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    • 9. 发明专利
    • 修補高容量/高頻寬記憶體器件的方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR REPAIRING HIGH CAPACITY/HIGH BANDWIDTH MEMORY DEVICES
    • 修补高容量/高带宽内存器件的方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR REPAIRING HIGH CAPACITY/HIGH BANDWIDTH MEMORY DEVICES
    • TW201007749A
    • 2010-02-16
    • TW098121258
    • 2009-06-24
    • 美光科技公司
    • 拉伯吉 保羅A傑德羅 喬瑟夫M
    • G11C
    • G06F11/1092G06F11/08G06F11/1048G11C29/808H03M13/09
    • 本發明揭示可包含借助直通矽導通體彼此連接之複數個經堆疊之記憶體器件晶粒及一邏輯晶粒之記憶體系統、系統及方法。一個此邏輯晶粒包含一產生對應於寫入資料之錯誤檢驗碼之錯誤碼產生器。該等錯誤檢驗碼儲存於該等記憶體器件晶粒中且隨後與自該等記憶體器件晶粒隨後讀取之資料產生之錯誤檢驗碼進行比較。在該等碼不匹配之情形下,可產生一錯誤信號。該邏輯晶粒可含有一記錄曾自其讀取該資料之位址之控制器。該控制器或記憶體存取器件可將存取重新指引至該等記憶體器件晶粒於該等所記錄位址處。該控制器亦可檢查導致產生錯誤信號之位址或資料以識別該等直通矽導通體中之故障。
    • 本发明揭示可包含借助直通硅导通体彼此连接之复数个经堆栈之内存器件晶粒及一逻辑晶粒之内存系统、系统及方法。一个此逻辑晶粒包含一产生对应于写入数据之错误检验码之错误码产生器。该等错误检验码存储于该等内存器件晶粒中且随后与自该等内存器件晶粒随后读取之数据产生之错误检验码进行比较。在该等码不匹配之情形下,可产生一错误信号。该逻辑晶粒可含有一记录曾自其读取该数据之位址之控制器。该控制器或内存存取器件可将存取重新指引至该等内存器件晶粒于该等所记录位址处。该控制器亦可检查导致产生错误信号之位址或数据以识别该等直通硅导通体中之故障。