基本信息:
- 专利标题： 修補高容量／高頻寬記憶體器件的方法及裝置
- 专利标题（英）：Method and apparatus for repairing high capacity/high bandwidth memory devices
- 专利标题（中）：修补高容量／高带宽内存器件的方法及设备
- 申请号：TW098121258 申请日：2009-06-24
- 公开(公告)号：TWI438776B 公开(公告)日：2014-05-21
- 发明人： 拉伯吉 保羅A , LABERGE, PAUL A. , 傑德羅 喬瑟夫M , JEDDELOH, JOSEPH M.
- 申请人： 美光科技公司 , MICRON TECHNOLOGY, INC.
- 专利权人： 美光科技公司,MICRON TECHNOLOGY, INC.
- 当前专利权人： 美光科技公司,MICRON TECHNOLOGY, INC.
- 代理人： 陳長文
- 优先权： 12/166,814 20080702
- 主分类号： G11C29/42
- IPC分类号： G11C29/42
公开/授权文献:
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/04 | .损坏存储元件的检测或定位 |
| ----------G11C29/08 | ..功能测试，例如，在刷新、通电自检（POST）或分布型测试期间的测试 |
| ------------G11C29/12 | ...用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置（BIST） |
| --------------G11C29/38 | ....响应验证装置 |
| ----------------G11C29/42 | .....用纠错码（ECC）或奇偶校验检查 |