的强度来算出检测对象成分的浓度之演算机构；其特征在于：前述光源收容部，系于由绝缘材料所形成的框体部的外部，具备屏蔽从前述光线所放射出来的电磁波、连接到接地（earth）之屏蔽机构。

9. 发明专利

TW200610953A 吸光度測定單元失效
简体标题：吸光度测定单元
公开(公告)号：TW200610953A
公开(公告)日：2006-04-01
申请号：TW094121909
申请日：2005-06-29
申请人：牛尾電機股份有限公司 USHIO DENKI KABUSHIKI KAISHA
发明人：松本茂樹 MATSUMOTO, SHIGEKI , 野澤繁典 NOZAWA, SHIGENORI
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N21/0303 , B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0867 , G01N2201/0813
摘要：【課題】提供：將放電燈使用於測定用光源，進行微晶片的吸光度測定，亦測定誤差少的微晶片用的吸光度測定單元。【解決手段】由成為具備：由已黏合的2片的板構件所構成，在黏合面具有空洞部，連通該空洞部而構成分析液導入部、試藥積蓄部、試藥混合部和沿著該板構件的一端面，配設為直線狀的吸光度測定部的微晶片、與安裝微晶片的晶片夾具所構成的使用了微晶片的吸光度測定單元，在晶片夾具，作為形成與吸光度測定部光軸一致，具有比起對吸光度測定部垂直的光軸的剖面徑窄的開口徑的光導入用的毛細管部之吸光度測定單元。
简体摘要：【课题】提供：将放电灯使用于测定用光源，进行微芯片的吸光度测定，亦测定误差少的微芯片用的吸光度测定单元。【解决手段】由成为具备：由已黏合的2片的板构件所构成，在黏合面具有空洞部，连通该空洞部而构成分析液导入部、试药积蓄部、试药混合部和沿着该板构件的一端面，配设为直线状的吸光度测定部的微芯片、与安装微芯片的芯片夹具所构成的使用了微芯片的吸光度测定单元，在芯片夹具，作为形成与吸光度测定部光轴一致，具有比起对吸光度测定部垂直的光轴的剖面径窄的开口径的光导入用的毛细管部之吸光度测定单元。

10. 发明专利

TW579430B 自動化之微流體雜交晶片平台失效
简体标题：自动化之微流体杂交芯片平台
公开(公告)号：TW579430B
公开(公告)日：2004-03-11
申请号：TW092112137
申请日：2003-05-02
申请人：晶宇生物科技實業股份有限公司 DR. CHIP BIOTECH, INC.
发明人：陳建安 CHEN, CHIEN AN , 陳孟鈺 CHEN, MENG YU , 黃明遠 HUANG, MING YUAN
IPC分类号： G01N
CPC分类号： B01L3/502715 , B01L9/527 , B01L2200/025 , B01L2200/027 , B01L2300/0822 , B01L2300/0867 , B01L2300/087 , B01L2300/0887 , B01L2300/1827 , B01L2300/1883 , B01L2400/0439 , B01L2400/0442 , B01L2400/0487 , G01N1/312 , G01N2035/00158
摘要：一種自動化之微流體雜交晶片平台，係提供反應迅速、自動化操作以及輕便化機台的雜交反應檢測系統；本發明係包含平台基座、微流體雜交晶片、微流體雜交晶片承載座、微流體雜交晶片之流體控制系統、微流體雜交晶片之試劑承載座與訊號檢出系統，利用微流體管路連接各部分，不僅可設計為自動化，而且其體積小，更提高了反應的速度。
简体摘要：一种自动化之微流体杂交芯片平台，系提供反应迅速、自动化操作以及轻便化机台的杂交反应检测系统；本发明系包含平台基座、微流体杂交芯片、微流体杂交芯片承载座、微流体杂交芯片之流体控制系统、微流体杂交芯片之试剂承载座与信号检出系统，利用微流体管路连接各部分，不仅可设计为自动化，而且其体积小，更提高了反应的速度。

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