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1. 发明专利

TW592866B 雷射標記系統之標記校準方法有权
简体标题：激光标记系统之标记校准方法
公开(公告)号：TW592866B
公开(公告)日：2004-06-21
申请号：TW092109454
申请日：2003-04-23
申请人： EO科技股份有限公司 EO TECHNICS CO., LTD.
发明人：金炳煥 KIM, BYOUNG HWAN , 李晸求 LEE, JEONG KU , 邊英植 BYUN, YOUNG SIK , 權九徹 KWON, GOO CHEOL , 金泰政 KIM, TAE JUNG
IPC分类号： B23K
CPC分类号： H01L21/67282 , H01L21/681 , H01L23/544 , H01L2221/68313 , H01L2223/54473 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：本發明提供一種雷射標記系統之標記校準方法。該雷射標記系統包括一個雷射標記器，當使用複數個視像攝影機觀察在托盤的小方格上的晶片時，用來執行標記工作，以及一個用來偵測標記誤差的後視攝影機。該方法包括下列步驟：(a)指派一個相關的視像攝影機給每個將觀察的晶片；(b)將視像攝影機的座標對準雷射標記器的座標；(c)在晶片上或是在一個與晶片相關的位置上，標記一個預定的第一符號，使用相關的視像攝影機，觀察選定的第一符號，並且將該第一符號的一點，學習當成一個參考點；(d)使用相對應的視像攝影機，觀察該晶片的第一符號和該參考點，並且相對該參考點，在該晶片上標記一個第二符號；(e)觀察在一選定晶片上的該第二符號，並且將該第二符號的一點學習當成一個比較點；以及(f)從晶片上的參考點，偵測該比較點的位置，並且計算在每一個小方格的標記誤差。伍、(一)、本案代表圖為：第____5____圖
(二)、本案代表圖之元件代表符號簡單說明：
100：控制器110：托盤122：水平移動台
120：托盤供應匣130：承載器150：步進馬達
160：雷射標記器
164：高速掃描導光系統聚焦鏡(f-theta lens)
170：後視攝影機180：卸載器
190：托盤收集匣
简体摘要：本发明提供一种激光标记系统之标记校准方法。该激光标记系统包括一个激光标记器，当使用复数个视像摄影机观察在托盘的小方格上的芯片时，用来运行标记工作，以及一个用来侦测标记误差的后视摄影机。该方法包括下列步骤：(a)指派一个相关的视像摄影机给每个将观察的芯片；(b)将视像摄影机的座标对准激光标记器的座标；(c)在芯片上或是在一个与芯片相关的位置上，标记一个预定的第一符号，使用相关的视像摄影机，观察选定的第一符号，并且将该第一符号的一点，学习当成一个参考点；(d)使用相对应的视像摄影机，观察该芯片的第一符号和该参考点，并且相对该参考点，在该芯片上标记一个第二符号；(e)观察在一选定芯片上的该第二符号，并且将该第二符号的一点学习当成一个比较点；以及(f)从芯片上的参考点，侦测该比较点的位置，并且计算在每一个小方格的标记误差。伍、(一)、本案代表图为：第____5____图 (二)、本案代表图之组件代表符号简单说明： 100：控制器110：托盘122：水平移动台 120：托盘供应匣130：承载器150：步进马达 160：激光标记器 164：高速扫描导光系统聚焦镜(f-theta lens) 170：后视摄影机180：卸载器 190：托盘收集匣

2. 发明专利

TW200305475A 雷射標記系統之標記校準方法 METHOD OF CALIBRATING MARKING IN LASER MARKING SYSTEM 审中-公开
简体标题：激光标记系统之标记校准方法 METHOD OF CALIBRATING MARKING IN LASER MARKING SYSTEM
公开(公告)号：TW200305475A
公开(公告)日：2003-11-01
申请号：TW092109454
申请日：2003-04-23
申请人： EO科技股份有限公司 EO TECHNICS CO., LTD.
发明人：金炳煥 KIM, BYOUNG HWAN , 李晸求 LEE, JEONG KU , 邊英植 BYUN, YOUNG SIK , 權九徹 KWON, GOO CHEOL , 金泰政 KIM, TAE JUNG
IPC分类号： B23K
CPC分类号： H01L21/67282 , H01L21/681 , H01L23/544 , H01L2221/68313 , H01L2223/54473 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：本發明提供一種雷射標記系統之標記校準方法。該雷射標記系統包括一個雷射標記器，當使用複數個視像攝影機觀察在托盤的小方格上的晶片時，用來執行標記工作，以及一個用來偵測標記誤差的後視攝影機。該方法包括下列步驟：(a)指派一個相關的視像攝影機給每個將觀察的晶片；(b)將視像攝影機的座標對準雷射標記器的座標；(c)在晶片上或是在一個與晶片相關的位置上，標記一個預定的第一符號，使用相關的視像攝影機，觀察選定的第一符號，並且將該第一符號的一點，學習當成一個參考點；(d)使用相對應的視像攝影機，觀察該晶片的第一符號和該參考點，並且相對該參考點，在該晶片上標記一個第二符號；(e)觀察在一選定晶片上的該第二符號，並且將該第二符號的一點學習當成一個比較點；以及(f)從晶片上的參考點，偵測該比較點的位置，並且計算在每一個小方格的標記誤差。
简体摘要：本发明提供一种激光标记系统之标记校准方法。该激光标记系统包括一个激光标记器，当使用复数个视像摄影机观察在托盘的小方格上的芯片时，用来运行标记工作，以及一个用来侦测标记误差的后视摄影机。该方法包括下列步骤：(a)指派一个相关的视像摄影机给每个将观察的芯片；(b)将视像摄影机的座标对准激光标记器的座标；(c)在芯片上或是在一个与芯片相关的位置上，标记一个预定的第一符号，使用相关的视像摄影机，观察选定的第一符号，并且将该第一符号的一点，学习当成一个参考点；(d)使用相对应的视像摄影机，观察该芯片的第一符号和该参考点，并且相对该参考点，在该芯片上标记一个第二符号；(e)观察在一选定芯片上的该第二符号，并且将该第二符号的一点学习当成一个比较点；以及(f)从芯片上的参考点，侦测该比较点的位置，并且计算在每一个小方格的标记误差。

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