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    • 5. 发明专利
    • 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置
    • 内存管理方法、内存控制电路单元及内存存储设备
    • TW201704999A
    • 2017-02-01
    • TW104123602
    • 2015-07-21
    • 群聯電子股份有限公司PHISON ELECTRONICS CORP.
    • 陳 國榮TAN, KOK-YONG顏鴻聖YAN, HORNG-SHENG
    • G06F12/02
    • G06F3/0679G06F3/0616G06F3/0652G06F12/0246
    • 本發明提供一種記憶體管理方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置。在一範例實施例中,所述記憶體管理方法包括:接收第一寫入指令與對應於第一寫入指令的第一寫入資料並獲得第一數目;程式化第一寫入資料並搬移儲存於多個第一實體程式化單元中的第一儲存資料,其中第一實體程式化單元之總數符合第一數目;接收第二寫入指令與對應於第二寫入指令的第二寫入資料並獲得第二數目;程式化第二寫入資料並搬移儲存於多個第二實體程式化單元中的第二儲存資料,其中第二實體程式化單元之總數符合第二數目;以及抹除至少一實體抹除單元。藉此,可減少資料整併程序中系統資源的浪費。
    • 本发明提供一种内存管理方法、内存控制电路单元及内存存储设备。在一范例实施例中,所述内存管理方法包括:接收第一写入指令与对应于第一写入指令的第一写入数据并获得第一数目;进程化第一写入数据并搬移存储于多个第一实体进程化单元中的第一存储数据,其中第一实体进程化单元之总数符合第一数目;接收第二写入指令与对应于第二写入指令的第二写入数据并获得第二数目;进程化第二写入数据并搬移存储于多个第二实体进程化单元中的第二存储数据,其中第二实体进程化单元之总数符合第二数目;以及抹除至少一实体抹除单元。借此,可减少数据整并进程中系统资源的浪费。
    • 7. 发明专利
    • 錯誤處理方法、記憶體儲存裝置與記憶體控制電路單元
    • 错误处理方法、内存存储设备与内存控制电路单元
    • TW201528269A
    • 2015-07-16
    • TW103100843
    • 2014-01-09
    • 群聯電子股份有限公司PHISON ELECTRONICS CORP.
    • 顏鴻聖YAN, HORNG SHENG
    • G11C16/06G11C29/52
    • G06F11/0727G06F11/073G06F11/0742G06F11/076
    • 本發明提出一種錯誤處理方法、記憶體儲存裝置與記憶體控制電路單元。此方法包括:取得對應一通道的完成事件;判斷此完成事件是否為失敗事件;若完成事件為失敗事件,停止該通道的運作,並且對此通道所對應的計數值執行第一更新運算;若完成事件不是失敗事件,維持第一通道所對應的計數值不變;以及處理完成事件。其中處理完成事件的步驟包括:若完成事件為失敗事件,對第一通道所對應的計數值執行第二更新運算;若計數值符合一臨界條件時,恢復第一通道的運作。藉此,可以增加存取的效能。
    • 本发明提出一种错误处理方法、内存存储设备与内存控制电路单元。此方法包括:取得对应一信道的完成事件;判断此完成事件是否为失败事件;若完成事件为失败事件,停止该信道的运作,并且对此信道所对应的计数值运行第一更新运算;若完成事件不是失败事件,维持第一信道所对应的计数值不变;以及处理完成事件。其中处理完成事件的步骤包括:若完成事件为失败事件,对第一信道所对应的计数值运行第二更新运算;若计数值符合一临界条件时,恢复第一信道的运作。借此,可以增加存取的性能。